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文檔簡介

1、2021年版藥典高效液相色譜法、質譜法2021版藥典高效液相色譜法、質譜法0512高效液相色譜法高效液相色譜法系采用高壓輸液泵將規(guī)定的流動相泵入裝有填充劑的色譜柱,對供試品進行別離測定的色譜方法.注入的供試品,由流動相帶入色譜柱內(nèi),各組分在柱內(nèi)被別離,并進入檢測器檢測,由積分儀或數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)記錄和處理色譜信號.1.對儀器的一般要求和色譜條件高效液相色譜儀由高壓輸液泵、進樣器、色譜柱、檢測器、積分儀或數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成.色譜柱內(nèi)徑一般為3.94.6mm,填充劑粒徑為31O口m.超高效液相色譜儀是適應小粒徑約2口m填充劑的耐超高壓、小進樣量、低死體積、高靈敏度檢測的高效液相色譜儀.1色譜柱反相色譜柱

2、:以鍵合非極性基團的載體為填充劑填充而成的色譜柱.常見的教體有硅膠、聚合物復合硅膠和聚合物等;常用的填充劑有十八烷基硅烷鍵合硅膠、辛基硅烷鍵合硅膠和苯基鍵合硅膠等.正相色譜柱:用硅膠填充劑,或鍵合極性基團的硅膠填充而成的色譜柱.常見的填充劑有硅膠、氨基鍵合硅膠和制基鍵合硅膠等.氨基鍵合硅膠和制基鍵合硅膠也可用作反相色譜.離子交換色譜柱:用離子交換填充劑填充而成的色譜柱.有陽離子交換色譜柱和陰離子交換色譜柱.手性別離色譜柱:用手性填充劑填充而成的色譜柱.色譜柱的內(nèi)徑與長度,填充劑的形狀、粒徑與粒徑分布、孔徑、外表積、鍵合基團的外表覆蓋度、教體外表基團殘留量,填充的致密與均勻程度等均影響色譜柱的性

3、能,應根據(jù)被別離物質的性質來選擇適宜的色譜柱.溫度會影響別離效果,品種正文中未指明色譜柱溫度時系指室溫,應注意室溫變化的影響.為改善別離效果可適當提升色譜柱的溫度,但一般不宜超過60.剩余硅羥基未封閉的硅膠色譜柱,流動相pH值一般應在28之間.剩余硅羥基已封閉的硅膠、聚合物復合硅膠或聚合物色譜柱可耐受更廣泛pH值的流動相,適合于pH值小于2或大于8的流動相.2檢測器最常用的檢測器為紫外-可見分光檢測器,包括二極管陣列檢測器,其他常見的檢測器有熒光檢測器、蒸發(fā)光散射檢測器、示差折光檢測器、電化學檢測器和質譜檢測器等.紫外-可見分光檢測器、熒光檢測器、電化學檢測器為選擇性檢測器,其響應值不僅與被測

4、物質的量有關,還與其結構有關;蒸發(fā)光散射檢測器和示差折光檢測器為通用檢測器,對所有物質均有響應,結構相似的物質在蒸發(fā)光散射檢測器的響應值幾乎僅與被測物質的量有關.紫外-可見分光檢測器、熒光檢測器、電化學檢測器和示差折光檢測器的響應值與被測物質的量在一定范圍內(nèi)呈線性關系,但蒸發(fā)光散射檢測器的響應值與被測物質的量通常呈指數(shù)關系,一般需經(jīng)對數(shù)轉換.不同的檢測器,對流動相的要求不同.紫外-可見分光檢測器所用流動相應符合紫外-可見分光光度法通那么0401項下對溶劑的要求;采用低波長檢測時;還應考慮有機溶劑的截止使用波長,并選用色譜級有機溶劑.蒸發(fā)光散射檢測器和質譜檢測器不得使用含不揮發(fā)性鹽的流動相.3流

