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電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗TestingandmeasuremeRadiated,radio-frequency,e2023-12-28發(fā)布2024-07-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局1電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗GB/T17626的本文件適用于電氣、電子設備的電磁場輻射抗擾度要求,規(guī)定了試驗等級和必要的試本文件的目的是建立電氣、電子設備受到射頻電磁場輻射時的抗擾度評定依據(jù)。在本文件中給出的試驗方法描述了評估設備或系統(tǒng)對來自不靠近EUT的射頻電磁場的抗擾度符合性方法。測試環(huán)境在第6特別關注數(shù)字無線電話和其他射頻發(fā)射裝置的射頻發(fā)射防護。本文件是一個獨立的試驗方法。不可使用其它試驗方法替代來聲稱符合本文件。2規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T4365電工術語電磁兼容(IEC3術語、定義和縮略語下列術語和定義適用于本文件。2全電波暗室fullyanechoicchamber3以時變電磁場傳播為特征的波。天線電磁場的區(qū)域,其中場的主要分量是那些表示能量傳播的區(qū)域,其中角場分布基本上與天線的[來源:IEC60050-712:1992給定點電磁場的大小。[來源:IEC60050-705:1995,定義705-08-31,已修改“給定點”一詞后面定義已刪除]兩個限定的頻率點之間頻率延伸的連續(xù)區(qū)間。EUT的被測試面完全被UFA(均勻場域,見3.2.7)所覆蓋的試驗方法。該試驗方法可適用于所有試驗頻率。用于人身附屬或近距離攜帶的設備。包括人們攜帶的正在運行中的手持式設備(例如袖珍設備)和電子輔助裝置以及植入式裝置。進行有意電磁場發(fā)射(傳播)的裝置?;フ{intermodulation[來源:IEC60050-702:1992,5賦與某一時間段,在該時間周期內,如果該信道是激活的,則信號作為RF脈沖被傳輸,而如果該信道6CMAD共模吸收裝置(Common-modeabsorptiondevice)CW連續(xù)波(Continuouswave)DECT數(shù)字增強無線通信(Digitalenhancedcordlesstelecommunications)EM電磁(Electromagnetic)ERP有效輻射功率(Effectiveradiatedpower)EUT受試設備(Equipmentundertest)GSM全球移動通信無線電業(yè)務系統(tǒng)(GroupeSpecialMobile.laterrenamedto:GlobalSystemforIMD互調失真(Intermodulationdistortion)ISM工業(yè)、科學、醫(yī)療(Industrial,scientific.medical)MU測量不確定度(Measurementuncertainty)OFDM正交頻分復用(OrthogonalfreqPA功率放大器(Poweramplifiter)PM功率計(Powermeter)RF射頻(Radiofrequency)RBW分辨率帶寬(Resolutionbandwidth)SDH同步數(shù)字體系(Synchronousdigitalhierarchy)TDMA時分多址(Timedivisionmultipleaccess)UFA均勻場域(Uniformfieldarea)UMTS通用移動通信系統(tǒng)(UniveraslmobiletelecommunicationsVSWR電壓駐波比(Voltagestandingwaveratio)Wi-Fi無線保真數(shù)字無線電網(wǎng)絡(Nameofwirelesstransmissionservice)WiMAX全球互通微波接入數(shù)字無線網(wǎng)絡(WorldwideInteroperabilityformicrowaveaccessdigital4概述7U5試驗等級和頻率范圍U試驗場強/(V/m)112334x是一開放的等級,其場強可為任意值。該等級可在產(chǎn)品標準中規(guī)表中試驗場強列出的是未調制載波信號的場強。