材料研究方法-南京理工大學(xué)中國(guó)大學(xué)mooc課后章節(jié)答案期末考試題庫(kù)2023年

材料研究方法_南京理工大學(xué)中國(guó)大學(xué)mooc課后章節(jié)答案期末考試題庫(kù)2023年二維結(jié)構(gòu)像的實(shí)例，結(jié)構(gòu)像的最大特點(diǎn)就是圖像上原子位置是暗的，沒有原子的地方是亮的，每一個(gè)小的暗區(qū)域能夠與投影的

參考答案:

原子列一一對(duì)應(yīng)

二維晶格像只利用了少數(shù)的幾只衍射波，可以在各種樣品厚度或離焦條件下觀察到，在偏離Scherzer聚焦情況下

參考答案:

也能進(jìn)行分析

一維結(jié)構(gòu)像通過模擬計(jì)算，可以確定

參考答案:

其中的像襯度與原子列的一一對(duì)應(yīng)性

一維結(jié)構(gòu)像

參考答案:

可通過計(jì)算機(jī)模擬，且圖像逼真

晶格條紋像

參考答案:

不可通過計(jì)算機(jī)模擬

HRTEM與TEM比較

參考答案:

前者僅有成像分析，而后者除了成像分析還可衍射分析

sinχ=-1意味著衍射波函數(shù)受影響小，能得到清晰、可辨不失真的像,希望－1平臺(tái)

參考答案:

愈寬愈好

高分辨相位襯度的核心影響因素是

參考答案:

離焦量

電鏡的欠焦或過焦稱離焦，可通過調(diào)整透電鏡的來(lái)實(shí)現(xiàn)。

參考答案:

勵(lì)磁電流

高分辨像襯度的主要影響因素是

參考答案:

物鏡的球差和欠焦量

等厚條紋中每條條紋對(duì)應(yīng)的試樣厚度

參考答案:

相同

正空間中孿晶點(diǎn)陣與基體點(diǎn)陣存在鏡面對(duì)稱關(guān)系，其倒易點(diǎn)陣

參考答案:

存在同樣的鏡面對(duì)稱關(guān)系

單晶體的電子衍射花樣本質(zhì)上是

參考答案:

垂直于電子束入射方向的零層倒易陣面上的陣點(diǎn)在熒光屏上的投影；

為保證選區(qū)精度，選區(qū)衍射時(shí)要求：

參考答案:

選區(qū)光欄面、物鏡的像平面和中間鏡的物平面三者重合；

中間鏡光闌（又稱選區(qū)光闌）位于

參考答案:

中間鏡的物平面上或物鏡的像平面上

電磁透鏡分辨率主要的制約因素是

參考答案:

衍射效應(yīng)+透鏡像差

焦長(zhǎng)是指

參考答案:

在樣品固定，在保證像清晰的前提下，像平面可以沿光軸移動(dòng)的最大距離范圍。

景深是指

參考答案:

像平面固定，在保證像清晰的前提下，物平面沿光軸可以前后移動(dòng)的最大距離；

電磁透鏡中軟磁鐵縫隙可使磁場(chǎng)在該處

參考答案:

更加集中，且縫隙愈小，集中程度愈高

改變勵(lì)磁電流可改變電磁透鏡的

參考答案:

焦距，僅在正焦距中變動(dòng)

一般情況下，高能電子電子衍射用的波長(zhǎng)遠(yuǎn)比X射線衍射用的波長(zhǎng)

參考答案:

短

電子衍射測(cè)量晶格常數(shù)比X射線衍射測(cè)量精度

參考答案:

低

一張衍射花樣圖譜

參考答案:

反映了與入射方向同向的晶帶軸上各晶帶面之間的相對(duì)關(guān)系；

當(dāng)入射電子與核外電子的作用為主要過程時(shí)，入射電子被散射后其能量將顯著減小，是一種

參考答案:

非彈性散射

由于原子核對(duì)電子散射后，散射電子的能量損失相比于入射時(shí)的能量可以忽略不計(jì)，因此原子核對(duì)入射電子的散射可以看成是

參考答案:

彈性散射

電子散射源自于物質(zhì)原子的庫(kù)侖場(chǎng)，即由

參考答案:

原子核中的質(zhì)子和核外電子兩部分組成

第三類內(nèi)應(yīng)力釋放此應(yīng)力時(shí)

