基于WinCC的數(shù)據(jù)采集和監(jiān)控系統(tǒng)設(shè)計(jì).doc

奧鵬遠(yuǎn)程教育中心助學(xué)服務(wù)部 浙大嵌入式系統(tǒng)模擬試題本復(fù)習(xí)題頁碼標(biāo)注所用教材為：嵌入式系統(tǒng)技術(shù)張曉林2008年10月第1版高等教育出版社如學(xué)員使用其他版本教材，請參考相關(guān)知識(shí)點(diǎn)一、判斷題（共10小題，每小題2分，共20分，正確的打“”，錯(cuò)誤的打“”。）123456789101.嵌入式系統(tǒng)調(diào)試通?？梢苑譃橛布?jí)調(diào)試和在線仿真器調(diào)試?？己酥R(shí)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)調(diào)試，參見P472. 在ARM處理器中，快速中斷（FIQ）的優(yōu)先級(jí)高于外部中斷（IRQ）?？己酥R(shí)點(diǎn)：ARM處理器，參見P623.ROM能夠永久或半永久地保存數(shù)據(jù)，ROM內(nèi)的數(shù)據(jù)永遠(yuǎn)不會(huì)丟失。考核知識(shí)點(diǎn)：存儲(chǔ)器特點(diǎn)，參見P1314.內(nèi)建測試系統(tǒng)(BIST)是SoC片上系統(tǒng)的重要結(jié)構(gòu)之一，JTAG測試接口是IC芯片測試方法的標(biāo)準(zhǔn)?？己酥R(shí)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)測試，參見P435.VHDL的基本單元描述不包括庫?？己酥R(shí)點(diǎn)：SOC主要設(shè)計(jì)語言，參見P2336.嵌入式ARM架構(gòu)的嵌入式處理器同時(shí)支持大端、小端（Big/Little-Endian）數(shù)據(jù)類型?？己酥R(shí)點(diǎn)：嵌入式ARM架構(gòu)的嵌入式處理器，參見P167.嵌入式操作系統(tǒng)通常采用整體式內(nèi)核或?qū)哟问絻?nèi)核的結(jié)構(gòu)。考核知識(shí)點(diǎn)：嵌入式操作系統(tǒng)內(nèi)核，參見P2498.ARM7TDMI中的T代表增強(qiáng)型乘法器?？己酥R(shí)點(diǎn)：ARM處理器，參見719.看門狗(Watch Dog)實(shí)際是一個(gè)簡單的定時(shí)器，在固定時(shí)間內(nèi)若正常清零，則自動(dòng)復(fù)位處理器?？己酥R(shí)點(diǎn)：嵌入式式系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)，教材無參考答案10.ARM-CPU由多家不同制造商生產(chǎn)，芯片外部提供的總線是不一致的。考核知識(shí)點(diǎn)：嵌入式總線技術(shù)，參見P183二、單選題（共20小題，每小題2分，共40分）12345678910111213141516171819201嵌入式處理器指令的執(zhí)行周期包括（）A.啟動(dòng)、運(yùn)行、退出 B.取指令、指令譯碼、執(zhí)行指令、存儲(chǔ)C.啟動(dòng)、運(yùn)行、掛起、退出D.取指令、指令譯碼、執(zhí)行指令考核知識(shí)點(diǎn)： ARM處理器指令周期,參見P692下列不屬于嵌入設(shè)計(jì)處理器本身帶有的基本接口是（）A.串口；B.并口；C.PCIE；D.AD/DA；考核知識(shí)點(diǎn)：電路硬件設(shè)計(jì)，參見P1413以下幾個(gè)步驟是DMA控制過程的主要節(jié)點(diǎn)，請選出正確的DMA控制流程(請求信號(hào)HRQ)為（ ）1. CPU讓出總線控制權(quán)(響應(yīng)信號(hào)HLDA)2. DMA控制器向CPU請求總線使用權(quán)3. DMA控制器控制總線,發(fā)總線命令、傳送數(shù)據(jù)4. DMA總線控制器歸還總線控制權(quán)5. CPU重新獲取總線控制權(quán)A. 2，1，3，4；B. 1，2，3，4；C. 3，1，4，2；D. 3，4，1，2；考核知識(shí)點(diǎn)：DMA控制過程，教材中沒有參考答案4、一個(gè)嵌入式系統(tǒng)可以含有多個(gè)總線,以下不屬于IO總線的為（ ）A.AGP；B.PCI；C.AHB；D.ISA考核知識(shí)點(diǎn)：嵌入式總線技術(shù)，參見P1835VHDL是（）A.