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1、國際禱業(yè).網(wǎng)WWW/ II J1 J (Nil鑄件超聲波探傷特點及方法鑄件的生產(chǎn)過程較為復(fù)雜,要保證鑄件的質(zhì)量,必須掌握冶煉、造型、澆注、出模、熱處理等 一系列工藝環(huán)節(jié)。然而,在鑄件中很難避免出現(xiàn)一些如裂紋、氣泡、夾雜、疏松、縮孔等缺陷。近年 來,鑄件品種不斷增加,質(zhì)量要求更高了,為此用超聲波探傷儀對鑄件內(nèi)部缺陷進行探傷檢測是很必 要的。一、鑄件超聲波探傷的特點1。鑄件內(nèi)部一般晶粒較粗,組織不均勻且不致密,與鍛件相比,鑄件衰減大,穿透性能差。2。在不均勻的粗大結(jié)構(gòu)的界面上會產(chǎn)生漫反射,在熒光屏上會出現(xiàn)雜亂的晶界反射波。特別在 用高頻率探傷時,尤為顯著,妨礙對缺陷的判別。3。一般鑄件自然表面的光
2、潔度差,不易獲得良好的聲耦合。4。由于上述原因,造成鑄件的探測靈敏度降低,只能發(fā)現(xiàn)面積較大的缺陷。5。鑄件中的缺陷,多數(shù)呈有一定體積,常有多種形狀和性質(zhì)的缺陷混在一起,形狀復(fù)雜、無明 顯方向,但出現(xiàn)部位有一定規(guī)律。二、鑄件超聲波探傷的方法在鑄件中,鑄鋼(除奧氏體鑄鋼外)的穿透性較鑄鐵件好,探測頻率可用26兆赫。而鑄鐵、鑄銅等穿透性較差,探測頻率可用0o 52兆赫。粗糙的鑄鋼件。具表面光潔度差,使入射的聲能減小, 若用普通的機油做耦合劑,幾乎不嫩探測,一般需用水浸法或黏度大的耦合劑或敷設(shè)塑料薄膜等方法 探測。為提高發(fā)現(xiàn)缺陷的能力,鑄件一般需經(jīng)粗加工,使光潔度符合探傷要求。探傷鑄件的方法,通常采用
3、多次脈沖反射法,有時也用一次脈沖反射法來確定缺陷位置。 多次脈沖發(fā)射法是利用聲波在缺陷界面的反射和缺陷對聲波衰減的原理進行探測的。對于較厚且形狀簡單的 工件,用此方法探測是比較適宜的。當(dāng)工件內(nèi)部無缺陷時,則出現(xiàn)鑄件底部的多次反射波,其波幅鑄 件減小,并呈指數(shù)曲線衰減,如下圖a所示,當(dāng)工件內(nèi)部存在疏松等缺陷時,會造成聲波散射,使聲 能衰減,則底波反射次數(shù)減少,如下圖b所示,當(dāng)工件內(nèi)部存在嚴(yán)重的缺陷,則底波消失或只有雜波, 如下圖c所示。由工件底波的衰減狀態(tài),即可判斷有無缺陷和嚴(yán)重程度。圖1:多次脈沖反射法探測鑄件時的波形(a:無缺陷時的波形;b: 一般缺陷時的波形;c:嚴(yán)重缺陷時的波形。)若用一
4、次脈沖反射法探測時,則由缺陷波的狀態(tài)來判斷鑄件質(zhì)量。在正常情況下,有底波反射,若工件內(nèi)部有缺陷時,其波形大致有三種:第一種是只有缺陷波或雜波而無底波, 此屬嚴(yán)重縮孔和疏 松缺陷;第二種是有缺陷波而底波顯著降低,此屬一般縮孔或疏松;第三種是缺陷波與底波同時存在, 底波無明顯降低,此屬單個缺陷。鑄件的生產(chǎn)過程較為復(fù)雜,要保證鑄件的質(zhì)量,必須掌握冶煉、造型、澆注、出模、熱處理 等一系列工藝環(huán)節(jié)。然而,在鑄件中很難避免出現(xiàn)一些如裂紋、氣泡、夾雜、疏松、縮孔等缺陷。近 年來,鑄件品種不斷增加,質(zhì)量要求更高了,為此用超聲波探傷儀對鑄件內(nèi)部缺陷進行探傷檢測是很 必要的。、鑄件超聲波探傷的特點1。鑄件內(nèi)部一般
5、晶粒較粗,組織不均勻且不致密,與鍛件相比,鑄件衰減大,穿透性能差。2。在不均勻的粗大結(jié)構(gòu)的界面上會產(chǎn)生漫反射,在熒光屏上會出現(xiàn)雜亂的晶界反射波。特別在 用高頻率探傷時,尤為顯著,妨礙對缺陷的判別。3。一般鑄件自然表面的光潔度差,不易獲得良好的聲耦合。4。由于上述原因,造成鑄件的探測靈敏度降低,只能發(fā)現(xiàn)面積較大的缺陷。5。鑄件中的缺陷,多數(shù)呈有一定體積,常有多種形狀和性質(zhì)的缺陷混在一起,形狀復(fù)雜、無明 顯方向,但出現(xiàn)部位有一定規(guī)律。二、鑄件超聲波探傷的方法在鑄件中,鑄鋼(除奧氏體鑄鋼外)的穿透性較鑄鐵件好,探測頻率可用26兆赫。而鑄鐵、鑄銅等穿透性較差,探測頻率可用0o 52兆赫。粗糙的鑄鋼件。
6、具表面光潔度差,使入射的聲能減小, 若用普通的機油做耦合劑,幾乎不嫩探測,一般需用水浸法或黏度大的耦合劑或敷設(shè)塑料薄膜等方法 探測。為提高發(fā)現(xiàn)缺陷的能力,鑄件一般需經(jīng)粗加工,使光潔度符合探傷要求。探傷鑄件的方法,通常采用多次脈沖反射法,有時也用一次脈沖反射法來確定缺陷位置。 多次脈 沖發(fā)射法是利用聲波在缺陷界面的反射和缺陷對聲波衰減的原理進行探測的。對于較厚且形狀簡單的工件,用此方法探測是比較適宜的。當(dāng)工件內(nèi)部無缺陷時,則出現(xiàn)鑄件底部的多次反射波,其波幅鑄 件減小,并呈指數(shù)曲線衰減,如下圖a所示,當(dāng)工件內(nèi)部存在疏松等缺陷時,會造成聲波散射,使聲 能衰減,則底波反射次數(shù)減少,如下圖b所示,當(dāng)工件內(nèi)部存在嚴(yán)重的缺陷,則底波消失或只有雜波, 如下圖c所示。由工件底波的衰減狀態(tài),即可判斷有無缺陷和嚴(yán)重程度。圖1:多次脈沖反射法探測鑄件時的波形(a:無缺陷時的波形;b: 一般缺陷時的波形;c:嚴(yán)重缺陷時的波形。)若用一次脈沖反射法探測時,則由缺陷波的狀態(tài)來判斷鑄件質(zhì)量。在正常情況下,有底波反射,若工件內(nèi)部
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