編程中的測(cè)試方法與策略試題及答案

編程中的測(cè)試方法與策略試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.下列哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的目的？

A.驗(yàn)證軟件的正確性

B.提高軟件的性能

C.發(fā)現(xiàn)軟件中的錯(cuò)誤

D.驗(yàn)證軟件的可靠性

2.下列哪項(xiàng)測(cè)試方法不適用于測(cè)試軟件的兼容性？

A.灰盒測(cè)試

B.黑盒測(cè)試

C.白盒測(cè)試

D.集成測(cè)試

3.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪種測(cè)試是驗(yàn)證軟件是否符合規(guī)格說(shuō)明書(shū)的測(cè)試？

A.系統(tǒng)測(cè)試

B.單元測(cè)試

C.集成測(cè)試

D.性能測(cè)試

4.以下哪項(xiàng)不是靜態(tài)測(cè)試方法？

A.代碼審查

B.代碼靜態(tài)分析

C.代碼覆蓋率分析

D.動(dòng)態(tài)測(cè)試

5.下列哪項(xiàng)測(cè)試不適用于測(cè)試軟件的安全性？

A.安全測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.兼容性測(cè)試

D.壓力測(cè)試

6.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪種測(cè)試是在軟件部署到生產(chǎn)環(huán)境之前進(jìn)行的？

A.回歸測(cè)試

B.系統(tǒng)測(cè)試

C.單元測(cè)試

D.集成測(cè)試

7.以下哪項(xiàng)不是測(cè)試用例的要素？

A.輸入條件

B.預(yù)期結(jié)果

C.測(cè)試環(huán)境

D.測(cè)試工具

8.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪種測(cè)試是在軟件設(shè)計(jì)階段進(jìn)行的？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.性能測(cè)試

9.以下哪項(xiàng)測(cè)試方法適用于測(cè)試軟件的可用性？

A.兼容性測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.可用性測(cè)試

D.壓力測(cè)試

10.以下哪項(xiàng)不是測(cè)試管理工具的功能？

A.測(cè)試計(jì)劃制定

B.測(cè)試用例管理

C.測(cè)試報(bào)告生成

D.項(xiàng)目管理

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的類型包括：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.性能測(cè)試

E.驗(yàn)收測(cè)試

2.以下哪些是軟件測(cè)試的原則？

A.完整性原則

B.可重復(fù)性原則

C.可維護(hù)性原則

D.可行性原則

E.可測(cè)試性原則

3.以下哪些是白盒測(cè)試的方法？

A.邊界值分析

B.等價(jià)類劃分

C.代碼審查

D.靜態(tài)分析

E.動(dòng)態(tài)分析

4.以下哪些是黑盒測(cè)試的方法？

A.功能測(cè)試

B.非功能測(cè)試

C.等價(jià)類劃分

D.邊界值分析

E.用戶場(chǎng)景測(cè)試

5.以下哪些是軟件測(cè)試的靜態(tài)測(cè)試方法？

A.代碼審查

B.代碼靜態(tài)分析

C.代碼覆蓋率分析

D.動(dòng)態(tài)測(cè)試

E.測(cè)試用例評(píng)審

6.以下哪些是軟件測(cè)試的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.性能測(cè)試

E.回歸測(cè)試

7.軟件測(cè)試的自動(dòng)化工具包括：

A.Selenium

B.QTP

C.JMeter

D.LoadRunner

E.TestComplete

8.以下哪些是軟件測(cè)試的缺陷分類？

A.功能缺陷

B.性能缺陷

C.安全缺陷

D.界面缺陷

E.文檔缺陷

9.軟件測(cè)試的測(cè)試環(huán)境包括：

A.硬件環(huán)境

B.軟件環(huán)境

C.網(wǎng)絡(luò)環(huán)境

D.數(shù)據(jù)庫(kù)環(huán)境

E.系統(tǒng)環(huán)境

10.以下哪些是軟件測(cè)試的測(cè)試報(bào)告內(nèi)容？

A.測(cè)試概述

B.測(cè)試用例執(zhí)行情況

C.缺陷報(bào)告

D.測(cè)試結(jié)果分析

E.測(cè)試總結(jié)

