JJF 2187-2025 半徑樣板校準(zhǔn)規(guī)范

中華人民共和國國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范JJF2187—2025半徑樣板校準(zhǔn)規(guī)范CalibrationSpecificationforRadiusGauges2025-02-08發(fā)布2025-08-08實(shí)施國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布JJF2187—2025半徑樣板校準(zhǔn)規(guī)范CalibrationSpecificationforRadiusGauges→→→→→→→→→→→→→→JJF2187—2025→代替JJG58—2010→→→→→→→→→→→→→→→歸口單位:全國幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會(huì)主要起草單位:遼寧省計(jì)量科學(xué)研究院山東省計(jì)量科學(xué)研究院參加起草單位:上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院黑龍江省計(jì)量檢定測試研究院吉林省計(jì)量科學(xué)研究院本規(guī)范委托全國幾何量工程參量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋JJF2187—2025本規(guī)范主要起草人:姚興宇(遼寧省計(jì)量科學(xué)研究院)張瑜(遼寧省計(jì)量科學(xué)研究院)于佃清(遼寧省計(jì)量科學(xué)研究院)賈敏強(qiáng)(山東省計(jì)量科學(xué)研究院)參加起草人:姜志華(上海計(jì)量測試技術(shù)研究院)張海波(黑龍江省計(jì)量檢定測試研究院)竇艷紅(吉林省計(jì)量科學(xué)研究院)JJF2187—2025Ⅰ 2引用文件 4計(jì)量特性 4.1工作面的表面粗糙度 4.2半徑尺寸偏差 5校準(zhǔn)條件 5.1環(huán)境條件 5.2測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備 6校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法 6.1工作面的表面粗糙度 6.2半徑尺寸偏差 7校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá) 8復(fù)校時(shí)間間隔 附錄A半徑尺寸偏差校準(zhǔn)結(jié)果的不確定度評(píng)定示例 (4)附錄B校準(zhǔn)證書內(nèi)容及內(nèi)頁格式 JJF2187—2025ⅡJJF1071—2010《國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則》、JJF1001—2011《通用計(jì)量術(shù)語及定義》、JJF1059.1—2012《測量不確定度評(píng)定與表示》和JJF1094—2002《測量儀器特性評(píng)定》共同構(gòu)成本規(guī)范修訂的基礎(chǔ)性系列規(guī)范。本規(guī)范是對(duì)JJG58—2010《半徑樣板檢定規(guī)程》(以下簡稱原規(guī)程)的修訂。與原規(guī)程相比,除編輯性修改外,主要變化如下:—檢定規(guī)程更改為校準(zhǔn)規(guī)范;—增加引言部分;—修改了適用范圍;—半徑尺寸示值誤差改為半徑尺寸偏差;—增加了環(huán)境條件;—修改了測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備;—校準(zhǔn)方法中刪除了極限放大圖比較法、極限校對(duì)樣板比較法、圓弧目鏡比較法,新增了影像測量儀法;—增加了附錄A:半徑尺寸偏差校準(zhǔn)結(jié)果的不確定度評(píng)定示例;—增加了附錄B:校準(zhǔn)證書內(nèi)頁格式。本規(guī)范的歷次版本發(fā)布情況:—JJG58—2010;—JJG58—1996;JJF2187—20251半徑樣板校準(zhǔn)規(guī)范本規(guī)范適用于半徑樣板的校準(zhǔn)。