硬件描述語言B.軟件描述語言C.構(gòu)件描述語言D.軟件開發(fā)工具考核知識(shí)點(diǎn)：SOC主要設(shè)計(jì)語言，參見P2336uC/OS-II可以管理64個(gè)任務(wù)，其中保留（ ）個(gè)給系統(tǒng)。A.7；B.8；C.9；D.10考核知識(shí)點(diǎn)：uC/OS-II操作系統(tǒng)，教材中沒有參考答案7以下不屬于uC/OS-II中支持的中斷類型的是（ ）A.硬件中斷 B.外部中斷C.陷井中斷D.臨界區(qū)中斷考核知識(shí)點(diǎn)：uC/OS-II操作系統(tǒng)，教材中沒有參考答案8將系統(tǒng)啟動(dòng)代碼讀入內(nèi)存是（ ）的主要職責(zé)A.內(nèi)存管理；B. VFS；C.Boot Loader；D：虛擬內(nèi)存考核知識(shí)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)啟動(dòng)，參見P3439CAN總線是指（）A.控制器局域網(wǎng)B.網(wǎng)絡(luò)傳輸協(xié)議C.數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)D.軟硬件接口考核知識(shí)點(diǎn)：嵌入式總線技術(shù)，教材中沒有參考答案10屬于LCD三種顯示方式的是（）A.投射型、反射型、透射型 B.投射型、透反射型、透射型C.反射型、透射型、透反射型D.投射型、反射型、透反射型考核知識(shí)點(diǎn)：LCD分類，教材中沒有參考答案11操作系統(tǒng)內(nèi)核是指（）A.操作系統(tǒng)的調(diào)度部分B.操作系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)C.操作系統(tǒng)的存儲(chǔ)管理D.操作系統(tǒng)的核心部分考核知識(shí)點(diǎn)：操作系統(tǒng)內(nèi)核，參見P30912.ICE在線仿真器上有大量的RAM，（ ）是主要的一種ASRAMBDRAMC Block RAMD影子RAM考核知識(shí)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)調(diào)試，參見P4713.下列哪種方法不能改善電路的可測試性 ( )A. 將復(fù)雜的電路做成單獨(dú)的模塊 B. 采用電路技術(shù)，使測試矢量生成難度減少C. 改進(jìn)可控性和可觀察性 D. 添加自檢查設(shè)備考核知識(shí)點(diǎn)：電路的可測試性，教材中沒有參考答案14.SoC形成或產(chǎn)生的過程不包括以下哪個(gè)方面（）A. 單片集成系統(tǒng)的軟硬件協(xié)同設(shè)計(jì)和驗(yàn)證，以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)功能為主要目的B. 邏輯面積計(jì)數(shù)的使用和產(chǎn)能占有比例的有效提高，即開發(fā)和研究IP核生成及復(fù)用技術(shù)C. 系統(tǒng)軟件的建模與開發(fā)，即對(duì)IP核的配套D. 超深亞微米（VDSM），納米集成電路的設(shè)計(jì)理論和計(jì)數(shù)，即與底層技術(shù)的結(jié)合考核知識(shí)點(diǎn)：SoC系統(tǒng)，參見P22115.VxWorks 操作系統(tǒng)是WindRiver公司推出的一種32位嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)，下面不是它優(yōu)點(diǎn)的是（）A.VxWorks源碼開源，用戶的開發(fā)成本低。B.簡潔、緊湊、高效的內(nèi)核。C.支持多任務(wù)，實(shí)時(shí)性強(qiáng)。D.較好的兼容性和對(duì)多種硬件環(huán)境的支持?？