參考答案:

不會(huì)引起宏觀體積和形狀改變

對(duì)于同一個(gè)q角時(shí)，Dq愈小，晶格常數(shù)的測(cè)量誤差

參考答案:

愈小

絕熱法不僅適用于粉末試樣，也適用于塊體試樣，但需知道試樣的

參考答案:

所有組成相

合金的譜分析

參考答案:

僅能給出該合金組成元素的種類和相對(duì)含量，卻不能給出合金相的種類和相對(duì)含量

樣品的轉(zhuǎn)動(dòng)，q從0°?90°，則衍射晶面間距

參考答案:

從最大降到最小（l/2）

連續(xù)掃描時(shí)

參考答案:

計(jì)數(shù)器和計(jì)數(shù)率器相連

形狀函數(shù)G2在空間中的分布取決于

參考答案:

單晶體的三維晶胞數(shù)N1、N2、N3的大??；

X射線衍射儀用的試樣一般為

參考答案:

平板試樣

流動(dòng)坐標(biāo)x、h、z意味著倒易陣點(diǎn)

參考答案:

發(fā)生擴(kuò)展，擴(kuò)展范圍取決于單晶體在三維方向上單胞的數(shù)量與胞的尺寸；

晶體產(chǎn)生衍射的條件是

參考答案:

晶面滿足衍射矢量方程，且結(jié)構(gòu)因子10。

金剛石結(jié)構(gòu)除了遵循面心立方點(diǎn)陣的消光規(guī)律外，還有附加消光，即H、K、L全偶，H＋K＋L14n時(shí)，結(jié)構(gòu)因子＝0。意味著

參考答案:

在H、K、L全奇或全偶時(shí)，滿足布拉格方程的晶面中，當(dāng)H＋K＋L14n時(shí)，結(jié)構(gòu)因子＝0消光，仍無(wú)衍射花樣產(chǎn)生；

原子核外有Z個(gè)電子，受核束縛較緊，且集中于一點(diǎn)，單個(gè)原子對(duì)X射線的散射強(qiáng)度為單個(gè)電子的散射強(qiáng)度的

參考答案:

Z的平方倍

反射球的直徑為

參考答案:

2/λ

減小入射X射線的波長(zhǎng)，參與衍射的晶面數(shù)

參考答案:

增加

布拉格方程

參考答案:

只是解決了衍射的方向問題

選濾片依據(jù)是讓靶材產(chǎn)生的λKα、λKβ特征X射線盡可能

參考答案:

保留λKα、過濾λKβ

選靶材的依據(jù)是

參考答案:

產(chǎn)生的特征X射線作用試樣后不被試樣吸收；

同一物質(zhì)而言，存在以下關(guān)系：

參考答案:

λk

光電子是指

參考答案:

X射線（光量子）作用物質(zhì)后，激發(fā)束縛緊的內(nèi)層電子使之成為自由電子，具有特征能量；

為防護(hù)X射線一般采用

參考答案:

重金屬Pb

X射線的折射率?1，意味著

參考答案:

在穿越不同媒質(zhì)時(shí)，方向幾乎不變。電場(chǎng)和磁場(chǎng)均不能改變其傳播方向。

質(zhì)量吸收系數(shù)與線吸收系數(shù)相比

參考答案:

前者考慮物質(zhì)密度，從而更能反應(yīng)單位質(zhì)量物質(zhì)對(duì)X射線吸收的能力和本質(zhì)。

X射線作用物質(zhì)產(chǎn)生光電效應(yīng)后，熒光效應(yīng)和俄歇效應(yīng)

參考答案:

均能產(chǎn)生，只是兩者的概率不同而已；

如果采用Cu（Z=29）靶X光照相，錯(cuò)用了Fe(Z=26)濾片，會(huì)產(chǎn)生

參考答案:

特征lKα被大量吸收，而特征lKβ未被大量吸收，使衍射強(qiáng)度急劇下降。

反沖電子是指

參考答案:

束縛較松的外層電子或自由電子吸收了部分X射線（光量子）的能量而產(chǎn)生的，使X射線的能量降低波長(zhǎng)增加。

倒易球面的致密性取決于單晶體的粒度大小。

參考答案:

錯(cuò)誤

每一倒易矢量表示正空間中的一個(gè)晶向。

參考答案:

