超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

1、JB/T4730-2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第3部分 超聲檢測(cè)1 范圍JB/T 4730的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測(cè)工件缺陷的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定要求。 本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和設(shè)備的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。 與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。2 規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過JB/T 4730的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本

2、。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。JB 4730.12005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第1部分：通用要求JB/T 79131995 超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T 92141999 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測(cè)試方法JB/T 100611999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀 通用技術(shù)條件JB/T 100621999 超聲探傷用探頭 性能測(cè)試方法JB/T 100631999 超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件3 一般要求3.1 超聲檢測(cè)人員 超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合JB/T 4730.1的有關(guān)規(guī)定。3.2 檢測(cè)設(shè)備3.2.1 超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格

3、證或合格的證明文件。3.2.2 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.2.2.1 探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB誤差在±1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。3.2.2.2 探頭3.2.2.2.1 晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長(zhǎng)原則上不大于25mm。3.2.2.2.2 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2

4、6;，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。3.2.2.3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能3.2.2.3.1 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。3.2.2.3.4 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB。3.2.2.3.5 儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T 9214和JB/T 10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試

5、。3.3 超聲檢測(cè)一般方法3.3.1 檢測(cè)準(zhǔn)備3.3.1.1 承壓設(shè)備的制造安裝和在用檢驗(yàn)中，檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的要求和原則進(jìn)行。3.3.1.2 檢測(cè)面的確定，應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。3.3.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)合格。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?.3.2 掃查覆蓋率 為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。3.3.3 探頭的移動(dòng)速度 探頭的掃查速度不應(yīng)超過15

6、0mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。3.3.4 掃查靈敏度掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。3.3.5 耦合劑應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。3.3.6 靈敏度補(bǔ)償 a) 耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。b) 衰減補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。c) 曲面補(bǔ)償。對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。3.4 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核3.4.1 一般要求校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得

7、穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。3.4.2 儀器校準(zhǔn)每隔三個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T 10061的規(guī)定進(jìn)行。 新購(gòu)探頭測(cè)定新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按JB/T 10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。3.4.4 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定3.4.4.1 使用儀器-斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 使用儀器-直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.5 檢測(cè)過程中儀器和

8、探頭系統(tǒng)的復(fù)核 遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；b) 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；c) 連續(xù)工作4h以上時(shí)；d) 工作結(jié)束時(shí)。3.4.6 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a) 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。b) 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離-波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新

9、評(píng)定。3.4.7 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。3.5 試塊3.5.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊3.5.1.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊，本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有：a) 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CB、CB；b) 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CS、CS、CS；c) 焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-A 、CSK-A、CSK-A、CSK-A。3.5.1.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。3.5.1.3

10、標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。3.5.1.4 標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T 10063和JB/T 79131995的規(guī)定。3.5.2 對(duì)比試塊3.5.2.1 對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。3.5.2.2 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定。3.5.2.3 對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分的規(guī)定。4 承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)4.1 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)4.1.1 范圍本條適用于板厚為6mm250mm的碳素鋼、低

11、合金鋼承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照本章執(zhí)行。4.1.2 探頭選用4.1.2.1 探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。表1 鍋爐、壓力容器用板材超聲檢測(cè)探頭選用板厚，mm采用探頭公稱頻率，MHz探頭晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm2>2040單晶直探頭51420 mm>40250單晶直探頭2.52025 mm4.1.2.2 雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。4.1.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊4.1.3.1 用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm的鋼板時(shí)，采用的CB標(biāo)準(zhǔn)試塊如圖1所示。4.1.3.2 用

12、單直探頭檢測(cè)厚度大于20mm的鋼板時(shí)，CB標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。圖2 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊表2 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊 mm試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面到平底孔的距離s試塊厚度TCB-1>20401520CB-2>40603040CB-3>601005065CB-4>10016090110CB-5>160200140170CB-6>2002501902204.1.4 基準(zhǔn)靈敏度4.1.4.1 板厚不大于20mm時(shí)，用CB試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。4.1.4.2 板厚大于20mm時(shí)，

13、應(yīng)將CB試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。4.1.4.3 板厚不小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無(wú)缺陷完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與4的要求相一致。4.1.5 檢測(cè)方法4.1.5.1 檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。4.1.5.2 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。4.1.5.3 掃查方式 a) 探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意