己酥R(shí)點(diǎn)：VxWorks 操作系統(tǒng)，參見P30916.下面是PowerPC架構(gòu)嵌入式微處理器的不是主要特點(diǎn)是（）A.獨(dú)特的分支出來單元可以讓指令預(yù)期效率大大提高。B.超標(biāo)量的設(shè)計(jì)。C.適合大量向量運(yùn)算，指針現(xiàn)行尋址的智能化算法。D.可處理“字節(jié)非對(duì)齊”的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)?？己酥R(shí)點(diǎn)：PowerPC架構(gòu)，參見P1817.下列選項(xiàng)中，不是實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)必須滿足的條件是（）A.具有可搶占的內(nèi)核B.中斷可嵌套C.任務(wù)調(diào)度的公平性D.具有優(yōu)先級(jí)翻轉(zhuǎn)保護(hù)考核知識(shí)點(diǎn)：實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)，參見P30818.BSP作為一種嵌入式軟件，他的主要特點(diǎn)是（）A：與硬件無關(guān)，與操作系統(tǒng)有關(guān) B：與硬件和操作系統(tǒng)都相關(guān)C：與硬件有關(guān)，與操作系統(tǒng)無關(guān)D：與操作系統(tǒng)和硬件都無關(guān)考核知識(shí)點(diǎn)：BSP概述，參見P34019.JTAG的引腳TCK的主要功能是（）A.測試時(shí)鐘輸入；B.測試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過TDI輸入JTAG口；C.測試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過TDO從JTAG口輸出；D.測試模式選擇，TMS用來設(shè)置JTAG口處于某種特定的測試模式?？己酥R(shí)點(diǎn)：考核知識(shí)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)測試，參見P4320.（）是局部性原理的主要應(yīng)用。A.不斷提高內(nèi)存的速度 B.不斷提高處理器片上的晶體管數(shù)量C.不斷提高處理器速度D.如何解決高性能和高成本之間的矛盾考核知識(shí)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)，參見P141三、簡答題（共3小題，每小題8分，共24分）1、簡述馮諾依曼結(jié)構(gòu)與哈佛結(jié)構(gòu)，并指出日常生活中的Intel處理器屬于哪種結(jié)構(gòu)?？己酥R(shí)點(diǎn)：馮諾依曼結(jié)構(gòu)與哈佛結(jié)構(gòu)，參見P72、除了可靠性以外，請簡述其他（至少四個(gè)）用于評(píng)價(jià)嵌入式系統(tǒng)性能的指標(biāo)，并請指出MTBF的具體含義?？己酥R(shí)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)性能的指標(biāo)，參見P313、嵌入式系統(tǒng)總體上可分為軟件系統(tǒng)和硬件系統(tǒng)。在開發(fā)的過程中，兩者往往是并行的關(guān)系。在軟件的開發(fā)過程中，經(jīng)常會(huì)采用交叉開發(fā)環(huán)境。請簡述交叉開發(fā)環(huán)境包含的兩個(gè)部分，并請簡要敘述一下交叉開發(fā)的過程?？己酥R(shí)點(diǎn)：嵌入式系統(tǒng)開發(fā)，教材中沒有參考答案四、分析設(shè)計(jì)題（共1小題，共16分）1、嵌入式發(fā)展到今天，對(duì)應(yīng)于各種微處理器的硬件平臺(tái)都是通用的、固定的；各種相應(yīng)的軟件比較成熟，模塊化程度比較高；因此，當(dāng)今的開發(fā)過程更多的注重開發(fā)流程，合理、科學(xué)的開發(fā)流程往往可以達(dá)到事半功倍的效果。假設(shè)你現(xiàn)在某從事嵌入式產(chǎn)品開發(fā)的公司工作，被要求開發(fā)一通用的數(shù)字電視接