友聯(lián)PXUT-350+操作手冊

1、PXUT- 350+型全數(shù)字智能超聲波探傷儀操作手冊南通友聯(lián)數(shù)碼技術(shù)開發(fā)有限公司版 本 號 : 2009/ 2- RT)按鍵 聲 音 3-18第一章 序言聲 明1-1安 全 1-2特 性 1-3指 標(biāo) 1-4約 定 1-5第二章儀器組件和外圍設(shè)備儀器組件儀 器前部與右側(cè) 2-1儀 器上部 2-2外圍設(shè)備 2-3儀器的進(jìn) 入 與時間更改 2-4第三章參量說明增益 3-1聲 程 3-2波 門 3-3零點 3-4延 時 3-5聲 程標(biāo)度 3-6探 頭類型 3-7探頭 K 值 3-8晶片尺 寸 3-9探頭前沿 3-10探 頭頻率 3-1 1工件聲 速 3-12表面補償 3-13判廢偏移 3-14定 量

2、偏移 3-15評 定偏移 3-16探 頭阻尼3-19發(fā)射電壓 3-20第四章 鍵盤及其功能記錄 4- 1波 門 4- 2通道 /設(shè)置 4-3零點/測試 4-4增益/補償 4-5聲程/標(biāo)度 4-6聲速/標(biāo)準(zhǔn) 4-7K值4-8功能 4-9延時/抑制 4-10選項 4-11查詢 4-12增量+4-13減量 - -4-14返 回#4- 15確定 ?4- 16鍵 盤 鎖4- 17第五章儀器調(diào)試測零點聲 速5-1測折 射 角度 5-2制 作 DAC （ AVG） 5- 3測儀 器 性能5-4測缺陷高度 5-5第六章功能使用初始化6- 1回波包絡(luò) 6-2峰值記憶6-3門內(nèi)報 警6-4DAC 門 6- 5深

3、度補償6-6其它功能6-7第七章 數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)存儲7-1屏幕拷貝7-2數(shù) 據(jù)檢 索 7- 3數(shù)據(jù)刪除7-4報告 7-5調(diào)用 7-6數(shù)據(jù)通訊 7-7第八章探傷舉例斜探 頭 DAC法（ 自動測 試） 8- 1斜探 頭 DAC法（ 人工測 試 ） 8- 2直探 頭 AVG法 8 - 3雙晶探頭調(diào)試方法8-4輔助功能使用舉 例8-5第九章附加資料常見問題 解答9- 1故 障及處理方法9-2超聲波探傷儀計量檢定說明 9-3數(shù)據(jù)輸入拼音 9- 4區(qū)位 9-5英文字母9-6刪除9-7負(fù)數(shù)輸入法9-8退 出輸入狀態(tài)9-9充電說 明與電池保養(yǎng)9- 10儀 器 的清潔9-11儀 器 的運輸 9-12隨機(jī)資料9-1

4、3重要提示9-14附錄 1 ：焊縫圖示設(shè)置附錄 2 ：報告樣本附錄3:報告樣本（TP UP-NH32P打印機(jī)）附錄 4: 儀器操作流程圖附錄5: AWS標(biāo)準(zhǔn)使用說明第一章序言感謝您使用友聯(lián)公司的產(chǎn)品，您能成為我們的用戶， 是我們莫大的榮幸。 該款全數(shù)字智能超聲波探傷儀采用國際先進(jìn)的數(shù)字集成技術(shù)和新型TFT顯示器件，其各項性能指標(biāo)均達(dá)到或超過國際先進(jìn)水平。儀器采用人工智能技術(shù)，功能強勁，使用方便。為了您能盡快熟練掌握該款超聲波探傷儀，請務(wù)必仔細(xì)閱讀本操作手冊以及隨機(jī)配送的其他相關(guān)資 料，以便您更好地使用探傷儀。請您仔細(xì)核對您所購儀器及其配件與裝箱單是否一致，如不一致請您拒收并立即與友聯(lián)公司聯(lián)系；

5、購買儀器后，請您認(rèn)真仔細(xì)地閱讀儀器的相關(guān)資料， 以便了解您應(yīng)有的權(quán)利 和義務(wù)。友聯(lián)公司生產(chǎn)的數(shù)字超聲波探傷儀是設(shè)計先進(jìn)、制造精良的高科技產(chǎn)品，在研發(fā)和制造過程中經(jīng)過了嚴(yán)格的技術(shù)評測，具有很高的可靠性。即使如此，您仍可能會在使用中遇到一些問題，甚至?xí)υ摦a(chǎn)品質(zhì)量產(chǎn)生懷疑。為此，我們在手冊中進(jìn)行了詳細(xì)說明，以消除您的疑慮。如果您在儀器使用過程中遇到問題，請查閱本操作手冊相關(guān)部分 （特別是第九章），您也可以在友聯(lián)網(wǎng)站 BBS上發(fā)貼提問，或直接與友聯(lián)公司聯(lián)系。感謝您的 合作。聲明因版權(quán)所有，未經(jīng)友聯(lián)公司的書面許可不得翻印或以其它任何形式或方法使用此印刷資 料或軟件中的某個部分。友聯(lián)公司對此印刷資料或軟

6、件中所含資訊之使用或因此而造成 的損害一概不予負(fù)責(zé)。友聯(lián)公司有權(quán)更改此印刷資料或軟件之特征及內(nèi)容，恕不征求意見或事先通告?？赏ㄟ^以下任一種方式與友聯(lián)公司取得聯(lián)系：服務(wù)熱線：05 , 電子郵件：公司網(wǎng)址：、友聯(lián)、UNION均為南通市友聯(lián)數(shù)碼開發(fā)有限公司注冊商標(biāo)。Epson為精工公司擁有商標(biāo)，Hp為惠普公司商標(biāo)，Microsoft 和 Windows為微軟公司擁有商標(biāo)，其他品牌及商品名稱屬于所有者的資產(chǎn)。1-1安全使用指定的電源類型，如有不詳情況請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。不要在插頭連接松弛的地方使用充電器。如使用其他電源線，其負(fù)載應(yīng)不小于隨機(jī)配備電源線的安培數(shù)。儀器應(yīng)存放在干燥清潔的地方，避免強烈

7、振動。儀器長時間不工作時，應(yīng)定期充放電，一般每月一次。外部設(shè)備與儀器連接時，須在關(guān)機(jī)狀態(tài)下進(jìn)行。進(jìn)行打印操作時，必須使用友聯(lián)公司提供的打印機(jī)專用電纜。如果本儀器運行有所失常，請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。請勿擅自拆裝本儀器，修理事宜請與友聯(lián)公司或經(jīng)銷商聯(lián)系。1-2特性日歷時鐘，儀器自動記錄工作日期和時間。10 個獨立探傷通道（可擴(kuò)展至數(shù)百個） ，多種探傷工藝和標(biāo)準(zhǔn)自動生成，可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)，現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊。缺陷回波參數(shù)（距離、垂直、水平、波幅、 dB 或當(dāng)量孔徑值）實時顯示；多次波探測缺陷的實際深度可直接顯示。DAC、 AVG 曲線自動生成并能分段制作，取樣點不受限制，并可進(jìn)行補