14、圖見圖3；b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。4.1.6 缺陷的測(cè)定與記錄4.1.6.1 在檢測(cè)過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：a) 缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F150%； b) 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1<100%，而F1/B150%； c) 底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%，即B150%。4.1.6.2 缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法a) 檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的延伸

15、。 b) 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。c) 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。d) 確定4 c

16、）中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。e) 當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。4.1.7 缺陷的評(píng)定方法4.1.7.1 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí)，可不作記錄。4.1.7.2 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則 a) 一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。b) 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的

17、指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。c） 指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表3。表3 鋼板質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度mm單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)cm28025391005051512010010251501001025超 過 級(jí) 者4.1.7.3 缺陷面積百分比的評(píng)定規(guī)則在任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定。如鋼板面積小于1m×1m，可按比例折算。4.1.8 鋼板質(zhì)量等級(jí)評(píng)定4.1.8.1 鋼板質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見表3。4.1.8.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各5

18、0mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，應(yīng)評(píng)為級(jí)。4.1.8.3 在檢測(cè)過程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為級(jí)。4.1.9 橫波檢測(cè)4.1.9.1 在檢測(cè)過程中對(duì)缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用橫波檢測(cè)。4.1.9.2 鋼板橫波檢測(cè)見附錄B（規(guī)范性附錄）。附錄B（規(guī)范性附錄）承壓設(shè)備用鋼板橫波檢測(cè)B.1 范圍本附錄規(guī)定了用斜探頭（橫波）檢測(cè)鋼板中非夾層性缺陷的方法，并將其作為直探頭檢測(cè)的補(bǔ)充。B.3.1 對(duì)比試塊用鋼板應(yīng)與被檢鋼板厚度相同，聲學(xué)特性相同或相似。B.3.2 對(duì)比試塊上的人工缺陷反射體為V形

19、槽，角度為60°，槽深為板厚的3%，槽的長(zhǎng)度至少為25mm。B.3.3 對(duì)比試塊的尺寸、V形槽位置應(yīng)符合圖B.1的規(guī)定。B.3.4 對(duì)于厚度超過50mm的鋼板，要在鋼板的底面加工第二個(gè)如B.3.3所述的校準(zhǔn)槽。B.4 基準(zhǔn)靈敏度的確定B.4.1 厚度小于或等于50mm的鋼板B.4.1.1 把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束對(duì)準(zhǔn)槽的寬邊，找出第一個(gè)全跨距反射的最大波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿刻度的80%，在熒光屏上記錄下該信號(hào)的位置。B.4.1.2 移動(dòng)探頭，得到第二個(gè)全跨距信號(hào)，并找出信號(hào)最大反射波幅，記下這一信號(hào)幅值點(diǎn)在熒光屏上的位置，將熒光屏上這兩個(gè)槽反射信號(hào)幅值點(diǎn)連成

20、一直線，此線即為距離-波幅曲線。B.4.2 厚度大于50mm150mm的鋼板B.4.2.1 將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)試塊背面的槽，并找出第一個(gè)1/2跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿刻度的80%，在熒光屏上記下這個(gè)信號(hào)的位置。不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，在3/2跨距上重復(fù)該項(xiàng)操作。B.4.2.2 不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于試塊表面，使波束對(duì)準(zhǔn)試塊表面上的槽，并找出全跨距最大反射波的位置。在熒光屏上記下這一幅值點(diǎn)。B.4.2.3 在熒光屏上將和所確定的點(diǎn)相連接，此線即為距離-波幅曲線。B.4.3 厚度大于150mm250mm的鋼板B.4.3.1 把探頭置于試塊表面，使聲束對(duì)準(zhǔn)試塊底面上的切槽，并

21、找出第一個(gè)1/2跨距反射的最大幅度位置。調(diào)節(jié)儀器，使這一反射波為熒光屏滿刻度的80%，在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。B.4.3.2 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于試塊表面，以全跨距對(duì)準(zhǔn)切槽獲得最大反射，在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。B.4.3.3 在熒光屏上將B.4.3.1和B.4.3.2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為距離-波幅曲線。B.5 掃查方法B.5.1 在鋼板的軋制面上以垂直和平行于鋼板主要壓延方向的格子線進(jìn)行掃查，格子線中心距為200mm。B.5.2 當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷信號(hào)時(shí)，移動(dòng)探頭使之能在熒光屏上得到最大反射。B.5.3 對(duì)于波幅等于或超過距離-波幅曲線的缺陷顯示，應(yīng)記錄其位置，并移動(dòng)探頭

