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文檔簡介

1、01哲學(xué)02經(jīng)濟學(xué)03法學(xué)04教育學(xué)05文學(xué)06歷史學(xué)07理學(xué)0808工學(xué)工學(xué)09農(nóng)學(xué)10醫(yī)學(xué)11管理學(xué)0806 電氣信息類080601電氣工程及其自動化080602自動化080603電子信息工程080604通信工程080605計算機科學(xué)與技術(shù)080606電子科學(xué)與技術(shù)電子科學(xué)與技術(shù)080607生物醫(yī)學(xué)工程分設(shè)十一個學(xué)科門類(無軍事學(xué)),下設(shè)二級類71個,專業(yè)249種。專門研究電子科學(xué)理論及其應(yīng)用技術(shù)的學(xué)科,其研究的主要內(nèi)容是電子技術(shù)的核心理論制造電子元器件的材料、方法與工藝工藝電路設(shè)計理論與應(yīng)用技術(shù)設(shè)計制造測試1.電子元器件分立器件和集成器件如何設(shè)計出滿足應(yīng)用系統(tǒng)要求的電子元器件2.電子材料

2、半導(dǎo)體材料、金屬材料和非金屬材料采用什么樣的材料才能滿足工程實際的需要3.分析與設(shè)計基本理論電子材料的基本物理和化學(xué)性質(zhì)、元器件的基本工作原理等4.工程應(yīng)用技術(shù)與方法提供了最直接的應(yīng)用技術(shù),是電子科學(xué)與技術(shù)理論研究和工程應(yīng)用技術(shù)聯(lián)系的紐帶集成電路技術(shù)器件階段集成電路設(shè)計技術(shù)是支持技術(shù)設(shè)計基礎(chǔ)是器件系統(tǒng)實現(xiàn)技術(shù)是器件組成系統(tǒng)基本工具是器件分析系和系統(tǒng)仿真SoC階段集成電路設(shè)計技術(shù)是基本應(yīng)用技術(shù)設(shè)計基礎(chǔ)是系統(tǒng)和電路系統(tǒng)實現(xiàn)技術(shù)是系統(tǒng)集成技術(shù)基本工具是系統(tǒng)和電路模型的仿真分析時間內(nèi)容安排時間內(nèi)容安排1課程概述2晶圓制備3氧化4物理氣相淀積5化學(xué)氣相淀積6化學(xué)機械拋光7期中復(fù)習(xí)8光刻作業(yè)一、二、三9刻

3、蝕10擴散11離子注入12工藝集成作業(yè)四、五13封裝14期末復(fù)習(xí)15仿真實驗一、二16仿真實驗三、四基本工藝基本工藝制膜制膜氧化氧化4 4CVD4CVD4PVD4PVD4外延外延4 4平坦化平坦化4 4圖形轉(zhuǎn)移圖形轉(zhuǎn)移光刻光刻4 4刻蝕刻蝕4 4摻雜摻雜擴散擴散4 4離子注入離子注入4 4封測封測切片切片封裝封裝4 4測試測試老化老化篩選篩選工序集成CMOS工藝2雙極工序2新技術(shù)實驗軟件環(huán)境2氧化2摻雜2綜合2序號序號書名書名作者作者出版社出版社時間時間1 1半導(dǎo)體制造技術(shù)半導(dǎo)體制造技術(shù)【美美】Michael Michael QuirkQuirk電子工業(yè)電子工業(yè)200420042芯片制造半導(dǎo)體