8、償與修正。 DAC曲線隨增益自動浮動、 隨聲程自動擴(kuò)展、 隨延時自動移動； 可實現(xiàn)指定回波的距離波幅補償。能顯示任意孔徑的AVG線。進(jìn)波門和失波門讀數(shù)及報警，門位、門寬、門高任意可調(diào)；雙門可同時進(jìn)波讀數(shù)。獨具DAC/AVG'1功能。、 、四種步進(jìn)，獨特的無操作式增益自動調(diào)節(jié)及補償增益功能，使探傷既快捷又準(zhǔn)確。具有峰值記憶、回波包絡(luò)、波形凍結(jié)等功能。完備的焊縫和工件剖面顯示，使探測結(jié)果更直觀?？衫枚它c衍射波實現(xiàn)缺陷裂紋的自動測高。數(shù)據(jù)處理能力強， 可按日期、 存儲編號和序號進(jìn)行檢索和處理， 高可靠數(shù)據(jù)保護(hù)，高速數(shù)據(jù)接口，快速實現(xiàn)報告打印。具有智能拼音輸入法，可方便快捷地輸入漢字，國內(nèi)首

9、創(chuàng)。國內(nèi)領(lǐng)先 TFT 顯示器，國內(nèi)屏幕最大，屏幕亮度清晰，具有常用模式和戶外專用模式，適應(yīng)各種操作環(huán)境，在強陽光下無需遮光罩，就能獲得滿意的觀察效果。配置高容量鋰電池，充電快、待機(jī)時間長。儀器重量僅 1.4Kg ，體積小巧，攜帶使用輕松自如。指標(biāo)頻帶范圍： 15MHz1-3增益范圍：110dB，步進(jìn)動態(tài)范圍：>30dB垂直線性：<4%水平線性：0 1%探測范圍：0-6000 mm （鋼中縱波）分辨力：>30dB靈敏度余量：R 55dB （200mm- 2 平底孔，？20）探頭類型：單探頭，雙晶探頭，穿透探頭聲程位移：06000mm（鋼中縱波）閘門：進(jìn)波門（直方門、DAC門）、

10、失波門報年. 口 .蜂鳴顯示：TFT顯示器電源：16V DC; 220V± 10% 50Hz AC儀器重量：1.4Kg（帶電池）1-4注：以上指標(biāo)是在探頭頻率為 2.5M的情況下所測得的。約定注：指用戶在儀器使用過程中應(yīng)予以注意的過程或方式< > :尖括號內(nèi)表示鍵名1-5第二章 儀器組件和外圍設(shè)備儀器組件儀器前部及右側(cè)充電時，充電指示燈為黃色；充電完成后，充電指示燈關(guān)閉；外接指示燈為綠色2-1儀器上部1、打印機(jī)連接端口2、USB通訊連接端口3、適配器連接端口2-2外圍設(shè)備儀器不僅可以獨立地進(jìn)行探傷，而且可與打印設(shè)備相連將探傷結(jié)果打印，可與計算機(jī)通 訊。2 2 0 VAC2

11、-3儀器的進(jìn)入與時間更改:一、探傷界面的進(jìn)入：開啟電源鍵后，出現(xiàn)時間顯示界面，按任意鍵（習(xí)慣上按<?>鍵）儀器出現(xiàn)自檢完成及相應(yīng)功能的選擇界面（停留顯示約3秒），此時如不選擇，儀器將自動進(jìn)入探傷界面。如果在自檢完成界面上， 要選擇按鍵執(zhí)行相應(yīng)功能，此時必須快速按鍵，具體如下：快速按下“ 9”可將儀器初始化；快速按下“ 8”可進(jìn)入儀器檢定的界面；快速按下“0”可查看電池信息。但開機(jī)一次只能選擇其中某一項操作。二、時間更改：開啟電源鍵后，出現(xiàn)時間顯示界面，此時長按<?>鍵10秒左右放開，屏幕上出現(xiàn)閃爍光標(biāo)，按鍵斗隹蟲移至需修改處 （可循環(huán)移動），選擇相應(yīng)數(shù)字鍵輸入， 要輸入

12、“星期日”，可通過輸入數(shù)字“ 0”來實現(xiàn)。最后一處修改完成后，須將鍵右移至下回上，再按 <?>鍵生效，此時儀器出現(xiàn)自檢完成界面，之后自動進(jìn)入探傷界面。2-4第三章參量說明增益、范圍（聲程）、波門、零點、延時等各常用參量為連續(xù)可調(diào)，調(diào)節(jié)時屏幕左上角 將出現(xiàn)提示，調(diào)節(jié)時請加以注意；其它各項參數(shù)在參數(shù)菜單中選取或輸入或?qū)崪y得到。儀器屏幕顯示如下：補償增益回波參數(shù)增益增益是數(shù)字式儀器的回波幅度調(diào)節(jié)量（靈敏度），在模擬儀器中通常稱為 “衰減”，這兩種概念剛好相反，即增益加大，回波幅度增高；而衰減加大，回波幅度則下降。增益調(diào)節(jié)見4-5。3-1聲程（距離聲程、垂直聲程、水平聲程）聲程表示聲波在被

13、檢測物體中的傳輸距離，根據(jù)聲程標(biāo)度的不同分為距離聲程、垂直聲程和水平聲程三種。聲程調(diào)節(jié)見 4-6。3-2波門波門有A門和B門，A門即進(jìn)波門，主要用途是顯示門內(nèi)回波狀態(tài)數(shù)據(jù)及門內(nèi)波峰報警，B門可選設(shè)為進(jìn)波門讀數(shù) （可顯示門內(nèi)回波狀態(tài)及數(shù)據(jù)）及報警或用為失波報警。 波門調(diào)節(jié)見4-23-3零占 y j、零點是指探頭和儀器的固定聲波延時，如探頭楔塊或保護(hù)膜聲程。零點調(diào)節(jié)見4-43-4延時延時可使回波位置大幅度左右移動，而不改變回波之間的距離；可將不需要觀察的回波調(diào)到4-103-5屏幕外，以充分利用屏幕的有效觀察范圍。延時調(diào)節(jié)見聲程標(biāo)度聲程標(biāo)度是指回波在不同坐標(biāo)軸上的聲程投影值， 聲程標(biāo)度分為距離（S）

