NBT47013修改單.doc

.附件行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)修改通知單NB/T 47013.2-2015承壓設(shè)備無損檢測 第2部分：射線檢測第1號修改單本修改單經(jīng)國家能源局于2018年5月14日以第7號公告批準(zhǔn)，自2018年7月1日起實(shí)施。 第2章第十三行中更改標(biāo)準(zhǔn)號：“JB/T 5075”更改為“GB/T 23910”。 4.2.6.1條第一行中更改標(biāo)準(zhǔn)號：“JB/T 5075”更改為“GB/T 23910”。 5.5.6.3條后補(bǔ)充新條文，5.5.6.4：“不要求100%檢測的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)由合同雙方商定”。 7.1.1條改用新條文：7.1.1“本條適用于壁厚T2mm，材質(zhì)為鋼、鎳及鎳合金、銅及銅合金的承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊對接環(huán)向焊接接頭射線檢測結(jié)果評定和質(zhì)量分級，適用的焊接接頭的型式包括沿焊縫根部全長有緊貼基本金屬的墊板的單面焊對接焊縫和不加墊板的單面焊對接焊縫。對于熔化焊對接縱向焊接接頭（包括螺旋焊）按照第6章的規(guī)定執(zhí)行”。 7.2.1條改用新條文：7.2.1“本條適用于壁厚T2mm，材質(zhì)為鋁及鋁合金的承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊對接環(huán)向焊接接頭射線檢測結(jié)果評定和質(zhì)量分級，適用的焊接接頭的型式包括沿焊縫根部全長有緊貼基本金屬的墊板的單面焊對接焊縫和不加墊板的單面焊對接焊縫。對于熔化焊對接縱向焊接接頭（包括螺旋焊）按照第6章的規(guī)定執(zhí)行”。 7.3.1條改用新條文：7.3.1“本條適用于壁厚T2mm，材質(zhì)為鈦及鈦基合金的承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊對接環(huán)向焊接接頭射線檢測結(jié)果評定和質(zhì)量分級，適用的焊接接頭的型式包括沿焊縫根部全長有緊貼基本金屬的墊板的單面焊對接焊縫和不加墊板的單面焊對接焊縫。對于熔化焊對接縱向焊接接頭（包括螺旋焊）按照第6章的規(guī)定執(zhí)行?！毙袠I(yè)標(biāo)準(zhǔn)修改通知單NB/T 47013.3-2015承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測第1號修改單本修改單經(jīng)國家能源局于2018年5月14日以第7號公告批準(zhǔn)，自2018年7月1日起實(shí)施。 5.3.3.1.1條改用新條文： 5.3.3.1.1 “直探頭選用一般應(yīng)按表3的規(guī)定進(jìn)行。在滿足5.3條規(guī)定的靈敏度及缺陷判定的基礎(chǔ)上，也可以選用其他型式的探頭，如雙晶直探頭或多晶直探頭（含板材厚度60mm時）?！?5.3.9.2 第一行中更改質(zhì)量分級級別：“級”更改為“級”。 表6更改為新表6：新表6 承壓設(shè)備用板材中部檢測區(qū)域質(zhì)量分級等級最大允許單個缺陷指示面積S或當(dāng)量平底孔直徑D在任一1m1m檢測面積內(nèi)缺陷最大允許個數(shù)單個缺陷指示面積或當(dāng)量平底孔直徑評定范圍 最大允許個數(shù)TI 雙晶直探頭檢測時：S50mm2雙晶直探頭檢測時：20mm2S50mm210 或單晶直探頭檢測時：D5mm+8dB或單晶直探頭檢測時：5mmD5mm+8dBI雙晶直探頭檢測時：S100mm2雙晶直探頭檢測時：50mm2S100mm210或單晶直探頭檢測時：D5mm+14dB或單晶直探頭檢測時：5mm+8dBD5mm+14dBIIS1000mm2100mm2S1000mm215IIIS5000mm21000mm2S5000mm220IV超過級者注：使用單晶直探頭檢測并確定5.3.7.1 b）所示缺陷的質(zhì)量分級（T I級和級）時，與雙晶直探頭要求相同。 表7更改為新表7：新表7 承壓設(shè)備用板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測區(qū)域質(zhì)量分級等級最大允許單個缺陷指示長度Lmax 最大允許單個缺陷指示面積S或當(dāng)量平底孔直徑D在任一1m檢測長度內(nèi)最大允許缺陷個數(shù)單個缺陷指示長度L或當(dāng)量平底孔直徑評定范圍最大允許個數(shù)TI20mm雙晶直探頭檢測時：S50mm2雙晶直探頭檢測時：10mmL20mm2或單晶直探頭檢測時：D5mm+8dB或單晶直探頭檢測時：5mmD5mm+8dBI30mm雙晶直探頭檢測時：S100mm2雙晶直探頭檢測時：15mmL30mm3或單晶直探頭檢測時：D5mm+14dB或單晶直探頭檢測時：5mm+8dBD5mm+14dBII50mmS1000mm225mmL50mm5III100mmS2000mm250mmL100mm6IV超過級者注：使用單晶直探頭檢測并確定5.3.7.1 b）所示缺陷的質(zhì)量分級（TI級和級）時，與雙晶直探頭要求相同。 