對設備測試時,要用1kHz的正弦波對未調制載波信號進行80%的幅度調制來模擬實際情況(見圖1和表2),詳細試驗步驟見第8章。內部或外部m=(80±10)%在信號發(fā)生器輸出端測調制因子m:FCFC8圖1規(guī)定80%調幅(AM)測試信號和發(fā)生的波形產(chǎn)品委員會可為被測設備選擇替代調制方案(見附錄A)。5.2測試頻率范圍產(chǎn)品委員會選擇用于測試的頻率或頻率范圍可能僅限于有意射頻發(fā)射裝置實際工作的頻率或頻率產(chǎn)品委員會可以要求特定的測試水平和調制類型(作為80%AM的替代品)。功率放大器:用于放大信號(未調制的和調制的)并提供驅動天線達到所需的場強水平的功率。場強發(fā)射天線:能夠滿足頻率特性要求的雙錐、對數(shù)周期,喇叭或其他線性極化天線系統(tǒng)(見附錄9分的控制能力。包括電波暗室或調整后的半電波暗室,圖2給出了一個示例圖2典型的試驗設施舉例6.3場均勻域(UFA)本文件使用了均勻域(UFA,見圖3和圖4)的概念,即場的垂直面,其變化在下文規(guī)定的范圍內。在沒有EUT的情況下執(zhí)行均勻場電平設置(見圖3)。在此過程中,確定UFA內的場強與施加到天此記錄測試儀器(如天線、吸收器、電纜等)的位置非常重要,尤其是在高頻情況下。圖4十六點場均勻性尺寸如果可以滿足6.3.1中的標準,UFA的下邊緣可以在任何高度。目的內。然而,很難在金屬地板附近建立UFA,因此不可能對所有EUT進行完全覆蓋。詳見第7條。用于試驗的整個區(qū)域的校準應每年進行一次,當室內布置發(fā)生變化時(更換吸波材料、試驗區(qū)域位置移動、設備改變等)也應進行校準。發(fā)射天線與UFA之間的距離應能滿足UFA的要求。UFA與發(fā)射天線的距離最好為3m(見圖3)。場強傳感器至少距離場發(fā)射天線1m以上。該距離是從指雙錐天線的中心,或對數(shù)周期天線的頂端,或喇叭天線的前沿,或雙脊波導天線的前沿到UFA的距離。所使用的距離應記錄在案,并應與試驗采用的距UFA的首選尺寸是1.5m×1.5m,但是,如果EUT及其電纜(見7.4)可以用較小的UFA完全照射,很難建立一個靠近金屬地板的UFA。額外的吸收材料可以減少或解決這個問題(見圖2)。將UFA分割成間距為0.5m的一系列小格(見圖4,1.5m×1.5mUFA的舉例)。在每個頻點,所有柵格點中有75%的點測得的場強幅值為標稱值-0dB~+6dB范圍內的值(例如,如果1.5m×1.5mUFA測量的至少16個點中的12個點在容差范圍內),即認為該場是均勻的。對于最小UFA為0.5得超過整個測試頻率點的3%,在測試報告中記錄真實的容差。有爭議時,優(yōu)先考慮-0dB~+6dB。如果EUT需要被照射的表面大于1.5m×1.5m,且UFA最大的尺寸(推薦方法下)不能覆蓋,可對 寸(見7.4)最小的UFA尺寸為1.5m×1.5m。UFA的柵格尺寸以0.5m步進(例如0.5m×0.5m、0.5m×1.0m、1.0m×1.0m、1.5m×2.0m、2.0m×2.0m等)校準柵格步進為0.5m×0.5m。如果UFA大于0.5m×0.5m,則要求至少75%的校準點符合標準要求。對于0.5m×UFA的柵格尺寸以0.5m步進(例如1.5m、1.5m×2.0m、2.0m×2.0m等)校準柵格步進為0.5m×0.5m。75%的校準點符合標準要求。最小的UFA尺寸為1.5m×1.5m。UFA的柵格尺寸以0.5m步進(例如1.5m、1.5m×2.0m、2.0m×2.0m等)校準柵格步進為0.5m×0.5m。對于0.5m×0.5mUFA,100%如果使用80%AM以外的調制,則應根據(jù)調制信號的峰值功率發(fā)生器測量儀器4.定向期合器和測量儀肉的其算功率檢測器或籍強操頭圖6-試驗布置——按照圖示逐個建立UFA校準點(見圖4);a)將場強探頭置于16個柵格點的任意一點上(見圖4),將信號發(fā)生器輸出的頻率調至試驗頻率范圍的下限頻率(例如80MHz)。b)調節(jié)場發(fā)射天線的正向功率,使所得場強等于校準場強E,記錄正向功率讀數(shù)。c)使用第8章給出的頻率步進。d)重復步驟b)和c),直至下一頻率超過試驗頻率范圍的上限頻率。最后在此上限頻率(例如1GHz)處重復步驟b):1)將16個點的前向功率讀數(shù)按升序排列。2)從最大讀數(shù)開始檢查,向下至少應有11個點的讀數(shù)在最大讀數(shù)的-6dB~+0dB容差范圍內。