拉伸實(shí)驗(yàn)思考題答案

1、拉伸實(shí)驗(yàn)思考題答案篇一：材料力學(xué)試驗(yàn)思考題】壓縮時(shí)測(cè)不出破壞荷載，而鑄鐵壓縮時(shí)測(cè)不出屈服荷載？鑄鐵是脆性材料其情況正好與低碳鋼相反，沒(méi)有屈服現(xiàn)象，所以壓 縮時(shí)測(cè)不出屈服載荷。 2.根據(jù)鑄鐵試件的壓縮破壞形式分析其破壞 原因，并與拉伸破壞作比擬。 在鑄鐵試件壓縮時(shí)與軸線大致成 45 度的斜截面具有最大的剪應(yīng)力 ,故破壞斷面與軸線大致成 45 度 .3. 通過(guò)拉伸和壓縮實(shí)驗(yàn)，比擬低碳鋼的屈服極限在拉伸和壓縮時(shí)的 差異屈服極限 : 屈服極限是使試樣產(chǎn)生給定的永久變形時(shí)所需要的應(yīng)力,金屬材料試樣承受的外力超過(guò)材料的彈性極限時(shí) ,雖然應(yīng)力不再增加 ,但 是試樣仍發(fā)生明顯的塑性變形 ,這種現(xiàn)象稱為屈服 .

2、低碳鋼的拉伸屈服極限 :有一個(gè)比擬明顯的點(diǎn) ,即試件會(huì)比擬明顯的 被突然拉長(zhǎng) .低碳鋼的壓縮屈服極限 :沒(méi)有有一個(gè)比擬明顯的點(diǎn) .因?yàn)樗鼤?huì)隨壓力增 加,截面積變大 .差異如何鑄鐵的抗壓強(qiáng)度要高于抗拉強(qiáng)度。鑄鐵件抗壓不抗拉*. .1溫度，傳感器的靈敏度2應(yīng)變片的方向和上下位置，是否進(jìn)行溫度補(bǔ)償梁的擺放位置、下端支條位置，加載力位置，是否滿足中心部位的 純彎3應(yīng)變片的方向和貼片位置是否準(zhǔn)確是否進(jìn)行溫度補(bǔ)償梁的擺放位置下端支撐位置加載力位置，是否滿足中心部位的純彎2. 材料力學(xué)，矩形梁彎曲時(shí)正應(yīng)力分布電測(cè)試驗(yàn)，在中性層上理論 計(jì)算應(yīng)變值等于 0，而實(shí)際測(cè)量值不等于 0，為什么？梁不是精確地對(duì)稱或應(yīng)變

3、片沒(méi)有處在絕對(duì)的中性層2實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)力不為零除了測(cè)量時(shí)的誤差意外，最重要的是在 實(shí)際問(wèn)題中，你很難將應(yīng)變片貼到梁的中性層上。如果你測(cè)得的應(yīng) 力數(shù)值不大，但與載荷成比例增加就可以肯定是中性軸應(yīng)變片貼的不準(zhǔn)，至于偏上還是偏下， 那要看應(yīng)力的正負(fù)和外載情況。四：低碳鋼和鑄鐵的扭轉(zhuǎn)實(shí)驗(yàn)的思考題1 、安裝試件時(shí)，為什么試件的縱軸線與試驗(yàn)機(jī)夾頭的軸線要重合？2 、試件受扭時(shí)，表層的材料處于什么應(yīng)力狀態(tài)3 、低碳鋼拉伸和扭轉(zhuǎn)的斷裂方式是否一樣？破壞原因是否相同？4 、鑄鐵在壓縮和扭轉(zhuǎn)時(shí)，斷口外緣都與軸線成45 度，破壞原因是否相同？ 2、 1、試件所受扭矩的中心線就是試件的軸線。所加的外 力矩的中心線是試驗(yàn)