14、、水平（X）、垂直（Y）三 種（見右圖）。參見4-6探頭類型探頭類型即探頭中聲波發(fā)射方式，分為直探頭、斜探頭、雙晶和穿透四種。參見3-64-43-8探頭K值及折射角探頭K值和折射角相互關(guān)聯(lián)，K值等于折射角的正切值。折射角調(diào)節(jié)見 4-83-8晶片尺寸晶片尺寸是指探頭晶片的面積，斜探頭用長x寬表示，直探頭用直徑表示。參見 4-33-9探頭前沿探頭前沿是指斜探頭的入射點至探頭最前端的距離。參見4-33-10探頭頻率探頭頻率是指探頭中晶片固有（諧振）頻率。參見 4-33-11工件聲速工件聲速是指聲波在工件中傳播的速度。參見4-33-12表面補償表面補償是指由于工件表面粗糙度等原因而對靈敏度進(jìn)行的補償，

15、補償后回波出現(xiàn)變化， 但DAC/AVGffi線不會變化，即回波當(dāng)量值出現(xiàn)改變。參見 4-113-13判廢偏移判廢偏移是指 DAC曲線中判廢線（RL線）與母線可選擇白偏移量。參見 4-113-14定量偏移定量偏移是指 DAC曲線中定量線（SL線）與母線可選擇白偏移量。參見 4-113-15評定偏移（測長偏移）評定偏移是指 DAC曲線中評定線（測長線）（EL線）與母線可選擇白偏移量。參見4-113-16濾波頻帶濾波頻帶可選，分為：，MHz, wide 。通過選擇與探頭頻率相配的頻帶，可以獲得最佳的信噪比和分辨力，務(wù)必使用與探頭頻率相一致的濾波頻帶。參見 4-33-17按鍵聲音按鍵時是否伴有聲音。參

16、見4-113-18探頭阻尼探頭阻尼可調(diào)，分為：50和400歐姆。選擇與探頭及探頭線相匹配的探頭阻尼，可以獲得最佳的信噪比及分辨力。阻尼一般指并聯(lián)在輸出端的阻尼電路，其作用是電路衰減、阻抗匹配、縮短前沿等，以便在使用頻率不同類型的超聲探頭時獲得高靈敏度或高分辨率等較佳效果，推薦使用 HD/400。參見4-43-19發(fā)射電壓發(fā)射電壓可調(diào)，分為：100V、200V、400V和800V。發(fā)射電壓的高低影響儀器的信噪比。發(fā) 射電壓高，發(fā)射的脈沖超聲波就越強。但脈沖電壓提高到一定值時，輸出趨于飽和，此時反 而會因脈沖加寬而增加盲區(qū)?？紤]到發(fā)射的脈沖電壓高低與上升時間有關(guān)，因此本儀器為兼顧不同需要將發(fā)射電壓

17、分為四檔，儀器默認(rèn)為MV/400V。參見4-43-20第四章鍵盤及其功能在非測試狀態(tài)，用戶按 設(shè)置、測試、選項、標(biāo)準(zhǔn)、功能 、和查詢六鍵會 出現(xiàn)相應(yīng)菜單，其它鍵代表相應(yīng)的含義，具體功能在本章詳細(xì)說明；在數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)，各鍵為數(shù)字鍵及小數(shù)點， 用于輸入數(shù)值；在出現(xiàn)菜單或?qū)υ捒蚝螅?各鍵代表相關(guān)標(biāo)號選擇。 本章 內(nèi)容與其它章節(jié)內(nèi)容有較大關(guān)聯(lián)，在閱讀時可前后對照， 以便加深理解，更有利于日后的探傷工作。該型儀器鍵盤見下圖。1r波門2abc|增益/補償.,5jkl,程/標(biāo)度6mno認(rèn)/2ndf)記錄數(shù)字式探傷儀的一大特點是能對探傷數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，可以打印、存儲探傷中發(fā)現(xiàn)的缺陷波及相關(guān)數(shù)據(jù)，這有助于提高探傷

18、報告的可靠性和權(quán)威性。如果 “回波包絡(luò)”或“峰值記憶”功能被啟用，按記錄鍵會提示是否存儲包絡(luò)或峰值，按y鍵則存儲包絡(luò)或峰值（參見 7-1）,按n鍵則存儲原波形；如果這兩項功能都未 啟用，則直接出現(xiàn)存貯數(shù)據(jù)提示。（光標(biāo)閃爍，提醒輸入文件名），反復(fù)按返回鍵可以切換輸入法。若探傷時設(shè)置了 “焊縫圖示”功能，按記錄鍵后，照儀器提示進(jìn)行則可。記錄功能使用詳見第七章。按返回 鍵可退出記錄菜單。4-1波門（A門/B門）波門鍵為復(fù)合功能鍵，可分別用于調(diào)節(jié)門A （進(jìn)波門）和門B （進(jìn)波門/失波門）的位置、寬度和高度。按波門 鍵儀器處于門參數(shù)更改狀態(tài)，屏幕左上角出現(xiàn)提示，在提示后有當(dāng)前參量的數(shù)值，按確認(rèn)可在門A和

19、門B之間切換，反復(fù)按波門鍵可在門位、門寬和門高之間切換。 按 + 、 鍵可對當(dāng)前參量進(jìn)行調(diào)節(jié)。A門有直方門和 DA。'兩種，可在功能菜單中切換。參見 4-9、6-5。失波門高如果調(diào)為 0%失波門將不會在屏幕上顯示，同時其失波報警功能也會失去； 如果將進(jìn)波門寬調(diào)為最小值，參數(shù)區(qū)會顯示該波門所處位置回波的實時參數(shù)，因此利用最小波門寬度可讀出屏幕上任一點的位置值（如讀回波前沿）。當(dāng)門A為進(jìn)波門、門B為失波門時，屏幕只實時顯示門 A范圍內(nèi)最高回波的位置、當(dāng)量 等參數(shù)；若門A和門B同時設(shè)為進(jìn)波門，則屏幕能分別顯示兩個門內(nèi)最高回波的信息。（讀數(shù)時，波需處于門寬的范圍內(nèi)， 并且波峰應(yīng)處于屏幕視覺范圍

20、內(nèi)；而門的高度對讀數(shù)無影響，門高僅對報警有影響。）門功能的特殊應(yīng)用：1）當(dāng)B門設(shè)為進(jìn)波門時，可讀出 B門內(nèi)最高波與 A門內(nèi)最高波的間距差，波形區(qū)右上 方有間距差讀值顯示。此法可用于測厚，且用多次波測量，數(shù)據(jù)更精確。2）為方便判斷，該儀器設(shè)計了波處于門高線之上或之下位置時顏色的區(qū)分。即當(dāng)門內(nèi) 最高波的波峰高于門高線時，該最高波的右半部分即變?yōu)榕c門同一顏色。通道/設(shè)置4-2由于在現(xiàn)場探傷時往往要探測多個工件、更換多個探頭，這就需要在儀器調(diào)校時能根據(jù)不同情況測試并存儲多組探傷設(shè)置， 且現(xiàn)場探傷時可直接調(diào)用。在此儀器中，一個通道可存 儲一組探傷工藝數(shù)據(jù)， 多個通道則可預(yù)先測試并存儲多組不同的探傷設(shè)置，

