GB/T 17473.5-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定

ICS77.040.01H22中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17473.5-1998厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定TestmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronicsDDeterminationofviscosity1998-08-19發(fā)布1999-03-01實(shí)施國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17473.5-1998前貴金屬漿料是厚膜微電子技術(shù)領(lǐng)域的一種重要材料,漿料粘度是漿料產(chǎn)品重要技術(shù)指標(biāo)之一.目前我國尚未制定出貴金屬漿料粘度測試方法標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)參照了國際標(biāo)準(zhǔn)ISO3219:1993《液態(tài)聚合物和樹脂或乳濁液或彌散形態(tài)液體粘度測定粘性-旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)剪切率測量法》和美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)ASTMD2196—1986《非牛頓型材料的流變特性測試方法旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)法》的相關(guān)內(nèi)容，結(jié)合我國的實(shí)際情況而制定的，本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司提出。本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)總公司標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由昆明貴金屬研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張振中、朱曉云。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定GB/T17473.5-1998Testmethodsofpreciousmetalpastesusedforthickfilmmicroelectronics-Determinationofviscosity1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料粘度的測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種貴金屬漿料粘度的測定。非貴金屬漿料亦可參照使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文·通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有效。所有的標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T8170—1987數(shù)值修約規(guī)則方法原理旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)的測試軸以一定的轉(zhuǎn)速在恒溫的漿料中旋轉(zhuǎn)，通過測量粘滿阻力引起的扭矩,對漿料粘度進(jìn)行測定。儀器與設(shè)備4.1旋轉(zhuǎn)粘度計(jì):測量誤差在士2%之內(nèi).4.2溫度計(jì):分度值為0.1℃。43恒溫槽：能保持25℃±0.5℃。5試樣5.1將送檢試樣充分?jǐn)嚢杈?，不得引人氣泡和雜質(zhì)。5.2取平行試樣2份。6試驗(yàn)步驥6.1將試樣放入測試杯中,用恒溫槽使試樣溫度均勾保持在25℃士0.5℃。6.22根據(jù)被測漿料的粘度范圍選擇測試軸6.3用少量漿料將測試軸的測試端頭潤濕。6.4將測試軸聯(lián)結(jié)在溫度計(jì)上，緩慢沉入試樣中心，達(dá)到預(yù)定深度。6.5根據(jù)被測漿料粘度范圍選擇轉(zhuǎn)速，可以從較慢轉(zhuǎn)速上逐檔