半導(dǎo)體器件 鑒定指南 第2部分：可靠性鑒定中任務(wù)剖面的概念 編制說明

《半導(dǎo)體器件通用鑒定指南第2部分：可靠性鑒定中任務(wù)剖面的概念》（征求意見稿）編制說明《半導(dǎo)體器件通用鑒定指南第2部分：可靠性鑒定中任務(wù)剖面的概念》標(biāo)[2024]35號，計劃編號：20242754-T-339。由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出，全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（TC78）歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由之江實驗室、《半導(dǎo)體器件通用鑒定指南》系列標(biāo)準(zhǔn)擬由4部分組成：第1部分：集成電導(dǎo)體模塊可靠性鑒定計劃指南；第4部分：早期失效評估。本標(biāo)準(zhǔn)是《半導(dǎo)體器面的可靠性鑒定計劃的設(shè)計提供依據(jù)和指導(dǎo)，保證可靠性試驗的低成本和有效標(biāo)準(zhǔn)可行性的驗證工作、文本及格式的校對工作，形成工作組討論稿。2025年4本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)體器件可靠性鑒定技術(shù)與國際接軌。本標(biāo)準(zhǔn)修改采由“本文件不適用于軍事和航天航空相關(guān)應(yīng)用”改為“本文件適用于除涉及航天航空和軍事應(yīng)用之外的半導(dǎo)體產(chǎn)品”按GB/1.1規(guī)范要求和國家標(biāo)準(zhǔn)表達(dá)風(fēng)格要求進(jìn)LSI為LargeScaleIntegratThesetofchanging產(chǎn)品在完成規(guī)定任務(wù)這段時間內(nèi)所經(jīng)歷的事件和環(huán)境的時長組合稱為“任務(wù)剖面”直譯為“這種變化的環(huán)境溫度條件和工作時長中“任務(wù)剖面”的定義，原文將其應(yīng)用范圍僅“IEC標(biāo)準(zhǔn)中多次提及公式(1)、公式(2)，卻沒有——試驗條件的絕對溫度，單位為開爾文(K)。p——電壓加速率常數(shù)，單位為每伏特(V-1)——實際使用時的電壓，單位為伏特(V)；”若測試溫度為Ta，易被理解為測試環(huán)境溫度為125℃,則測試結(jié)溫為145℃,與后續(xù)加速因子表5的標(biāo)準(zhǔn)文件中無公式a、公式b，只有公式(1)、公considerationoftheconceptofmissionprofileiseffectiveinthecaseofapplicationswithatemperaturechangeienvironmentofactualuse.況下，使用任務(wù)剖面的概念是有效的”，使用任務(wù)剖面的概念是手段，目的是進(jìn)行試驗方案2.參考4.2章節(jié)“Therefore,useofprofileinconductingeffh原文內(nèi)容參考EDR4708B，2022年10月標(biāo)準(zhǔn)更新為EDR4708C，對應(yīng)試驗樣件數(shù)和試驗時間/1000hbhh《半導(dǎo)體器件通用鑒定指南第2部分：可靠性鑒定中任務(wù)剖面的概念》明本標(biāo)準(zhǔn)一共分為5章，其中第4章、第5章為重點內(nèi)容，主要涉及：①任務(wù)剖務(wù)剖面條件下，可靠性鑒定試驗計劃設(shè)計的不同示例；③對比基于任務(wù)剖面與AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)兩種條件下進(jìn)行試驗所需的樣品數(shù)量與試驗時間。任務(wù)剖面的概AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)這兩種條件下進(jìn)行試驗所需的試驗樣品數(shù)量與試驗時間，證明基于任務(wù)剖面進(jìn)行試驗計劃設(shè)計具有低成本、高效率的——IEC標(biāo)準(zhǔn)中任務(wù)剖面的定義為“這種變化的環(huán)境溫度條件和工作時組合”，限制了其應(yīng)用范圍，通過多輪專家討論，參考GB/——IEC標(biāo)準(zhǔn)中“試驗溫度Ta=125℃”,存在歧義，與IEC標(biāo)準(zhǔn)起草單同任務(wù)剖面條件下的可靠性鑒定試驗計劃設(shè)計示例；基于任務(wù)剖面與基于EDR-4708是日本電子信息技術(shù)協(xié)會JEITA集成電路可靠性鑒定方案指南（GuidelineforICReliabilityAECQ100是汽車電子委員會元器件技術(shù)委員會（AutomotiveElectronicsAEC-Q100-Rev-J:2023汽車應(yīng)用中基于失效機(jī)理的集成電路應(yīng)力鑒定試驗INTEGRATEDCIRCUITSINAUTOMOTIV會員分布于全球車廠及其元器件廠商等。AECQ100首版于持續(xù)更新，是車用集成電路產(chǎn)品最常用的標(biāo)準(zhǔn)JESD47由JEDEC固態(tài)技術(shù)協(xié)會（Joint電路應(yīng)力試驗鑒定（Stress-Test-DrivenQualificationofIntegratedCircuits）。ED-4701/002由日本電子信息技術(shù)協(xié)會JEITA發(fā)布，目前最新版本是2016年3月發(fā)布的ED-4701/002壽命試驗中測試時間和樣本量的計算方法（Procedureofthetesttimeandthesamp室檢測分析市場規(guī)模將超過100億元，2027年行業(yè)市場空間有望達(dá)到180~200億于AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)這兩種條件下進(jìn)行試驗所需的試驗樣品數(shù)量與試驗時間；為半調(diào)研8家半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家與第三方檢測機(jī)構(gòu)，了解半導(dǎo)體器件可靠性鑒準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容與IEC63287-2:2023《Semiconductordevices-Guidelinesforrequalificationplans-Part2:Conceptofmissionprofile》保持——文件范圍按