3)若沒有11個點的讀數(shù)在-6dB~+0dB容差范圍內,按同樣的程序向下再繼續(xù)檢查讀取的數(shù)據(jù)(對每個頻率可能僅有5個點不在-6dB~+0dB容差范圍內)。4)如果至少有12個點的讀數(shù)在6dB范圍內則停止檢查程序,記錄這些讀數(shù)的最大正向功率值。5)確認測試系統(tǒng)(例如功率放大器)未處于飽和狀態(tài)。假定E選擇1.8倍EL,在每個校準頻點ii)用P減去步驟2)中測到的前向功率。如果差值在3.1dB~7.1dB之間,則功率放大器未飽和且系統(tǒng)可用于測試。如果差值小于3.1dB,均勻場場強的建立和測試是按第8.4章規(guī)定的步驟,通過一個校準過的場調節(jié)正向功率,依次對16個柵格點的每個點(見圖4)進行校準。應按圖6的確定測量初始位置場強所必需的正向功率并記錄,對所有16個測a)將場強探頭置于柵格中16個點中的任意一點上(見圖4),將信號發(fā)生器輸出的頻率調至試驗頻率范圍的下限頻率(例如80MHz)。b)調節(jié)發(fā)射天線的正向功率,使所得場強等于校準場強E(注意試驗場強將被調制),記錄正c)使用第8章的頻率步進。d)重復步驟b)和c),直至下一頻率超過試驗頻率范圍的上限頻率。最后在此上限頻率(例如1GHz)1)將16個場強讀數(shù)按升序排列。2)選擇某點的場強值作為參考值,計算所有其他點相對于該點的偏差值(分貝)。4)若沒有11個點的讀數(shù)在-0dB~+6dB容差范圍內,按同樣的程序,向上再繼續(xù)檢查讀數(shù)(對每個頻率僅可能有5個點不在-6dB~+0dB容差范圍內)。5)如果至少有12個點的讀數(shù)在6dB范圍內則停止檢查程序,從這些讀數(shù)中找出最小場強的點作6)計算出建立該參考點場強所需的正向功率值。前向功率用PL表示。7)確認測試系統(tǒng)(例如功率放大器)未處于飽和狀態(tài)。假定E選擇1.8倍Er,在每個校準頻點jii)用Pc減去步驟m-2中測到的前向功率。如果差值在3.1dB~7.1dB之間,則功率放大器有足夠在更高頻率(例如1GHz以上),由木頭或玻璃增強塑料制成的桌子或支撐物可以反射。應使用絕緣b)相同EUT(俯視圖)但在另一種布置(EUT旋轉90°和不同的電纜布局)的示例7.3落地式設備的布置落地式設備應安裝在離地面0.05m或以上的不導電支撐物上,以防止EUT偶然接地和場的畸變。支撐物最好是非導體,而不是金屬結構上的絕緣涂層。落地式設備的位置應最大限度地擴大EUT在UFA內的面積。如果由于EUT其重量較重或物理尺寸較大或安全原因,設備不能提高到UFA的高度或從其運輸支撐(例如,運輸托盤)移走,這種變化應記錄在測試報告中。如果EUT延伸超過UFA下邊緣0.5m,在UFA下邊緣50%高度(所有0.5m水平分離的水平設定點)的電磁場大小都應被記錄在水平設定點記錄中。這個高度的數(shù)據(jù)不考慮測試設施和測試等級的適用性。關于大型和重型EUT放置的指導見附錄H。根據(jù)設備相關的安裝說明連接設備的電源和信號線。線纜應連接到EUT,并按照制造商的安裝說明書在試驗場上進行布置,要求重如果產(chǎn)品規(guī)范要求的接線長度小于等于1m,則按照指定的長度進行測試。如果規(guī)定的長度大于1m,或沒有規(guī)定,則應按照典型安裝方法選擇電纜長度。除非上面另有規(guī)定,否方向暴露在場中,無論是垂直的或水平的。線纜差異導致無法按照標準布線(EUT,或者典型安裝方法限制了在UFA內暴露電纜的情況,應附——去耦可適用于任何類型的電纜(例如電力、電信和控制)?!獙τ诔^三根電纜離開測試區(qū)域的測試布置,電源電纜應優(yōu)先使用CMAD(除非產(chǎn)品委員會另 8.2.1通用應在EUT典型(通常)運行條件下進行測試。 測試前,應確認測試設備/系統(tǒng)運行正常。這可以通過為了減少測試時間,在一個停留時間內可以同時應用多個頻率(多個信號測試),前提是在聚合信號發(fā)射天線應對EUT的四個側面逐一進行試驗。當EUT能以不同方向(如垂直或水平)放置使用時,b)功能暫時喪失或性能暫時降低,但在騷擾停止后EUTd)因硬件或軟件損壞,或數(shù)據(jù)丟失而造成不能自行恢復至正常狀態(tài)的功能降低EUT性能評價應以單一的因果關系為基礎。如果在測試過程中使用了多個測試信號,應小心確?!疚募?