4、工藝制程實用教程【美】Peter Van Zant電子工業(yè)20103硅集成電路工藝基礎(chǔ)關(guān)旭東北京大學(xué)20034超大規(guī)模集成電路基礎(chǔ)、設(shè)計、制造工藝【日】巖田 穆科學(xué)20075集成電路工藝和器件的計算機模擬IC TCAD技術(shù)概論阮剛復(fù)旦大學(xué)20076 6電子科學(xué)與技術(shù)導(dǎo)論電子科學(xué)與技術(shù)導(dǎo)論李哲英李哲英電子工業(yè)電子工業(yè)200620067集成電路芯片封裝技術(shù)李可為電子20078現(xiàn)代集成電路制造工藝原理李惠軍山東大學(xué)20079集成電路制程設(shè)計與工藝仿真劉睿強電子工業(yè)201110MOS集成電路結(jié)構(gòu)與制造技術(shù)潘桂忠上??茖W(xué)技術(shù)201011集成電路制造技術(shù)原理與工藝王蔚電子工業(yè)201012微系統(tǒng)封裝原理與技

5、術(shù)邱碧秀電子工業(yè)200613圖解半導(dǎo)體基礎(chǔ)【日】水野文夫科學(xué)200720%平時成績(考勤、作業(yè)、平時表現(xiàn))20%實驗成績60%考試成績(開卷)作業(yè)一1描述CZ拉單晶爐的工作原理。作業(yè)二2描述集成電路的制膜工藝原理。作業(yè)三3描述集成電路的圖形轉(zhuǎn)移工藝原理。作業(yè)四4描述集成電路的摻雜工藝原理。作業(yè)五5以反相器為例描述CMOS工藝流程。英文全稱Integrated Circuit,縮寫IC通過一系列特定的加工工藝,將晶體管、二極管等有源器件和電阻、電容等無源器件,按照一定的電路互連,“集成”在一塊半導(dǎo)體單晶片(如硅或砷化鎵)上,封裝在一個外殼內(nèi),執(zhí)行特定電路或系統(tǒng)功能。制造電子器件的基本半導(dǎo)體材料是

6、圓形單晶薄片,稱為硅片或硅襯底。在硅片制造廠,由硅片生產(chǎn)的半導(dǎo)體產(chǎn)品,又被稱為微芯片或芯片。2021-12-21172021-12-2118集成電路的內(nèi)部電路集成電路的內(nèi)部電路VddABOutA AB BOUTOUT0010101001102021-12-21192021-12-2120 50 m100 m頭發(fā)絲粗細頭發(fā)絲粗細 30 m1 m 1 m(晶體管的大小晶體管的大小)3050 m(皮膚細胞的大小皮膚細胞的大小)90年代生產(chǎn)的集成電路中晶體管大小與人年代生產(chǎn)的集成電路中晶體管大小與人類頭發(fā)絲粗細、皮膚細胞大小的比較類頭發(fā)絲粗細、皮膚細胞大小的比較1906年,真空三極管,Lee Defo

7、rest(電信號處理工業(yè))1947年,ENIAC1947年12月23日,晶體管,John Bardeen,Walter Brattin,William Shockley(1956年諾貝爾物理獎),固態(tài),分立器件(半導(dǎo)體工業(yè))集成電路是由Kilby和Noyce兩人于1959年分別發(fā)明,并共享集成電路的專利。?19692000年,Kilby被授予諾貝爾物理學(xué)獎(Noyce去世10年)杰克基爾比(Jack Kilby)德州儀器公司Texas Instruments鍺鍺,1959,2,1959,2 “第一塊集成電路的發(fā)明家”羅伯特諾伊思(Robert Noyce)仙童半導(dǎo)體公司Fairchild Se

8、miconductor硅,1959,7,30,“提出了適合于工業(yè)生產(chǎn)的集成電路理論”2021-12-2123早期的許多先驅(qū)者開始在北加利福尼亞州,現(xiàn)在以硅谷著稱的地區(qū)。1957年,在加利福尼亞州的帕羅阿托市(Palo Alto)的仙童半導(dǎo)體公司(Fairchild Semiconductor)制造出第一個商用平面晶體管。它有一層鋁互連材料,這種材料被淀積在硅片的最頂層以連接晶體管的不同部分。從硅上熱氧化生長的一層自然氧化層被用于隔離鋁導(dǎo)線。這些層的使用在半導(dǎo)體領(lǐng)域是一個重要發(fā)展,也是稱其為平面技術(shù)的原因。2021-12-21242021-12-2125電路集成電路集成半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)周期半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)周