22、使波幅降到滿刻度的25%來(lái)測(cè)量其長(zhǎng)度。對(duì)于波幅低于距離-波幅曲線的缺陷，當(dāng)指示長(zhǎng)度較長(zhǎng)時(shí)，也可記錄備案。B.5.4 在每一個(gè)記錄缺陷位置上，應(yīng)以記錄缺陷中心起，在200mm×200mm的區(qū)域作100%檢測(cè)。B.6 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)等于或超過距離-波幅曲線的任何缺陷信號(hào)均應(yīng)認(rèn)為是不合格的。但是以縱波方法作輔助檢測(cè)時(shí)，若發(fā)現(xiàn)缺陷性質(zhì)是分層類的，則應(yīng)按縱波檢測(cè)的規(guī)定處理。 4.2 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測(cè)4.2.1 范圍本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)、外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。4.

23、2.2 探頭雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用25MHz，探頭晶片一般為1425mm。4.2.3 試塊應(yīng)符合3.5的規(guī)定。4.2.3.1 單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CS試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。4.2.3.2 雙晶直探頭試塊 a) 工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CS標(biāo)準(zhǔn)試塊。 b) CS試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。4.2.3.3 檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CS 標(biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖6所示。4.2.4 檢測(cè)時(shí)機(jī)檢測(cè)原則上應(yīng)安排在熱處理后，孔、臺(tái)等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測(cè)面的表面

24、粗糙度Ra6.3m。 國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)條款及技術(shù)內(nèi)容，技術(shù)差異的簡(jiǎn)要評(píng)述4.2.5 檢測(cè)方法4.2.5.1 一般原則鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)，對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè)。4.2.5.2 縱波檢測(cè) a） 原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體積。主要檢測(cè)方向如圖7所示。其他形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行；b） 鍛件厚度超過400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查。4.2.5.3 橫波檢測(cè)鋼鍛件橫波檢測(cè)應(yīng)按附錄C（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。4.2.6 靈敏度的確定4.2.6.1 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，原則上可

25、采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CS標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。4.2.6.2 雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CS 試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的3平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。4.2.6.3 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的2mm平底孔當(dāng)量直徑。4.2.7 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定4.2.7.1 在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1或Bn）為滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面

26、回波幅度（B2或Bm）為滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1-B2）或（Bn-Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。4.2.7.2 衰減系數(shù)的計(jì)算公式（T3N，且滿足n3N/T，m=2n，=（Bn-Bm）-6/2（m-n）T（1）式中：衰減系數(shù)，dB/m（單程）； （Bn-Bm）兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB； T工件檢測(cè)厚度，mm； N單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，mm；m、n底波反射次數(shù)。 衰減系數(shù)的計(jì)算公式（T3N） =（B1-B2）-6/2T（2）（B1-B2）兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB；式中其余符號(hào)意義同式（1）的規(guī)定。4.2.7.4 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。4

27、.2.8 缺陷當(dāng)量的確定4.2.8.1 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離-波幅曲線來(lái)確定缺陷當(dāng)量。也可采用其他等效方法來(lái)確定。4.2.8.2 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m，應(yīng)考慮修正。4.2.9 缺陷記錄4.2.9.1 記錄當(dāng)量直徑超過4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。4.2.9.2 密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或等于3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以50mm×

28、50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。4.2.9.3 底波降低量應(yīng)按表6的要求記錄。表6 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 dB等級(jí)底波降低量BG/BF8>814>1420>2026>26注：本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺陷。4.2.9.4 衰減系數(shù)：若合同雙方有規(guī)定時(shí)，應(yīng)記錄衰減系數(shù)。4.2.10 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定4.2.10.1 單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見表7。 表7 單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 mm等級(jí)缺陷當(dāng)量直徑44+（>0 dB 8dB）4+（>8 dB 12dB）4+（>12 dB 16dB）4 +16dB4.2.10.2 缺

