(高清版)GBT 7424.22-2021 光纜總規(guī)范 第22部分：光纜基本試驗方法 環(huán)境性能試驗方法

部分代替GB/T7424.2—2008Basicopticalcable國家標準化管理委員會國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布國家標準化管理委員會IGB/T7424.22—2021 Ⅲ 1 13方法F1:溫度循環(huán) 1 5 9 9 8方法F10:水下光纜耐靜水壓 9方法F11:護套收縮(用于接插軟線的光纜) 10方法F12:終端組件用光纜的溫度循環(huán) 11方法F13:微管耐氣壓 13方法F15:光纜外部冰凍 15方法F17:光纜收縮(光纖伸出) 16方法F18:接續(xù)裝置中直通松套管溫度循環(huán) 附錄A(資料性附錄)本部分與IEC60794-1-22:2017相比的結構變化情況 附錄B(規(guī)范性附錄)顏色的持久性 ⅢGB/T7424分為以下9個部分：——光纜總規(guī)范第1部分：總則；—光纜總規(guī)范第21部分：光纜基本試驗方法——光纜總規(guī)范第24部分：光纜基本試驗方法電氣試驗方法；-—光纜第3部分：分規(guī)范室外光纜；——光纜第4部分：分規(guī)范光纖復合架空地線；本部分為GB/T7424的第22部分。GB/T7424.20～GB/T7424.24共同代替GB/T7424.2—2008《光纜總規(guī)范第2部分：光纜基本試驗方法》。本部分代替GB/T7424.2—2008中的第21章~第28章。本部分與GB/T7424.2—2008 ●用修改采用國際標準的GB/T●用修改采用國際標準的GB/T●用修改采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●刪除了IEC60304;●刪除了IEC60811-503;●增加引用了GB/T6995.2;●增加引用了GB/T7424.20—2021;●增加引用了GB/T26168.1?！狦B/T7424.1—1998(第3章和第6章); lGB/T2423.22—2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14:GB/T6995.2電線電纜識別標志方法第2部分：標準顏色GB/T7424.20—2021光纜總規(guī)范第20部分：光纜基本試驗方法總則和定義(IEC60794-1-2:2017,MOD)GB/T15972.54光纖試驗方法規(guī)范第54部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序伽瑪輻照(GB/T15972.54—2008,IEC60793-1-54GB/T16422.2塑料實驗室光源暴露試驗方法第2部分：氙弧燈(GB/T16422.2—2014,GB/T16422.3塑料實驗室光源暴露試驗方法第3部分：熒光紫外燈(GB/T16422.3—2014,GB/T26168.1電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第1部分：輻射相互作用和劑量測定(GB/T26168.1—2018,IEC60544-1:2013,IDT)2a)卷繞直徑宜足夠大，以保持光纖適應熱脹冷縮差的能力。卷繞直徑宜顯著大于光纜交貨纜盤b)因溫度產(chǎn)生的光纜熱脹冷縮不應受到限制。尤其要特別小心避免試驗期間在光纜上殘留張d)測試光纖數(shù)及分布要求見GB/T7424.20—2021中4.9.1及附錄B。a)1臺適合測定衰減變化的衰減測量設備，測量設備應符合GBb)1個溫度箱，其大小應適合于容納光纜試樣，其溫度應控制在規(guī)定試驗溫度的±3℃以內。適用的溫度箱示例見GB/T2423.22—2012的第8章。溫度穩(wěn)定性，而不是僅僅用表1規(guī)定的熱均衡時間t?。3圖1和圖2分別為單一溫度的循環(huán)程序和組合溫度的循環(huán)程序。它們表明了溫度循環(huán)的順序。如a)把處于環(huán)境溫度下的試樣放進處于同樣環(huán)境溫度下的溫度箱b)除非另有規(guī)定，應把溫度箱內的溫度降低到低溫TA?,冷卻速率不得超過60℃/h。d)最小熱均衡時間見表1;無論如何，熱均衡時間te)除非另有規(guī)定，溫度箱內的溫度升高到高溫T,升溫速率不得超過60℃/h。g)以適當?shù)睦鋮s速率把溫度箱內的溫度降低到室溫值。這個程序構成1個循環(huán)(見圖1或h)重復步驟b)～步驟g),繼續(xù)下一次循環(huán)。除非相關詳細規(guī)范另有要求，試樣應經(jīng)受至少2個循環(huán)。