4、機(jī)夾頭的軸線。假設(shè)兩者不重回，那么加在試件 上的外力矩就不等于試驗(yàn)機(jī)所顯示的力矩大小，所測(cè)出的值就是錯(cuò) 誤的。2、處于扭轉(zhuǎn)切應(yīng)力狀態(tài)。3 、低碳鋼拉伸和扭轉(zhuǎn)時(shí)斷裂方式不一樣。拉伸的斷裂方式是拉斷， 試件受正應(yīng)力。表現(xiàn)為斷裂截面收縮、斷裂后試件總長(zhǎng)大于原試件 長(zhǎng)度。扭轉(zhuǎn)的斷裂方式是剪斷，試件受切應(yīng)力。表現(xiàn)為試樣外表的 橫向與縱向出現(xiàn)滑移線，最后沿橫截面被剪斷，斷裂截面面積不變， 試件總長(zhǎng)不變。3 、【篇二：物理實(shí)驗(yàn)思考題答案】一、 薄透鏡焦距的測(cè)定1遠(yuǎn)方物體經(jīng)透鏡成像的像距為什么可視為焦距？ff111答：根據(jù)高斯公式？ = 1，有其空氣中的表達(dá)式為？?？，對(duì)于遠(yuǎn)方的uvuvf物體有u = ?，代

5、入上式得f'= v，即像距為焦距。2.如何把幾個(gè)光學(xué)元件調(diào)至等高共軸？粗調(diào)和細(xì)調(diào)應(yīng)怎樣進(jìn)行？答：對(duì)于幾個(gè)放在光具座上的光學(xué)元件，一般先粗調(diào)后細(xì)調(diào)將它們調(diào)至共軸等高。 粗調(diào)將光學(xué)元件依次放在光具座上，使它們靠攏，用眼睛觀察各光學(xué)元件是否共軸等高?？煞謩e調(diào)整：1) 等高。升降各光學(xué)元件支架，使各光學(xué)元件中心在同一高度。2) 共軸。調(diào)整各光學(xué)元件支架底座的位移調(diào)節(jié)螺絲，使支架位于光具座中心軸線上，再調(diào)各光學(xué)元件外表與光具座軸線垂直。細(xì)調(diào)根據(jù)光學(xué)規(guī)律調(diào)整利用二次成像法調(diào)節(jié)。使屏與物之間的距離大于4倍焦距，且二者的位置固定。移動(dòng)透鏡，使屏上先后出現(xiàn)清晰的大、小像，調(diào)節(jié)透鏡或物，使透鏡在屏上成的大

6、、小像在同一條直線上，并且其中心 重合。3. 能用什么方法區(qū)分出透鏡的正負(fù)？答：方法一：手持透鏡觀察一近處物體，放大者為凸透鏡，縮小者 為凹透鏡。方法二：將透鏡放入光具座上，對(duì)箭物能成像于屏上者 為凸透鏡，不能成像于屏上者為凹透鏡。4. 測(cè)凹透鏡焦距的實(shí)驗(yàn)成像條件是什么？?jī)煞N測(cè)量方法的要領(lǐng)是什么？答： 一是要光線近軸，這可通過(guò)在透鏡前加一光闌檔去邊緣光線和 調(diào)節(jié)共軸等高來(lái)實(shí)現(xiàn)；二是由于凹透鏡為虛焦點(diǎn)，要測(cè)其焦距，必 須借助凸透鏡作為輔助透鏡來(lái)實(shí)現(xiàn)。物距像距法測(cè)凹透鏡的要領(lǐng)是固定箭物，先放凸透鏡于光路中，移 動(dòng)輔助凸透鏡與光屏，使箭物在光屏上成縮小的像不應(yīng)太小后 固定凸透鏡，記下像的坐標(biāo)位置p；

7、再放凹透鏡于光路中，并移 動(dòng)光屏和凹透鏡，成像后固定凹透鏡02，并記下像的坐標(biāo)位置p'；此時(shí) o2p = u , o2p= v。用自準(zhǔn)法測(cè)凹透鏡焦距的要領(lǐng)是固定箭物，取凸透鏡與箭物間距略 小于兩倍凸透鏡的焦距后固定凸透鏡o1，記下像的坐標(biāo)位置 p ；再放凹透鏡和平面鏡于o1p 之間，移動(dòng)凹透鏡，看到箭物平面上成清晰倒立實(shí)像時(shí)，記下 凹透鏡的坐標(biāo)位置o2，那么有 f2 = o2p。5. 共軛法測(cè)凸透鏡焦距時(shí)，二次成像的條件是什么？有何優(yōu)點(diǎn)？ 答：二次成像的條件是箭物與屏的距離 d 必須大于 4 倍凸透鏡的焦 距。用這種方法測(cè)量焦距，防止了測(cè)量物距、像距時(shí)估計(jì)光心位置 不準(zhǔn)所帶來(lái)的誤差，在