21、現(xiàn)場直接調(diào)用而無需再調(diào)試儀器，使工作更輕松方便。按通道鍵使儀器處于通道更改狀態(tài)，儀器右側(cè)通道“X”將高亮顯示，此時按 + 、 鍵更改通道，通道顯示數(shù)有 09共十個通道，屏幕顯示內(nèi)容將隨通道參數(shù)的不同而 發(fā)生改變。該儀器通道可擴(kuò)充至數(shù)百個。方法為：在某通道調(diào)試后，按記錄鍵，則將該通道參數(shù)及探傷工藝存儲起來，之后，查詢出該數(shù)據(jù)，將其調(diào)用至“9通道”中操作，即存儲的通道工藝若調(diào)出使用均在“ 9通道”中進(jìn)行。參見 7-6。探傷過程中，增益、聲程、延時、波門、零點等參量需經(jīng)常更改，并且在更改時能立刻起到作用，在調(diào)節(jié)以上參量時，只需通過快捷的操作即可完成更改；而其它參量在探傷過程中一般無須更改或很少更改，

22、這些參量可以預(yù)先在設(shè)置菜單中設(shè)置。按通道/設(shè)置 鍵兩次后，出現(xiàn)設(shè)置菜單如下：第1頁共2頁1.探頭類型直探頭/斜探頭/雙晶/穿透2.探頭頻率MHz3.晶片尺寸13 x 13mm4.折射角度?5.工件聲速3230m/s6.探頭前沿0.0 mm7.通道標(biāo)準(zhǔn)Custom8.濾波頻帶MHz/ mh z/ wide確定鍵生效 返回鍵取消第2頁共2頁1. 探頭阻尼：LD/50 , HD/4002. 發(fā)射電壓：LV/100V, ML/200V, MH/400V, HV/800V如果需要查看或更改某項參數(shù)， 按參數(shù)所在頁選擇參數(shù)前的序號即可對該項參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。在輸入負(fù)數(shù)時，一鍵為負(fù)號鍵，即在車入負(fù)數(shù)時先按 ,再

23、輸入一個數(shù)字則代表輸入一個負(fù)數(shù)（參見9-8 ） 。下面對各項參數(shù)分別說明：1 “探頭類型” 為四選一，按1鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有 “直探頭”、 “斜探頭” 、 “雙晶”和“穿透”四個選項供選擇，按數(shù)字鍵 1?4 選中；該項參數(shù)變更后，儀器須重 新調(diào)校。2 “探頭頻率” 和“晶片尺寸”兩項參數(shù)按探頭標(biāo)稱值輸入。 “晶片尺寸”一項在輸入時可用小數(shù)點代X號，比如輸入9.13意為9X13,如果是直探頭，直接輸入直徑即可；這兩項參數(shù)決定探頭的近場區(qū)長度，由于制作AVG曲線時，理論上只計算三倍近場區(qū)之后的曲線，在此之前為一條直線，在制作AVG前應(yīng)選擇合適的探頭，并將正確的參數(shù)輸入。 3 “折射角度” ：斜

24、探頭一般先輸入標(biāo)稱值，之后在測試時將得到實測折射角度值，如果已知實際折射角度值則直接輸入。參見 5-2 ， 4-8 。4 “工件聲速”一般在 “測零點” 時測量， 但也可在設(shè)置菜單中輸入，聲速應(yīng)在 200 ? 9999m/s 之間，超出范圍儀器將不接受輸入；當(dāng)此項發(fā)生更改時，儀器須重新調(diào)校。5 “探頭前沿”在“測零點聲速”時測量，也可在設(shè)置菜單中輸入，如果前沿值已輸入，則參數(shù)顯示區(qū)顯示的實時水平值將是已減去前沿的數(shù)值，對此應(yīng)予以注意，不能重復(fù)相減；此外此值輸入不準(zhǔn)確，會影響缺陷的水平定位。6 “通道標(biāo)準(zhǔn)”用于設(shè)置當(dāng)前通道使用何種標(biāo)準(zhǔn)，此標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置好后在“初始化”菜單中執(zhí)行初始化“當(dāng)前通道”后，通

25、道內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)依然為之前設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)不變。只有執(zhí)行“所有通道”或“儀器”后，會將所有通道內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)為儀器默認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)。7 .“濾波頻帶”為三選一，按數(shù)字 13分別可選、wide。通過選擇與探頭頻率相配的頻帶，可以獲得最佳的信噪比和分辨力。8 .“探頭阻尼”為二選一，按數(shù)字 1和2分別可選低阻尼LD/50和高阻尼HD/400,選擇與探頭及探頭線相匹配的阻尼可以獲得最佳的信噪比及分辨力。9 . “發(fā)射電壓” 為四選一，按數(shù)字14可分別可選電壓LV/100V、ML/200V、MH/400V,HV/800V。發(fā)射電壓的高低影響儀器的信噪比。當(dāng)菜單中某項或多項參數(shù)有誤或取值超出范圍，則儀器會提示“數(shù)據(jù)取值不當(dāng)”

26、 ，應(yīng)檢查需輸入數(shù)值的各參數(shù)項，重新輸入正確值；按 返回鍵，則放棄輸入并退出參數(shù)設(shè)置菜單。注意：更改的數(shù)據(jù)在按 ?鍵確認(rèn)退出設(shè)置菜單后才生效。4-3零點/測試按零點/測試 鍵，屏幕左上角的提示為“探頭零點”字樣，按 + 、 鍵可對 零點進(jìn)行設(shè)置（手工調(diào)節(jié)零點的詳細(xì)方法參照8-2）。零點值變化后，回波會相應(yīng)的水平移動，其參數(shù)也會變動，但 DAC/AV承線沒有同步變化，即回波定位及當(dāng)量值將會改變，因此 儀器在測試完DAC/AVGffi線之后不能改變零點，以免出現(xiàn)錯誤。自動或手動測試零點后，也可按零點/測t鍵，使屏幕出現(xiàn)“零點”兩字，查看所測的零點值。在初始狀態(tài)，儀器的各參量是預(yù)置的固定數(shù)值，跟實際

27、情況可能不符（如探頭K值、工件聲速、零點等），如果直接探傷，在缺陷的定位、定量時會不準(zhǔn)確，甚至不能查找出缺陷， 因此儀器在探傷前需進(jìn)行一些前期校驗工作，對一些重要參量進(jìn)行調(diào)試，從而使得探傷時操作輕松、結(jié)果正確。這些前期工作我們將其組合在測試菜單中，以方便使用。按零點/測試鍵兩次（或先按零點/測試鍵，再按確認(rèn)鍵）后屏幕波形區(qū)右上方出 現(xiàn)調(diào)校菜單：1 .測零點聲速2 .測折射角度3 .制作DAC4 .制作AVG5 .測儀器性能6 .測缺陷高度按標(biāo)號1-6即選中相關(guān)測試，出現(xiàn)相應(yīng)菜單，根據(jù)提示輸入數(shù)據(jù)或進(jìn)行相應(yīng)選擇后即可 開始測試，測試過程及具體操作詳見第五章。按返回 或確認(rèn)鍵退出調(diào)校菜單。4-4增