29、陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見表6。4.2.10.3 缺陷密集區(qū)質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見表8。 表8 密集區(qū)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的百分比，%0>05>510>1020>204.2.10.4 表6、表7和表8的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。4.2.10.5 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為級(jí)。附錄C（規(guī)范性附錄）承壓設(shè)備用鋼鍛件橫波檢測(cè)C.1 范圍本附錄適用于內(nèi)、外徑之比大于或等于80%的承壓設(shè)備用環(huán)形和筒形鍛件的超聲橫波檢測(cè)。C.2 探頭C.2.1 探頭公稱頻率主要為2.5MHz。C.2.2 探頭晶片面積為140 mm2400mm2。

30、C.2.3 原則上應(yīng)采用K1探頭，但根據(jù)工件幾何形狀的不同，也可采用其他的K值探頭。C.3 靈敏度校準(zhǔn)試塊為了調(diào)整檢測(cè)靈敏度，可利用被檢工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分制作對(duì)比試塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。V形槽長(zhǎng)度為25mm，深度為鍛件壁厚的1%，角度為60°。也可采用其他等效的反射體（如邊角反射等）。C.4 檢測(cè)方法C.4.1 掃查方式C.4.1.1 掃查方向見圖C.1。C.4.1.2 探頭移動(dòng)速度不應(yīng)超過150mm/s。C.4.1.3 掃查覆蓋率應(yīng)為探頭寬度的15%以上。圖C.1鍛件橫波檢測(cè)掃查方向C.4.2 基準(zhǔn)靈敏度的確定從鍛件外圓面將

31、探頭對(duì)準(zhǔn)內(nèi)圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，調(diào)整增益，使最大反射高度為滿刻度的80%，將該值標(biāo)在面板上，以其為基準(zhǔn)靈敏度；不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，再移動(dòng)探頭測(cè)定外圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，并將最大的反射高度也標(biāo)在面板上，將上述兩點(diǎn)用直線連接并延長(zhǎng)，繪出距離-波幅曲線，并使之包括全部檢測(cè)范圍。內(nèi)圓面檢測(cè)時(shí)基準(zhǔn)靈敏度也按上述方法確定，但探頭斜楔應(yīng)與內(nèi)圓曲率一致。C.5 記錄記錄波幅幅度大于距離-波幅曲線（基準(zhǔn)線）高度50%的缺陷反射波和缺陷位置。缺陷指示長(zhǎng)度按6dB法測(cè)定。當(dāng)相鄰兩個(gè)缺陷間距小于或等于25mm時(shí)，按單個(gè)缺陷處理（中間間距不計(jì)）。C.6 質(zhì)量評(píng)級(jí)C.6.1 缺陷波幅大于距離-波幅曲線（基準(zhǔn)線）的質(zhì)量等級(jí)定為級(jí)。C

32、.6.2 波幅在距離-波幅曲線（基準(zhǔn)線）50%100%的缺陷按表C.1分級(jí)。表C.1 缺陷質(zhì)量等級(jí)質(zhì)量等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度1/3壁厚，且100mm2/3壁厚，且150mm大于級(jí)者4.3 承壓設(shè)備用鋁及鋁合金和鈦及鈦合金板材超聲檢測(cè)4.3.1 范圍本條適用于厚度為6mm以上的承壓設(shè)備用鋁及鋁合金、鈦及鈦合金板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。4.3.2 探頭選用4.3.2.1 探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。4.3.2.2 雙晶直探頭性能要求應(yīng)符合附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。4.3.3 檢測(cè)方法4.3.3.1 檢測(cè)面可選板材的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選板材的上、下兩

33、軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。4.3.3.2 掃查方式 a) 探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于40mm的平行線進(jìn)行掃查。在板材剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意如圖3。 b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。4.3.3.3 基準(zhǔn)靈敏度的確定將探頭置于待檢板材完好部位，調(diào)節(jié)第一次底波高度為熒光屏滿刻度的80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。4.3.4 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。4.3.5 缺陷記錄4.3.5.1 在檢測(cè)過程中，發(fā)現(xiàn)下列情況之一者即作為缺陷處理： a） 缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的40%，即F 140%；b） 缺陷第一

34、次反射波（F1）波高低于滿刻度的40%，同時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于100%，即F 1/B1100%； c) 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的5%，即B1小于5%。4.3.5.2 缺陷邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法 a） 檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的延伸。 b） 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的20%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為100%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的