8、理論上比擬準(zhǔn)確。6如何用自準(zhǔn)成像法調(diào)平行光？其要領(lǐng)是什么？答：固定箭物和平面鏡，移動(dòng)箭物與平面鏡之間的凸透鏡，使其成清晰倒立實(shí)像于箭物平面上。此時(shí)，箭物發(fā)出的光經(jīng)凸透鏡后為平行光。其要領(lǐng)是箭物與平面鏡間距要大于凸透鏡焦距。7 不同物距的物體經(jīng)凸透鏡成像時(shí)，像的清晰區(qū)大小是否相同？答：不相同。原因有二：一是不同區(qū)間的物其成像區(qū)間范圍不相同，二是由于近軸光線條件不能滿足，致使存在色像差。8 用自準(zhǔn)法測(cè)凸透鏡焦距時(shí)，透鏡光心偏離底座中心坐標(biāo)時(shí)，應(yīng)如何解決？ 答：由于透鏡的光心不一定在底座刻線的平面內(nèi)，所測(cè)結(jié) 果可能偏大或偏小，要消9 分析測(cè)焦距時(shí)存在誤差的主要原因。答： 共軸等高調(diào)節(jié)不好； 成像清晰

9、范圍找得不準(zhǔn)； 由于箭物所放位置不能測(cè)量或箭物傾斜沒(méi)進(jìn)行修正。10 沒(méi)有接收屏就看不到實(shí)像，這種說(shuō)法正確嗎？答：不正確。對(duì)于透鏡，只要在它成像的范圍內(nèi)，用眼睛對(duì)著光線 都能看到實(shí)像。11 本實(shí)驗(yàn)介紹的幾種測(cè)量凸透鏡的方法，哪一種方法比擬好？為 什么？答：從道理上說(shuō)位移法比擬好，因?yàn)檫@種方法把焦距的測(cè)量歸結(jié)于 可以精確測(cè)量的量 d 和 d 的測(cè)量，防止了確定凸透鏡光心位置不準(zhǔn)帶來(lái)的困難。12 利用自準(zhǔn)直法測(cè)凸透鏡的焦距時(shí)，為什么會(huì)發(fā)現(xiàn)透鏡能在兩個(gè) 不同位置，使 1字孔屏上出現(xiàn)清晰的像？ 答：這是因?yàn)槌俗詼?zhǔn)直法產(chǎn)生的哪個(gè)像外，凸透鏡背對(duì) 1 字孔的 那個(gè)凹面能象凹面反射鏡那樣成一個(gè)倒立的實(shí)像，只

10、是這個(gè)像距比凸透鏡的焦距小。13 物距不同時(shí)，像的清晰范圍是否相同？ 答：是不相同的。按近軸光學(xué)的分析，物距越大，像的清晰范圍越 大。14 在測(cè)凸透鏡焦距時(shí)，可以用測(cè)得的多組 u 、v 值，以 u /v 即 像的放大率作縱軸，以 u 作橫軸，畫(huà)出實(shí)驗(yàn)圖線。試問(wèn)這條實(shí)驗(yàn)圖線具有什么 形狀 ?怎樣從這條圖線求出焦距 f?答：由焦距計(jì)算公式： 1/u+1/v=1/f 整理后得： u/v=u/f-1 。以 u 為橫 坐標(biāo)， u/v 為縱坐標(biāo)作圖為一直線，其斜率為 1/f ，進(jìn)而可求得焦距。15. 在透鏡焦距測(cè)定過(guò)程中，有時(shí)沒(méi)有看到 1 字像，而看到燈絲的像， 這是為什么？ 答：這是因?yàn)槠叫泄鉀](méi)有完全調(diào)