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中不可或缺的環(huán)節(jié)。（）

2.白盒測(cè)試側(cè)重于代碼結(jié)構(gòu)，而黑盒測(cè)試側(cè)重于功能。（）

3.靜態(tài)測(cè)試只能檢測(cè)到代碼中的邏輯錯(cuò)誤，不能發(fā)現(xiàn)運(yùn)行時(shí)的錯(cuò)誤。（）

4.自動(dòng)化測(cè)試可以完全替代手工測(cè)試。（）

5.軟件測(cè)試的目的是為了確保軟件質(zhì)量，而不是為了找出錯(cuò)誤。（）

6.性能測(cè)試主要關(guān)注軟件的運(yùn)行速度和資源消耗。（）

7.軟件測(cè)試計(jì)劃應(yīng)該在軟件開(kāi)發(fā)的早期階段制定。（）

8.缺陷的生命周期包括發(fā)現(xiàn)、報(bào)告、跟蹤、修復(fù)和驗(yàn)證。（）

9.軟件測(cè)試的回歸測(cè)試是為了確保新增加的功能不會(huì)影響現(xiàn)有功能。（）

10.軟件測(cè)試的驗(yàn)收測(cè)試是在客戶接受軟件之前進(jìn)行的測(cè)試。（）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的生命周期及其各個(gè)階段的主要任務(wù)。

2.解釋什么是測(cè)試用例，并列舉測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本原則。

3.描述白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試的區(qū)別，以及各自適用的場(chǎng)景。

4.說(shuō)明什么是缺陷生命周期管理，并簡(jiǎn)述其關(guān)鍵步驟。

5.解釋什么是回歸測(cè)試，以及為什么回歸測(cè)試在軟件測(cè)試中非常重要。

6.簡(jiǎn)要介紹幾種常見(jiàn)的性能測(cè)試指標(biāo)，并說(shuō)明它們?cè)跍y(cè)試中的應(yīng)用。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題

1.D.驗(yàn)證軟件的可靠性

2.A.灰盒測(cè)試

3.A.系統(tǒng)測(cè)試

4.D.動(dòng)態(tài)測(cè)試

5.B.性能測(cè)試

6.B.系統(tǒng)測(cè)試

7.D.測(cè)試工具

8.A.單元測(cè)試

9.C.可用性測(cè)試

10.D.項(xiàng)目管理

二、多項(xiàng)選擇題

1.A.單元測(cè)試

2.B.可重復(fù)性原則

3.A.邊界值分析

4.A.功能測(cè)試

5.A.代碼審查

6.A.單元測(cè)試

7.A.Selenium

8.A.功能缺陷

9.A.硬件環(huán)境

10.A.測(cè)試概述

三、判斷題

1.√

2.√

3.×

4.×

5.×

6.√

7.√

8.√

9.√

10.√

四、簡(jiǎn)答題

1.軟件測(cè)試的生命周期包括需求分析、測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行、測(cè)試報(bào)告和測(cè)試關(guān)閉。每個(gè)階段的主要任務(wù)分別是：需求分析確定測(cè)試范圍和目標(biāo)；測(cè)試計(jì)劃制定測(cè)試策略和資源分配；測(cè)試設(shè)計(jì)設(shè)計(jì)測(cè)試用例和測(cè)試數(shù)據(jù)；測(cè)試執(zhí)行執(zhí)行測(cè)試用例并記錄結(jié)果；測(cè)試報(bào)告編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告和總結(jié)測(cè)試過(guò)程；測(cè)試關(guān)閉結(jié)束測(cè)試活動(dòng)。

2.測(cè)試用例是一組測(cè)試輸入、執(zhí)行條件、預(yù)期結(jié)果和測(cè)試步驟的集合。測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本原則包括：覆蓋性、可維護(hù)性、可讀性、可復(fù)用性和有效性。

3.白盒測(cè)試側(cè)重于代碼結(jié)構(gòu)，通過(guò)檢查代碼邏輯來(lái)發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。黑盒測(cè)試側(cè)重于軟件功能，不關(guān)心內(nèi)部實(shí)現(xiàn)，通過(guò)輸入輸出數(shù)據(jù)來(lái)驗(yàn)證功能正確性。白盒測(cè)試適用于復(fù)雜邏輯和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的軟件，黑盒測(cè)試適用于外部功能驗(yàn)證。

4.缺陷生命周期管理是指從發(fā)現(xiàn)缺陷到修復(fù)缺陷的整個(gè)過(guò)程。關(guān)鍵步驟包括：缺陷報(bào)告、缺陷跟蹤、缺陷修復(fù)、缺陷驗(yàn)證和缺陷關(guān)閉。

5.回歸測(cè)試是為了驗(yàn)