35、邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 c） 用單直探頭確定缺陷邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使缺陷第一次反射波高下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的20%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為100%。此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)；兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 d） 確定底波降低缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭），使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的40%。此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。4.3.6 缺陷的評(píng)定方法4.3.6.1 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定a） 一個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)

36、度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度，若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于25mm時(shí)，可不作記錄。b） 兩個(gè)缺陷相鄰間距小于25mm時(shí)，其指示長(zhǎng)度為兩單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度再加上間距之和。4.3.6.2 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定 a） 一個(gè)缺陷按其指示的最大面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積；b） 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。c） 指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表9。表9 板材質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度，mm單個(gè)缺陷指示面積，cm2以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)，cm2256450209755025缺陷大于級(jí)者4.3.7 板材質(zhì)量等級(jí)評(píng)定4.3.7.1 板材質(zhì)量等級(jí)

37、評(píng)定見表9。4.3.7.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于25mm時(shí)，應(yīng)評(píng)為級(jí)。4 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí)，板材的質(zhì)量等級(jí)為級(jí)。4.4 承壓設(shè)備用復(fù)合板超聲檢測(cè)4.4.1 范圍本條適用于基板厚度大于或等于6mm的承壓設(shè)備用不銹鋼、鈦及鈦合金、鋁及鋁合金、鎳及鎳合金、銅及銅合金復(fù)合板的超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。基板通常采用碳鋼、低合金鋼板或不銹鋼板。本條主要用于復(fù)合板復(fù)合面結(jié)合狀態(tài)的超聲檢測(cè)。4.4.2 探頭選用4.4.2.1 探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。4.4.2.2 雙晶直探頭性能要求應(yīng)符合附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。4.4.3 檢測(cè)方法4.4.3.1 檢

38、測(cè)面一般從基板側(cè)表面進(jìn)行檢測(cè)。4.4.3.2 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。4.4.3.3 掃查方式 a) 掃查方式可采用100%掃查或沿鋼板寬度方向，間隔為50mm的平行線掃查；b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他掃查形式；c） 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm內(nèi)應(yīng)作100%掃查。4.4.4 基準(zhǔn)靈敏度的確定將探頭置于復(fù)合鋼板完全結(jié)合部位，調(diào)節(jié)第一次底波高度為熒光屏滿刻度的80%。以此作為基準(zhǔn)靈敏度。4.4.5 未結(jié)合區(qū)的測(cè)定第一次底波高度低于熒光屏滿刻度的5%，且明顯有未接合缺陷反射波存在時(shí)（5%），該部位稱為未結(jié)合區(qū)。移動(dòng)探頭，使第一次底波升高到熒光屏滿刻度的40%

39、，以此時(shí)探頭中心作為未結(jié)合區(qū)邊界點(diǎn)。4.4.6 未結(jié)合缺陷的評(píng)定方法4.4.6.1 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定一個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于25mm時(shí)，可不作記錄。4.4.6.2 缺陷面積的評(píng)定多個(gè)相鄰的未結(jié)合區(qū)，當(dāng)其最小間距小于等于20mm時(shí)，應(yīng)作為單個(gè)未結(jié)合區(qū)處理，其面積為各個(gè)未結(jié)合區(qū)面積之和。4.4.6.3 未結(jié)合率的評(píng)定未結(jié)合區(qū)總面積占復(fù)合板總面積的百分比。4.4.7 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定4.4.7.1 復(fù)合鋼板質(zhì)量等級(jí)評(píng)定按表10的規(guī)定。4.4.7.2 在坡口的預(yù)定線兩側(cè)各50mm的范圍內(nèi)，未結(jié)合的指示長(zhǎng)度大于或等于25mm時(shí)，定級(jí)為級(jí)。表10 復(fù)合鋼板質(zhì)量