28、益（基本/補償）增益頻為復(fù)合功能鍵，可分別用于調(diào)節(jié)系統(tǒng)增益和補償增益。增益的調(diào)節(jié)由增益 鍵與 + 、 鍵完成。其步驟如下：按 喇益鍵，在“增益”斗態(tài)下，再按 + 、 鍵，便完成了回波 幅度的調(diào)節(jié)。該儀器的基本增益設(shè)置了四檔調(diào)節(jié)步長:增益調(diào)節(jié)步長按增減；增益 調(diào)節(jié)步長按1dB增減；增益 調(diào)節(jié)步長按2dB增減；增益調(diào)節(jié)步長按6dB增減。增益步長的選擇操作步驟為：反復(fù)按增益鍵，便可交替選擇增益步長。在探傷中長按增益鍵實現(xiàn)自動增益功能，使門內(nèi)回波升高或降低到預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)波高（一般為80%）,但在自動調(diào)節(jié)過程中總增益量不會超過80dB;其增益值加于基本增益之上。補償增益設(shè)置四檔調(diào)節(jié)步長：增益 自動調(diào)節(jié)增益

29、；增益調(diào)節(jié)步長按增減；增益 調(diào)節(jié)步長按 2dB增減；增益 調(diào)節(jié)步長按 6dB增減。當(dāng)補償增益為時，按加號鍵可調(diào)節(jié)補償增益的大小使門內(nèi)回波升高或降低到預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn) 波高（一般為80%），但在自動調(diào)節(jié)過程中總增益量不會超過80dB。按 -鍵可使補償增益迅速歸為0,波形還原至原先狀態(tài)。（標(biāo)準(zhǔn)波高見選項菜單第 2頁第6項）在增益狀態(tài)下，該儀器設(shè)置了三種增益狀態(tài)，即基本增益（或稱起始靈敏度）、補償增益和表面補償。顯示在屏幕的右上角：“增益 dB + dB + dB”A B CA項為基本增益，B項為補償增益，C項為表面補償。儀器的總增益為 A+B+C基本增益 和補償增益的轉(zhuǎn)換設(shè)置為在“增益”狀態(tài)下，反復(fù)按確

30、認(rèn)鍵，光標(biāo)則會在兩者之間轉(zhuǎn)換，補償增益B相當(dāng)于探傷時掃查靈敏度的調(diào)節(jié)，為方便尋找缺陷用。表面補償則根據(jù)工件表面粗糙度狀況，在選項菜單中設(shè)置。在無DAC/AVGffi線時，基本增益與表面補償增益的調(diào)節(jié)效果一樣，不會影響探傷結(jié)果.在有DAC/AVGft線時，三者就有顯著區(qū)別：（1）調(diào)節(jié)基本增益 A, DAC/AVGffi線和回波幅度同步變化。 在探傷時，為了找到某一回 波，需要調(diào)節(jié)增益，但又不能改變回波與 DAC/AVGS線的相對當(dāng)量值（不改變已設(shè)置的探傷 標(biāo)準(zhǔn)），此時應(yīng)在基本增益狀態(tài)下，調(diào)節(jié)增益。（2）調(diào)節(jié)補償增益B,可使門內(nèi)回波升高或降低，但其當(dāng)量值不變，DAC/AVGffi線也不變。（3）在

31、探傷時，由于現(xiàn)場工件狀況與試塊測試時的區(qū)別，需要進(jìn)行表面補償時，應(yīng)修 改表面補償增益 C （靈敏度補償）。設(shè)置表面補償增益后，DAC/AVGffi線不變，但回波幅度改變，其相對當(dāng)量值也相應(yīng)變化。（見選項菜單第1頁第2項表面補償）4-5聲程/標(biāo)度按聲程鍵（聲程有時也稱范圍），當(dāng)屏幕左上角的提示為“ ？?聲程”時，儀器處于聲 程更改狀態(tài)，用加減鍵可對當(dāng)前參量進(jìn)行調(diào)節(jié)。反復(fù)按聲程鍵可在步長1和步長2之間切換；步長1為細(xì)調(diào)，即連續(xù)調(diào)節(jié)，每次改變值為1;步長2為粗調(diào)，聲程值在一組固定值中變化，該組數(shù)值為“，- 300.0”，聲程大于300.0mm時每次增加100.0mni聲程值變化后，屏幕上顯示的回波位

32、置隨之?dāng)U展或壓縮，但回波的位置信息不會變化，如果已制作DAC/AVGft線，則曲線也會相應(yīng)擴(kuò)展或壓縮。按聲程鍵，再按確認(rèn)鍵，可以在水平、距離、垂直聲程之間切換。注：用此法切換聲程標(biāo)度僅當(dāng)探頭角度大于零時生效。否則在選項菜單中設(shè)置來切換聲程標(biāo) 度。探頭角度等于零不可切換至水平標(biāo)度，其水平標(biāo)度無意義。4-6聲速/標(biāo)準(zhǔn)按聲速鍵，當(dāng)屏幕左上角的提示為“試件聲速”時，儀器處于聲速更改狀態(tài)，用+、-鍵可對當(dāng)前參量進(jìn)彳T調(diào)節(jié)。反復(fù)按 聲速鍵可在步長1和步長2之間切換；步長1為細(xì) 調(diào)，即連續(xù)調(diào)節(jié)，每次改變值為 1;步長2為粗調(diào)，每次改變值為 100。按聲速鍵，再按確認(rèn)鍵，可以在聲速和標(biāo)準(zhǔn)之間切換。在標(biāo)準(zhǔn)選項中

33、儀器已預(yù)置了 GB/T11345-89、JB4730-2005、JG/2-2005、SY 4065-93、CB/T3559-94、DL/T820-2002、JIS Z3060、ASME-3 DL/T820 2002、AWS D1.1IW標(biāo)準(zhǔn)，及一個自定義選項 “ Custom”。選擇不 同的標(biāo)準(zhǔn)，其相應(yīng)參數(shù)“曲線根數(shù)、試塊類型”也會有相應(yīng)變化。比如當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)為JB/T4730-2005 時其相對應(yīng)的試塊就有CSK-IIIA、CSK-IIA、CSK-IVA等項可選。工件厚度不同，三線偏移量不同。探傷時可根據(jù)實際情況選擇。注：該處所列標(biāo)準(zhǔn)目前只對斜探頭DAC曲線生效。4-7K值按K彳1 鍵使儀器處于折