5、動相反相色譜系統(tǒng)的流動相常用甲醇-水系統(tǒng)和乙月青-水系統(tǒng),用紫外末端波長檢測時,宜選用乙月青-水系統(tǒng).流動相中應盡可能不用緩沖鹽,如需用時,應盡可能使用低濃度緩沖鹽.用十八烷基硅烷鍵合硅膠色譜柱時,流動相中有機溶劑一般不低于5%,否那么易導致柱效下降、色譜系統(tǒng)不穩(wěn)定.正相色譜系統(tǒng)的流動相常用兩種或兩種以上的有機溶劑,如二氯甲烷和正己烷等.品種正文項下規(guī)定的條件除填充劑種類、流動相組分、檢測器類型不得改變外,其余如色譜柱內(nèi)徑與長度、填充劑粒徑、流動相流速、流動相組分比例、柱溫、進樣量、檢測器靈敏度等,均可適當改變,以到達系統(tǒng)適用性試驗的要求.調(diào)整流動相組分比例時,當小比例組分的百分比例X小于等于

6、33%時,允許改變范圍為0.7X1.3X;當X大于33%時,允許改變范圍為X-10%X+10%.假設需使用小粒徑約2um填充劑,輸液泵的性能、進樣體積、檢測池體積和系統(tǒng)的死體積等必須與之匹配;如有必要,色譜條件也應作適當?shù)恼{(diào)整.當對其測定結果產(chǎn)生爭議時,應以品種項下規(guī)定的色譜條件的測定結果為準.當必須使用特定牌號的色譜柱方能滿足別離要求時.,可在該品種正文項下注明.2.系統(tǒng)適用性試驗色譜系統(tǒng)的適用性試驗通常包括理論板數(shù)、別離度、靈敏度、拖尾因子和重復性等五個參數(shù).按各品種正文項下要求對色譜系統(tǒng)進行適用性試驗,即用規(guī)定的對照品溶液或系統(tǒng)適用性試驗溶液在規(guī)定的色譜系統(tǒng)進行試驗,必要時,可對色譜系統(tǒng)

7、進行適當調(diào)整,以符合要求.1色譜柱的理論板數(shù)n用于評價色譜柱的別離效能.由于不同物質在同一色譜柱上的色譜行為不同,采用理論板數(shù)作為衡量色譜柱效能的指標時,應指明測定物質,一般為待測物質或內(nèi)標物質的理論板數(shù).在規(guī)定的色譜條件下,注入供試品溶液或各品種項下規(guī)定的內(nèi)標物質溶液,記錄色譜圖,量出供試品主成分色譜峰或內(nèi)標物質色譜峰的保存時間t和峰寬W或半頂峰寬W,按n=16t,2或n=5.54t.2計算色譜柱的RhnRKh/2理論板數(shù).t、w、W可用時間或長度計下同,但應取相同單位.REC2別離度R用于評價待測物質與被別離物質之間的別離程度,是衡量色譜系統(tǒng)別離效能的關鍵指標.可以通過測定待測物質與雜質的

8、別離度,也可以通過測定待測物質與某一指標性成分內(nèi)標物質或其他難別離物質的別離度,或將供試品或對照品用適當?shù)姆椒ń到?通過測定待測物質與某一降解產(chǎn)物的別離度,對色譜系統(tǒng)別離效能進行評價與調(diào)整.無論是定性鑒別還是定量測定,均要求待測物質色譜峰與內(nèi)標物質色譜峰或特定的雜質對照色譜峰及其他色譜峰之間有較好的別離度.除另有規(guī)定外,待測物質色譜峰與相鄰色譜峰之間的別離度應大于1.5.別離度的計算公式為:上匕_2X"?一%或"1.70XW3+W式中1rHp為相鄰兩色譜峰中后一峰的保存時間;為相鄰兩色譜峰中前一峰的保存時間;Wt、W及W、W分別為此相鄰兩色譜峰的峰寬及半頂峰寬如圖.I21.