40、等級(jí)評(píng)定等級(jí)單個(gè)未結(jié)合指示長(zhǎng)度，mm單個(gè)未結(jié)合區(qū)面積，cm2未結(jié)合率，%0005020275455大于級(jí)者4.5 承壓設(shè)備用無(wú)縫鋼管超聲檢測(cè)4.5.1 范圍本條適用于外徑為12mm660mm、壁厚大于等于2mm的承壓設(shè)備用碳鋼和低合金無(wú)縫鋼管或外徑為12mm400mm、壁厚為2mm35mm的奧氏體不銹鋼無(wú)縫管的超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。本條不適用于內(nèi)、外徑之比小于80%的鋼管周向直接接觸法橫波檢測(cè)，也不適用于分層缺陷的超聲檢測(cè)。4.5.2 試塊的制備和要求4.5.2.1 對(duì)比試塊應(yīng)選取與被檢鋼管規(guī)格相同，材質(zhì)、熱處理工藝和表面狀況相同或相似的鋼管制備。對(duì)比試塊不得有大于或等于2mm當(dāng)量的自然缺陷

41、。對(duì)比試塊的長(zhǎng)度應(yīng)滿足檢測(cè)方法和檢測(cè)設(shè)備要求。4.5.2.2 鋼管縱向缺陷檢測(cè)試塊的尺寸、V形槽和位置應(yīng)符合圖8和表11的規(guī)定。表11 對(duì)比試樣上人工缺陷尺寸級(jí)別長(zhǎng)度l，mm深度t占壁厚的百分比，%405（0.2mmt1mm）408（0.2mmt2mm）4010（0.2mmt3mm）4.5.3 檢測(cè)方法4.5.3.1 鋼管的檢測(cè)主要針對(duì)縱向缺陷。橫向缺陷的檢測(cè)可按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定，由合同雙方協(xié)商解決。4.5.3.2 鋼管的檢測(cè)可根據(jù)鋼管規(guī)格選用液浸法或接觸法檢測(cè)。4.5.3.3 檢測(cè)縱向缺陷時(shí)超聲波束應(yīng)由鋼管橫截面中心線一側(cè)傾斜入射，在管壁內(nèi)沿周向呈鋸齒形傳播（如圖9所示）。檢測(cè)橫向

42、缺陷時(shí)超聲波束應(yīng)沿軸向傾斜入射呈鋸齒形傳播（如圖10所示）。4.5.3.4 探頭相對(duì)鋼管螺旋進(jìn)給的螺距應(yīng)保證超聲波束對(duì)鋼管進(jìn)行100%掃查時(shí)，有不小于15%的覆蓋率。4.5.3.5 自動(dòng)檢測(cè)應(yīng)保證動(dòng)態(tài)時(shí)的檢測(cè)靈敏度，且內(nèi)、外槽的最大反射波幅差不超過2dB。4.5.3.6 每根鋼管應(yīng)從管子兩端沿相反方向各檢測(cè)一次。4.5.4 檢測(cè)設(shè)備4.5.4.1 檢測(cè)設(shè)備由超聲波探傷儀、探頭和其他機(jī)械傳動(dòng)裝置及輔助裝置等組成。檢測(cè)頻率為2.5MHz5MHz。4.5.4.2 液浸法檢測(cè)使用線聚焦或點(diǎn)聚焦探頭。接觸法檢測(cè)使用與鋼管表面吻合良好的斜探頭或聚焦斜探頭。單個(gè)探頭壓電晶片長(zhǎng)度或直徑小于或等于25mm。4.

43、5.5 靈敏度的確定4.5.5.1 直接接觸法橫波基準(zhǔn)靈敏度的確定，可直接在對(duì)比試樣上將內(nèi)壁人工V形槽的回波高度調(diào)到熒光屏滿刻度的80%，再移動(dòng)探頭，找出外壁人工V形槽的最大回波，在熒光屏上標(biāo)出，連接兩點(diǎn)即為距離-波幅曲線，作為檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)靈敏度。4.5.5.2 液浸法基準(zhǔn)靈敏度按下述方法確定： a） 水層距離應(yīng)根據(jù)聚焦探頭的焦距來(lái)確定； b） 調(diào)整時(shí)，一面用適當(dāng)?shù)乃俣绒D(zhuǎn)動(dòng)管子，一面將探頭慢慢偏心，使對(duì)比試樣管內(nèi)、外表面人工缺陷所產(chǎn)生的回波幅度均達(dá)到熒光屏滿刻度的50%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。如不能達(dá)到此要求，也可在內(nèi)、外槽設(shè)立不同的報(bào)警電平。4.5.5.3 掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB

