GB∕T 24580-2009 重?fù)絥型硅襯底中硼沾污的二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法.pdf

犐犆犛 犎 中 華 人 民 共 和 國(guó) 國(guó) 家 標(biāo) 準(zhǔn) 犌犅犜 重?fù)綘钚凸枰r底中硼沾污的 二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法 犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱犳狅狉犿犲犪狊狌狉犻狀犵犅狅狉狅狀犮狅狀狋犪犿犻狀犪狋犻狅狀犻狀犺犲犪狏犻犾狔犱狅狆犲犱狀狋狔狆犲 狊犻犾犻犮狅狀狊狌犫狊狋狉犪狋犲狊犫狔狊犲犮狅狀犱犪狉狔犻狅狀犿犪狊狊狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉狔發(fā)布 實(shí)施 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 發(fā) 布 中 國(guó) 國(guó) 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會(huì) 書 犌犅犜 前言本標(biāo)準(zhǔn)修改采用 用二次離子質(zhì)譜法測(cè)量重?cái)v雜 型硅襯底中的硼污染的方法。本標(biāo)準(zhǔn)對(duì) 格式進(jìn)行了相應(yīng)調(diào)整。為了方便比較，在資料性附錄 中列出了本標(biāo)準(zhǔn)章條和 章條對(duì)照一覽表。并對(duì) 條款的修改處用垂直單線標(biāo)識(shí)在它們所涉及的條款的頁(yè)邊空白處。 本標(biāo)準(zhǔn)與 相比，主要技術(shù)差異如下： 去掉了“目的”、“關(guān)鍵詞”； 將實(shí)際測(cè)試得到的單一試驗(yàn)室的精密度結(jié)果代替原標(biāo)準(zhǔn)中的精度和偏差部分，并將原標(biāo)準(zhǔn)中 的精度和偏差部分作為資料性附錄 。 本標(biāo)準(zhǔn)附錄 和附錄 為資料性附錄。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)材料分技術(shù)委員會(huì)歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：信 息 產(chǎn) 業(yè) 部 專 用 材 料 質(zhì) 量 監(jiān) 督 檢 驗(yàn) 中 心、中 國(guó) 電 子 科 技 集 團(tuán) 公 司 第 四 十 六 研究所。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：馬農(nóng)農(nóng)、何友琴、丁麗。 書 犌犅犜 重?fù)綘钚凸枰r底中硼沾污的 二次離子質(zhì)譜檢測(cè)方法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了重?fù)?型硅襯底中硼沾污的二次離子質(zhì)譜測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于二次離子質(zhì)譜 法（）對(duì)重?fù)叫凸枰r底單晶體材料中痕量硼沾污（總量）的測(cè)試。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)銻、砷、磷的摻雜濃度 （ ）的硅材料中硼濃度的檢 測(cè)。 特別適用于硼為 非 故 意 摻 雜 的 型 雜 質(zhì)，且 其 濃 度 為 痕 量 水 平 （ ）的 硅 材 料 的 測(cè)試。 本 標(biāo) 準(zhǔn) 適 用 于 檢 測(cè) 硼 沾 污 濃 度 大 于 儀 器 檢 測(cè) 限 （根 據(jù) 儀 器 的 型 號(hào) 不 同，檢 測(cè) 限 大 約 在）兩倍的硅材料。原則上，本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于不同表面情況的樣品都適用，但是本標(biāo)準(zhǔn)中的精度估算值是從表面拋光樣品 的測(cè)試數(shù)據(jù)中得到的。規(guī)范性引用文件 下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有 的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究 是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。 評(píng)價(jià)一批產(chǎn)品或一個(gè)工藝過程質(zhì)量的樣品大小的選擇規(guī)范術(shù)語(yǔ)和定義 下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。 離子質(zhì)譜犻狅狀犿犪狊狊 根據(jù)質(zhì)荷比的不同將離子分開并計(jì)數(shù)。 一次離子狆狉犻犿犪狉狔犻狅狀 由離子槍產(chǎn)生的離子，聚焦到樣品表面，濺射并離化樣品表面原子。 二次離子質(zhì)譜狊犲犮狅狀犱犪狉狔犻狅狀犿犪狊狊狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉狔 對(duì)樣品表面濺射出來的二次離子進(jìn)行質(zhì)譜分析。 二次離子狊犲犮狅狀犱犪狉狔犻狅狀 在一次離子束的濺射下，樣品表面原子離化并脫離樣品表面形成的離子。試驗(yàn)方法概要 二次離子質(zhì)譜法用于重?fù)?型硅襯底單晶體材料中硼