三種的內(nèi)存測試軟件用法

1、三種內(nèi)存測試軟件的使用說明(1)微軟內(nèi)存檢測工具現(xiàn)在的系統(tǒng)盤一般都帶有“微軟內(nèi)存檢測工具”。程序加載后，即會(huì)開始掃描 RAM。掃描界面如下圖:Windows Memory Diagnostic 工具啟動(dòng)時(shí)默認(rèn)為“Standard”（標(biāo)準(zhǔn)）模式，此模式包括 6 項(xiàng)不同的連續(xù)內(nèi)存測試，每項(xiàng)測試都使用一種獨(dú)特的算法來掃描不同類型的錯(cuò)誤。在程序運(yùn)行時(shí)，屏幕會(huì)顯示每個(gè)單獨(dú)測試的結(jié)果，列出它的進(jìn)度以及正在掃描的內(nèi)存地址范圍。這 6 項(xiàng)測試完成后，此工具將使用同樣的測試運(yùn)行下一輪測試，并將一直持續(xù)下去，直至手動(dòng)按X鍵退出軟件為止。但是，通常情況下，一輪測試即足以確定內(nèi)存是否存在故障。詳細(xì)說明： 內(nèi)存診斷測試

2、狀態(tài)有兩種模式（標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存測試與擴(kuò)展內(nèi)存測試）1、standard tests標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存測試模式：有6項(xiàng)測試，分別檢測MATS+,INVC,LRAND,STRIDE6,WMATS+,WINVC，它是不斷循環(huán)的，只須一輪檢測就可以，當(dāng)顯示Pass：2時(shí)，就表示此六項(xiàng)檢測完畢。2、extended tests擴(kuò)展內(nèi)存測試模式(按T):有11項(xiàng)測試，分別檢測MATS+,INVC,LRAND,STRIDE6,WMATS,WINVC,MATS+,STRIDE38,WSTRIDE-6,ERAND，STRIDE6.它也是不斷循環(huán)的。一般情況下用“擴(kuò)展內(nèi)存測試模式”檢測內(nèi)存就可以了.注意：這個(gè)軟件是不會(huì)自動(dòng)停止的

3、，可以按X鍵退出    用的時(shí)候多看看它的數(shù)據(jù)每測試都完一項(xiàng)后，工具會(huì)顯示“Succeeded”（成功）或“Failed”（失敗）消息 ；如果你的內(nèi)存是兩條或以上，可拔下一條來，一條一條獨(dú)立測試，一定要全部Succeeded，否則就要換內(nèi)存了(或者是內(nèi)存槽壞了）。             （二)RAM Stress Test（RST）內(nèi)存測試軟件 Data Bus 數(shù)據(jù)總線工廠檢測內(nèi)存條質(zhì)量的軟件Ram Stress Test

4、，只要有一丁點(diǎn)問題，都能檢查出來，推薦大家使用，各位一定都碰到過，提示內(nèi)存不能為 READ，或者WRITTEN的情況，很多時(shí)候都是軟件問題，要解決他首先檢查內(nèi)存條的質(zhì)量，然后再從軟件去找問題。這個(gè)軟件是最專業(yè)的，比那個(gè) MEMREST還好，只需要檢查一邊，好就是好，壞的就是壞的。這個(gè)軟件確實(shí)很好，內(nèi)存壞的話會(huì)顯示紅色，并且報(bào)警。但是只能檢測一代內(nèi)存， 二代內(nèi)存就需要微軟的檢測工具了。 Ram Stress Test是美國Ultra-X公司旗下的一個(gè)專業(yè)記憶體測試程式，是專門給系統(tǒng)生產(chǎn)廠商出機(jī)前用的測試程式，他其實(shí)是從其他的產(chǎn)品獨(dú) 立出來的一項(xiàng)測

5、試，該公司專作系統(tǒng)測試的軟硬體，方便生產(chǎn)廠商將產(chǎn)品做詳細(xì)測試，至于R.S.T.在目前記憶體生產(chǎn)業(yè)使用非常普遍，因?yàn)榻?jīng) 過他的測試幾乎就能應(yīng)付大部分的記憶體問題，所以是非常好用的一個(gè)測試工具！ 使用非常簡易，只要設(shè)定為軟碟開機(jī)就行了，他是一個(gè)獨(dú)立開發(fā)的系統(tǒng)，沒有依附任何作業(yè)系統(tǒng)，相容于x86系列，只要BIOS認(rèn)的到的容量他都能測！ 發(fā)現(xiàn) ATS 選項(xiàng)錯(cuò)誤，在BIOS中，記憶體選項(xiàng)設(shè)成Auto時(shí)，記憶體的CL=2，改成Manual，自設(shè)CL=2.5時(shí)，上述選項(xiàng)才能通過。 程序執(zhí)行后，第一選項(xiàng)是測試物理內(nèi)存中基本內(nèi)存地址（<640K），第二項(xiàng)是擴(kuò)展內(nèi)存地