9、期每個芯片元件數(shù)每個芯片元件數(shù)分立元件1960年前1SSI20世紀60年代前期250MSI20世紀60年代到70年代前期205000LSI20世紀70年代前期到70年代后期5000100 000VLSI20世紀70年代后期到80年代后期100 0001 000 000ULSI20世紀90年代后期至今大于1 000 000提高芯片性能:速度(按比例縮小器件和使用新材料)關(guān)鍵尺寸(CD)芯片上的物理尺寸特征被稱為特征尺寸。硅片上的最小特征尺寸被稱為關(guān)鍵尺寸或CD。技術(shù)節(jié)點每塊芯片上的元件數(shù)摩爾定律功耗提高芯片可靠性浴盆曲線降低芯片成本2021-12-2126裸露的硅片到達硅片制造廠,然后經(jīng)過各種清

10、洗、成膜、光刻、刻蝕和摻雜步驟,加工完的硅片具有永久刻蝕在硅片上的一整套集成電路。IDMfabless foundry半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)總是處于設(shè)備設(shè)計和制造技術(shù)的前沿。2021-12-2130硅片制造完成后,硅片被送到測試/揀選區(qū),在那里進行單個芯片的探測和電學(xué)測試,然后揀選出可接受和不可接受的芯片,并為有缺陷的芯片做標(biāo)記,通過測試的芯片將繼續(xù)進行以后的工藝。2021-12-2131把單個芯片包裝在一個保護管殼內(nèi)。DIP2021-12-2132為確保芯片的功能,要對每一個封裝的集成電路進行測試,以滿足制造商的電學(xué)和環(huán)境的特性參數(shù)要求。至此,集成電路制造完成。2021-12-2133擴散區(qū)一般認為是進

11、行高溫工藝及薄膜淀積的區(qū)域。主要設(shè)備:高溫擴散爐:1200左右,能完成氧化、擴散、淀積、退火以及合金等多種工藝流程。濕法清洗設(shè)備(輔助)硅片在放入高溫爐之前必須進行徹底的清洗,以去除硅片表面的沾污以及自然氧化層。2021-12-2138光刻的本質(zhì)是把(臨時)電路圖形復(fù)制到覆蓋于硅片表面的光刻膠上。黃色熒光管照明主要設(shè)備步進光刻機(steper)涂膠/顯影設(shè)備(coater/developer track)清洗裝置和光刻膠剝離機?2021-12-2140刻蝕是在硅片上沒有光刻膠保護的地方留下永久的圖形。一旦材料被錯誤刻蝕去掉,在刻蝕過程中所犯的錯誤將難以糾正,只能報廢硅片,帶來經(jīng)濟損失。主要設(shè)備

12、:等離子體刻蝕機(濕法、干法)等離子去膠機濕法清洗設(shè)備2021-12-2142離子注入機是亞微米工藝中常見的摻雜工具。主要設(shè)備:離子注入機等離子去膠機濕法清洗設(shè)備2021-12-2144主要負責(zé)生產(chǎn)各個步驟當(dāng)中的介質(zhì)層和金屬層的淀積。薄膜生長中所采用的溫度低于擴散區(qū)中設(shè)備的工作溫度。主要設(shè)備(中低真空環(huán)境)CVDPVDSOG、RTP、濕法清洗設(shè)備化學(xué)機械平坦化(CMP)工藝的目的是使硅片表面平坦化。通過將硅片表面突出的部分減薄到下凹部分的高度來實現(xiàn)的。主要設(shè)備:拋光機刷片機(wafer scrubber)、清洗裝置、測量裝置2021-12-2148“晶體管之父”(1910-1989)1947,

