金邦內(nèi)存條測試報(bào)告.doc

湖南長城信息金融設(shè)備有限責(zé)任公司金邦內(nèi)存條測試報(bào)告 1、 參測內(nèi)存條規(guī)格參數(shù)信息內(nèi)存條品牌GeIL金邦顆粒型號GL_1L128M0888A15F E037A8F0848S內(nèi)存條型號GeIL CL9-9-9 DDR3-1333顆粒數(shù)量16/雙面內(nèi)存容量2G內(nèi)存速度DDR3-1333(667MHz)模塊類型SO-DIMM存取方式DDR3 SDRAM2、 測試環(huán)境1. 硬件環(huán)境CPU型號Intel Atom CPU N4551.66GHz硬盤型號WD2500BEVT-60A23T0BIOS版本AMI BIOS 0800162. 軟件環(huán)境操作系統(tǒng)Windows XPE測試軟件EVERESTPassMark BurnInTest Pro v5.3.1036三、 結(jié)構(gòu)測試測試目的：主要測試內(nèi)存條結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是否合理，確保內(nèi)存條在插入DIMM接口后十分牢固，不容易拔出，并且有防呆裝置可以避免插反。測試方法：將內(nèi)存條進(jìn)行插入、拔出、反插等操作。測試記錄：測試項(xiàng)目說明測試結(jié)果牢固性插入DIMM接口后是否牢靠通過四、 性能測試1啟動BIOS測試測試目的：確保開機(jī)時(shí)能正常進(jìn)入BIOS并能查看相關(guān)信息。測試方法：開機(jī)時(shí)按組合鍵：Ctrl+Alt+F1進(jìn)入BIOS，查看硬件相關(guān)信息；品牌GeIL啟動BIOS測試正常測試記錄：注：測試十次均能正常進(jìn)入BIOS查看相關(guān)信息 2兼容性測試測試目的：確保內(nèi)存條能在不同平臺上正常使用。測試方法：將內(nèi)存條插入AMD、Atom兩款主板，開機(jī)運(yùn)行系統(tǒng)應(yīng)能正常啟動系統(tǒng)。品牌GeILAMD主板正常Atom主板正常測試記錄：3高低溫烤機(jī)測試目的：測試內(nèi)存條在高低溫環(huán)境下能否進(jìn)行正常的讀寫操作；測試方法：高溫（40）、低溫（0）環(huán)境下運(yùn)行PassMark Burn In Test V5.3拷機(jī)軟件對內(nèi)存條進(jìn)行讀寫測試48小時(shí)，檢測內(nèi)存條是否正常工作。測試記錄：品牌GeIL高低溫是否通過通過五、 故障現(xiàn)象統(tǒng)計(jì)序號現(xiàn)象發(fā)生次數(shù)六、 測試結(jié)論由于機(jī)器原因內(nèi)存條做了8個(gè)小時(shí)高溫拷機(jī)加4小時(shí)常溫拷機(jī)均正常，性能和兼容性方面