超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程完整

1、超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程1適用范圍1.1 本工藝適用于板厚為6-250mm的板材、碳素鋼和低合金鋼鍛件、母材壁厚 8-400mm的全焊透熔化焊對(duì)接焊縫及壁厚大于等于 4mm ,管徑為57-1200mm 碳素鋼和低合金石油天然氣長(zhǎng)輸、集輸和其他油氣管道環(huán)向?qū)雍缚p、鋼質(zhì)儲(chǔ) 罐對(duì)接焊縫的超聲波檢測(cè)等。1.2 本工藝規(guī)定了使用 A型脈沖反射式超聲波探傷儀進(jìn)行檢測(cè)過程中，對(duì)受檢設(shè)備做出準(zhǔn)確判定應(yīng)遵循的一般程序和要求。1.3 引用標(biāo)準(zhǔn)JB4730/T-2005承壓設(shè)備無損檢測(cè)SY/T4109-2005為油天然氣鋼質(zhì)管道無損檢測(cè)GB11345-89鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的分級(jí) JB/T9214-19

2、99 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)測(cè)試方法JB/T10062-1999超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法GB50128-2005 金式圓筒形鋼制焊接儲(chǔ)罐施工及驗(yàn)收規(guī)范2對(duì)檢測(cè)人員的要求2.1 從事超聲波檢測(cè)人員必須經(jīng)過培訓(xùn) ，持證上崗。只有取得質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督部 門頒發(fā)的超聲波檢測(cè)技術(shù)等級(jí)證書的人，方可獨(dú)立從事與該等級(jí)相應(yīng)的超聲波 檢測(cè)工作。2.2 檢測(cè)人員應(yīng)具有良好的身體素質(zhì)，其校正視力不得低于5.0,并每年檢查一 次。2.3 檢測(cè)人員應(yīng)嚴(yán)格執(zhí)行檢測(cè)作業(yè)安全防護(hù)指導(dǎo)書和其它安全防護(hù)規(guī)定，確保安全生產(chǎn)3檢測(cè)程序3.1 根據(jù)工程特點(diǎn)和本工藝編制具體的無損檢測(cè)技術(shù)方案。3.2 受檢設(shè)備經(jīng)外觀檢查合格后，由現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)

3、理或檢驗(yàn)員開據(jù)無損檢測(cè)指令或 無損檢測(cè)委托單到檢測(cè)中心。3.3 檢測(cè)人員按指令或委托單要求進(jìn)行檢測(cè)準(zhǔn)備，技術(shù)人員根據(jù)實(shí)際情況編制 探傷工藝卡。3.4 檢測(cè)人員按超聲波探傷儀調(diào)試作業(yè)指導(dǎo)書等工藝文件進(jìn)行設(shè)備調(diào)試。3.5 外觀檢查合格后，施加耦合劑，實(shí)施檢測(cè)，做好超聲波檢測(cè)記錄。3.7 根據(jù)檢測(cè)結(jié)果和委托單，填寫相應(yīng)的回執(zhí)單或合格通知單。若有返修，還 應(yīng)出據(jù)返修通知單，標(biāo)明返修位置等。將回執(zhí)單和返修通知單遞交監(jiān)理或檢 驗(yàn)員，同時(shí)對(duì)受檢設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)和試驗(yàn)狀態(tài)標(biāo)識(shí) 。3.8 返修后，按要求重新進(jìn)行檢測(cè)。3.9 在檢測(cè)過程中應(yīng)有R或田級(jí)人員在現(xiàn)場(chǎng)。所有的檢測(cè)工作完成后，由具有 超聲波II或m級(jí)人員出據(jù)

4、超聲波檢測(cè)報(bào)告，由技術(shù)負(fù)責(zé)人或其授權(quán)人審核。 4探傷儀、探頭、試塊和系統(tǒng)性能的一般要求4.1 探傷儀采用A型脈沖反射式探傷儀，工作頻率范圍為0.5-10MHZ ,儀器至 少在熒光屏滿刻度80 %范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可 調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于 2dB,其精度為任意相鄰12dB誤差在tdB以 內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB,水平線性誤差不超過1%,垂直線性誤差不超過 5%。4.2 探頭晶片有效面積一般不應(yīng)超過500mm 2,且任一邊長(zhǎng)不應(yīng)大于25mm。單 斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于 2o,主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰4.3 探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能4.3.1 在