2引用文件本規(guī)范引用了下列文件:JB/T7980—2010半徑樣板凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本規(guī)范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本規(guī)范。半徑樣板(又稱R規(guī))是一種具有不同半徑的標(biāo)準(zhǔn)圓弧薄片,主要以比較法檢驗(yàn)被檢圓弧的半徑。成組的凸形和凹形半徑樣板結(jié)構(gòu)如圖1所示。其中單片凸形與凹形半徑樣板的結(jié)構(gòu)如圖2所示。圖1成組的半徑樣板結(jié)構(gòu)示意圖1—凸形半徑樣板;2—螺釘或鉚釘;3—保護(hù)板;4—凹形半徑樣板a)凸形半徑樣板b)凹形半徑樣板圖2單片凸形與凹形半徑樣板結(jié)構(gòu)示意圖1—半徑;2—工作面4計(jì)量特性4.1工作面的表面粗糙度工作面的表面粗糙度一般不大于Ra1.6μm。4.2半徑尺寸偏差半徑尺寸極限偏差見表1。JJF2187—20252表1半徑尺寸極限偏差mm半徑尺寸R0極限偏差±0.020±0.024≤10±0.029≤18±0.035≤25±0.042±0.20≤100±0.50R用戶要求注:校準(zhǔn)工作不判斷合格與否,上述計(jì)量特性要求僅供參考。5校準(zhǔn)條件5.1環(huán)境條件校準(zhǔn)室內(nèi)溫度為(20±5)℃。測量前將被校半徑樣板置于室內(nèi)平衡溫度的時(shí)間不少5.2測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備半徑樣板的測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備見表2。表2測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備序號(hào)校準(zhǔn)項(xiàng)目測量標(biāo)準(zhǔn)及其計(jì)量特性1工作面的表面粗糙度表面粗糙度比較樣塊,MPE:+12%~-17%或表面粗糙度測量儀,MPE:±10%2半徑尺寸偏差影像測量儀,MPExy:±(3μm+5×10-6L)或萬能工具顯微鏡,MPE:±(1μm+1×10-6L)注:允許使用滿足測量不確定度要求的其他設(shè)備進(jìn)行測量。6校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法檢查外觀,確定沒有影響校準(zhǔn)結(jié)果的因素后再進(jìn)行校準(zhǔn)。6.1工作面的表面粗糙度用表面粗糙度比較樣塊(以下簡稱樣塊)進(jìn)行比較測量。測量時(shí),所用的樣塊和被校工作面的加工方法應(yīng)該相同,樣塊的材料、形狀、表面色澤等應(yīng)盡可能與被校工作面一致。當(dāng)被校工作面的加工痕跡深度不超過樣塊工作面加工痕跡深度時(shí),則半徑樣板工作面的表面粗糙度一般不超過該樣塊的標(biāo)稱值。對(duì)于可以用表面粗糙度測量儀進(jìn)行測量的半徑樣板,工作面表面粗糙度有爭議時(shí)應(yīng)JJF2187—20253以表面粗糙度儀測量結(jié)果為準(zhǔn)。6.2半徑尺寸偏差調(diào)整影像測量儀,使半徑樣板工作面邊緣清晰地出現(xiàn)在儀器視場內(nèi),測量范圍應(yīng)超過工作面邊緣的三分之二,均勻選取至少5點(diǎn)進(jìn)行測量,采用最小二乘法擬合計(jì)算半徑尺寸R,按公式(1)計(jì)算半徑尺寸偏差:δ=R-R0(1)式中:δ—半徑尺寸偏差,mm;R—半徑尺寸測量值,mm;R7校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)經(jīng)過校準(zhǔn)的半徑樣板出具校準(zhǔn)證書。校準(zhǔn)證書的內(nèi)容見附錄B。8復(fù)校時(shí)間間隔建議半徑樣板的復(fù)校時(shí)間間隔不超過1年。由于復(fù)校時(shí)間間隔是由儀器的使用情況、使用者、儀器本身質(zhì)量等諸多因素所決定,因此使用單位可根據(jù)實(shí)際使用情況自主決定復(fù)校時(shí)間間隔。JJF2187—20254附錄A半徑尺寸偏差校準(zhǔn)結(jié)果的不確定度評(píng)定示例A.1測量方法按6.2校準(zhǔn)方法,采用影像測量儀對(duì)半徑尺寸分別為0.1mm、1mm、25mm、50mm、100mm的半徑樣板進(jìn)行測量,評(píng)定半徑尺寸偏差校準(zhǔn)結(jié)果的不確定度。