標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17473.5-2008 微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 粘度測定》與《GB/T 17473.5-1998 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 粘度測定》相比，主要存在以下幾方面的差異和更新：

  1. 適用范圍調(diào)整：2008版標(biāo)準(zhǔn)擴(kuò)大了適用范圍，不僅涵蓋了厚膜微電子技術(shù)，還適用于更廣泛的微電子技術(shù)領(lǐng)域，反映出技術(shù)進(jìn)步和應(yīng)用領(lǐng)域的拓展。

  2. 技術(shù)內(nèi)容更新：新標(biāo)準(zhǔn)可能引入了更先進(jìn)的測量技術(shù)和方法來測定貴金屬漿料的粘度，以適應(yīng)技術(shù)發(fā)展對精度和效率的要求。這可能包括對測試儀器的校準(zhǔn)、樣品處理步驟的優(yōu)化以及數(shù)據(jù)處理方法的改進(jìn)。

  3. 精度和準(zhǔn)確性提升：2008版標(biāo)準(zhǔn)可能對測試結(jié)果的精度和準(zhǔn)確性提出了更高要求，包括但不限于更嚴(yán)格的誤差限值、重復(fù)性和再現(xiàn)性要求，確保測試結(jié)果的一致性和可靠性。

  4. 術(shù)語和定義：隨著行業(yè)的發(fā)展，新標(biāo)準(zhǔn)可能對一些專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了修訂或新增，以更好地反映當(dāng)前的技術(shù)語言和理解，幫助使用者準(zhǔn)確無誤地執(zhí)行測試。

  5. 試驗條件和環(huán)境控制：標(biāo)準(zhǔn)中可能對試驗條件，如溫度、濕度等環(huán)境因素的控制給出了更詳細(xì)的規(guī)定，以減少外界因素對測試結(jié)果的影響。

  6. 合規(guī)性和國際接軌：2008版標(biāo)準(zhǔn)在制定時可能參考了更多的國際標(biāo)準(zhǔn)和先進(jìn)國家的標(biāo)準(zhǔn)，增強(qiáng)了標(biāo)準(zhǔn)的國際化水平，便于國際貿(mào)易和技術(shù)交流。

  7. 可操作性增強(qiáng)：為了方便用戶理解和執(zhí)行，新標(biāo)準(zhǔn)可能對測試步驟和程序進(jìn)行了更加清晰、具體的描述，同時可能增加了示例或圖解說明，提高了標(biāo)準(zhǔn)的實用性和可操作性。

這些變化體現(xiàn)了從1998年到2008年間，微電子技術(shù)及貴金屬漿料測試技術(shù)的演進(jìn)，旨在提高測試方法的科學(xué)性、準(zhǔn)確性和適用性。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-03-31 頒布
  • 2008-09-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 17473.5-2008微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定_第1頁
GB/T 17473.5-2008微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定_第2頁
GB/T 17473.5-2008微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定_第3頁
免費預(yù)覽已結(jié)束，剩余5頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 17473.5-2008微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定-免費下載試讀頁

文檔簡介

犐犆犛７７．１２０．９９

犎６８

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１７４７３．５—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８

微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法

粘度測定

犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊狅犳狆狉犲犮犻狅狌狊犿犲狋犪犾狊狆犪狊狋犲狊狌狊犲犱犳狅狉犿犻犮狉狅犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狊—

犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狏犻狊犮狅狊犻狋狔

２００８０３３１發(fā)布２００８０９０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜１７４７３．５—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)是對ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法》（所有部分）的整合修

訂，分為７個部分：

———ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—２００８微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法固體含量測定；

———ＧＢ／Ｔ１７４７３．２—２００８微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細(xì)度測定；

———ＧＢ／Ｔ１７４７３．３—２００８微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法方阻測定；

———ＧＢ／Ｔ１７４７３．４—２００８微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法附著力測試；

———ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—２００８微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定；

———ＧＢ／Ｔ１７４７３．６—２００８微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法分辨率測定；

———ＧＢ／Ｔ１７４７３．７—２００８微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法可焊性、耐焊性測定。

本部分為ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第５部分。

本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定》。

本部分與ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８相比，主要有如下變化：

———將原標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為：微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定；

———將原標(biāo)準(zhǔn)中范圍去除“非貴金屬電子漿料粘度測定也可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行”內(nèi)容；

———增加了采用錐／板粘度計測定內(nèi)容，適用于樣品較少時的情況下使用。

本部分由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會提出。

本部分由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。

本部分由貴研鉑業(yè)股份有限公司負(fù)責(zé)起草。

本部分主要起草人：馬曉峰、李文琳、張桂珍、陳伏生、朱武勛、李晉。

本部分代替版本的發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８。

Ⅰ

書

犌犅／犜１７４７３．５—２００８

微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法

粘度測定

１范圍

本部分規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料粘度的測定方法。

本部分適用于微電子技術(shù)用貴金屬漿料粘度的測定。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

ＧＢ／Ｔ８１７０數(shù)值修約規(guī)則

３方法原理

旋轉(zhuǎn)粘度計的測試軸以一定的轉(zhuǎn)速在恒溫的漿料中旋轉(zhuǎn)，通過測量粘滯阻力引起的扭矩，對漿料粘

度進(jìn)行測定。樣品較少時采用錐／板粘度計，測量恒溫狀態(tài)漿料粘滯阻力引起的扭矩及剪切應(yīng)力，對漿

料粘度進(jìn)行測定。

４儀器與設(shè)備

４．１旋轉(zhuǎn)粘度計：測量誤差在±２％之內(nèi)。

４．２錐／板粘度計：測量誤差在±２％之內(nèi)。

４．３溫度計：分度值為０．１℃。

４．４恒溫槽：能保持溫度２５℃±０．５℃。

５試樣

５．１將送檢漿料樣品攪拌均勻。

５．２平行取試料２份。

６測定步驟

６．１用旋轉(zhuǎn)粘度計測定：

６．１．１將試料放入測試杯中，用恒溫槽使試料溫度均勻保持在２５℃±０．５℃；

６．１．２根據(jù)被測漿料的粘度范圍選擇測試軸；

６．１．３將測試軸緩慢沉入試料中心，達(dá)到預(yù)定深度；

６．１．４根據(jù)被測漿料粘度范圍選擇轉(zhuǎn)速，從較慢轉(zhuǎn)速逐檔增加進(jìn)行選擇，不允許先

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打印），因數(shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論