9、h/22S當對測定結果有異議時,色譜柱的理論板數(shù)n和別離度R均以峰寬W的計算結果為準.3靈敏度用于評價色譜系統(tǒng)檢測微量物質的水平,通常以信噪比S/N來表示.通過測定一系列不同濃度的供試品或對照品溶液來測定信噪比.定量測定時,信噪比應不小于10:定性測定時,信噪比應不小于3.系統(tǒng)適用性試驗中可以設置靈敏度實驗溶液來評價色譜系統(tǒng)的檢測水平.4拖尾因子T用于評價色譜峰的對稱性.拖尾因子計算公式為:式中Woosh為5%峰高處的峰寬;d為峰頂在5%峰高處橫坐標平行線的投影點至峰前沿與此平行線交點的距離如圖.以峰面積作定量參數(shù)時,一般的峰拖尾或前伸不會影響峰面積積分,但嚴重拖尾會影響基線和色譜峰起止的判斷

10、和峰面積積分的準確性,此時應在品種正文項下對拖尾因子作出規(guī)定.5重復性用于評價色譜系統(tǒng)連續(xù)進樣時響應值的重復性能.采用外標法時,通常取各品種項下的對照品溶液,連續(xù)進樣5次,除另有規(guī)定外,其峰面積測量值的相對標準偏差應不大于2.0%;采用內(nèi)標法時,通常配制相當于80%、100%和120%的對照品溶液,參加規(guī)定量的內(nèi)標溶液,配成3種不同濃度的溶液,分別至少進樣2次,計算平均校正因子,其相對標準偏差應不大于2.0%.3.測定法1內(nèi)標法按品種正文項下的規(guī)定,精密稱量取對照品和內(nèi)標物質,分別配成溶液,各精密量取適量,混合配成校正因子測定用的對照溶液.取一定量進樣,記錄色譜圖.測量對照品和內(nèi)標物質的峰面積

11、或峰高,按下式計算校正因子:校正因子式中A,為內(nèi)標物房的峰面積或峰高;Ar為對照品的峰面積或峰局;C,為內(nèi)標物質的濃度;CR為對照品的濃度.再取各品種項下含有內(nèi)標物質的供試品溶液,進樣,記錄色譜圖,測量供試品中待測成分和內(nèi)標物質的峰面積或峰高,按下式計算含量:含量yx憊|式中A;為供試品的峰面積或峰高;cx為供試品的濃度;A1.為內(nèi)標物質的峰面積或峰高;c,為內(nèi)標物質的濃度;f為內(nèi)標法校正因子.采用內(nèi)標法,可防止因供試品前處理及進樣體積誤差對測定結果的影響.2外標法按各品種項下的規(guī)定,精密稱量取對照品和供試品,配制成溶液,分別精密取一定量,進樣,記錄色譜圖,測量對照品溶液和供試品溶液中待測物質

12、的峰面積或峰高,按下式計算含量:含量式中各符號意義同上.由于微量注射器不易精確限制進樣量,當采用外標法測定時:以手動進樣器定量環(huán)或自動進樣器進樣為宜.3加校正因子的主成分自身對照法測定雜質含量時,可采用加校正因子的主成分自身對照法.在建立方法時,按各品種項下的規(guī)定,精密稱量取待測物對照品和參比物質對照品各適量,配制待測物校正因子的溶液,進樣,記錄色譜圖,按下式計算待測物的校正因子.校正因子=匕:餐式中CA為待測物的濃度;AA為待測物的峰面積或峰高;CB為參比物質的濃度;AB為參比物質的峰面積或峰高.也可精密稱量取主成分對照品和雜質對照品各適量,分別配制成不同濃度的溶液,進樣,記錄色譜圖,繪制主