11、節(jié)好原因。16 如何直接判斷凸透鏡和凹透鏡？ 答：觀察光線經(jīng)過(guò)這兩類透鏡折射以后是否能會(huì)聚于一點(diǎn)。用手拿 著透鏡觀察桌面上的字，如相同的高度，字放大的這塊是凸透鏡，字縮小的這塊是凹 透鏡。17 凸透鏡、凹透鏡的定義及性質(zhì)？ 答；中間厚邊緣薄的叫凸透鏡，中間薄邊緣厚的叫凹透鏡。凸透鏡 會(huì)令光線聚焦，令影像放大。凹透鏡會(huì)令光線發(fā)散開(kāi)，令影像縮小。18 測(cè)量凸透鏡及凹透鏡除書(shū)上的幾種方法，還有其他方法嗎？答：測(cè)量凸透鏡及凹透鏡除書(shū)上有成像公式法、位移法、自準(zhǔn)直法、 輔助透鏡法和視差法。19 公式法測(cè)凹透鏡焦距時(shí)，凹透鏡的位置如何放置？ 答：因?yàn)榘纪哥R不能成實(shí)象，所以要借助凸透鏡來(lái)成象，凹透鏡的 位置

12、應(yīng)放在凸透鏡第一次成象位置的后面、平面鏡的前面。20 公式法、位移法測(cè)透鏡焦距時(shí)，加圓孔光闌時(shí)象如何變化，為 什么？答：公式法、位移法測(cè)透鏡焦距時(shí)，加圓孔光闌時(shí)象變得清晰。主 要是把雜光去掉，使遠(yuǎn)軸光線變成近軸光線。21 測(cè)量透鏡焦距，選擇放大的像還是縮小的像比擬準(zhǔn)確，為什么？ 答：測(cè)量透鏡焦距，選擇縮小的像比擬準(zhǔn)確，容易觀察它的清晰度。 如果在測(cè)凹透鏡焦距時(shí)，如第一次就成一個(gè)大的象，然后再放上凹 透鏡，經(jīng)發(fā)散象會(huì)更大，一象會(huì)不清晰，二會(huì)超出視場(chǎng)范圍。22 加圓孔光闌后，選擇較遠(yuǎn)的像還是較近的像比擬準(zhǔn)確，為什么？答：加圓孔光闌后，選擇較近的像比擬準(zhǔn)確，因?yàn)榧由蠄A孔光闌后， 光的能量會(huì)減少，如距

13、離較遠(yuǎn)的話，由于光能的缺乏而影響象的清 晰度。23 自準(zhǔn)直法那么透鏡焦距時(shí)，為什么不加圓孔光闌？ 答：自準(zhǔn)直法那么透鏡焦距時(shí)，光經(jīng)過(guò)平面鏡反射路徑長(zhǎng)，光的能量 要損耗，為了保證能量所以不加圓孔光闌。24 如何測(cè)量凸透鏡的曲率半徑及折射率？ 答：用牛頓環(huán)放在讀數(shù)顯微鏡上，測(cè)出它第 k 級(jí)的直徑 d ，代入公 式算出它的曲率半徑及折射率。26 如何調(diào)節(jié)光具座上光學(xué)儀器的共軸？答： 1粗調(diào)：用眼鏡觀察，使光具座上各元件等高，互相之間平 行，中心在一條直線上。2細(xì)調(diào)：利用位移法進(jìn)一步調(diào)節(jié)各元件的共軸，移動(dòng)凸透鏡使兩 次在白屏所成的一個(gè)放大的像和一個(gè)縮小的像的中心重合。二、 光具組基點(diǎn)的測(cè)定1. 為什么