5、達(dá)到所探工作的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)大于或等于10dB。4.3.2 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度：對(duì)于頻率為5 MHz的探頭，其占寬不 得大于10mm ;對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，具占寬不得大于15mm。4.3.3 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于30dB,斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于6dB。4.4 超聲波檢測(cè)的一般要求4.4.1 檢測(cè)時(shí)，應(yīng)盡量掃查到工作的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查復(fù)蓋率應(yīng)大 于探頭直徑的15%。4.4.2 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。4.4.3 掃查靈敏度至少應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。4.4.4 應(yīng)采用透聲性好且

6、不損傷受檢設(shè)備表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。4.4.5 檢測(cè)面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格，所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物都應(yīng)予 以清除，具表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。4.4.6 在制作距離-波幅曲線時(shí)，應(yīng)考慮各種耦合補(bǔ)償。4.5 校準(zhǔn)4.5.1 校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使超聲主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的軸線，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。專業(yè)word可編輯4.5.2 儀器在開始使用時(shí)，應(yīng)對(duì)其水平線性進(jìn)行測(cè)定。使用中，每隔三個(gè)月至少 應(yīng)對(duì)儀器的水平線和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定。4.5.3 斜探頭使用前，應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨 力等的校準(zhǔn)。使用過程中，每個(gè)工作日應(yīng)校準(zhǔn)前

7、沿距離、K值和主聲束偏離。 直探頭使用前檢查始脈沖占寬、靈敏度余量和分辨力。4.6 儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核4.6.1 復(fù)核的時(shí)機(jī)：每次檢測(cè)前均應(yīng)對(duì)掃描線、靈敏度進(jìn)行校核，遇有下列情況應(yīng)隨時(shí)進(jìn)行重 新校核：a）校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時(shí)；b）檢測(cè)者懷疑掃描量程或靈敏度有變化時(shí)；c）連續(xù)工作4小時(shí)以上時(shí)；d）工作結(jié)束時(shí)。4.6.2 每次檢查結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏 移超過掃描讀數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)予以重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來所 有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)驗(yàn)。4.6.3 每次檢查結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核，距離-波幅曲線的校核一般 不少于3點(diǎn)。校核

8、時(shí)，如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降 2dB,則應(yīng)對(duì)上一次以來所 有的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng) 定。4.7 試塊4.7.1 試塊應(yīng)妥善保管，各種缺欠孔要經(jīng)常清理。4.7.2 試塊選擇應(yīng)注意外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊的厚度應(yīng)與被檢 工作的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度的部件進(jìn)行熔焊時(shí)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來確定。4.7.3 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，可以采用其它型式的等效試塊。4.8 探傷儀、探頭、試塊和系統(tǒng)性能測(cè)試按超聲波探傷儀調(diào)試作業(yè)指導(dǎo)書進(jìn)行。5鋼板的超聲檢測(cè)本條適用于板厚6250mm的板材的超聲檢測(cè)和缺欠等級(jí)評(píng)定。5.1 探頭的選用按下表進(jìn)

9、行。板厚mm采用探頭公稱頻率探頭晶片尺寸雙晶直探頭單晶直探頭620雙晶直探頭5MHz晶片面積不小于150mm 2/>20 40單晶直探頭5MHz/圓晶片直徑為 1420mm>40 250單晶直探頭2.5MHz/圓晶片直徑為 2025mm5.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊5.2.1 用雙晶直探頭檢測(cè)壁厚小于或等于20mm的鋼板時(shí)，采用CBI標(biāo)準(zhǔn)試5.2.2 用單晶直探頭檢測(cè)壁厚大于 20mm的鋼板時(shí)，采用CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊。試塊 厚度與被檢鋼板厚度相近。5.3 檢測(cè)時(shí)機(jī)對(duì)于要求淬火、正火或回火處理的鋼板，檢測(cè)應(yīng)在熱處理后進(jìn)行。5.4 檢測(cè)靈敏度5.4.1 板厚小于或等于20mm時(shí)，用CBI試塊將工件等厚

10、部位第一次底波高度 調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。5.4.2 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CBII試塊05平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻 度的50 %作為檢測(cè)靈敏度。5.4.3 板厚大于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺欠的完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與5.4.2條相一致。5.5 檢測(cè)方法5.5.1 檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制平面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求 時(shí)，也可對(duì)鋼板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè)。5.5.2 掃查方式a）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，按間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃 查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各 50mm （當(dāng)板厚超過100mm時(shí)