34、射角更改狀態(tài)，此時儀器左上角參數(shù)區(qū)將顯示折射角與K值，按 + 、 鍵可對折射角進(jìn)行調(diào)節(jié)。折射角變化后，聲程單位及回波位置參數(shù)會有變動，而回波在屏幕上的位置則不會變化，使用者可以利用此功能測斜探頭K值。當(dāng)在此儀器上調(diào)好一個斜探頭的零點，并預(yù)先輸入探頭的標(biāo)稱K值，然后用探頭在試塊（比如用CSK-IIIA ）上找一個已知深度（比如 20mm的孔的最高回波，調(diào)節(jié)聲程、增益、波門使此回波處于進(jìn)波門內(nèi)且波高約為 80%,按K值鍵，儀器處于折射角更改狀態(tài)， 此時 按 + 、 鍵調(diào)節(jié)探頭折射角，當(dāng)參數(shù)區(qū)顯示此回波的深度值為孔深（比如 20mm 時，探頭K值已校準(zhǔn)。特殊應(yīng)用：按K值 鍵兩次，或先按K值鍵再按確認(rèn)

35、鍵，可以在常用模式與“戶外專用”模式 下切換。戶外專用模式，為白底黑線，對比強烈，室外顯示效果較佳。功能數(shù)字式探傷儀與模擬式探傷儀相比有更強的數(shù)據(jù)處理能力，利用這種能力可實現(xiàn)更多的探傷輔助功能，這將有助于減輕探傷工作強度， 有利于對缺陷的定位、 定量及其性質(zhì)進(jìn)行正 確的判斷。這些功能將其組合在功能菜單中。按功能 >鍵出現(xiàn)功能菜單I。確定鍵生效J0初始化1回波包絡(luò)2 峰值記憶3門內(nèi)報警4 DAC 門5深度補償按相關(guān)標(biāo)號即可選中某項功能，再次按其標(biāo)號則該功能失效。1和2項不能同時生效，4和5項不能同時生效，且第 4項DAC門及第5項深度補償只 有在制作完DAC/AVGft線后才能生效，功能菜

36、單使用詳見第六章。注：在探傷中，長按該鍵會在開啟與關(guān)閉回波包絡(luò)功能中切換。4-9延時/抑制按延時/抑制鍵，當(dāng)屏幕左上角的提示為“ ？?延時”時，反復(fù)按延時鍵可在步長1 和步長2之間切換；步長1每次改變值為，步長2時延時步長為當(dāng)前屏幕顯示的一半，比如當(dāng)前聲程為100.0mm,則延時步長為50.0mmi用加減鍵可對延時量進(jìn)行調(diào)節(jié)。延時值改變后， 屏幕上顯示回波和 DAC/AVGffi線會相應(yīng)地出現(xiàn)水平移動，但進(jìn)波門內(nèi)回波的讀數(shù)不變。延時可使回波位置大幅度左右移動，而不改變回波之間的距離；可將不需要觀察的回波 調(diào)到屏幕外，以充分利用屏幕的有效觀察范圍。按延時/抑制鍵，再按確認(rèn)鍵則切換到回波抑制調(diào)節(jié)狀

37、態(tài)，用<+>或 <-> 鍵調(diào)節(jié)抑制值。抑制的作用是抑制屏幕上幅度較低或認(rèn)為不必要的雜波，使之不予顯示，從而使屏幕上顯示的波清晰。本儀器的抑制范圍為080%不影響垂直線性。查看抑制值注意屏幕右下角 “REJ ?%'。4-10選項在探傷過程中有些參量一般無須更改或很少更改，這些參量可在選項菜單中預(yù)先設(shè)置， 如果需要查看或更改某項參數(shù)，可選擇參數(shù)前的序號對該項參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。按<選項*建后，出現(xiàn)選項菜單：第1頁共2頁1、 聲程標(biāo)度：垂直/水平/距離2、 表面補償：dB3、位置顯示：峰值/前沿4、 選打印機(jī)：Epson LQ300K / HP 6L / Epson

38、C61/TP UP-NH32P5、當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)：母線/判廢線/定量線/評定線6、 當(dāng)量顯示：AVG/當(dāng)量1. “聲程標(biāo)度” 為三選一，按 <1>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“距離” 、 “水平” 和“垂直”三個選項供選擇，按數(shù)字鍵 1?3 選中。2. “表面補償”值根據(jù)工件表面耦合情況輸入，取值范圍為 ? 50 dB 。3. “位置顯示”為二選一，按<3>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“峰值”和“前沿”兩個選項供選擇，用戶按數(shù)字鍵 1 ? 2 選中；此項參數(shù)是指回波位置是以回波的峰 值為基準(zhǔn)還是以前沿為基準(zhǔn)，當(dāng)此項發(fā)生更改時，儀器須重新調(diào)試。 讀前沿時，可調(diào)節(jié)門高線與波前沿的某一位置相交

39、后讀取。4. “選打印機(jī)” 為四選一：有Epson LQ300K、 HP 6L、 Epson C61 、 TP UP-NH32P,四種打印機(jī)供選擇。傳統(tǒng)的針式打印機(jī)選第一項“EpsonLQ300K"，HP及Canon激光打印機(jī)選第二項“ HP 6L” ， Epson 最新的噴墨打印機(jī)則選取第三項“ Epson C61” ， TP 熱敏打印機(jī)則選取第四項“TP UP-NH32P” 。注： 屏幕拷貝或打印報告前， 需正確選擇打印機(jī)， 否則打印機(jī)可能不能正常打印。目前該型儀器支持?jǐn)?shù)十種打印機(jī)。5. “當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)”為四選一，按<5>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“母線”、 “判廢”、 “定

40、量”和“評定”四個選項供選擇，按數(shù)字鍵 1?4 選中；該項參數(shù)是指進(jìn)波門內(nèi)的 缺陷回波的當(dāng)量值是以何線為計算基準(zhǔn)，常用“母線”或“定量線” ，儀器默認(rèn) 值是“定量”；該項參數(shù)僅在制作成功DACffi線后方才有效，對AVG無效。6. “當(dāng)量顯示”為二選一，按<6>鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“ AVG和“當(dāng)量”兩個選項供選擇，按數(shù)字鍵 1?2選中；該項參數(shù)是指AVG曲線制作完畢后，屏幕是否顯示AVG曲線，儀器默認(rèn)值是“ AVG;若選擇“ AVG, AVG曲線將顯示在屏幕上， 參數(shù)區(qū)還會指示回波與最末根AVG曲線的當(dāng)量差；若選擇“當(dāng)量”，屏幕上將不有AVG曲線顯示，但參數(shù)區(qū)仍然顯示回波與最末