章要求的試驗計劃中規(guī)定的內容;——試驗通過/不通過的判定理由(根據(jù)通用、產(chǎn)品或產(chǎn)品類標準規(guī)定的性能判據(jù)或制造商與用戶達成的協(xié)議);保護(設備)抵抗數(shù)字無線電話射頻輻射的試驗調制方式的選擇原理 方波幅度調制,200Hz,占空比1:2,100%幅度調制, 近似模擬各種系統(tǒng)特性的脈沖射頻信號,如對于GSM的,在200Hz占空比為1:8的脈沖射頻信號;對于DECT便攜設備的,在100Hz占空比1:24的脈沖射頻信號等(GSM和DECT的——精確模擬各種系統(tǒng)的脈沖射頻信號,例如對于GSM,在200Hz占空比1:8的疊加次生效應如斷續(xù)發(fā)射模式(2Hz調制頻率)和復幀效應(8Hz頻率分量)。表A.1調制方式比較(GSM和DECT的優(yōu)點缺點正弦波幅度調制1.實驗表明,若最大RMS電平相同,在不同類型的非恒定包絡調制模式的干擾效應方面能建立良好的相關性。2.不必規(guī)定(或測量)TDMA脈沖的上升時3.在本文件及GB/T17626.6中采用。5.對模擬的無線電設備,EUT中的解調會產(chǎn)生可用窄帶電平表測量的音頻響應,因而減少了背景噪6.在較低頻率時,已經(jīng)表明能有效模擬其他型式的2.對于二次方律接收機,則試驗略為嚴酷。方波幅度調制1.類似于TDMA.2.能普遍使用.大速率變化較敏感)。1.不能精確模擬TDMA。能被寬帶電平表測量,因而增加了背景噪聲。3.需規(guī)定上升時間。大速率變化較敏感)。1.為匹配不同系統(tǒng)(如GSM、DECT等),需改變調制細節(jié)。能被寬帶電平表測量,因而增加了背景噪聲。3.需規(guī)定上升時間。1.為匹配不同的無線電服務(如LTE、DAB、調制DVB-T),需要改變OFDM參數(shù)的細節(jié)以。b)類似GSM的射頻脈沖,200Hz,占空比1:8;1kHz80%幅度調100Hz,占空比1:24未加權的00未加權的無線電裝置’未加權的對騷擾的音頻響應為干擾電平。干擾電平低則b重點:對載波幅值進行調節(jié)使所有的調制方式的騷擾信號(暴露)的最大RMS值(見第4章)相暴露是通過入射900MHz電磁場產(chǎn)生的。類似DECT的調制的占空比為1:2而不是1:24接0.5m長PVC管的人工耳的聲學輸出。d這種情況被選作音頻響應的參考點,即OdB。e暴露方式是在電話線施加900MHz的射頻電流,音頻響應為電話線上測得的音頻電壓。暴露方式是在電源電纜施加900MHz的射頻電流,音頻響應為用麥克風測得的喇叭音頻輸1kHz80%幅度調制的比沖,100Hz,1:24的占空比響應電視機明顯干擾顯示器關閉f0RS232調制解調注入干擾時)00注入干擾時)源出現(xiàn)誤碼0表中數(shù)據(jù)為使用各種調制方式產(chǎn)生相同干擾等級信號所需要的RMS最大值(見第4章b調節(jié)騷擾信號以便在各種調制方式下具有相同的響應(干擾)。暴露方式是在主電纜端施加900MHz的射頻電流。響應為屏幕上產(chǎn)生的干擾等級下干擾的類型不同,使得評價結論更帶有主觀的成d這種情況被選定為參考抗擾度等級,即0dB。暴露方式為在RS232電纜端施加900MHz的射頻電流。r暴露方式為在電話或RS232電纜施加900MHz的射頻電流。hSDH為同步數(shù)據(jù)層,暴露方式是入射935MHz電磁場。使用正弦波AM和脈沖調制(占空比1:2)以高達30V/m場強對下列數(shù)字設備進行測試:——帶75Q同軸電纜的2Mb調制解調器;——帶120Q雙絞線的2Mb調制解調器;——2/34Mb數(shù)字多路(復用)器;——以太網(wǎng)轉發(fā)器(10Mb/s)。量),會產(chǎn)生復幀效應。可選的非連續(xù)發(fā)射模式(DTX)也會引起2Hz的附加調制?;谏鲜鲆蛩?,本文件規(guī)定的調制方式為80%正弦波調制。建議有關產(chǎn)品標該天線由一個同軸纜的平衡-不平衡轉換器和三維振子單元構成,它對數(shù)周期天線和雙錐天線可以進行組合。這類組合可增加頻率范圍,并且僅在頻率高于1GHz時,鐵氧體磁片可能呈反射而不是吸收功能。由于暗室內表面的多重反射(見圖b)縮短發(fā)射天線與EUT之間的距離,使墻壁的反射最小(天線與EUT之間的距離可減到1m)。位置的敏感程度,在頻率低于1GHz時也可改善場的均勻遵循上述程序可消除大部分反射波(見圖C.2)。圖C.2大部分反射波被消除(適用于頂視圖和側視圖)b)諧波可能會導致EUT發(fā)生故障,其中EUT在預期的基波頻率下穩(wěn)定,而在諧波頻率下不穩(wěn)定。c)即使它在特殊情況下能很好地抑制諧波,諧波依然會影響測試結果。