11、，以板厚的一半 為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100 %掃查。b）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查。5.6 缺欠記錄5.6.1 在檢測(cè)過程中出現(xiàn)下列三種情況之一者及作為缺欠：a）缺欠第一次反射波（Fi）波高大于或等于滿刻度的50%,即Fi>50%者。b）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙i）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺欠第一次反射 波（Fi）波高與底面第一次反射波（Bi）之比大于或等于的 50%,即Bi<100%,而 Fi/ Bi>50%者。c）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎㄋ龋┎ǜ叩陀跐M刻度的50%,即Bi<50%者。5.6.2 缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法a）檢出缺欠后，應(yīng)在它的周

12、圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺欠的延伸及范圍。b）用雙晶直探頭確定缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，使缺欠波下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的 25%或使 缺欠第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為 50%。此時(shí)，探頭中心的移 動(dòng)距離即為缺欠的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的 結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。c）用單直探頭確定缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使缺欠第一次反 射波高下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的 25 %或使缺欠第一次反射波與 底面第一次反射波高之比為 50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺欠的指示 長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。兩種

13、方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。d）確定5.6.i c）條邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使底面第一次反射波升 高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺欠的指示長(zhǎng)度， 探頭中心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。e）當(dāng)采用第二次缺欠波和第二次底波來評(píng)定缺欠時(shí)，檢測(cè)靈敏度應(yīng)以相應(yīng) 的第二次反射波來校準(zhǔn)。5.7 缺欠的評(píng)定方法5.7.1 缺欠指示長(zhǎng)度的評(píng)定準(zhǔn)則：一個(gè)缺欠按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺欠的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺欠的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí)，可不做記錄。5.7.2 單個(gè)缺欠指示面積的評(píng)定規(guī)則a) 一個(gè)缺欠按其指示的最大面積作為該缺欠的單個(gè)指示面積。當(dāng)其小于下表時(shí)，可不作記錄。等級(jí)單個(gè)缺欠指示長(zhǎng)度(mm

14、)單個(gè)缺欠指小面積(cm2)在任, 1m X1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺欠面積百分比()以下單個(gè)缺欠指小面積不記(cm2)I<80<25<3<9R<100<50<5<15m<120<100<10<25IV<150<100<10<25V超過IV級(jí)者b)多個(gè)缺欠其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰小缺欠的指示長(zhǎng)度(取其較大值)時(shí)，其各缺欠面積之和作為單個(gè)缺欠指示面積。5.7.3 缺欠面積占有率的評(píng)定規(guī)則：在任一 1mX1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺欠所占的 百分比來確定。如鋼板面積小于Imxim,可按比例折算。5.8

15、 鋼板缺欠等級(jí)評(píng)定5.8.1 缺欠等級(jí)劃分見5.7.2的表格。5.8.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm (板厚超過100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)) 內(nèi)，缺欠的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，則應(yīng)評(píng)為V級(jí)。專業(yè)word可編輯5.8.3 在檢測(cè)過程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺欠存在 時(shí)，則應(yīng)評(píng)為V級(jí)。6鍛件的超聲檢測(cè)本條適用于碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和缺欠等級(jí)評(píng)定。不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)外徑之比小于 80%的環(huán)形和筒 形鍛件的周向橫波檢測(cè)。6.1 試塊6.1.1 縱波直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CSI和CSH、CSIH試塊，也可自行加工其他對(duì)比試塊。6.1.2

16、 縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊a）工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSII試塊。b）縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合JB4730表5和圖5的規(guī)定。6.1.3 檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CSIH標(biāo)準(zhǔn)試塊來測(cè)定由于曲率不同而引起的聲 能損失，其形狀和尺寸符合JB4730圖6的規(guī)定。6.2 檢測(cè)時(shí)機(jī)原則上應(yīng)安排在熱處理后，槽、孔、臺(tái)階加工前進(jìn)行。若熱處理后鍛件形 狀不適合超聲檢測(cè)時(shí)，也可在熱處理前進(jìn)行，但在熱處理后仍應(yīng)對(duì)鍛件進(jìn)行盡 可能完全的檢測(cè)。檢測(cè)面的表面粗糙度Ra為6.3um。6.3 檢測(cè)方法鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)。對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測(cè)，但掃查 部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。6.