41、根AVG線的當(dāng)量差及孔徑值，省卻了人工計算當(dāng)量差的麻煩。首次制作AVG曲線時，儀器將自動轉(zhuǎn)換為？2曲線，該項參數(shù)僅在制作成功 AVG曲線后方才有效，對 DAC無效。7. “判廢線RL”、“定量線SL”和“評定線EL”這三線偏移量的取值在-30 ? +40dB,且這三個偏移量依次減小，即判廢線在定量線之上，定量線又在評定線之上，如 果輸入值使三線上下次序顛倒，儀器將不會接受；這三個參數(shù)對AVG無效，僅當(dāng)制作DACffi線成功后，輸入值方可生效。（在制作完直探頭的 AVG曲線時，這三項將變成“ AVG線上”、“AVG線中”、 “AVGB下”，可設(shè)置任意孔徑的 AV微。）8. “工件厚度”和“工件外

42、徑”主要用于曲面探傷中的曲面修正。也可在功能菜單中設(shè)置；另外，當(dāng)“工件外徑”為 0且“工件厚度”不為 0時，可以讀取缺陷的 實際深度。9. “B門用途”為二選一，按3淵1選取后出現(xiàn)子菜單，有“失波”、“進(jìn)波”二個選項供選擇，按數(shù)字鍵1 2選中。詳見4-2。10. “按鍵聲音”為二選一，按 4鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“開”、“關(guān)”二個選項 供選擇，按數(shù)字鍵 1 2選中。11. “屏幕亮度”為二選一，在第二頁中按5鍵選取后出現(xiàn)子菜單，有“低亮”和“高亮”供選擇，用戶可根據(jù)不同環(huán)境情況按數(shù)字鍵1 2選中。建議在室內(nèi)或陰天選擇“低亮”，晴天日光直接照射選擇“高亮”。注：屏幕亮度的不同影響電池的待機(jī)和使用

43、時間。12. “標(biāo)準(zhǔn)波高”用于設(shè)置在測零點、聲速、K值和制作DAC曲線時波幅自動達(dá)到的高度標(biāo)準(zhǔn)。13. “焊縫圖示”有“無”、“單面”、“雙面”和“ T型”四種焊接類型，十余種坡口型 式，探測焊縫時可使用該項；按 7頻選取此項后會出現(xiàn)一個新的菜單（參見附錄 1:焊縫參量設(shè)置），用戶在新菜單中輸入焊縫的各項參數(shù)。注：更改的數(shù)據(jù)在按確認(rèn) 鍵退出菜單后才生效。4-11查詢按查詢鍵后，屏幕出現(xiàn)查詢菜單：1 .屏幕拷貝2 .數(shù)據(jù)處理查詢功能使用詳見第七章。按返回鍵可退出查詢菜單。4-12增量+ ? + 鍵的作用是使選中的參量值增加，制作DAC/AVGffi線時移動光標(biāo)，或在數(shù)據(jù)輸入時代表小數(shù)點或乘號。4

44、-13減量， 一 鍵的作用是使選中的參量值減少，制作DAC/AVGa線時移動光標(biāo)，或在數(shù)據(jù)輸入時代表負(fù)號。4-14返回#返回 鍵的作用為從各菜單返回，或從當(dāng)前測試回到上一步， 在記錄探傷數(shù)據(jù)輸入數(shù)據(jù)編號時，切換輸入法?；蛉∠?dāng)前參量的調(diào)節(jié)。4-15確認(rèn)？確認(rèn) 鍵（即回車鍵）的作用為確認(rèn)數(shù)據(jù)及選擇復(fù)合鍵的第二功能。其他功能參見6-10。4-16鍵盤鎖設(shè)立鍵盤鎖的目的是為防止誤按而改變參數(shù)或工藝設(shè)置。關(guān)鎖狀態(tài)標(biāo)識符為：白，開鎖狀態(tài)標(biāo)識符為： 嚀。在屏幕的右邊對應(yīng)顯示。開、關(guān)鍵盤鎖的方法如下：在非參量調(diào)節(jié)狀態(tài)（即屏幕提示“探傷中請操作”時），長按返回 鍵，在儀器屏幕上方出現(xiàn)相應(yīng)提示后，立即按 紀(jì)健，

45、則可實現(xiàn)開鎖或關(guān)鎖的功能。當(dāng)關(guān)鎖后，儀器操作按鍵除返回 鍵外均被鎖住。4-17第五章儀器調(diào)試在測試狀態(tài)，功能菜單中的各項功能因被屏蔽而失去作用，但在測試完成或用戶中斷后恢復(fù)其作用；在測試狀態(tài)，任何時間都可以通過按返回鍵退出測試狀態(tài)，該通道各參量將 恢復(fù)到測試之前的狀態(tài)。測零點聲速開機(jī)后，按?鍵進(jìn)入探傷界面，在探傷界面按調(diào)校鍵出現(xiàn)調(diào)校菜單（參見 4-10）,然后按1選中“測零點聲速”后，調(diào)校主菜單消失，屏幕顯示新的對話框：1.預(yù)置工件聲速：5900m/s2. 一次回波聲程：100.0mm3. 一次回波聲程：200.0mm按？鍵開始測試根據(jù)所用探頭類型設(shè)置工件聲速，直探頭等一般為縱波， 斜探頭一般

46、為橫波，在測試前需正確預(yù)設(shè)工件聲速，如果誤差過大，目標(biāo)回波將不在門內(nèi)。根據(jù)所用試塊輸入試塊聲程值，如果輸入的試塊聲程值過小，則不能測零點聲速，需重新輸入另一恰當(dāng)?shù)臄?shù)值。當(dāng)選2鍵輸入“一次回波聲程” 后，“二次回波聲程”所顯示的數(shù)值將會是“一次回波聲程”的兩倍，例如在“一次回波聲程”處輸入30.0mm,則“二次回波聲程”的數(shù)值將變?yōu)?60.0mm,此時如果認(rèn)為“二次回波聲程”不是60.0mm而是50.0mm,則可以按3頻在“二次回波聲程”處輸入 50.0mm （例如在使用小徑管試塊測試小徑管探頭 時）。請注意：“二次回波聲程”必須大于“一次回波聲程”。儀器將根據(jù)輸入值自動設(shè)置進(jìn)波門（一般門位在第

47、四格，門寬兩格）、聲程、增益、聲速等參量，一般不需再調(diào)節(jié)，但有一些探頭如雙晶探頭由于零點較長，可能需要移動進(jìn)波門位（屏幕左上角提示： A門位）或其它參量（如聲程），使所需回波處于進(jìn)波門內(nèi)。調(diào)節(jié)參 量后，按返回 鍵回到原測試狀態(tài)。如果測試斜探頭，在確認(rèn)一次聲程值時，需用直尺量出探頭至一次反射體的水平距離， 并在確認(rèn)測試值后輸入。在測試過程中儀器會自動記錄門內(nèi)出現(xiàn)的最高波，并且會自動增減增益調(diào)整回波高度， 使門內(nèi)最高波在預(yù)設(shè)值（一般80%附近。門內(nèi)出現(xiàn)的最高波的指示方式有兩種，一是十字光標(biāo)，在最高波的最高點處會有一個光標(biāo)指示最高的波的位置，當(dāng)有更高的波比該點高時， 光標(biāo)會移到新的位置，當(dāng)門內(nèi)回波長