14、加上圓光闌時(shí)，象看起來(lái)清晰？ 答：把雜光去掉，主要使遠(yuǎn)軸光線變成近軸光線，象看就起來(lái)清晰。 三、分光計(jì)的調(diào)節(jié)及棱鏡玻璃折射率的測(cè)定 1分光計(jì)的讀數(shù)裝置為什么要有兩個(gè)讀數(shù)窗 ? 在測(cè)量角度時(shí)，讀數(shù) 應(yīng)注意什么 答：為了消除望遠(yuǎn)鏡即游標(biāo)和載物臺(tái)即度盤(pán)得轉(zhuǎn)動(dòng)軸與中 心軸不重和即偏心對(duì)測(cè)量的影響，在度盤(pán)一條直徑的兩端各安裝一 個(gè)游標(biāo)，讀數(shù)時(shí)，通過(guò)觀察窗上部的放大鏡觀察刻度尺，分別對(duì)兩 個(gè)游標(biāo)讀數(shù)。2 分光計(jì)的度尺根據(jù)游標(biāo)原理刻成，在用分光計(jì)測(cè)量前是否需記下 零讀數(shù)零差 ?為什么 ?答：在用分光計(jì)測(cè)量前不需要記下零讀數(shù)零差，因?yàn)橛梅止庥?jì) 測(cè)角度實(shí)際上是測(cè)定處于與度盤(pán)平面平行的平面內(nèi)，且通過(guò)中心軸 的兩束

15、平行光束的夾角。3 為什么用平面鏡調(diào)節(jié)分光計(jì)平臺(tái)時(shí)，要調(diào)相互垂直二次？ 答：因?yàn)橐粭l直線不能確定一個(gè)平面，兩條相交直線才能確定一個(gè) 平面。所以要調(diào)相互垂直二次。4 在測(cè)三棱鏡最小偏向角時(shí)，有時(shí)無(wú)論哪個(gè)方向轉(zhuǎn)都沒(méi)有最小偏向角，這是為什么？也可能轉(zhuǎn)動(dòng)三棱鏡譜線出射光線沒(méi)有動(dòng)，這 又是為什么？答：三棱鏡的位置沒(méi)有放好，光路沒(méi)有調(diào)整好，三棱鏡的磨砂面朝 那個(gè)方向沒(méi)定位正確，無(wú)論哪個(gè)方向轉(zhuǎn)都沒(méi)有最小偏向角。5 測(cè)最小偏向角時(shí)，入射角、出射角關(guān)系如何？入射光線、出射光 線關(guān)系如何？三棱鏡中的光線方向如何？答：在測(cè)最小偏向角時(shí)，入射角和出射角相等，入射光線和出射光 線在底邊的兩側(cè)，并對(duì)稱，三棱鏡中的光線方向

16、6 阿貝折射率儀是根據(jù)什么原理制成的？答：阿貝折射率儀是根據(jù)全反射原理制成的。它有兩種工作方式， 即透射式和反射式。7 阿貝折射率儀是根據(jù)什么原理制成的？答：阿貝折射率儀是根據(jù)全反射原理制成的。它有兩種工作方式， 即透射式和反射式。4 棱鏡色散的研究1 分光計(jì)實(shí)際調(diào)節(jié)的是哪三個(gè)面共面？答： 1讀數(shù)平面， 2觀察平面， 3待測(cè)光路平面。2 如何調(diào)節(jié)望遠(yuǎn)鏡調(diào)焦無(wú)窮遠(yuǎn)？答： 1旋轉(zhuǎn)望遠(yuǎn)鏡目鏡，使目鏡中的十字叉絲清晰。2找到反射回來(lái)的綠色叉絲象，拉伸目鏡鏡筒，使之清晰，并使 叉絲與叉絲象無(wú)視差，然后固定目鏡。3 用平面鏡調(diào)節(jié)為什么要放二個(gè)位置來(lái)調(diào)節(jié)？答：因?yàn)橐粭l直線不能確定一個(gè)平面，兩條相交直線才能確

17、定一個(gè) 平面。所以要調(diào)相互垂直二次。五、夫瑯和費(fèi)衍射的強(qiáng)度分布和觀察1. 實(shí)驗(yàn)中為什么要找出中央明紋的位置？ 本實(shí)驗(yàn)的最終目的是為了能做出光強(qiáng)度分布圖，找出中央明紋的位 置，使其極大值位于所測(cè)數(shù)據(jù)的中間位置，做出的圖像才能夠出現(xiàn) 主極大和其兩邊的二級(jí)極大。2. 實(shí)驗(yàn)中為什么要保證中央明紋的光電流值不要偏??？ 如果中央明紋的光電流值偏小，那么其他位置的光電流值將更小， 自然光照射的光電流值給作圖帶來(lái)一定的麻煩，而且，做出的圖效 果也不好。3 在單縫實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，當(dāng)縫寬 b 及縫到屏的間距 d 增大或減少時(shí)， 條紋如何變化？答： b 增大，條紋變密。d 增大，條紋變稀。6 菲涅耳衍射實(shí)驗(yàn)研究7 用雙