17、3.1 橫波檢測(cè)應(yīng)按JB4730附錄C的要求進(jìn)行。6.3.2 縱波檢測(cè)原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能檢測(cè)到鍛件的 全體積。鍛件厚度超過400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查。6.4 檢測(cè)靈敏度的確定6.4.1 縱波直探頭檢測(cè)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí) ，原則上可選用底波計(jì) 算法確定檢測(cè)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的 三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊確定檢測(cè)靈敏度。6.4.2 縱波雙晶直探頭檢測(cè)靈敏度的確定選if¥ CSII試塊，并依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的3平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的

18、回波幅度達(dá)到滿刻度的 80%。不改變儀器的 參數(shù)，測(cè)出其它平底孔回波的最高點(diǎn)，將其標(biāo)在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即是 對(duì)應(yīng)于不同直徑平底孔的縱波雙晶直探頭的距離 一波幅曲線，并以此作為檢測(cè) 靈敏度。6.4.3 檢測(cè)靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離的 2mm平底孔當(dāng)量直徑。6.5 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的確定6.5.1 在工件無缺欠完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位 ， 調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度 （B1）為滿刻度的50%,記錄此時(shí)衰減器的讀 數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2）為滿刻度的50%,兩次衰減 器讀數(shù)之差即為（BB2）的dB差值。6.5.2 衰減系數(shù)的計(jì)算公式為：（T

19、WN）(B1- B2) -6dB2T當(dāng) T<3N ,且滿足 n>3N/t,m=2n:a= (Bi- B2) -6dB2(m-n) T式中：a-衰減系數(shù)，dB/m (單程)；(Bi- B2)-兩次衰減器讀數(shù)之差，dB;T工件檢測(cè)厚度，mm 0m、n一底波反射次數(shù)。6.5.3 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。6.6 缺欠當(dāng)量的確定6.6.1 采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺欠的當(dāng)量。對(duì)于三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺欠，可 采用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來確定缺欠當(dāng)量。也可采用其它 等效方法來確定。6.6.2 計(jì)算缺欠當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過4 dB/m ,應(yīng)考慮修正。6.

20、7 缺欠記錄6.7.1 記錄當(dāng)量直徑超過4mm的單個(gè)缺欠的波幅和位置。6.7.2 密集性缺欠：記錄密集性缺欠中最大當(dāng)量缺欠的位置和分布。餅形鍛件應(yīng) 記錄大于或等于4mm當(dāng)量直徑的缺欠密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于 3mm直徑的缺欠密集區(qū)。缺欠密集區(qū)面積以50mm X50mm的方塊作為最小量 度單位，其邊界可由6 dB法決定。應(yīng)按表二要求記錄底波降低量。6.7.3 衰減系數(shù)：若供需雙方有規(guī)定時(shí)，應(yīng)記錄衰減系數(shù)。6.8 缺欠等級(jí)評(píng)定6.8.1 單個(gè)缺欠等級(jí)評(píng)定見表一。6.8.2 底波降低量的等級(jí)評(píng)定見表二。6.8.3 密集區(qū)缺欠等級(jí)評(píng)定見表三。表一單個(gè)缺欠等級(jí)評(píng)定等級(jí)IRmIVV缺欠當(dāng)量直徑曲0

21、4+(>08dB)C4+(>8 12dB)04+(>12 16dB)>O4+16dB表二由缺欠引起底波降低量的等級(jí)評(píng)定等級(jí)IRmIVV底波降低量BG/BF<8> 8 14> 14 20>20 26>26注：本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺欠。表三 密集區(qū)缺欠的等級(jí)評(píng)定等級(jí)IRmIVV密集區(qū)缺欠占檢測(cè)總面積百分比%0>05> 510> 10 20>206.8.4 表一、表二和表三的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。6.8.5 如果工件的材質(zhì)衰減對(duì)檢測(cè)效果有較大的影響，應(yīng)重新進(jìn)行熱處理。6.8.6 如果被檢測(cè)人員判定為危害