13、成分濃度和雜質濃度對其峰面積的回歸曲線,以主成分回歸直線斜率與雜質回歸直線斜率的比計算校正因子.校正因子可直接教入各品種項下,用于校正雜質的實測峰面積.需作校正計算的雜質,通常以主成分為參比,采用相對保存時間定位,其數(shù)值一并載入各品種項下.測定雜質含量時,按各品種項下規(guī)定的雜質限度,將供試品溶液稀釋成與雜質限度相當?shù)娜芤?作為對照溶液;進樣,記錄色譜圖,必要時,調(diào)節(jié)縱坐標范圍以噪聲水平可接受為限使對照溶液的主成分色譜峰的峰高約達滿量程的10%25%.除另有規(guī)定外,通常含量低于0.5%的雜質,峰面積的相對標準偏差RSD應小于10%;含量在0.5%2%的雜質,峰面積的RSD應小于5%;含量大于2%

14、的雜質,峰面積的RSD應小于2%.然后,取供試品溶液和對照溶液適量,分別進樣,除另有規(guī)定外,供試品溶液的記錄時間,應為主成分色譜峰保存時間的2倍,測量供試品溶液色譜圖上各雜質的峰面積,分別乘以相應的校正因子后與對照溶液主成分的峰面積比擬,計算各雜質含量.4不加校正因子的主成分自身對照法測定雜質含量時,假設無法獲得待測雜質的校正因子,或校正因子可以忽略,也可采用不加校正因子的主成分自身對照法.同上述3法配制對照溶液、進樣調(diào)節(jié)縱坐標范圍和計算峰面積的相對標準偏差后,取供試品溶液和對照品溶液適量,分別進樣.除另有規(guī)定外,供試品溶液的記錄時間應為主成分色譜峰保留時間的2倍,測量供試品溶液色譜圖上各雜質

15、的峰面積并與對照溶液主成分的峰面積比擬,依法計算雜質含量.5面積歸一化法按各品種項下的規(guī)定,配制供試品溶液,取一定量進樣,記錄色譜圖.測量各峰的面積和色譜圖上除溶劑峰以外的總色譜峰面積,計算各峰面積占總峰面積的白分率.用于雜質檢查時,由于儀器響應的線性限制,峰面積歸一化法一般不宜用于微量雜質的檢查.0431質譜法質譜法是使待測化合物產(chǎn)生氣態(tài)離子,再按質荷比m/z將離子別離、檢測的分析方法,檢測限可達10年-12數(shù)量級.質譜法可提供分子質量和結構的信息,定量測定可采用內(nèi)標法或外標法.質譜儀的主要組成如下圖.在由泵維持的約IOIO/pa真空狀態(tài)下,離子源產(chǎn)生的各種正離子或負離子,經(jīng)加速,進入質量分

16、析器別離,再由檢測器檢測.計算機系統(tǒng)用于限制儀器,記錄、處理并儲存數(shù)據(jù),當配有標準譜庫軟件時,計算機系統(tǒng)可以將測得的質譜與標準譜庫中圖譜比擬,獲得可能化合物的組成和結構信息.計算機系統(tǒng)圖質譜儀的主要組成一、進樣系統(tǒng)樣品導入應不影響質譜儀的真空度.進樣方式的選擇取決于樣品的性質、純度及所采用的離子化方式.1 .直接進樣室溫常壓下,氣態(tài)或液態(tài)化合物的中性分子通過可控漏孔系統(tǒng),進入離子源.吸附在固體上或溶解在液體中的揮發(fā)性待測化合物可采用頂空分析法提取和富集,程序升溫解吸附,再經(jīng)毛細管導入質譜儀.揮發(fā)性固體樣品可置于進樣桿頂端,在接近離子源的高真空狀態(tài)下加熱、氣化.采用解吸離子化技術,可以使熱不穩(wěn)定