18、棱鏡干預(yù)測(cè)鈉光波長(zhǎng)1 雙棱鏡干預(yù)屬什么方法的干預(yù)，什么類型的干預(yù)？答：雙棱鏡干預(yù)屬于雙光束干預(yù)，是分波陣面方法的干預(yù)2 如何測(cè)量波長(zhǎng)差？如何較準(zhǔn)確測(cè)量？3 、雙棱鏡干預(yù)實(shí)驗(yàn)中，單縫距雙棱鏡的間距是否影響干預(yù)條紋？ 答：雙棱鏡干預(yù)實(shí)驗(yàn)中，單縫距雙棱鏡的間距對(duì)干預(yù)條紋會(huì)有影響。 八、用牛頓環(huán)測(cè)透鏡曲率半徑和用劈尖測(cè)厚度直徑1、為什么實(shí)驗(yàn)中有的學(xué)生算出的 r20-10 、 r25-15 、r30-20 會(huì)有很 大的差異？(1) 在數(shù)暗環(huán)時(shí)計(jì)數(shù)錯(cuò)誤或計(jì)算中帶錯(cuò)數(shù)據(jù)都可導(dǎo)致此結(jié)果。2在轉(zhuǎn)動(dòng)讀數(shù)顯微鏡副尺時(shí)，有正轉(zhuǎn)、反轉(zhuǎn)交叉轉(zhuǎn)動(dòng)的現(xiàn)象。 3目鏡中的縱絲沒(méi)有壓到暗環(huán)的中央，而是與暗環(huán)內(nèi)切或外切。2 、為什么

19、實(shí)驗(yàn)中有的學(xué)生測(cè)出的 r 持續(xù)偏小？(1) 讀數(shù)顯微鏡中看到的明暗相間的條紋不清晰。(2) 把中心的暗斑數(shù)做第一環(huán)。3、牛頓環(huán)的各環(huán)是否等寬 ? 環(huán)的密度是否均勻 ?如何解釋 ?答：牛頓環(huán)的各環(huán)不等寬，中間寬邊緣窄；環(huán)的密度也不均勻，中 間密邊緣稀。這是由干預(yù)公式?jīng)Q定。4 、用同樣的實(shí)驗(yàn)方法，能否測(cè)定凹透鏡的曲率半徑?答：能測(cè)定凹透鏡的曲率半徑。5 、牛頓環(huán)干預(yù)條紋畸變的可能原因有哪些 ?答：這是由于灰塵或凸透鏡和平板玻璃不規(guī)那么造成的。6 在牛頓環(huán)實(shí)驗(yàn)中，如何正確測(cè)量圓環(huán)的直徑？答：在牛頓環(huán)實(shí)驗(yàn)中，測(cè)量直徑時(shí)級(jí)次 k 要取適當(dāng)大 ,為了防止螺距 誤差 ,測(cè)量時(shí)顯微鏡要向一個(gè)方向移動(dòng) ,不能中

20、途反向轉(zhuǎn)動(dòng) .在測(cè)量直徑 時(shí) , 中心應(yīng)是暗點(diǎn) ,一邊是內(nèi)切 ,另一邊應(yīng)是外切 .調(diào)節(jié)時(shí)應(yīng)注意將顯微 鏡鏡筒先下降 ,然后緩慢上升 ,以免損壞牛頓環(huán) .7 牛頓環(huán)的干預(yù)屬于哪種方法的干預(yù)？哪種類型的干預(yù)？邁克爾遜 干預(yù)儀的干預(yù)屬于哪種方法的干預(yù)？哪種類型的干預(yù)？篇三：高分子物理實(shí)驗(yàn)思考題 (自整理 )】txt>1. 實(shí)驗(yàn)操作中，哪些因素對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果有影響？ 粘度管口徑，粘度管是否垂直及是否干凈，溶液密度，人的讀數(shù)誤 差，秒表精度等等。實(shí)驗(yàn)二 偏光顯微鏡法觀察聚合物球晶1. 聚合物結(jié)晶體生長(zhǎng)依賴什么條件，在實(shí)際生產(chǎn)中如何控制晶體的 形態(tài)？ 依賴于分子結(jié)構(gòu)的對(duì)稱性與規(guī)整性，以及溫度，濃度，成核

