鍛件超聲波檢驗(yàn)

1、鍛件超聲波檢驗(yàn)1.1范圍：本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)外半徑之比小于80%勺環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。1.2探頭：雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz探頭晶片面積不小于150mm2單晶直探頭的 公稱頻率應(yīng)選用2MHz-5MHz探頭晶片一般為© 14mnr25mm1.3試塊：用標(biāo)準(zhǔn)鍛件試塊csi、csu、csm。1.4檢驗(yàn)時(shí)機(jī)：原則上應(yīng)熱處理后，在槽、孔，臺(tái)階等加工前，比較簡(jiǎn)單的幾何形狀下進(jìn) 行，檢測(cè)面的表面粗糙度Ra<6.3卩m1.5掃查面：掃查表面應(yīng)無(wú)油垢和污物等附著物。1.6耦合劑：

2、機(jī)油或漿糊。1.7檢驗(yàn)方法：以縱波檢驗(yàn)為主。對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢驗(yàn)，檢查部位和驗(yàn)收 標(biāo)準(zhǔn)按產(chǎn)品技術(shù)要求而定。1.8掃查方法：以兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行，盡可能地探測(cè)到鍛件的全體積，主要探測(cè)方向如圖4.1所示其他形狀鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行1.9 掃查速度：探頭移動(dòng)速度不超過(guò) 150mm/s。1.10當(dāng)鍛件探測(cè)厚度大于400m時(shí)，應(yīng)從相對(duì)的兩端面進(jìn)行100%勺掃查。1.11 檢測(cè)靈敏度的校驗(yàn)當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的 3 倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，可采用底 波計(jì)算法確定檢測(cè)靈敏度， 校正點(diǎn)的位置應(yīng)在工件上無(wú)缺陷的完好區(qū)域， 且至少選擇三點(diǎn)， 并取得平均值；對(duì)由于幾何形狀所限，不能

3、獲得底波或壁厚小于探頭的 3 倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可 直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。1.12檢測(cè)靈敏度不得低于最大檢測(cè)距離處的 © 2mr平底孔當(dāng)量直徑。1.13缺陷當(dāng)量確定，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量（工件厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)）計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò) 4dB/m寸，應(yīng)予修正。1.14 記錄a. 記錄當(dāng)量直徑超過(guò)© 4mr1的單個(gè)缺陷的波幅和位置；b. 密集性缺陷：記錄密集性缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和分布；c. 餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于© 4mr當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于© 3mr當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)；d. 缺陷密集區(qū)面積以50m材50m的方法作為最小量度單位，其邊界可由半波高度法決定。1.15 等級(jí)分類a. 單