錯(cuò)誤

晶體的極射赤面投影中，同一晶帶軸的系列晶帶面的極射赤面投影構(gòu)成過直徑的大圓弧。

參考答案:

正確

晶體的球面投影中，同一晶帶軸的系列晶帶面其極式球面投影共面在同一大圓上，大圓一定通過南北極點(diǎn)N、S。

參考答案:

錯(cuò)誤

跡式球面投影是指晶體的幾何要素（晶向、晶面）通過間接延伸或擴(kuò)展與投影球相交，在球面上留下的痕跡。

參考答案:

錯(cuò)誤

晶帶定律中的晶帶面在倒陣空間中陣點(diǎn)的幾何關(guān)系是：

參考答案:

共面

倒易點(diǎn)陣

參考答案:

正空間中的晶面按一定的規(guī)則轉(zhuǎn)變?yōu)榱硪豢臻g的一陣點(diǎn)，晶體的所有晶面轉(zhuǎn)變?yōu)橐幌盗幸?guī)則排列的點(diǎn)陣，是一虛擬點(diǎn)陣

極式球面投影是指

參考答案:

晶體的幾何要素（點(diǎn)除外）通過間接延伸或擴(kuò)展后與投影球相交，在球面上留下的痕跡。

晶體的投影面有球面和赤平面兩種，其對(duì)應(yīng)的投影即為

參考答案:

晶體的球面投影和極射赤面投影

球面投影時(shí)，晶體位于投影球的

參考答案:

球心

物相分析時(shí)與PDF卡片上的對(duì)應(yīng)峰位數(shù)理論上需要

參考答案:

8個(gè)

以下哪類物質(zhì)不適合用拉曼光譜進(jìn)行分析（）

參考答案:

水分子

下列哪項(xiàng)是紅外光譜與拉曼光譜的共同特征（）

參考答案:

提供分子振動(dòng)頻率信息

下列因素哪項(xiàng)不會(huì)影響拉曼峰強(qiáng)度（）

參考答案:

晶體取向

拉曼峰寬反應(yīng)的信息是（）

參考答案:

晶體質(zhì)量

拉曼峰位變化反應(yīng)的是（）

參考答案:

張力

一個(gè)含氧化合物的紅外光譜圖在3600～3200cm-1有吸收峰，下列化合物最可能的是（）

參考答案:

CH3?COOH?CH3

紅外吸收光譜的產(chǎn)生是由（）

參考答案:

分子振動(dòng)-轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的躍遷

紅外光譜法采用的試樣可以是（）

參考答案:

固、液、氣狀態(tài)均可

按簡(jiǎn)單雙原子分子計(jì)算，如下給出的化學(xué)鍵力常數(shù)，則紅外光譜中波數(shù)最大者是（）

參考答案:

乙炔中C?H鍵，k=5.9×10^5達(dá)因?cm^-1

預(yù)測(cè)以下各個(gè)鍵的振動(dòng)頻率所落的區(qū)域，正確的是（）

參考答案:

C?H彎曲振動(dòng)波數(shù)在4000～2500cm-1

場(chǎng)離子顯微鏡的成像原理為

參考答案:

稀有氣體在帶正電的銳利針尖附近的電離，電離后產(chǎn)生的帶正電的氣體離子在強(qiáng)電場(chǎng)作用下射向熒光屏留下圖像

無(wú)法利用場(chǎng)離子顯微鏡來(lái)研究

參考答案:

元素種類

不導(dǎo)電的陶瓷樣品原子探針針狀樣品的制備方法為

參考答案:

聚焦離子束

下列哪一項(xiàng)不屬于對(duì)原子探針樣品的要求

參考答案:

錐角越小越好

原子探針層析技術(shù)能夠

參考答案:

分析樣品中元素的三維空間分布情況

原子探針層析技術(shù)的分辨率

參考答案:

深度分辨率高

飛行時(shí)間質(zhì)譜儀探測(cè)的是元素的

參考答案:

質(zhì)荷比

原子探針與場(chǎng)離子顯微鏡的主要區(qū)別在于

參考答案:

飛行時(shí)間質(zhì)譜儀

原子探針層析技術(shù)無(wú)法分析

參考答案:

電子結(jié)構(gòu)

以下關(guān)于場(chǎng)離子顯微鏡中場(chǎng)電離現(xiàn)象說法正確的是

參考答案:

試樣表面原子臺(tái)階邊緣處電場(chǎng)強(qiáng)度更高，更容易發(fā)生場(chǎng)電離

以下哪項(xiàng)不屬于常規(guī)的EBSD應(yīng)用?