6、址，第三項(xiàng)是測試你CPU的L2 cache。 可以測試SD及DDR內(nèi)存。 閃動(dòng)數(shù)字0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表內(nèi)存條的8顆顆粒。 從左到右橫著數(shù)：0-7代表第1顆粒區(qū)域、8-F代表第2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表 第7顆粒、8-F代表第8顆粒 點(diǎn)不亮內(nèi)存的測試方法很多內(nèi)存短路或者顆粒損壞后都不能點(diǎn)亮，點(diǎn)不亮的可以用一根好的內(nèi)存去帶動(dòng)它（可解決部分點(diǎn)不亮問題

7、） 。必須SD的帶SD的，DDR的帶DDR的。本軟件會(huì)自動(dòng)跳過好的去檢測壞的那根。 發(fā)現(xiàn) ATS 選項(xiàng)錯(cuò)誤，在BIOS中，記憶體選項(xiàng)設(shè)成Auto時(shí)，記憶體的CL=2，改成Manual，自設(shè)CL=2.5時(shí)，上述選項(xiàng)才能通過。 程序執(zhí)行后，第一選項(xiàng)是測試物理內(nèi)存中基本內(nèi)存地址（<640K），第二項(xiàng)是擴(kuò)展內(nèi)存地址，第三項(xiàng)是測試CPU的 L2 cache。 RAM測試軟件說明書 (R.S.T )UX版 閃動(dòng)的一排測試數(shù)字代表內(nèi)存8顆粒的測試情況。 從左至右，0-7代表第一區(qū)域，8-F代表第二區(qū)域;0-7代表第三區(qū)域,8-F代表

8、第四區(qū)域;依次代表內(nèi)存條的8顆顆粒。 DDR8位與16位的單面測法: . 0-7(1 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第1顆粒已經(jīng)損壞 . 8-F(2 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第2顆粒已經(jīng)損壞 . 0-7(3 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第3顆粒已經(jīng)損壞 . 8-F(4 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第4顆粒已經(jīng)損壞 . 0-7(5 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第5顆粒已經(jīng)損壞 . 8-F(6 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第6顆粒已經(jīng)損壞

9、60;. 0-7(7 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第7顆粒已經(jīng)損壞 . 8-F(8 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第8顆粒已經(jīng)損壞 注意DR的顆粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8 如果你是128M的雙面DDR內(nèi)存,如以上顯示界面圖: 1-16M - 16-32M - 32-48M - 48-64M- 從1M到64M的上面的4根虛線上出現(xiàn)亂碼的話,說明這根內(nèi)存的的第一面的顆粒有問題(判斷哪個(gè)顆粒的好壞按照以上的說明) 64-80M - 80-96M - 

10、96-112M- 112-128M- 從64M到128M的上面的4根虛線上出現(xiàn)亂碼的話,說明這根內(nèi)存的的第二面的顆粒有問題(判斷哪個(gè)顆粒的好壞按照以上的說明) 注意:在內(nèi)存的PCB板上的兩邊標(biāo)著1與92的代表第一面，93與184的代表第二面。1-128M的8根虛線是用來區(qū)分兩面區(qū)域的作用. SD的8位與16位的單面測法: . 0-7(1)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第8顆粒已經(jīng)損壞 . 8-F(2)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第4顆粒已經(jīng)損壞 . 0-7(3)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第

11、7顆粒已經(jīng)損壞 . 8-F(4)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第3顆粒已經(jīng)損壞 . 0-7(5)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第6顆粒已經(jīng)損壞 . 8-F(6)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第2顆粒已經(jīng)損壞 . 0-7(7)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第5顆粒已經(jīng)損壞 . 8-F(8)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第1顆粒已經(jīng)損壞 （注： PCB板上從1到84為第一面，顆粒的排列順序從1到84為8-7-6-5-4-3-2-1，切記注意） 4.通過以上的介紹，說明SD的雙面是

12、跟DDR的是一樣的。但是顆粒的好壞判斷要按照 它們的排列循序來判斷。 5.PCB板的短路或者虛焊的測法:如果在8根虛線上都出現(xiàn)亂碼，說明這根內(nèi)存的PCB板有問題 6.點(diǎn)不亮的內(nèi)存的測試方法: 很多內(nèi)存短路或者顆粒損壞后都不能點(diǎn)亮，點(diǎn)不亮的可以用一根好的內(nèi)存去帶動(dòng)它。 必須SD的帶SD的，DDR的帶 DDR的。本軟件會(huì)自動(dòng)跳過好的那根去檢測壞的那根。 7.使用方法:直接把光盤插入光驅(qū),在主板的CMOS里設(shè)置光驅(qū)起動(dòng), 啟動(dòng)后本軟件會(huì)自動(dòng)引導(dǎo)到測試界面進(jìn)行檢測。（三）Memtest86使用說明通常我們會(huì)覺得內(nèi)存出錯(cuò)損壞的幾率不大，并且認(rèn)為如果內(nèi)存壞