17、的、難揮發(fā)的樣品在氣化的同時離子化.多種別離技術已實現(xiàn)了與質譜的聯(lián)用.經(jīng)別離后的各種待測成分,可以通過適當?shù)慕涌趯胭|譜儀分析.2 .氣相色譜-質譜聯(lián)用GC-MS在使用毛細管氣相色譜柱及高容量質譜真空泵的情況下,色譜流出物可直接引入質譜儀.3 .液相色譜-質譜聯(lián)用LC-MS使待測化合物從色譜流出物中別離、形成適合于質譜分析的氣態(tài)分子或離子需要特殊的接口.為減少污染,防止化學噪聲和電離抑制,流動相中所含的緩沖鹽或添加劑通常應具有揮發(fā)性,且用量也有一定的限制.1粒子束接口液相色譜的流出物在去溶劑室霧化、脫溶劑后,僅待測化合物的中性分子被引入質譜離子源.粒子束接口適用于分子質量小于1000道爾頓的弱

18、極性、熱穩(wěn)定化合物的分析,測得的質譜可以由電子轟擊離子化或化學離子化產(chǎn)生.電子轟擊離子化質譜常含有豐富的結構信息.2移動帶接口流速為0.5的液相色譜流出物,均勻地滴加在移動帶上,蒸發(fā)、除去溶劑后,待測化合物被引入質譜離子源.移動帶接口不適宜于極性大或熱不穩(wěn)定化合物的分析,測得的質譜可以由電子轟擊離子化或化學離子化或快原子轟擊離子化產(chǎn)生.3大氣壓離子化接口是目前液相色譜-質譜聯(lián)用廣泛采用的接口技術.由于兼具離子化功能,這些接口將在離子源局部介紹.4 .超臨界流體色譜-質譜聯(lián)用SFC-MS超臨界流體色譜-質譜聯(lián)用主要采用大氣壓化學離子化或電噴霧離子化接口.色譜流出物通過一個位于柱子和離子源之間的加

19、熱限流器轉變?yōu)闅鈶B(tài),進入質譜儀分析.5 .毛細管電泳-質譜聯(lián)用CE-MS幾乎所有的毛細管電泳操作模式均可與質譜聯(lián)用.選擇接口時,應注意毛細管電泳的低流速特點并使用揮發(fā)性緩沖液.電噴霧離子化是毛細管電泳與質譜聯(lián)用最常用的接口技術.二、離子源根據(jù)待測化合物的性質及擬獲取的信息類型,可以選用不同的離子源.1 .電子轟擊離子化EI處于離子源的氣態(tài)待測化合物分子,受到一束能量通常是70eV大于其電離能的電子轟擊而離子化.質譜中往往含有待測化合物的分子離子及具有待測化合物結構特征的碎片離子.電子轟擊離子化適用于熱穩(wěn)定的、易揮發(fā)化合物的離子化,是氣相色譜-質譜聯(lián)用最常用的離子化方式.當采用粒子束或移動帶等接

20、口時,電子轟擊離子化也可用于液相色譜-質譜聯(lián)用.2 .化學離子化CI離子源中的試劑氣分子如甲烷、異丁烷和氨氣受高能電子轟擊而離子化,進一步發(fā)生離子一分子反響,產(chǎn)生穩(wěn)M的M+H或M-H-特征離子、或待測定的試劑氣離子,再使待測化合物離子化.化學離子化可產(chǎn)生待測化合物化合物與試劑氣分子產(chǎn)生的加合離子.與電子轟擊離子化質譜相比,化學離子化質譜中碎片離子較少,適宜于采用電子轟擊離子化無法得到分子質量信息的熱穩(wěn)定的、易揮發(fā)化合物分析.3 .快原子轟擊FAB或快離子轟擊離子化LSIMS高能中性原子如氧氣或高能葩離子,使置于金屬外表、分散于帶性黏稠基質如甘油中的待測化合物離子化,產(chǎn)生M+H+或M-H-特征離