例如,例如,在測試一臺d)在沒有可測量的諧波的情況下可能存在飽和。如果放大器具有一個抑制諧波和/或內部電路的1)如果在UFA場地驗證期間發(fā)生這種情況,則將推導出錯誤的等級設置數(shù)據(jù),因為在6.3.2或2)在測試過程中,這種類型的飽和會導致錯誤的調制因子和調對于在放大器輸出端產(chǎn)生諧波的所有頻率,將場的(注意D.2.c中的例外現(xiàn)象)。得的10V/m信號是由9V/m的基波和4.5V/m的諧波共同產(chǎn)生的。當采用低通濾波器抑制飽和狀態(tài)下放大器的諧的最大場強點)不得超過放大器的2dB壓縮點。在2dB壓縮點,峰值振幅會下降20%。使用實際的測試設置和儀器,例如天線、電波暗示和用于EUT測試的測試系統(tǒng)來評估電波暗室功率計前向功率發(fā)射天線a)確定適當?shù)臏y試設置所需的信號發(fā)生器設置,c)將信號發(fā)生器的設置增加1dB,并記錄信號信號發(fā)生器輸出等級信號發(fā)生器輸出等級(dBm)圖D.2線性曲線示例--+公差E圖D.3增益偏差示例注:基于放大器在一個信號頻率的輸出,圖D.2和圖D.3展示的示例定義了±1dB的公差。本例中的信號發(fā)生器輸出在D.4.2.4放大器線性度特性不符合標準時的抗擾度測試如果在D.4.2.3中執(zhí)行的評估不滿足線性標準±1dB,則有必要根據(jù)以下方法在實際EUT測試期間調一種方法是使用帶反饋的系統(tǒng),其中功率計用于監(jiān)控功率放大器的輸出功率。另一種方法適用于沒有反饋的系統(tǒng),其中前向功率等級設置需要在每個期望測試等級下進行。E--場強值(有效值),單位:伏/米(V/m);P--功率值(ERP),單位:瓦(W);d--到天線的距離,單位:米(m);等級1:低電平電磁輻射環(huán)境。位于1km以外的地方廣播臺/電視臺和低功率的發(fā)射機/接收機所發(fā)等級2:中等的電磁輻射環(huán)境。使用低功率的便攜收發(fā)機(通常功率小于1W),但限定在設備附等級3:嚴重電磁輻射環(huán)境。便攜收發(fā)機(額定功率2W或更大),可接近設備使用,但距離不小等級×:×為開放等級,可以通過協(xié)商或在產(chǎn)品標準或設備說明書中規(guī)定。如果使用的發(fā)射器離EUT的距離小于0.2m,則應考慮根據(jù)IEC61000-4-39(參見附錄F)進行的測可能需要進行另一次更高等級的試驗,采納降低了的性能指標(即認可的性能降低)。表E.1給出了試驗等級、性能指標及相關保護距離的示例。保護距離為當按所述的試驗等級進行試驗時,到數(shù)字無線電話可接受的最小距離。該距離按等級強mnmnmm1123A3BA4Bd在此距離或更近距離時遠場公式E.1不準確。如果使用的發(fā)射器離EUT的距離小于0.61000-4-39(參見附錄F)進行的測試。——對GSM,目前市場上大部分終端設備為4級(最大ERP移動終端是3級和2級(最大ERP分別為5W和8W)。為2W),而實際使用中有相當多的——如附錄A所述,抗干擾等級與調制場的RMS最大值密切相關,因此,在計算保護距離時,公 本文件的目的是根據(jù)EUT的設計和類型,為產(chǎn)品委員會和產(chǎn)品規(guī)格編寫者提供指南,以選擇最合適的測試方法以確??芍貜托??!鄬τ贓UT的結構尺寸的輻射場的波長; EUT的連線和殼體的相關尺寸;——干擾源的種類,例如發(fā)射器或不均勻的電磁場;總體上,GB/T17626系列基本標準中的至少六個文獻可用于測試EUT對射頻干擾的抗擾能力。這些文獻因其模擬的干擾現(xiàn)象或測試方法而異。本文和GB/T17626.6構成了一組文獻,旨在涵蓋150kHz以上的整個頻率范圍。GB/T17626.6規(guī)定使用合適的耦合設備將射頻測試信號注入EUT的電纜中。原則上,過渡頻率為80MHz,在該頻率下,傳導射頻干擾的測試將結束,而天線輻射場的測試將開始。本文已針對80MHz以上的頻率進行了優(yōu)化。使用距離EUT至少1m的輻射天線進行測試。在一定頻率范圍內,任一文獻中出現(xiàn)的測試方法均適用??梢允褂肐EC61000-4-6中定義的測試方法,最高測試頻率為230MHz??梢允褂帽疚闹卸x的最低26MHz的測試方法。對于較低的頻率,可能必須增加裸露的電纜長度,測試距離和UFA尺寸。本文涵蓋測試,其目的是模擬不在干擾源附近工作的射頻干擾源。測試距離通常為3m,且不得低于1m。與之相反的是IEC61000-4-39,它經(jīng)過優(yōu)化可模擬干擾源(電磁場或電場),其中輻射干擾是由附近使用的設備的射頻場引起的。