13、了，那么它是不可能通過主板的開機(jī)自檢程序的。事實(shí)上這個(gè)自檢程序的功能很少，而且只是檢測容量速度而已，許多內(nèi)存出錯(cuò)的問題并不能檢測出來。如果你在運(yùn)行程序時(shí)不時(shí)有某個(gè)程序莫名其妙地失去響應(yīng)或者打游戲時(shí)突然退出游戲；打開文件時(shí)偶爾提示文件損壞，但稍后打開又沒問題那你應(yīng)該考慮檢測一下你的內(nèi)存了。一、軟件簡介Memtest86是一款免費(fèi)的內(nèi)存測試軟件，測試準(zhǔn)確度比較高，內(nèi)存的隱性問題也能檢查出來!大家可以到Memtest86是一款基于Linux核心的測試程序，所以它的安裝和使用和其它內(nèi)存測試軟件有些不同。將Memtest86程序下載解壓縮后，我們可以看到4個(gè)文件，其中Install.exe用來安裝Mem

14、test86程序到軟盤。雙擊運(yùn)行這個(gè)程序，在彈出窗口中的“Enter Target diskette drive：”后輸入你的軟盤驅(qū)動(dòng)器的盤符，如a，然后回車。插入一張格式化過的軟盤，單擊回車開始安裝，這樣Memtest86就安裝到軟盤了。前面我們說過Memtest86是基于Linux核心的，所以在Windows的資源管理器里我們看不到軟盤上的內(nèi)容（不要誤認(rèn)為軟盤里沒有內(nèi)容）。如果沒有軟驅(qū)，Memtest86的主頁有該軟件的ISO文件，可以直接刻錄到光盤，用光驅(qū)啟動(dòng)后進(jìn)行測試。二、測試內(nèi)存制作好軟盤后，我們用這張盤來啟動(dòng)電腦Memtest86會(huì)自動(dòng)開始測試內(nèi)存，其測試界面如圖1所示。在紅色顯示

15、的“Memtest-86 v3.0”程序版本號下，我們可以看到當(dāng)前系統(tǒng)所采用的處理器型號和頻率，以及CPU的一級緩存和二級緩存的大小及速度，當(dāng)然也包括測試的主角系統(tǒng)物理內(nèi)存的容量和速度。最后顯示的是主板所采用的芯片組類型。通過這些信息我們可以對系統(tǒng)的主要配置有個(gè)大致的了解在系統(tǒng)信息的右側(cè)顯示的是測試的進(jìn)度，“Pass”顯示的是主測試進(jìn)程完成進(jìn)度，“Test”顯示的是當(dāng)前測試項(xiàng)目的完成進(jìn)度?！癟est #1”顯示的是目前的測試項(xiàng)目。下方的“WallTime”顯示測試已經(jīng)耗費(fèi)的時(shí)間，在這一排數(shù)據(jù)中“ECC”一欄中，顯示的是當(dāng)前內(nèi)存是否支持打開ECC校驗(yàn)功能，“TEST”顯示的是測試的模式，有“標(biāo)準(zhǔn)

16、”和“完全”模式可供選擇?！癙ass”顯示的是內(nèi)存測試所完成的次數(shù)，Memtest86的測試是無限制循環(huán)的，除非你結(jié)束測試程序，否則它將一直測試下去。另外Memtest86的測試比較耗費(fèi)時(shí)間，標(biāo)準(zhǔn)的測試模式跑一遍大概需要個(gè)把小時(shí)，如果是完全測試的話則需要幾個(gè)小時(shí)（和內(nèi)存容量有關(guān)）。要進(jìn)行完全測試，我們可以單擊“C”鍵打開Memtest86的設(shè)置菜單，接著單擊數(shù)字鍵“2”選擇“Test Selection”選項(xiàng)（注意從主鍵盤輸入數(shù)字），再單擊數(shù)字鍵“3”選擇“All Test”選項(xiàng)打開完全測試模式（圖2）。利用這個(gè)設(shè)置菜單，我們還可以進(jìn)行更多的設(shè)置，比如設(shè)置測試的Cache大小、重新開始測試等等。開始測試后，主要的內(nèi)存突發(fā)問題（比如“死亡”位）將在幾秒鐘內(nèi)檢測出來，如果是由特定位模式觸發(fā)的故障，則需要長時(shí)間測試才能檢測出來，對此需要有耐心。Memtest86一檢測到缺陷位，就會(huì)在屏幕底部顯示一條出錯(cuò)消息，但是測試還將繼續(xù)下去。如果完成幾遍測試后，沒有任何錯(cuò)誤信息，那么我們可以確定內(nèi)