13、點接觸晶體管;1950,面結(jié)型晶體管肖克利實驗室(1955-1968),圣克拉拉谷(硅谷)1956,諾貝爾物理獎1957,八判逆1958,斯坦福大學(xué)1963,斯坦福大學(xué)70年代,人種學(xué)和優(yōu)生學(xué)?肖克利博士非凡的商業(yè)眼光,成就了硅谷;肖克利博士拙劣的企業(yè)才能,創(chuàng)造了硅谷?!疤觳排c廢物”硅谷的第一公民,硅谷第一棄兒。1955年,“晶體管之父”威廉肖克利,離開貝爾實驗室創(chuàng)建肖克利實驗室。他吸引了很多富有才華的年輕科學(xué)家加盟。但是很快,肖克利的管理方法和怪異行為引起員工的不滿。其中八人決定一同辭職,他們是羅伯特諾依斯、戈登摩爾、朱利亞斯布蘭克、尤金克萊爾、金赫爾尼、杰拉斯特、謝爾頓羅伯茨和維克多格里尼

14、克。被肖克利稱為“八叛逆”。八人接受位于紐約的仙童攝影器材公司的資助,于1957年,創(chuàng)辦了仙童半導(dǎo)體公司。喬布斯:“仙童半導(dǎo)體公司就象個成熟了的蒲公英,你一吹它,這種創(chuàng)業(yè)精神的種子就隨風(fēng)四處飄揚了。”“硅谷人才搖籃”從左至右Gordon Moore, Sheldon Roberts, Eugene Kleiner, Robert Noyce, Victor Grinich, Julius Blank, Jean Hoerni Jay Last1968,INTEL杰里桑德斯(J. Sanders)AMD查爾斯斯波克(C. Sporck)NSC根據(jù)市調(diào)機構(gòu)IC Insights調(diào)查統(tǒng)計,2011年

15、全球半導(dǎo)體晶圓總月產(chǎn)能達13,617.8千片8寸約當(dāng)晶圓。其中臺灣晶圓月產(chǎn)能達2,858.3千片8寸約當(dāng)晶圓,占全球半導(dǎo)體總產(chǎn)能達21%,躍居第1大生產(chǎn)國;原本是全球最大晶圓生產(chǎn)國的日本,月產(chǎn)能達2,683.6千片8寸約當(dāng)晶圓,市占率達19.7%,位居第2大生產(chǎn)國;韓國則以2,293.5千片8寸約當(dāng)晶圓月產(chǎn)能,位居第3大生產(chǎn)國,市占率達16.8%;美國月產(chǎn)能達1,995.1千片8寸約當(dāng)晶圓,市占率降至14.7%,是全球第4大生產(chǎn)國。臺積電聯(lián)電芯片制造半導(dǎo)體工藝制程實用教程1906,Lee Deforest ,真空三極管,電信號處理工業(yè)(1947,ENIAC)1947.12.23,貝爾實驗室的J

16、ohn bardeen,Walter Brattin和William Shockley,晶體管晶體管二級管電容器電阻器分立器件1959,TI的Jack Kilby,鍺,集成電路1959,F(xiàn)airchild的Robert Noyce,硅,集成電路兩者共享集成電路專利。工藝和結(jié)構(gòu)摩爾定律特征圖形尺寸CDChipWafer缺陷尺寸缺陷密度多層連線未來技術(shù)路線圖工藝產(chǎn)品成本價格性能附加值最高的工業(yè)半導(dǎo)體和系統(tǒng)(或產(chǎn)品)三類芯片供應(yīng)商IDMFoundryFabless1材料準備2晶體生長和晶圓準備3晶圓制造和分選4封裝5終測PN結(jié)-晶體管雙極型器件FET-MOS單極性器件貝爾實驗室,1956擴散結(jié)1957氧化掩膜,硅50年代,黃金時期,工藝,材料,公司,價格,60年代,成熟工業(yè),塑封,IFET,CMOS70年代,投射光刻機,潔凈間,離子注入機,步進光刻機,自動化80年代,全程自動化,1um90年代,銅,基本工藝和材料(黃金十年)雙極型和單極型設(shè)備和材料的問題內(nèi)部解決價格下降的趨勢形成-新老公司交替高產(chǎn)量的

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