48、時間缺失，儀器會自動增加增益；一種是峰波記憶，會將整個最高波的波形記錄并顯示在屏幕上。按功能頻可以在光標(biāo)與峰波之間切換，當(dāng)切換到峰波指示最高波后， 則自動增降增益功能不再起效。在測試時按e曾益 鍵可以將門內(nèi)回波自動增減到預(yù)設(shè)值，配合峰波指示使用較佳。例1：用厚度為100mm勺大平底測直探頭零點及聲速，按1輸入“預(yù)置工件聲速”為“5900”、按2渝入試塊“一次回波聲程”為“100mm （或其倍數(shù)，如果所用試塊厚度過小,應(yīng)考慮用多次波，這里我們輸入100mm）儀器自動設(shè)置“二次回波聲程”為“200mrm,確認(rèn)后開始測試，儀器在波形區(qū)右上角提示：移動探頭使100.0mm反射體最高回波在門內(nèi)，？確認(rèn)如

49、右圖5-1-1所示，只需在試塊上移動探頭使反射體最高n回波出現(xiàn)在進(jìn)波門內(nèi)且波幅穩(wěn)定（波高約為80%時按確認(rèn)IU鍵，儀器會自動改變聲程、增益、門位使該次回波的雙倍次波出現(xiàn)在進(jìn)波門內(nèi)，在波形區(qū)提示中的聲程值會自動改為200mm此時應(yīng)穩(wěn)住探頭，使倍次波穩(wěn)定后按喇認(rèn)鍵，如圖5-1-2所示，儀器將會算出零點及聲速，并自動存儲。圖5-1-1測試過程中測試完成界面圖測試直探頭零點聲速5-1-2例2:用CSK-IA試塊測斜探頭零點聲速，輸一入“預(yù)置工件聲速”為：“3230”，輸入試塊“一一1次聲程”為50mm確認(rèn)后開始測試，儀器在波形區(qū)右上方出現(xiàn)提示（參見例1）;如右圖5-1-3 , ./將探頭放在 CSK-

50、IA試塊并移動，使 R50和R100 一：f1圓弧的兩個圓弧面的最高反射體回波同時出現(xiàn)，且圖5-1-3R50的回波處于進(jìn)波門內(nèi)時（波高約為80%用直尺量出探頭至 R50圓弧的水平距離并按確認(rèn)鍵，穩(wěn)住探頭后等 R100回波也處于進(jìn)波門內(nèi)且穩(wěn)定時按確認(rèn) 鍵，儀器會算出聲速及零點，并自動存儲，在屏幕上顯示出的“探頭至一次反射體水平距離”處輸入先前測量的探頭至R50圓弧的水平距離并確定，按“ y”存儲，測試過程如圖5-1-4所示。按酗輸入距離后，按？鍵完成測試完成界面圖測試斜探頭零點聲速5-1-4如果用IIW試塊（又稱荷蘭試塊，無 R50圓?。y斜探頭聲速，則試塊“一次聲程”輸入100mm其它操作與

51、CSK-IA類似。詳細(xì)舉例參見7-1。注：測零點聲速時不可調(diào)延時，不可更換通道，也不可嵌套其它測試；確認(rèn)回波時應(yīng)注意在屏幕左上角有“測零點聲速”提示時才可按確認(rèn)鍵；確認(rèn)進(jìn)波門內(nèi)回波時，需波高為 80%左右，否則有可能造成測試誤差， 當(dāng)所需回波處于進(jìn)波 門內(nèi)但波高不是 80%寸，稍等片刻，儀器會自動調(diào)節(jié)增益，使回波高度約為80%如果回波不在進(jìn)波門，可移動“ A門位”使回波處于進(jìn)波門內(nèi)。在示例中所輸入數(shù)值僅為舉例，應(yīng)根據(jù)使用試塊的實際情況進(jìn)行輸入。5-1測折射角度按調(diào)校鍵出現(xiàn)調(diào)校菜單后，按 2選擇測折射角度，屏幕出現(xiàn)提示“先測零點聲速？ y/n ”，如測過零點聲速則選擇«n”，此時出現(xiàn)如

52、下對話框：1.目標(biāo)反射體直徑：mm2.反射體中心深度：mm3.標(biāo)稱K值折射角：/ ?按？鍵開始測試根據(jù)所用探頭和試塊輸入數(shù)據(jù)，儀器自動預(yù)置增益、聲程、波門等參量，如果輸入值與 實際值誤差較大，將會導(dǎo)致錯誤結(jié)果， 需重新輸入正確數(shù)據(jù)并測試。開始測試后可參照提示在試塊上移動探頭或調(diào)節(jié)參量使反射體最高回波出現(xiàn)在進(jìn)波門內(nèi)時按?鍵確認(rèn)即可。在測試過程中儀器會自動記錄門內(nèi)出現(xiàn)的最高波，并且會自動增減增益調(diào)整回波高度，使門內(nèi)最高波在預(yù)設(shè)值（一般80%附近。門內(nèi)出現(xiàn)的最高波的指示方式有兩種，一是十字光標(biāo)，一種是峰波記憶，按功能鍵可以在光標(biāo)與峰波之間切換，當(dāng)切換到峰波指示最高波后，則自動增降增益功能不再起效。在

53、測試時按增益 >鍵可以將門內(nèi)回波自動增減到預(yù)設(shè)值，配合峰波指示使用較佳。例1 :用CSK-IA或IIW試塊的？50孔測標(biāo)稱K值為的探頭的實際 K值，目標(biāo)反射體直徑、 反射體中心深度和標(biāo)稱 K值折射角三項分別輸入 50mm 70mm和，三項全部正確輸入后按 < 確認(rèn)鍵開始測試。儀器在波形區(qū)左上角提示：使中心深度 70.0 mm 反射體最高回波 在門內(nèi)，？確認(rèn)5-2-1將探頭和試塊如右圖 5-2-1放置，移動 探頭使反射體（？50孔）的最高回波 出現(xiàn)在進(jìn)波門內(nèi)，確認(rèn)后儀器算出K值和折射角，確認(rèn)測試值后存儲，如 圖5-2-2所示。測試過程中測試完成界面圖測試斜探頭K值/折射角度5-2-2例2:用CSK-IIIA試塊深40mm ?1的孔測標(biāo)稱K值為探頭的實際 K值，反射體中心深度、目標(biāo)反射體直徑和標(biāo)稱 K值折射角三項則分別輸入40.0mm> 1.0mm和，三項全部正確輸入后按確認(rèn)鍵開始測試。儀器在波形區(qū)左