將5.6.4.1條中的“軸向”二字刪除。 將5.6.4.2條中的“軸向”二字刪除。 8.4.6.2.3.1 b)條改用新條文： 8.4.6.2.3.1 b)“工件厚度t15mm時，缺陷指示長度應(yīng)大于等于t/2或15mm（取大者,但最大為30mm）。” 附錄J的表J.1更改為新表J.1： 新表J.1 RB-L系列對比試塊尺寸（推薦） 單位為mmRB-L編號工件厚度t試塊厚度T橫孔深度位置橫孔直徑RB-L-1610842.0RB-L-21016144、102.0RB-L-31624205、10、152.0RB-L-42436305、10、20、252.0RB-L-53650455、10、20、30、402.0注：工件厚度t大于50mm時，試塊寬度應(yīng)滿足6.3.10.1的要求，橫孔深度位置最小可為10mm，深度間隔不超過20mm，試塊厚度與工件厚度之差不超過工件厚度的20%。 附錄J的圖J.1更改為新圖J.1： a） RB-L-1試塊 b） RB-L-2試塊 c） RB-L-3試塊 d） RB-L-4試塊e） RB-L-5試塊新圖J.1 RB-L系列對比試塊示意圖（推薦） K.2.1條改用新條文： K.2.1 “對比試塊RB-C的形狀和尺寸見圖K.1。為方便試塊加工和靈敏度調(diào)節(jié)，也可使用如表K.1和圖K.2的試塊。” 附錄K的圖K.1后補(bǔ)充表K.1和圖K.2。 表K.1 RB-C系列對比試塊尺寸（推薦） 單位為mmRB-C編號工件厚度t試塊厚度T橫孔深度位置橫孔直徑RB-C-1610842.0RB-C-21016144、102.0RB-C-31624205、10、152.0RB-C-42436305、10、20、252.0RB-C-53650455、10、20、30、402.0注：工件厚度t大于50mm時，試塊寬度應(yīng)滿足6.3.10.1的要求，橫孔深度位置最小可為10mm，深度間隔不超過20mm，試塊厚度與工件厚度之差不超過工件厚度的20%。a） RB-C-1試塊b） RB-C-2試塊c）RB-C-3試塊d） RB-C-4試塊e） RB-C-5試塊圖K.2 RB-C系列對比試塊示意圖（推薦） 附錄K的表K.1序號更改為表K.2。 K.3.2條改用新條文： K.3.2“探頭折射角（K值）的選擇見表25，探頭標(biāo)稱頻率可按表K.2選擇?！?K.5.1條改用新條文： K.5.1“檢測面的選擇按表K.2進(jìn)行?！毙袠I(yè)標(biāo)準(zhǔn)修改通知單NB/T 47013.11-2015承壓設(shè)備無損檢測 第11部分：X射線數(shù)字成像檢測第1號修改單本修改單經(jīng)國家能源局于2018年5月14日以第7號公告批準(zhǔn)，自2018年7月1日起實(shí)施。 第2章“GB/T 23903 射線圖像分辨力測試計”后補(bǔ)充新條文：“GB/T 26592 無損檢測儀器 工業(yè)X射線探傷機(jī)性能測試方法 GB/T 26594 無損檢測儀器 工業(yè)用X射線管性能測試方法” 第2章“NB/T47013.2 承壓設(shè)備無損檢測 第2部分：射線檢測”后補(bǔ)充新條文： “JB/T 11608 無損檢測儀器 工業(yè)用X射線探傷裝置” 4.1.1條中更改用語：“并取得放射工作人員證”更改為“并按照有關(guān)法規(guī)的要求取得相應(yīng)證書”。 4.2條中更改用語：“檢測系統(tǒng)”更改為“檢測系統(tǒng)與器材”。 4.2.1.2條后補(bǔ)充新條文，4.2.1.3 ：“采用的X射線機(jī)，其性能指標(biāo)應(yīng)滿足JB/T11608的規(guī)定，使用性能測試條件及測試方法參考GB/T26594 和GB/T26592的規(guī)定。” 4.2.2.4 條改用新條文：4.2.2.4“壞像素要求：面陣列探測器33像素區(qū)域中，相鄰壞像素不得超過3個；成行（成列）壞像素不得超過3個，且不得位于距離中心位置200像素以內(nèi)；成像區(qū)域內(nèi)壞像素不超過總像素的1%。線陣列探測器中，相鄰的壞像素不允許超過2個。探測器系統(tǒng)供應(yīng)商應(yīng)提供出廠壞像素表和壞像素校正方法。” 在4.2.2.5后補(bǔ)充新條文，4.2.2.6和4.2.2.7：“4.2.2.6探測器系統(tǒng)性能指標(biāo)如：壞像素、對比靈敏度、分辨率、信噪比、線性范圍、厚度寬容度、殘影等，其測試條件及測試方法按相應(yīng)國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定執(zhí)行。”