21、子或待測化合物與基質分子的加合離子.快原子轟擊或快離子轟擊離子化非常適合于各種極性的、熱不穩(wěn)定化合物的分子質量測定及結構表征,廣泛應用于分子質量高達10000道爾頓的肽、抗生素、核昔酸、脂質、有機金屬化合物及外表活性劑的分析.快原子轟擊或快離子轟擊離子化用于液相色譜-質譜聯(lián)用時.,需在色譜流動相中添加1%10%的甘油,且必須保持很低流速110U1/mino4 .基質輔助激光解吸離子化MALDI將溶于適當基質中的供試品涂布于金屬靶上,用高強度的紫外或紅外脈沖激光照射,使待測化合物離子化.基質輔助激光解吸離子化主要用于分子質量在100000道爾頓以上的生物大分子分析,適宜與飛行時間分析器結合使用.

22、5 .電噴霧離子化ESI離子化在大氣壓下進行.待測溶液如液相色譜流出物通過終端加有幾千伏高壓的毛細管進入離子源,氣體輔助霧化,產(chǎn)生的微小液滴去溶劑,形成單電荷或多電荷的氣態(tài)離子.這些離子再經(jīng)逐步減壓區(qū)域,從大氣壓狀態(tài)傳送到質譜儀的高真空中.電噴霧離子化可在1U1/min1m1/min流速下進行,適合極性化合物和分子質量高達100000道爾頓的生物大分子研究,是液相色譜-質譜聯(lián)用、毛細管電泳-質譜聯(lián)用最成功的接口技術.6 .大氣壓化學離子化APCI原理與化學離子化相同,但離子化在大氣壓下進行.流動相在熱及氮氣流的作用下霧化成氣態(tài),經(jīng)由帶有幾千伏高壓的放電電極時離子化,產(chǎn)生的試劑氣離子與待測化合物

23、分子發(fā)生離子-分子反響,形成單電荷離子,正離子通常是M+H+,負離子那么是M-H-<5大氣壓化學離子化能在流速高達下進行,常用于分析分子質量小于1500道爾頓的小分子或弱極性化合物,主要產(chǎn)生的是M+H+或M-H-離子,很少有碎片離子,是液相色譜-質譜聯(lián)用的重要接口之一.7 .大氣壓光離子化APPI與大氣壓化學離子化不同,大氣壓光離子化是利用光子使氣相分子離子化.該離子化源主要用于非極性物質的分析,是電噴霧離子化、大氣壓化學離子化的一種補充.大氣壓光離子化對于試驗條件比擬敏感,摻雜劑、溶劑及緩沖溶液的組成等均會對測定的選擇性、靈敏度產(chǎn)生較大影響.三、質量分析器質量范圍、分辨率是質量分析器的

24、兩個主要性能指標.質量范圍指質量分析器所能測定的質荷比的范圍:分辨率表示質量分析器分辨相鄰的、質量差異很小的峰的水平.雖然不同類型的質量分析器對分辨率的具體定義存在差異,高分辨質譜儀通常指其質量分析器的分辨率大IO,.1 .扇形磁場分析器離子源中產(chǎn)生的離子經(jīng)加速電壓V加速,聚焦進入扇形磁場磁場強度Bo在磁場的作用下,不同質荷比的離子發(fā)生偏轉,按各自的曲率半徑r運動:m/z=Br72V改變磁場強度,可以使不同質荷比的離子具有相同的運動曲率半徑r,進而通過狹縫出口,到達檢測器.扇形磁場分析器可以檢測分子質量高達15000道爾頓的單電荷離子.當與靜電場分析器結合、構成雙聚焦扇形磁場分析器時,分辨率可