22、性缺欠時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為V級(jí)。6.8.7 鍛件修補(bǔ)后，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)定。7焊縫的超聲波檢測(cè)（JB4730標(biāo)準(zhǔn)）本條適用于母材厚度為6400mm全焊透熔化焊對(duì)接焊縫的超聲檢測(cè)。不 適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫，也不適用于外徑小于 250mm 或內(nèi)外徑之比小于 80%的縱向焊縫檢測(cè)。7.1 試塊7.1.1 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為 CSK-IA、CSK-HA、CSK-IHA、CSK-IVA。CSK-1 A、CSK-HA、CSK-IHA試塊適用壁厚范圍為 6120mm的焊縫；CSK-1 A和 CSK-IVA系列試塊適用壁厚范圍大于120400mm的焊縫。在滿足靈敏度要求 時(shí)，也可采用其它型式的等

23、效試塊。7.1.2 檢測(cè)曲面工件時(shí),如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)（W為探頭接觸 面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面 曲率相同的對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照對(duì)比試塊確定。試塊應(yīng)滿足：b>2 店/D0式中：b一試塊寬度，mm；入i波波長(zhǎng)，mm；S一聲程，mm；D0聲源有效直徑，mm。7.2 檢測(cè)準(zhǔn)備7.2.1 檢測(cè)面a）焊縫檢測(cè)一般采用一種 K值頭、利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對(duì)整 個(gè)焊接接頭進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)母材厚度大于46mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)的直射波檢 測(cè)。對(duì)于要求比較高的焊縫，根據(jù)實(shí)際需要也可將焊縫余高磨平，直接在焊縫 上進(jìn)行檢測(cè)。b）檢測(cè)區(qū)域的寬

24、度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm,最大為10 mm。c）探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整 光滑，其表面粗糙度Ra應(yīng)小于等于6.3um, 一般應(yīng)進(jìn)行打磨。移動(dòng)區(qū)范圍應(yīng)滿足 下列要求：采用直射法時(shí)，移動(dòng)區(qū)應(yīng)不少于 0.75TK;采用一次反射法或用列式掃查 時(shí)，移動(dòng)區(qū)應(yīng)不少于1.25TK （T板厚；K探頭K值。）。d）去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫， 如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過 渡以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定。7.2.2 探頭K值的選擇7.2.2.1

25、探頭K值的選擇按下表規(guī)定選擇：厚度（mm）探頭K值（折射角）6253.02.0 (72° -60° )>25 462.51.5 (68° 46° )>46 1202.01.0 (60° -45° )>120 4002.01.0 (60° -45° )7.2.2.2 用列式掃查，推薦選用兩個(gè)K1值的探頭，兩探頭實(shí)際折射角相差不應(yīng) 超過2o,探頭前沿長(zhǎng)度相差應(yīng)小于2mm。為便于探測(cè)厚焊縫坡口邊緣未熔合缺 欠，亦可選用兩個(gè)不同K值的探頭，但兩個(gè)探頭K值 均應(yīng)在0.71.43范圍。7.3 距離一波幅曲線的

26、繪制7.3.1 曲線按所用探頭和儀器在相應(yīng)的試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成 ，該曲線族由 評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為I區(qū)， 定量線與判廢線之間（包括定量線）為R區(qū)，判廢線及其以上為田區(qū)。7.3.2 距離一波幅曲線的靈敏度選擇a） 壁厚為6120mm的焊縫，其距離一波幅曲線靈敏度按表四規(guī)定；b） 壁厚大于120400mm的焊縫，其距離一波幅曲線靈敏度按表五規(guī)定；c）直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表六規(guī)定；d） 檢測(cè)橫向缺欠時(shí),應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB;e） 檢測(cè)面曲率半徑R小于或等于 W2/4時(shí)，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試塊上進(jìn)行。f）工件的表面耦合損失和

27、材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，在一跨距離聲程內(nèi)最 大傳輸損失差不超過2 dB時(shí)可以不進(jìn)行補(bǔ)償。表四 距離一波幅曲線的靈敏度（JB4730）試塊型式板厚mm評(píng)定線定量線判廢線CSK-HA6462X40-18dBC2 W0-12dB2 W0-4dB>46 1202X40-14dB2 X40-8dB2 X40+2dBCSK-IHA81501 X6-12dB 1 X6-6dB 1 X6+2dB>15 46 1 x6-9dB 1 X6-3dB 1 X6+5dB>46 120 1 x6-6dB1 X6 1 X6+10dB表五 距離一波幅曲線的靈敏度（JB4730）試塊型式板厚mm評(píng)定線定量線判廢