在這種情況下,頻率范圍為9kHz至6GHz,測試距離為10cm以下。另外三個文獻可指導使用各種測試工具和方法進行射頻干擾的抗擾度測試。GB/T17626.22提供了一種在全電波(FAR)暗室內進行輻射抗擾度測試的方法。該文獻可以被認為是相似的,盡管不等同于GB/T17626.3。GB/T17626.20通常用于沒有電纜或電纜很少的小型EUT。EUT是為此目的而優(yōu)化的TEM結構。該GB/T17626.21適用于要在非常高的現(xiàn)場進行測試的復雜大型EUT。測試是在混響測試室中進行的,該室利用來自室的反射作為測試方法的一部分。測試使用的統(tǒng)計方法與本文中采用的確定性方法完全不同。該方法的可用頻率范圍受測試設備的大小和屬性限制。測試。如果電纜已使用至少一種效果良好的特定80MHz波長的%(%波長=93.75cm)。感應信號非常容易通過具有%波長或更長長度的電纜在現(xiàn)場被接在7.4中,建議在最多3根電纜上使用共模吸收裝置(CMAD),雖然這是非強制性的,但是,仍然鼓勵測試實驗室在每根電纜與地面接觸的地方都安裝一個CMAD。CMAD的阻的困難。在實際安裝中,這些線纜被包裹在EUT外殼下,直接進入地下。介于實際安裝的性質,這些圖H.1帶有底部線纜的EUT試驗布置示例圖(未標出CMAD)圖H.2為帶有架空信號和電源線纜EUT的試驗布置示例圖。這類產(chǎn)品例如網(wǎng)絡服務器,由于實際安裝方法,其信號線纜需要架空布線。如果導電或屏蔽電纜槽被指定為EUT安裝的一部分,那么也應該將其用于測試設置。如果可能的話,連接EUT裝置的多余長度的電纜應在線的中部捆扎成低感性線在1m水平或垂直極化的電磁場中,但如果EUT和輔助設備之間的電纜較短且長度固定,則可能無法3所示排列,使用非導電支撐,以實現(xiàn)垂直和/或水平暴露。如果可能的話,連接EUT裝置的多余長度圖H.3帶有多根線纜及輔助設備EUT的試驗布置示例圖H.4帶有側饋線纜并需要多個UFA窗口的大型設備圖4為帶有側饋線纜的大型EUT的試驗布置示例圖,需要用多個UFA窗口進行覆蓋。每次沿EUT進行試驗后,應移動單個UFA窗口,使EUT(包括外部饋電電纜)能夠完整的被UFA覆蓋。天線和吸波材料(可選)應該如圖H.4所示移動,直到整個EUT被UFA窗口覆蓋。如果可能的話,連接EUT裝置的多余長度的電纜應在線的中心捆扎成低感性線束。附錄I提供了在一個駐留周期內用多個信號測試的EUT相關信息,以便減少總體的測試時間。該1.2互調場地預期的測試信號6dB,如圖I.1及算式所示。v,(t)=cos(2πf)t)+cos(頻率PASAvG=PsAvc·NPsPK=Ps·N2可以將多少信號組合成一個測試集。6.3.2步驟5)和6.3.3步驟7)以及附錄D的線性和諧波校準應在測時使用的最大信號數(shù)量。1.5線性和諧波校準6.3.2步驟5)和6.3.3步驟7)中定義的線性校準流程應作為一個整體用于每個信號測試集。測試裝置中每個單獨信號的信號發(fā)生器的驅動電平應同時降低5.1dB。如果所有測試信號逐漸降低但并未消失,應測量并檢查每個單獨的輸出信號,確保其降低值不小于3.1dB。附錄D中定義的諧波校準流程應修改為包括所有非基本頻率(諧波、互調產(chǎn)物、雜散等)。這些非基波信號可以通過發(fā)送到天線的功率來測量,也可以通過接收天線直接測量場強。功率測量應針對天線增益進行校正,以便將其與電磁場相比較。所有非基波信號應至少低于測試場地預期測試信號6dB。1.6多信號EUT性能標準在駐留時間內用一個以上的信號進行測試會使EUT暴露在超出標準要求強度的輻射下。這種過度暴露可能導致EUT喪失功能或性能下降,而這非是由單一頻率的照射造成的。由于本標準的要求是針對單個頻率測試的,因此必須對性能下降的試品的單個頻率進行重新測試,優(yōu)先參考單一頻率測試的結由儀器引起的的測量不確定度依據(jù)本文件正文中試驗方法的特殊需求,本附錄給出了與試驗水平設置的測量不確定度(MU)相本附錄給出了一個在設定等級的基礎上計算不確定度的示例。諸如調制頻率和調制深度、由放大器產(chǎn)生的諧波這類騷擾量的參數(shù),實驗室也需要以一種合適的方法進行考慮進去。本附錄給出的方法適用對于試驗場地的場均勻性所引起的不確定度正在考慮之中。J.2對于試驗水平設置的不確定度預評估被測量是指依據(jù)本文件6.2.1a)和6.3.2a)和6.3.3a)的程序選定的UFA的點上理想的試驗電場強度J.2.2被測量的不確定度貢獻下面的影響量圖(見圖J.1)給出試驗水平設置影響量的舉例。