21、 劑，雜質(zhì)，機(jī)械力等條件?？刂菩纬伤俣龋簩⑷垠w急速冷卻生成較小球晶，緩慢冷卻那么生成較大球晶 采用共聚的方法：破壞鏈的均一性和規(guī)整性，生成小球晶 3 外加成核劑可獲得甚至更微小的球晶。實(shí)驗(yàn)三 掃描電鏡觀察物質(zhì)外表微觀結(jié)構(gòu)外表斜坡處比擬亮？因?yàn)閽呙桦婄R收集的是二次電子 ,通過(guò)收集的二次電子成像 ,而樣品的 邊緣和斜坡處由于形貌都比擬鋒利突出 ,所以對(duì)二次電子的反射強(qiáng)度 高,因而在邊緣和斜坡處的圖像比擬發(fā)亮。2. 電鏡的固有缺陷有哪幾種？像閃是怎樣產(chǎn)生的？球差，色差，衍色差，像閃。極革化材料加工精度，極革化材料結(jié) 構(gòu)和成分不均勻性影響磁飽和，導(dǎo)致場(chǎng)的不均勻性造成像閃。實(shí)驗(yàn)四 dsc ， dtadt

22、a 是測(cè)量試樣和參比物的溫度差，而 dsc 使試樣和參比物的溫度 相等，而測(cè)的是維持試樣和參比物的溫度相等所需要的功率dta ：測(cè)溫差，定性分析，測(cè)溫范圍大，靈敏性低dsc ：測(cè)能量差，定量分析，精度高，測(cè)溫范圍小相對(duì)dta 靈敏度高2. 同一聚合物樣品， tga 測(cè)試得到樣品分解溫度及分解步驟有差異， 可能原因是什么？1 ，通入氣體的種類即氣氛不同， n2 不參與反響，熱效應(yīng)小，影響 不大； 2 升溫速率不同，如果升溫速率太快反響溫度就會(huì)不均勻不能 得到準(zhǔn)確的峰，相反，試量少一些溫度會(huì)相對(duì)均勻，就可以得到尖 銳的峰形和相對(duì)準(zhǔn)確的峰溫； 3，實(shí)驗(yàn)開(kāi)始時(shí)儀器的校準(zhǔn)不準(zhǔn)確； 4 樣品用量的多少，用

23、量多一點(diǎn)好，在側(cè)重感相同的情況下，可以得 到較高的相對(duì)精度。實(shí)驗(yàn)五 電子拉力機(jī)測(cè)定聚合物的應(yīng)力 -應(yīng)變曲線1. 拉伸速度對(duì)測(cè)試結(jié)果有何影響 ?一般情況下，拉伸速度越大，所測(cè)得的強(qiáng)度值越高。在低的拉伸速 度下，有充足的時(shí)間利于缺陷的開(kāi)展，從而強(qiáng)度值較小，而較大的 拉伸速度下，材料的斷裂主要是其化學(xué)鍵的破壞引起，測(cè)得的強(qiáng)度 值較大。2. 根據(jù)拉伸過(guò)程中屈服點(diǎn)的表現(xiàn)、伸長(zhǎng)率大小及斷裂情況，應(yīng)力- 應(yīng)變曲線大致可分為幾種類型？目前大致可歸納成 5 種類型3. 影響高聚物機(jī)械強(qiáng)度的因素有哪些？(1) 大分子鏈的主價(jià)鏈，分子間力以及高 分子鏈的柔性等，是決定高 聚物機(jī)械強(qiáng)度的主要內(nèi)在因素。(2)混料及塑化不均 , 會(huì)產(chǎn)生細(xì)紋、凹陷、真空泡等形式留在制品外 表或內(nèi)層。3)環(huán)境溫度、濕度及拉伸速度等對(duì)機(jī)械強(qiáng)度有著非常重要的影響