25、到達IO,.2 .四極桿分析器分析器由四根平行排列的金屬桿狀電極組成.直流電壓DC和射頻電壓RF作用于電極上,形成了高頻振蕩電場四極場.在特定的直流電壓和射頻電壓條件下,一定質荷比的離子可以穩(wěn)定地穿過四極場,到達檢測器.改變直流電壓和射頻電壓大小,但維持它們的比值恒定,可以實現(xiàn)質譜掃描.四極桿分析器可檢測的分子質量上限通常是4000道爾頓,分辨率約為103 .離子阱分析器四極離子阱QIT由兩個端蓋電極和位于它們之間的環(huán)電極組成.端蓋電極處在地電位,而環(huán)電極上施加射頻電壓RF,以形成三維四極場.選擇適當?shù)纳漕l電壓,四極場可以儲存質荷比大于某特定值的所有離子.采用“質量選擇不穩(wěn)定性模式,提升射頻電

26、壓值,可以將離子按質量從高到低依次射出離子阱.揮發(fā)性待測化合物的離子化和質量分析可以在同一四極場內(nèi)完成.通過設定時間序列,單個四極離子阱可以實現(xiàn)多級質譜MS的功能.線性離子阱LIT是二維四極離子阱,結構上等同于四極質量分析器,但操作模式與三維離子阱相似.四極線性離子阱具有更好的離子儲存效率和儲存容量,可改善的離子噴射效率及更快的掃描速度和較高的檢測靈敏度.離子阱分析器與四極桿分析器具有相近的質量上限及分辨率.4 .飛行時間分析器TOF具有相同動能、不同質量的離子,因飛行速度不同而實現(xiàn)別離.當飛行距離一定時,離子飛行需要的時間與質荷比的平方根成正比,質量小的離子在較短時間到達檢測器.為了測定飛行

27、時間,將離子以不連續(xù)的組引入質量分析器,以明確起始匕行時間.離子組可以山脈沖式離子化如基質輔助激光解吸離子化產(chǎn)生,也可通過門控系統(tǒng)將連續(xù)產(chǎn)生的離子流在給定時間引入飛行管.飛行時間分析器的質量分析上限約1500.道爾頓、離子傳輸效率高尤其是譜圖獲取速度快、質量分辨率>10、5 .離子盤旋共振分析器ICR在高真空10Ta狀態(tài)下,離子在超導磁場中作盤旋運動,運行軌道隨著共振交變電場而改變.當交變電場的頻率和離子盤旋頻率相同時,離子被穩(wěn)定加速,軌道半徑越來越大,動能不斷增加.關閉交變電場,軌道上的離子在電極上產(chǎn)生交變的像電流.利用計算機進行傅立葉變換,將像電流信號轉換為頻譜信號,獲得質譜.待測化

28、合物的離子化和質量分析可以在同一分析器內(nèi)完成.離子盤旋共振分析器的質量分析上限>104道爾頓,分辨率高達10,質荷比測定精確到千分之一,可以進行多級質譜MS分析.6 .串聯(lián)質譜MS-MS串聯(lián)質譜是時間上或空間上兩級以上質量分析的結合,測定第一級質量分析器中的前體離子precursorion與a第二級質量分析器中的產(chǎn)物離子production之間的質量關系.多級質譜實驗常以MS表示.產(chǎn)物離子掃描product-ionscan在第一級質量分析器中選擇某m/z的離子作為前體離子,測定該離子在第二級質量分析器中、一定的質量范圍內(nèi)的所有碎片離子產(chǎn)物離子的質荷比與相對強度,獲得該前體離子的質譜.前體離子掃描precursor-ionscan在第二級質量分析器中選擇某in/z的產(chǎn)物離子,測定在第一級質量分析器中、一定的質量范圍內(nèi)所有能產(chǎn)生該碎片離子的前體離子.中性喪失掃描neutral-lossscan以恒定的質量差異,在一定的質量范圍內(nèi)同時測定第一級、第二級質量分析器中的所有前體離子和產(chǎn)物離子,以發(fā)現(xiàn)能產(chǎn)生特定中性碎片如CO:喪失的化合物或同系物.選擇反響檢測selected-reactionmonitoring,SRM選擇第一級質量分析器中某前體離子m/z,測定該離子在第二級質量分析器中的特定產(chǎn)物離子m/z2的強度,以定量分析復雜混合物中的低

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