參考答案:

應(yīng)力分析

以下哪個(gè)不是EBSD物相鑒定相比X射線衍射物相鑒定的優(yōu)勢(shì)？

參考答案:

可以獲得宏觀物相的定性或定量分析

通過EBSD可以分析相鄰晶粒的（），可以確定晶界的性質(zhì)，并用不同線條繪制晶界。

參考答案:

取向差

EBSD利用不同顏色渲染晶體的（）可以顯示出晶粒的形貌，特別是傳統(tǒng)化學(xué)方法難以侵蝕顯示的小角晶界和大角晶界

參考答案:

取向

強(qiáng)度低、易變性的金屬材料的EBSD樣品制備，可以用（）方法獲得無(wú)應(yīng)變表層

參考答案:

B或者C

下面關(guān)于EBSD分辨率的影響因素的表述正確的是（）

參考答案:

樣品的原子序數(shù)越高，空間分辨率越高

晶體取向可以用（）表示

參考答案:

以上均可

電子背散射衍射系統(tǒng)的核心是（）

參考答案:

衍射譜采集設(shè)備

電子背散射衍射主要用于分析材料的（）

參考答案:

A+B

下面關(guān)于菊池帶的描述錯(cuò)誤的是（）

參考答案:

菊池帶之間的夾角即為所對(duì)應(yīng)晶面的夾角

微商熱重分析法的英文縮寫為

參考答案:

DTG

差熱分析法的英文縮寫為

參考答案:

DTA

差示掃描量熱法的英文縮寫為

參考答案:

DSC

粉末試樣的粒度愈大，導(dǎo)致

參考答案:

熱效應(yīng)峰后移，但峰高增加；

粉末試樣的粒度愈小，比表面積愈大，活性愈強(qiáng)，導(dǎo)致

參考答案:

反應(yīng)的起始溫度降低

提高升溫速率，可使熱效應(yīng)峰

參考答案:

向高溫方向移動(dòng)

差示掃描量熱(DSC)是指

參考答案:

在程序控溫下，測(cè)量單位時(shí)間內(nèi)輸入到樣品和參比物之間的能量差（或功率差）隨溫度變化的一種技術(shù)

DTA曲線中某反應(yīng)熱效應(yīng)峰的反應(yīng)最大速率發(fā)生在

參考答案:

峰頂前某點(diǎn)

DTA曲線中的反應(yīng)峰的峰頂溫度表示

參考答案:

試樣與參比物間的溫差最大

熱效應(yīng)峰的面積來(lái)表征

參考答案:

熱效應(yīng)的大小

XPS可分析的元素為

參考答案:

H、He以外的所有元素

原子力顯微鏡觀察對(duì)試樣的導(dǎo)電性

參考答案:

無(wú)要求

AFM有多種工作模式，不屬于其的工作模式是

參考答案:

衍射模式

STM可用于表面

參考答案:

形貌演變研究

光電子的動(dòng)能

參考答案:

不僅與光電子的結(jié)合能有關(guān)，還與入射X光子的能量有關(guān)

用于光電子能譜峰表征的三個(gè)量子數(shù)是

參考答案:

n,l,j

XPS中產(chǎn)生X射線源的靶材通常采用

參考答案:

輕元素Mg或Al

俄歇能譜分析試樣表面的

參考答案:

成分

運(yùn)用俄歇能譜分析元素的原子序數(shù)愈高，分析的靈敏度

參考答案:

愈低

元素的化學(xué)價(jià)態(tài)變化時(shí)會(huì)引起俄歇譜發(fā)生變化，主要表現(xiàn)在

參考答案:

峰形和峰位

掃描電鏡與電子探針結(jié)合可實(shí)現(xiàn)對(duì)試樣的

參考答案:

成分和形貌的綜合分析

電子探針對(duì)試樣成分

參考答案:

既能定性分析又能定量分析

STEM用電子束在樣品的表面掃描進(jìn)行微觀形貌分析時(shí)，探測(cè)器置于

參考答案:

試樣下方，接受透射電子束流熒光成像