高功率輔助加熱及電流驅(qū)動等離子體中雜質(zhì)行為研究

1、高功率輔助加熱及電流驅(qū)動高功率輔助加熱及電流驅(qū)動等離子體中雜質(zhì)行為研究等離子體中雜質(zhì)行為研究提案人提案人:吳振偉吳振偉實驗背景及目的實驗背景及目的 p在以前在以前HT-7 TOKAMAK進(jìn)行的波加熱及電進(jìn)行的波加熱及電流驅(qū)動的聯(lián)合實驗中，觀察到了離子波恩流驅(qū)動的聯(lián)合實驗中，觀察到了離子波恩斯坦波和低雜波的聯(lián)合實驗效果，驅(qū)動效斯坦波和低雜波的聯(lián)合實驗效果，驅(qū)動效率有所提高，等離子體性能和約束有明顯率有所提高，等離子體性能和約束有明顯改善改善p準(zhǔn)備在這種高功率加熱和驅(qū)動的放電條件準(zhǔn)備在這種高功率加熱和驅(qū)動的放電條件下進(jìn)行雜質(zhì)行為的實驗研究。總的波功率下進(jìn)行雜質(zhì)行為的實驗研究?？偟牟üβ室筮_(dá)到要求

2、達(dá)到0.5-1MW區(qū)域，即：區(qū)域，即：PTOT=PRF+PLH0.51MWp研究各種雜質(zhì)粒子在這種放電條件下的行研究各種雜質(zhì)粒子在這種放電條件下的行為特性為特性實驗方法實驗方法 p進(jìn)行波加熱及電流驅(qū)動的聯(lián)合實驗，把輔助進(jìn)行波加熱及電流驅(qū)動的聯(lián)合實驗，把輔助加熱和驅(qū)動的功率逐漸提高到加熱和驅(qū)動的功率逐漸提高到0.5-1MW區(qū)域區(qū)域并在適當(dāng)?shù)臈l件下得到約束改善的等離子體并在適當(dāng)?shù)臈l件下得到約束改善的等離子體p用用CXRS測量測量C雜質(zhì)離子的電荷交換復(fù)合光雜質(zhì)離子的電荷交換復(fù)合光譜，譜，Zeff，雜質(zhì)譜和，雜質(zhì)譜和UV剖面分布剖面分布p在相同的放電條件下充入在相同的放電條件下充入Ne氣和氣和Ar氣氣

3、,并用并用CXRS分別測量分別測量Ne雜質(zhì)和雜質(zhì)和Ar雜質(zhì)離子的電荷雜質(zhì)離子的電荷交換復(fù)合光譜，交換復(fù)合光譜，Zeff ，雜質(zhì)譜和，雜質(zhì)譜和UV剖面分剖面分布布p結(jié)合結(jié)合W活動限制器實驗活動限制器實驗,觀察觀察W雜質(zhì)光譜線在雜質(zhì)光譜線在此類放電中的行為此類放電中的行為放電條件放電條件p 低混雜波低混雜波LHCD電流驅(qū)動和電流驅(qū)動和IBW加熱聯(lián)合實驗加熱聯(lián)合實驗p DNB和和CXRS投入運行投入運行p IP=150-200kAp Ne=1.5-2.5e19cm-3p It=1.8-2Tp PLHCD300-600kW (n/=2.7 and 3.1)p PIBW200-400kW (30MHz

4、IBW and 27MHz IBW )p Ne and Ar Gas puffingp W限制器局部投入限制器局部投入FTU裝置上裝置上LHCD和和ECH的聯(lián)合實驗的聯(lián)合實驗放電參考放電參考-LHCD+IBW on HT-7所需要的診斷所需要的診斷p Charge exchange recombination spectroscopy (ni ,Ti & V )p Visible bremsstrahung (Zeff )p UV rotating mirror and OSMA300i( impurity line emission)p Ha array (Tp) p Far infrared laser interferometer (ne profile )p Thomson scatting (Te profile ) p Soft X-rays radial spectrum and intensity (Te &e ) p Hard X-rays radial spectrum (fast electron deposition)p Langmuir probe and CO2 scattering (Te