28、線CSK-IVA>120 400RI-16dB d-10dBd表六 T型焊接接頭直探頭距離一波幅曲線的靈敏度（JB4730）評(píng)定線定量線判廢線2mm平底孔3mm平底孔C4mm平底孔7.4 檢測(cè)方法7.4.1 平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)a）為檢測(cè)縱向缺欠,原則上采用一種K值或兩種K值探頭在焊縫的單面雙 側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。母材厚度大于 46mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)檢測(cè)，如受幾何條件限 制，也可在焊縫雙面單側(cè)采用兩種 K值探頭進(jìn)行檢測(cè)。斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中 心線放置在檢測(cè)面上，作鋸齒型掃查。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部 專業(yè)word可編輯焊縫截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10o15o的左

29、右轉(zhuǎn) 動(dòng)。當(dāng)壁厚大于40mm且單側(cè)坡口角度小于5o時(shí)，應(yīng)采用用列式檢測(cè)。b）為檢測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺欠應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查 。檢測(cè)時(shí)， 可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線成 10o20o作斜平行掃查。焊縫余高磨 平時(shí)，可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查。焊縫母材超過100mm時(shí)，應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或采用兩種 K值探頭（K1和K1.5或K1 和K2并用）作單面兩個(gè)方向的平行掃查；必要時(shí)亦可用兩個(gè)K1探頭作用列掃 查。對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成 45o的掃查。c）為確定缺欠的位置、方向和形狀，觀察缺欠動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺欠信號(hào)或 偽缺欠信號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞

30、等四種探頭基本掃查方式。7.4.2 曲面工件對(duì)接焊縫的檢測(cè)7.4.2.1 檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)于受 幾何條件限制，無法檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄。7.4.2.2 縱縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。a）根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。b）探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲率試塊作 實(shí)際測(cè)定。c）當(dāng)檢測(cè)面曲率半徑 R大于W2/4且采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí),應(yīng)注 意到熒光屏指示的缺欠深度或水平距離與缺欠實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離 弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。

31、7.4.2.3 環(huán)縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的0.91.5倍。7.5 缺欠定量檢測(cè)7.5.1 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。7.5.2 對(duì)所有反射波幅超過定量線的缺欠，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺 欠當(dāng)量。7.6 缺欠定量應(yīng)根據(jù)缺欠最大反射波幅確定缺欠當(dāng)量直徑或缺欠指示長(zhǎng)度 從。7.6.1 缺欠當(dāng)量直徑，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測(cè)，可采用 公式計(jì)算，距離一波幅曲線和試塊對(duì)比來確定缺欠當(dāng)量尺寸。7.6.2 缺欠指示長(zhǎng)度從的測(cè)定采用以下方法：a）當(dāng)缺欠反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于II區(qū)或II區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。b）當(dāng)缺

32、欠反射波峰值起伏變化,有多個(gè)高點(diǎn),且位于II區(qū)或H區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用端點(diǎn)6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。c）當(dāng)缺欠反射波峰位于I區(qū)時(shí)，如認(rèn)為有必要記錄時(shí)，將探頭左右移動(dòng)， 使波幅降到評(píng)定線，以此測(cè)定缺欠指示長(zhǎng)度。7.7 缺欠評(píng)定7.7.1 超過評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺欠特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭 K值、增加檢測(cè)面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作 判定，如對(duì)波型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其它檢測(cè)方法作綜合判定。7.7.2 缺欠指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí)，按5mm計(jì)。7.7.3 相鄰兩缺欠在一直線上，其間距小于其中較小的缺欠長(zhǎng)度時(shí)，兩缺欠指示 長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺欠的

33、指示長(zhǎng)度（不考慮間距）。.專業(yè)word可編輯7.8缺欠等級(jí)評(píng)定7.8.1 不允許存在下列缺欠：a）反射波幅位于判廢線及田區(qū)的缺欠；b）檢測(cè)人員判定為裂紋等危害性的缺欠。mm7.8.2 最大反射波幅位于II區(qū)的缺欠，根據(jù)其指示長(zhǎng)度按表七規(guī)定予以評(píng)級(jí)等級(jí)板厚T反射波幅（所在區(qū)域）單個(gè)缺欠指示長(zhǎng)度L多個(gè)缺欠累計(jì)長(zhǎng)度L'I6 400I非裂紋類缺欠6 120nL= T /3 ,最小為10 ,最大不超過30在任意9T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)L不超過T> 120 400L=T /3 ,最大不超過50n6 120nL= 2 T/3 ,最小為12,最大不超過40在任總4.51焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)L'不超過