44、。4.5.6驗(yàn)收要求：無(wú)縫鋼管的判廢要求按相應(yīng)技術(shù)文件規(guī)定。4.5.7結(jié)果評(píng)定：若缺陷回波幅度大于或等于相應(yīng)的對(duì)比試塊人工缺陷回波，則判為不合格。不合格品允許重新處理，處理后仍按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。4.6 承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè)4.6.1 范圍和一般要求本條適用于對(duì)直徑大于M36的承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件進(jìn)行超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。本條不適用于奧氏體鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè)。4.6.2 探頭采用2.5MHz5MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭。4.6.3 試塊試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合的規(guī)定。4.6.4 檢測(cè)方法承壓設(shè)備螺栓坯件一般應(yīng)采用縱波檢測(cè)，盡可能檢測(cè)到工件的全體積。檢測(cè)表面粗糙度

45、Ra6.3m。4.6.4.1 縱波徑向探測(cè)應(yīng)按螺旋線或沿圓周進(jìn)行掃查，行程應(yīng)有重疊，掃查面應(yīng)包括整個(gè)圓柱表面。4.6.4.2 縱波軸向探測(cè)應(yīng)從螺栓坯件的兩端面進(jìn)行掃查，盡可能避免邊緣效應(yīng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。4.6.5 靈敏度的確定4.6.5.1 基準(zhǔn)靈敏度的確定按4.2.6的規(guī)定。4.6.5.2 掃查靈敏度一般不得低于最大探測(cè)距離處的2mm平底孔當(dāng)量直徑。4.6.6 缺陷當(dāng)量的確定4.6.6.1 一般應(yīng)采用距離-波幅曲線或計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。4.6.6.2 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m，應(yīng)考慮修正。衰減系數(shù)的測(cè)定按4.2.7的規(guī)定。4.6.7 缺陷記錄4.6.7.1 記錄當(dāng)量直徑

46、大于2mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。4.6.7.2 根據(jù)表12的要求，記錄底波降低量。表12 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 dB等級(jí)底波降低量BG/BF8>814>1420>2026>26注：本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺陷。4.6.8 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定4.6.8.1 單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見表13。表13 單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 mm等級(jí)缺陷當(dāng)量直徑2345>54.6.8.2 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見表12。4.6.8.3 按表12和表13評(píng)定缺陷等級(jí)時(shí)，應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。4.6.8.4 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí)，螺栓坯件的質(zhì)量

47、等級(jí)為級(jí)。 4.7 承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件超聲檢測(cè)4.7.1 范圍本條適用于承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。4.7.2 探頭4.7.2.1 探頭的工作頻率為0.5 MHz2MHz。4.7.2.2 直探頭的晶片直徑為14mm30mm。4.7.2.3 斜探頭的K值一般為0.52。4.7.2.4 為了準(zhǔn)確測(cè)定缺陷，必要時(shí)也可采用其他探頭。4.7.3 試塊4.7.3.1 對(duì)比試塊應(yīng)符合3.5的規(guī)定。4.7.3.2 對(duì)比試塊的晶粒大小和聲學(xué)特性應(yīng)與被測(cè)鍛件大致相近。4.7.3.3 應(yīng)制備幾套不同晶粒度的奧氏體鋼鍛件對(duì)比試塊，以便能將缺陷區(qū)衰減同試塊作合理的比較。4.7.3.4 對(duì)比試塊的

48、形狀和尺寸按圖11和表14所示。表14 奧氏體鋼鍛件試塊尺寸 mm361013LDLDLDLD205020502050205040505050505050506050805010060100608050120601508015080160802008020080200802501002501003001003001004001505001506002004.7.3.5 在條件允許時(shí)，經(jīng)合同雙方協(xié)議，可在鍛件有代表性的部位加工一個(gè)或幾個(gè)適當(dāng)大小的對(duì)比孔或槽，代替試塊作為校正和檢測(cè)的基準(zhǔn)。4.7.4 檢測(cè)時(shí)機(jī)和工件要求4.7.4.1 鍛件原則上應(yīng)在最終熱處理后、粗加工前進(jìn)行超聲檢測(cè)。檢測(cè)表面粗糙度

