GB∕T 22319.9-2018 石英晶體元件參數(shù)的測量 第9部分：石英晶體元件寄生諧振的測量.pdf

ICS31140 L21 . 中 華 人 民 共 和 國 國 家 標(biāo) 準(zhǔn) GB/T2231992018/IEC60444-92007 . : 石英晶體元件參數(shù)的測量 第9部分 石英晶體元件 : 寄生諧振的測量 Measurementofquartzcrystalunitparameters Part9 Measurementofsuriousresonancesof iezoelectriccrstalunits : p p y (IEC60444-9:2007,IDT)2018-03-15發(fā)布 2018-10-01實(shí)施 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 發(fā) 布 中 國 國 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會(huì) GB/T2231992018/IEC60444-92007 . : 前 言 石英晶體元件參數(shù)的測量 分為以下部分 GB/T22319 : 第 部分 用 型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法 1 : ; 第 部分 測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法 2 : ; 第 部分 頻率達(dá) 石英晶體元件負(fù)載諧振頻率和負(fù)載諧振電阻R 的測量方法及其他 4 : 30MHz L 導(dǎo)出參數(shù)的計(jì)算 ; 第 部分 采用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定等效電參數(shù)的方法 5 : ; 第 部分 激勵(lì)電平相關(guān)性 的測量 6 : (DLD) ; 第 部分 石英晶體元件活性跳變的測量 7 : ; 第 部分 表面貼裝石英晶體元件用測量夾具 8 : ; 第 部分 石英晶體元件寄生諧振的測量 9 : ; 第 部 分 采 用 自 動(dòng) 網(wǎng) 絡(luò) 分 析 技 術(shù) 和 誤 差 校 正 確 定 負(fù) 載 諧 振 頻 率 和 等 效 負(fù) 載 電 容 的 標(biāo) 準(zhǔn) 11 : 方法 。 本部分為 的第 部分 GB/T22319 9 。 本部分按照 給出的規(guī)則起草 GB/T1.12009 。 本部分使用翻譯法等同采用 石英晶體元件參數(shù)的測量 第 部分 石英晶體元 IEC60444-9:2007 9 :件寄生諧振的測量 。 本部分作了下列編輯性修改 : 第 章第 段將 與早期的方法相比 本部分改進(jìn)并提高了測量的重現(xiàn)性和準(zhǔn)確度 及以下的 1 1 “ , ?！?早期 石英諧振器寄生響應(yīng)測量方法 規(guī)定的電橋測量方法中 使用了無法滿足重現(xiàn)性要求的 “ , 元件 如可變電阻器和混合變壓器 改為用注的形式給出 并刪除了隨后的 上述元件在市場 , ?！?, “ 上已不再銷售 ”; 第 章方法 的最后 本方法是對(duì)早期標(biāo)準(zhǔn)中 基準(zhǔn)測量法 的改進(jìn) 改為用注的形式給出 1 B “ ?！?; 中式 下面 若這二個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的幅值均大于 Q 改為 若這二個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的幅值均大 3.1.1c) (14) “ max” “ 于 Q min”。 請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利 本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任 。 。 本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出 。 本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì) 歸口 (SAC/TC182) 。 本部分起草單位 中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)壓電晶體分會(huì) 成都天奧電子股份有限公司 武漢海創(chuàng)電 : 、 、子股份有限公司 。 本部分主要起草人 章怡 黃浩 毛晶 : 、 、 。 GB/T2231992018/IEC60444-92007 . : 石英晶體元件參數(shù)的測量 第9部分 石英晶體元件 : 寄生諧振的測量1 范圍 的本部分規(guī)定了石英晶體元件寄生 無用 諧振的二種測量方法 GB/T22319 ( ) 。 注 與早期的方法相比 本部分改進(jìn)并提高了測量的重現(xiàn)性和準(zhǔn)確度 早期規(guī)定的電橋測量方法中 使用了無法滿 : , 。 , 足重現(xiàn)性要求的元件 如可變電阻器和混合變壓器 , 。 方法 全參數(shù)測量法 A( ) 全參數(shù)測量法可以確定寄生諧振的等效電參數(shù) 本方法使用與 同樣原理的測量設(shè)備 , IEC60444-5 。 本方法為優(yōu)先測量方法 可用于測量達(dá)幾千歐的中低阻抗寄生諧振 , 。 方法 電阻測量法 B( ) 電阻測量法應(yīng)當(dāng)在有規(guī)定時(shí)用于測量高阻抗寄生諧振 如某些濾波晶體 本方法使用與方法 相 , 。 A 同的測量設(shè)備并與規(guī)定的測試夾具連接 該夾具由市場上可獲得的微波元件組成 如具有準(zhǔn)確的 , , 50 系統(tǒng)阻抗的 混合耦合器和 衰減器 180 10dB 。 注 本方法是對(duì)早期標(biāo)準(zhǔn)中 基準(zhǔn)測量法 的改進(jìn) : “ ” 。2 概述 石英晶體元件可呈現(xiàn)多個(gè)諧振 這可以用多個(gè)串聯(lián)諧振電路并聯(lián)表示 完整的石英晶體元件單端 , 。 等效電路見圖 源自 1( IEC60444-5)。 圖 1 多諧振單端等效電路