本圖表同時適用于校準和試驗過程,但并不是詳盡的。影響量圖中最重要的貢獻被不確定度預評估表J.1和J.2所選用。為了不同的測試場地和實驗室得到可比較的預評估值,不確定度預評估的計算至少包括表J.1和表J.2中列出的不確定度貢獻。要注意的是,實驗室可以基于其特殊情況,在計算MU時包含更多的不確定度貢獻。PA壓縮點失配圖J.1試驗水平設置的影響量的舉例J.2.3擴展不確定度的計算舉例應認識到,適用于校準和試驗的不確定度貢獻可能是不相同的。這導致了每一個過程有不同的不確在本基礎標準中,在對EUT測試之前需要對暗室中的場進行校準。一些不確定度貢獻可能在計算MU時不是影響因子,這取決于試驗布置。示例包括放大器輸出功率電平控制的補償因子或那些在校準和試驗之間維持不變的因子(如:天線和放大器間的失配)。場強探頭和功率監(jiān)視儀(可重復性而不是絕對的測量準確度和線性度)不包括在放大器輸出功率的表J.1和J.2給出了一些試驗水平設置的不確定度預評估的示例。不確定度預評估包括校準不確定符號因子單位2111因子正態(tài)k=2天線位置和吸波材料放11PM;”11如果用功率計對信號發(fā)生器的輸出電平進行控制,則在表格中應慮信號發(fā)生器及功率放大器的穩(wěn)定度和漂移。在這個例子中,因為功率放大器作為功率放大器輸出控制的一部分,不會對不確定度預評估產(chǎn)生影響,所以考慮功率計的不確定度貢J.2.4術語解釋而言,這個數(shù)據(jù)可以從探頭數(shù)據(jù)表和(或)校準證書中獲得。PMc是包括功率計探頭在內的功率計不確定度,可以從制造商的說明書(作為矩形分布處理)或校準證書(作為正態(tài)分布處理)中獲得。如果校準和測試使用同一個功率計,不確定度貢獻可以減少到AL是由天線和吸波材料的移除和重新布置引起的不確定度。參考ISO/IECGuide98-3,天線位置和PM,是包括功率計探頭在內的功率計不確定度,可以從制造商的說明書(作為矩形分布處理)或校準證書(作為正態(tài)分布處理)中獲得。如果校準和測試使用同一個功率計,影響因素可以減少到功率如果在測試過程中不使用功率計控制功率放大器,則PM,無需考慮。(與本標準中的圖7相比)。SW,是由測試過程中,信號發(fā)生器和軟件窗口的離散的步進引起的不確定J.3應用計算出的測量不確定度數(shù)值(擴展不確定度)可以被用于多個目的,例如,作為產(chǎn)品標準的說明或[1]IECTR61000-1-6.Electromagneticcom[2]UKAS.M3003,Edition4,2019,TheExpressionofUncertainty[3]ISO/IECGuide98-3,UncertaintyofmeasK.1概述GB/T17626.3的探頭校準的方法之一。然而,缺少一個確定的方法用于確認K.2.2校準頻率范圍——80MHz到1GHz使用下列頻率校準電場探頭(通常用50MHz的步進):80MHz,100MHz, 探頭校準的場強基于抗擾度測試要求的場強。首選的均勻場校準的方法是用至少1.8倍的施加到EUT的場強來進行,推薦使用2倍的預期試驗場強(見表K.1)。如果探頭用于不同的場的等級表K.1校準場強等級表校準等級234X這個等級K.3校準儀器的要求K.3.2至K.3.4款規(guī)定了執(zhí)行現(xiàn)場傳感器校準所需的儀器的要求。K.3.2諧波和雜散信號任何從功率放大器輸出的諧波和雜散信號應該比載波頻率的電平低20dB。該要求適用于校準和線性測試的所有場強等級。因為功率放大器的諧波含量在高功率電平通常是更糟的,所以諧波測試只在最高等級的場強校準中進行。諧波測試可以使用校準過的頻譜分析儀,通過衰減器或者定向耦合器連接到功率放大器的輸出端。校準實驗室應通過測量,以確認放大器的諧波和/或雜散信號滿足所有測量配置要求。該測量可通過頻譜分析儀連接到定向耦合器的端口3來實現(xiàn)(用頻譜分析儀的輸入替代功率計探頭-見圖I.2)。掃頻寬度至少包括預期頻率的3次諧波。應該在產(chǎn)生最高預期場強的功率電平進行確認測量??梢允褂弥C波抑制濾波器來提高功率放大器的頻譜純度(見附錄D)。K.3.3探頭的線性測量根據(jù)I.4.2.5,在要求的動態(tài)范圍內,用于驗證暗室的探頭的線性應該在理想的線性響應的±0.5dB之內(見圖L.1)。如果探頭有多個范圍或增益設置,應該對所有的預期范圍設置確認線性響應。通常探頭的線性響應不會隨頻率有明顯的改變??