34、T最大不超過75>120 400m6 400n超過n級(jí)者超過n級(jí)者m所有缺欠焊接接頭質(zhì)量分級(jí)專業(yè)word可編輯I、n、田裂紋等危害性缺欠注：1母材板厚不同時(shí)，取薄板側(cè)厚度值。2當(dāng)焊縫長(zhǎng)度不足 9T （I級(jí)）或4.5T（n級(jí)）時(shí)，可按比例折算。當(dāng)折算后的缺欠累計(jì)長(zhǎng)度小于單個(gè)缺欠指示長(zhǎng)度時(shí)，以單個(gè)缺欠指示長(zhǎng)度為準(zhǔn) 。7.8.3 最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺欠，均評(píng)為I級(jí)。7.8.4 不合格缺欠應(yīng)予以返修。返修部位及熱影響區(qū)仍按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和等級(jí) 評(píng)定。8長(zhǎng)輸管道焊縫的超聲波檢測(cè)（SY4109標(biāo)準(zhǔn)）本條適用于壁厚為550mm ,管徑為571400mm 碳素鋼和低合金鋼等 金屬材料的石油

35、天然氣長(zhǎng)輸管道、集輸及其站場(chǎng)的管道環(huán)向?qū)雍缚p的超聲檢 測(cè)與質(zhì)量分級(jí)；不適用于彎頭與直管、帶頸法蘭與直管，回彎頭與直管對(duì)接接 頭的檢測(cè)。8.1 試塊采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為SGB和SRB試塊。SRB試塊用于比較焊縫根部未焊透深 度。SGB試塊用于測(cè)定探傷儀、探頭和系統(tǒng)的性能以及對(duì)儀器做調(diào)整和校驗(yàn) 。 SGB試塊適用范圍見下表：編號(hào)弧面半徑R適用管外徑中SGB-13054 89SGB-248>89 140SGB-376>140 210SGB-4120>210 360SGB-5200>360 600SGB-6平向>6008.2 檢測(cè)準(zhǔn)備8.2.1 檢測(cè)面a）焊縫檢測(cè)一般采用一

36、種 K值頭，單面雙側(cè)直射法及一次反射法或二次反 射法。b）檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各10mm區(qū)域。c）探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整 光滑，其表面粗糙度Ra不應(yīng)超過6.3um, 一般應(yīng)進(jìn)行打磨。移動(dòng)區(qū)范圍應(yīng)滿足下 列要求：采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于1.25PP=2KT（P探頭移動(dòng)區(qū)；T板厚；K一折射角正切值。）采用直射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于0.75 P8.2.2 探頭K值的選擇探頭K值的選擇按下表規(guī)定：管壁厚度（mm）探頭K值（折射角）5-832.5 (71.568.2° )>8 142.5 2.0 (68.

37、2° -63.5° )>14 502.01.0 (63.5° -45° )8.3 距離一波幅曲線的繪制8.3.1 曲線按所用探頭和儀器在相應(yīng)的SGB和SRB試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為止區(qū)，判廢線及其以上 為田區(qū)。8.3.2 距離一波幅曲線的靈敏度選擇長(zhǎng)輸管道的距離一波幅曲線靈敏度按下表規(guī)定選擇：試塊型式板厚mm評(píng)定線定量線判廢線SGB550 2mm-2dB2mm -8dB 2mm -14dB8.4 檢測(cè)方法采用單面雙側(cè)直射法及一次反射法或二次反射法。探傷靈敏度不低于評(píng)定 線靈敏度，對(duì)未焊透靈敏度不低于SRB試塊人工矩形槽反射波峰值點(diǎn)高度。為確定缺欠的位置、方向和形狀，觀察缺欠動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺欠信號(hào)或偽 缺欠信號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。8.5 缺欠定量檢測(cè)8.5.1 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。8.5.2 對(duì)波幅超過評(píng)定線的反射波應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向，反射波在熒光屏上的 波形和位置及焊縫情況判定是