A.2測量模型δ=R-R0(A.1)式中:δ—半徑尺寸偏差,mm;R—半徑尺寸測量值,mm;R半徑尺寸偏差合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度計(jì)算公式:A.3標(biāo)準(zhǔn)不確定度的評(píng)定A.3.1測量重復(fù)性引入的不確定度u1(R)分別對(duì)不同尺寸的半徑樣板進(jìn)行10次獨(dú)立測量,用貝塞爾公式計(jì)算得到的重復(fù)性見表A.1。表A.1測量重復(fù)性數(shù)據(jù)匯總表測量序號(hào)半徑尺寸/mmR0=1R=25RR0=10010.09611.002124.991849.9737100.006520.09231.002224.988549.963099.960330.09621.000324.990749.988999.992440.09750.998724.989449.987699.981850.09530.997924.992249.974599.985760.09461.004324.990249.943999.998270.09511.002924.993249.975299.970680.09770.996824.994449.977699.984490.09281.001025.011549.975299.98750.09241.001224.993349.967299.9849u1(R)0.00200.00240.00660.01280.0130JJF2187—20255A.3.2影像測量儀引入的不確定度u2(R)采用直徑和圓度經(jīng)過校準(zhǔn)的不同規(guī)格的圓形靶標(biāo),對(duì)影像測量儀測量半徑時(shí)的示值誤差進(jìn)行驗(yàn)證,確定不超過其最大允許誤差±(3μm+5×10-6L),以最大允許誤差作為影像測量儀引入的不確定度分量,服從均勻分布k=3。影像測量儀引入的不確定度見表A.2。A.3.3溫度偏差引入的不確定度u3(R)測量前,半徑樣板經(jīng)充分恒溫,該項(xiàng)分量主要考慮影像測量儀與半徑樣板線膨脹系數(shù)差的影響。影像測量儀線膨脹系數(shù)為(7.6±1.0)×10-6℃-1,半徑樣板線膨脹系數(shù),兩者最大差值Δα=5.9×10-6℃-1,溫度最大偏差ΔT5℃,通過簡化計(jì)算u3(R)=RΔαΔT計(jì)算溫度偏差引入的不確定度,見表A.2。4合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度A.5擴(kuò)展不確定度計(jì)算取包含因子k=2,U(δ)=k×uc。計(jì)算得到半徑尺寸偏差校準(zhǔn)結(jié)果的擴(kuò)展不確定度,見表A2。表A.2半徑樣板的不確定度匯總表半徑尺寸/mm(R)/μmuc(δ)/μmU(δ)/μm(k=2)612.46256.60.85012.82710013.028JJF2187—20256附錄B校準(zhǔn)證書內(nèi)容及內(nèi)頁格式B.1校準(zhǔn)證書至少應(yīng)包含以下信息:b)實(shí)驗(yàn)室名稱和地址(如果與實(shí)驗(yàn)室的地址不同);c)進(jìn)行校準(zhǔn)的地點(diǎn);d)證書或報(bào)告的唯一性標(biāo)識(shí)(如編號(hào)),每頁及總頁數(shù)的標(biāo)識(shí);e)送檢單位的名稱和地址;f)被校對(duì)象的描述和明確標(biāo)識(shí);g)進(jìn)行校準(zhǔn)的日期,如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有關(guān)性和應(yīng)用有關(guān)時(shí),應(yīng)說明被校對(duì)象的接收日期;h)如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性或應(yīng)用有關(guān)時(shí),應(yīng)對(duì)被校樣品的抽樣程序進(jìn)行說明;i)對(duì)校準(zhǔn)所依據(jù)的技術(shù)規(guī)范的標(biāo)識(shí),包括名稱及代號(hào);j)本次校準(zhǔn)所用測量標(biāo)準(zhǔn)的溯源性及有效性說明;k)校準(zhǔn)環(huán)境的描述;l)校準(zhǔn)結(jié)果及其測量不確定度的說明