梢圆捎媒咏A期頻率范圍的中間區(qū)域的特定的頻率進行線性檢查,在該頻率區(qū)域,探頭的頻率響應相對平坦。選擇的頻率點應該在校準證書中標明。用足夠小步進(例如1dB)來測量探頭的線性響應,且測量場強應該控制在驗證暗室中使用的場強的-6dB~+6dB之內。表I.2顯示了20V/m時,測試場強等級的示例。表K.2探頭線性測量的示例0校準場強K.3.4標準喇叭天線增益的確定標準角錐形喇叭天線的遠場增益可以準確地確定(在[1]?中報告不確定度小于0.1dB)。遠場增益的確定通常適用于距離大于8D2n的情況(D是喇叭口徑的最大尺寸,λ是波長)。場強探頭在這個距離的校準需要用大型電波暗室和大功率的功率放大器,因此很難實現(xiàn)。場強探頭通常在發(fā)射天線的近場區(qū)域進行校準。可以用[2]中的公式確定標準增益喇叭天線的近場增益。在假設喇叭的口徑是二次相位分布的情況下,增益的計算基于標準角錐形喇叭的物理尺寸。這種方式確定的增益不適用于暗室的VSWR測試和接下來的探頭校準。dB,但是可能更大小于5%。喇叭天線的增益可以用實驗方法確定。例如,增益可以使用三天線法在減少的距離用推導技探頭的校準需要一個自由空間環(huán)境。應使用場強探頭進行暗室的VSWR測試,以決定該暗室是否每個探頭有特定的體積和物理尺寸,例如電池盒和/或電路板。在其它的校準程序中,應保證在校準空間內有一個球形的靜區(qū)。本附錄的特定要求專用于位于天線波瓣軸上的測試點的VSWR測試。測試固定裝置及其影響不能被完全評估(例如探頭的固定裝置可能暴露在電磁場并干擾校準)。需傳遞到發(fā)射裝置的凈功率可以使用一個4端口的雙向定向耦合器測試,或者兩個3端口的單向定向功率計功率計42源13如果知道天線的VSWR,可以使用一,單獨的三端口耦合器。例如,如果天線的VSWR為1.5那發(fā)射天線的VSWR是1.5,耦合器的方向性是20dB,由限定方向性決定的凈功率的絕對最大不確定度是0.22dB-0.18dB=0.04dB,符合U形分布(0.22dB是1.5的VSWR產(chǎn)生的入射功率的損耗)。K.4.2.3用喇叭天線生成一個標準場K.4.2.4暗室驗證測試頻率范圍和頻率步進暗室的VSWR測試應該覆蓋預期的校準探頭的頻率范圍,使用和K.2.3一樣的頻率步進。暗室VSWR測試應該在所用的每個天線的最低和最高的工如鐵氧體,需要測試更多頻率點。僅在符合VSWR判據(jù)的頻率范圍內,暗室可以用于探頭校準。探頭應該放在測量位置,使用低介電常數(shù)的支撐材料(例如泡沫聚苯乙烯),與圖K.3和K.4一致。影響暗室的VSWR。發(fā)射天線應該與暗室的VSWR測試和探頭標準增益喇叭天線和暗室里探頭的布置如圖K.4所示。探頭和喇叭天線應該被放置在從天線口面到喇叭天線的近場(距離<2D2n.D是天線的最大尺寸,λ是自由空間波長),發(fā)射天線的增益不是常數(shù),需要分別確定發(fā)射天線在每個點的增益。在所有K.4.2.6VSWR的接受準則VSWR測量結果應通過使用下面的程序比較。場強的計算參考K.4在每一個頻率上,以2cm的步進計算90cm用下面的程序調整數(shù)據(jù),由于用于VSWR測試的探頭不可能給出與場強的計算值相同的讀數(shù)?!筋^在1m距離的電場強度顯示值應被調整成1m位置的計算值。所獲得的探頭顯示值與計——修正值k應該加到在測量位置90cm到120cm觀察的數(shù)據(jù)中。場強a)把探頭放在相對介電常數(shù)小于1.2,損耗正切角小于0.005的支撐材料上。探頭的位置應該與頭50cm遠。避免支撐材料在探頭之前(探頭和天線之間)或之后。b)在校準位置生成探頭的動態(tài)范圍內的標準場。c)記錄所有的校準頻率點的探頭讀數(shù)。如果需要在每個校準位置旋轉或者重新定位探頭(對各向d)移除參考固定裝置并用待測的探頭固定裝置取代,重復步驟b)和c)。e)比較c)和d)的結果。兩個固定裝置讀數(shù)的差異在同樣的探頭方向應該小于±0.5dB。發(fā)射喇叭天線發(fā)射喇叭天線可選位置位置分別為L-30cm,L.25cm,L.20cm…Lo,L+scm,L+10cm…L+30cm,△L為5cm:在每個頻率,讀取26個獨立的探頭讀數(shù)(13個點,兩個極性)。讀數(shù)在每個頻率的最大偏差要小于K.4.3探頭校準程序K.4.3.1概述K.4.3.2試驗布置不能完全滿足K.4.2.7的探頭固定裝置會導致大的測量不確定度。因此應該使用I.4.2.6驗證過的探

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