【SMT資料】二極管失效的分析報告（8D report）

1、客戶投訴8d報告customer complaint 8d report報告編號（report no.）：d2011092001客戶名稱(customer): 利爾達科技有限公司客戶代碼(customer code): l4004客戶p/n(customer p/n): 零件型號(part no.): ll4148樣品數(shù)量(sample qty) : 4pcs封裝形式(package outline): ll-34失效率(failure rate): 投訴日期(date of complaint):2011-09-19退貨數(shù)量(returned qty):d1.問題描述(problem des

2、cription)： 客戶反映產品ll4148漏電ir偏大。簽名（signature）：陳明文 完成時間(date)：2011-09-19d2.改善小組成員(improvement team members)： 品質部：鄧生利工藝部：尹海軍生產部：陳子瓊客服部：陳明文/劉遠田d3.短期對策(short term corrective action)： 應急措施(actions)：挑選/返工(sorting/rework) 分析(for analysis)報廢(scrap) 特許(concession) 召回所有成品(recall parts from finished goods store)

3、補貨給客戶(replenish to customer) n/a負責人(responsible)： 完成時間(target date)：d4.原因分析(cause analysis)： 不良原因(defect cause)： 人為（man） 設備(equipment) 材料(material)環(huán)境(environment) 方法(method/workmanship) 設計(designer) 客戶操作(customer handling)根據(jù)客戶提供的樣品分析如下：1. 客戶提供ll4148樣品4pcs，樣品銅釘釘頭粘有余錫，應已使用過，樣品銅釘表面已發(fā)白（銅釘表面銅層已腐蝕）；仔細觀察發(fā)現(xiàn)

4、樣品表面有如助焊劑之類的物質殘留，見下圖： 客供來料樣品圖 整理后 表面有殘留物質2. 萬用表測試4pcs樣品的pn結正、反向壓降，確認4pcs樣品中有2pcs樣品壓降正常，2pcs樣品已擊穿短路，各取一圖作參考，見下圖： 2pcs樣品壓降正常（正、向壓降測試） 2pcs樣品已擊穿短路（正、向壓降測試） 3. 常規(guī)參數(shù)測試：結果4pcs樣品中pn結壓降正常的2pcs樣品參數(shù)漏電ir偏大，另2pcs樣品參數(shù)均為0（短路漏電大，設備保護顯示為0），均已短路，詳見以下測試參數(shù)：test itemvz n(v)vf 1(mv)ir1 n(ua)ir2 n(ua)test conditioniz(ma)

5、=0.1t(ms)=16if1(ma)=10t(ms)=0vr1(v)=75(ms)=0vr2(v)=20(ms)=0test specvzl(v)=100vzh(v)=200vf1l(mv)=0vf1h(mv)=1000ir1(ua)5ir2(ua)0.0251#40.2101 739.9574 249.9969 0.0000 2#147.5794 736.2950 0.2517 0.0492 3#0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 4#0.0000 0.00000.0000 0.0000 4. 把樣品表面進行清洗后再測試常規(guī)參數(shù)，結果各樣品參數(shù)與第3點測試數(shù)據(jù)無明顯變化

6、。5. 解剖觀察：任取漏電和短路樣品各1pc分別進行解剖觀察分析，發(fā)現(xiàn)樣品銅釘切面均平整，樣品晶片表面均見有腐蝕氧化的銅粉，參考第1點分析，應是在客戶處使用過程中受到酸濃度較高的助焊劑或別的具有腐蝕性化學物質浸蝕所致，任取一圖作參考，見下圖： 6. 將漏電和短路樣品解剖出的裸晶清洗后再測試常規(guī)電性參數(shù)，結果都符合ll4148產品規(guī)格要求，確認晶片電性是良好的，說明樣品漏電、短路電性不良是因腐蝕脫落的銅層所致。詳見以下清洗后的裸晶測試參數(shù)表： test itemvz n(v)vf 1(mv)ir1 n(ua)ir2 n(ua)test conditioniz(ma)=0.1t(ms)=16if1

7、(ma)=10t(ms)=0vr1(v)=75(ms)=0vr2(v)=20(ms)=0test specvzl(v)=100vzh(v)=200vf1l(mv)=0vf1h(mv)=1000ir1(ua)5ir2(ua)0.0251#136.8059 728.9702 0.0152 0.00393#139.5001741.1782 0.0991 0.0010 7. 檢查本廠產品生產流程，每只產品出廠前都會經過2次100%常規(guī)電性測試，漏電、擊穿短路等電性不良品不能通過測試功能而生產出廠。8. 綜上分析：1） 客戶提供ll4148樣品4pcs，樣品銅釘表面銅層已被腐蝕而變白，已使用過；經測試分

8、析確認4pcs樣品中有2pcs樣品參數(shù)漏電ir偏大、2pcs樣品已擊穿短路； 2） 從解剖觀察分析，發(fā)現(xiàn)樣品銅釘切面平整，樣品晶片表面均見有腐蝕脫落的銅粉，將有銅層的晶片清洗后測試裸晶電性ok，脫落的銅層使樣品內部正、負極兩端銅釘相互接觸連通而導致樣品漏電、短路；3） 導致銅層脫落的原因應是在客戶端的某個工序使用過程中有如助焊劑或別的其它化學物質腐蝕銅釘與玻殼之間的位置形成縫隙后進而腐蝕到內部所致。 簽名（signature）：吳亞峰/陳明文 完成時間(target date)：2011-09-19d5.長期對策(long term corrective action): 1. 請客戶查看當時

9、生產測試試驗該批次產品過程中使用的助焊劑或別的溶劑成份酸性強度是否有變化；2. 建議客戶在后續(xù)使用過程中，應在波峰焊后對pcb進行有效清洗，防止助焊劑殘留在元件本體而影響產品電性。 負責人(responsible)：mary/陳明文 完成時間(target date)：2011-09-20d6.對策驗證(verification of corrective actions): n/a驗證結果：合格 不合格 負責人(responsible)： 完成時間(target date)：d7.形成標準化(standardization):更改的文件類型(change the file type)： fmea(失效模式及效果分析) 控制計劃( control plan)操作指引(work instruction) 檢驗指引(inspection instruction)圖紙(drawing) 規(guī)格(spec) n/a負責人(responsible)：