“4.2.2.7探測器系統(tǒng)質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出探測器類型、轉(zhuǎn)換屏參數(shù)（如有）、像素尺寸、成像面積、射線能量適用范圍、量子轉(zhuǎn)換效率、填充因子、采集幀頻等技術(shù)參數(shù)?！?4.2.4.6條中更改用語：“根據(jù)評定結(jié)果”更改為“自動”。 4.2.6條改用新條文：4.2.6 “像質(zhì)計4.2.6.1本部分采用的像質(zhì)計包括線型像質(zhì)計和雙線型像質(zhì)計。4.2.6.2線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.1的規(guī)定，雙線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.5的規(guī)定。” 4.2.6條后補(bǔ)充新條文，4.2.7、4.2.8：“4.2.7檢測系統(tǒng)使用性能應(yīng)結(jié)合被檢工件和本部分要求，根據(jù)檢測系統(tǒng)各部分性能指標(biāo)選擇合適的檢測設(shè)備和器材，并提供滿足上述設(shè)備和器材性能指標(biāo)及系統(tǒng)軟件功能的測試證明文件。檢測系統(tǒng)的使用性能應(yīng)滿足本部分規(guī)定的圖像質(zhì)量要求?！薄?.2.8校準(zhǔn)或運(yùn)行核查4.2.8.1 每年至少對探測器系統(tǒng)性能中的壞像素、線性范圍、信噪比、厚度寬容度、殘影等進(jìn)行1次校準(zhǔn)并記錄。4.2.8.2 每年至少應(yīng)對使用中的曝光曲線進(jìn)行1次核查。當(dāng)射線機(jī)重要部件更換或經(jīng)過修理后，應(yīng)重新制作曝光曲線。4.2.8.3 每3個月至少對探測器壞像素進(jìn)行1次核查，并記錄和校正。4.2.8.4 存在如下情況應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)分辨率核查并記錄，核查方法按附錄A執(zhí)行。a）檢測系統(tǒng)有改變時；b）正常使用條件下，每3個月應(yīng)至少核查一次；c）在系統(tǒng)停止使用一個月后重新使用時。” 5.4.1.2條后補(bǔ)充新條文，5.4.1.3：“由于結(jié)構(gòu)原因不能按照5.4.1.1或5.4.1.2規(guī)定的間隔角度進(jìn)行多次透照時，經(jīng)合同雙方商定，可不再強(qiáng)制限制5.4.1.1或5.4.1.2規(guī)定的間隔角度，但應(yīng)采取有效措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證圖像評定范圍內(nèi)信噪比、靈敏度和分辨率滿足要求，并在檢測報告中對有關(guān)情況進(jìn)行說明。” 5.4.2條改用新條文：5.4.2“不要求100%檢測的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)由合同雙方商定，并保存相關(guān)記錄。 將6.1.1.3條中的“線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.1的規(guī)定”刪除。 將6.1.1.4條中的“雙線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.5的規(guī)定”刪除。 6.1.2.1.2條中更改用語：“雙壁單影透照時”更改為“雙壁單影或雙壁雙影透照時” 6.1.3.1條改用新條文：6.1.3.1“雙線型像質(zhì)計應(yīng)放在射線機(jī)側(cè)。當(dāng)采用雙壁單影透照方式時，可放在探測器側(cè)?！?6.1.3.2.1條中更改用語：“被檢測區(qū)長度的1/4左右位置”更改為“靠近被檢焊縫”。 在6.1.4.2條句尾補(bǔ)充“對于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應(yīng)取管子直徑?！?在6.1.4.3條句尾補(bǔ)充:“注：對于使用裂紋敏感性材料或標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值R540MPa高強(qiáng)度材料進(jìn)行檢測時，不得采取補(bǔ)償?！?6.2.5.2條第一行中更改用語：“透照規(guī)格”更改為“透照參數(shù)”。 在A.5.1 a）條句尾補(bǔ)充：“在條件受限情況下，可適當(dāng)減小F，但應(yīng)保證檢測系統(tǒng)的幾何不清晰度不大于探測器像素尺寸的5%?！?在A.5.2后