49、Ra6.3m。檢測(cè)面應(yīng)無(wú)氧化皮、漆皮、污物等。4.7.4.2 鍛件應(yīng)加工成簡(jiǎn)單的形狀，以利于掃查和聲束的覆蓋。4.7.5 檢測(cè)方法一般應(yīng)進(jìn)行直探頭縱波檢測(cè)。對(duì)筒形鍛件和環(huán)形鍛件必要時(shí)還應(yīng)進(jìn)行斜探頭檢測(cè)，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由合同雙方商定。4.7.5.1 斜探頭檢測(cè)奧氏體鋼鍛件斜探頭檢測(cè)應(yīng)按附錄E（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。4.7.5.2 直探頭縱波檢測(cè)直探頭縱波檢測(cè)應(yīng)符合4的規(guī)定。4.7.6 靈敏度的校正4.7.6.1 當(dāng)被檢鍛件厚度小于或等于600mm時(shí)，應(yīng)根據(jù)定貨鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級(jí)，在適當(dāng)厚度和當(dāng)量的平底孔試塊上校正，并根據(jù)實(shí)測(cè)值做出距離-波幅曲線（定量線）；當(dāng)被檢鍛件厚度大于600

50、mm時(shí)，在鍛件無(wú)缺陷部位將底波調(diào)至滿刻度的80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。4.7.6.2 掃查靈敏度應(yīng)至少比距離-波幅曲線（定量線）或基準(zhǔn)靈敏度提高6dB。4.7.7 缺陷記錄4.7.7.1 由于缺陷的存在，而使底波降為滿刻度25%以下的部位。4.7.7.2 波幅幅度大于基準(zhǔn)線高度50%的缺陷信號(hào)。4.7.8 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定4.7.8.1 單直探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見表15。4.7.8.2 斜探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定見表16。4.7.8.3 表15和表16的級(jí)別應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)使用。表15 單直探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 mm工件公稱厚度8080200200300300600600工件質(zhì)量等級(jí) 缺陷當(dāng)量直

51、徑或因缺陷引起底波降低后的幅度3366101013135%5%表16 斜探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 mm等級(jí)缺陷大小V形槽深為工件壁厚的3%，最大為3V形槽深為工件壁厚的5%，最大為6附錄E（規(guī)范性附錄）壓力容器用奧氏體鋼鍛件斜探頭檢測(cè)E.1 范圍本附錄適用于內(nèi)、外徑之比大于或等于80%的承壓設(shè)備用奧氏體鋼環(huán)形和筒形鍛件的超聲斜探頭檢測(cè)。E.2 對(duì)比試塊為了調(diào)整檢測(cè)靈敏度，利用被檢工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分制作對(duì)比試塊。在鍛件的內(nèi)、外表面，分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。V形槽長(zhǎng)度為25mm，深度t為鍛件壁厚的3%或5%，角度為60°。也可采用其他等效的反射體（如邊角反

52、射等）。E.3 掃查方式掃查方向如附錄D中圖D.1的規(guī)定。E.4 基準(zhǔn)靈敏度確定E.4.1 采用切槽法時(shí)，一般需將探頭置于外圓表面上，聲束垂直于刻槽長(zhǎng)度方向，移動(dòng)探頭并調(diào)整儀器靈敏度，使外壁槽第二次反射（W型反射）或內(nèi)壁槽第二次反射（N型反射）回波高度至少為滿刻度的20%。連接外壁槽第一、第二次回波峰值點(diǎn)或內(nèi)壁槽第一、第二次回波的峰值點(diǎn)，以此作為全跨距校正的距離-波幅曲線。E.4.2 如果采用全跨距校正從內(nèi)、外壁表面的槽上都得不到至少為滿刻度20%的第二次回波，則應(yīng)采用半跨距校正（此時(shí)內(nèi)外壁均應(yīng)各制一槽，并使其互不影響）。使來(lái)自外壁槽的第一次回波高度至少為滿刻度的20%，連接內(nèi)壁槽第一次回波和外壁槽第一次回波的峰值點(diǎn)，以此作為半跨距校正的距離-波幅曲線。E.4.3 內(nèi)徑小于500mm，且長(zhǎng)度超過900mm的筒形鍛件，通常不從內(nèi)表面進(jìn)行掃查。5 承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)5.1 鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)5.1.1 適用范圍本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。本條適用于母材厚度為8mm400mm全焊透熔化焊對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)。