按照圖1,單一溫度循環(huán)應由1個低溫和1個高溫組成，最后1個循環(huán)應是1個低溫和1個高溫，如圖1所示。如果需要多個低溫和高溫，則最后1個循環(huán)應包括2個或2個以上的低溫和2個或2個以上的高溫，如圖2所示。在最后1個循環(huán)，如果規(guī)定了多個溫度，則試樣持適當時間t?。i)第1個循環(huán)開始時在室溫下、最后1個循環(huán)中每個規(guī)定的溫度臺階上(Ta、TA?、Tb、Tg)熱最小熱均衡時間th0.35以下1248注：試驗人員的職責在于確保熱均衡時間足以使光纜達到規(guī)定溫4溫度b)受試光纖數(shù)(當不同于3.2時)。5h)在規(guī)定波長下的最大衰減變化(見3.5)熱均衡時間t?,如果與表1中規(guī)定的不同。4方法F5:滲水本試驗適用于連續(xù)阻水的光纜。其目的在于確定光纜阻止水沿著規(guī)定長度遷移的能力，有3種應按詳細規(guī)范中的規(guī)定，采用3個方法(F5A、F5B或F5C)之一在光纜試樣上檢驗合格性。方法F5A試驗纜芯和護套之間的水遷移，而方法F5B和F5C試驗全截面的水遷移。方法F5C包括一個預4.2試樣試樣應足夠長，它包括試驗端長度、剝除護套的長度和足以用端帽堵住相反一端的長度。通常4.2.2方法F5B64.2.3方法F5C(適用于含吸水膨脹材料的光纜)合適的試驗安排分別見圖3～圖8。方法F5A見圖3,方法F5B見圖4,方法F5C見圖5～圖8。除4.3.3細管(方法F5C)4.4.1方法F5A和F5B4.4.2方法F5C對于方法F5A、F5B和F5C,在規(guī)定的試驗期間內試樣未密封端應檢測不到水。如果使用熒光染7注：4.4的試驗程序是基本的要求。對日常評定，可以用較短長度的試樣試驗較短的時間。a)采用方法F5A、F5B或F5C(見圖3～圖8);水水水8水水水水9試樣應符合GB/T15972.54的規(guī)6方法F8:氣阻6.4程序的相對濕度為5%或更低。光纜的另一端應向大氣敞開。施加穿過光纜的氣壓宜為62kPa,其相對誤差為±2%,采用定標到±10%的流量計記錄穩(wěn)態(tài)空氣完成1次測量后應以反方向的氣流進行第2次測量，其測量結果應分別記錄。按公式(1)計算得出氣阻R。c)氣壓(當不同于62kPa時)。7方法F9:老化本試驗適用于高溫和溫度循環(huán)試驗的光纜，以模擬光纜衰減的壽命特性或詳細規(guī)范規(guī)定的物理7.2試樣試樣應與方法F1溫度循環(huán)中敘述的相同。如果將本試驗方法與方法F1串聯(lián)進行，則先執(zhí)行F1, 最后1個循環(huán)后5個試樣相對于初始長度的平均護套收縮量不應超過詳細規(guī)范的規(guī)定值。a)溫度箱和暴露的高溫的細節(jié)；b)高溫暴露時間(如果不是1h);b)平均護套收縮值；10方法F12:終端組件用光纜的溫度循環(huán)中第8章的規(guī)定；b)符合GB/T15972.40和GB/T15972.46的衰減監(jiān)測設備。裝有連接器。這些固定方法不應對試樣的衰減產(chǎn)生影響。光纖兩端(在溫度箱外)可臨時與尾纖相連 以上程序即為1個循環(huán)。冷卻和加熱速率應不超過60℃/h。11方法F13:微管耐氣壓本試驗確保在一個溫度范圍內安全運行。試驗壓力按詳細規(guī)范要求選擇為微管的最大工作壓力，卻室。典型溫度范圍是-20℃~+60℃。通常，隨著溫度升高聚合物微管的耐壓性下降。氣壓源應由用戶與供方商定。通常，它是1臺壓縮機或氣瓶。宜采用人身防護裝備(PPE),如眼試樣通過光輻照期，隨后是溫度發(fā)生變化的無輻射期?？倳r間120min的循環(huán)周期為：在輻照之后，6個試樣的平均拉伸強度和斷裂伸長率應至少是未輻照試樣的80%。13方法F15:光纜外部冰凍成圈放在水中冰凍的光纜長度應至少為50m,成圈直徑由詳細規(guī)范規(guī)定。光纜圈與水槽壁之間的水箱應放在一個適于凍結水并使它保持在規(guī)定溫度±3℃以內的溫度箱內。用1臺溫度監(jiān)測裝置b)按照詳細規(guī)范的規(guī)定實施初始衰減測量。c)如果采用溫度監(jiān)測裝置，則溫度箱內溫度可以低至-40℃,直到水完全凍結，冰的溫度為d)把溫度箱的溫度上升到-2℃,并保持這個溫度1h。e)按詳細規(guī)范的規(guī)定測量衰減。水達到15℃。然后把溫度箱溫度調回到23℃,并保持這個溫度直到水溫升高到(23±5)℃。a)試驗期間和試驗后衰減的變化；14方法F16:復合物滴流a)從試樣一端去除一段100mb)預處理細節(jié)(當允許時):2)與14.4c)規(guī)定的預處理程序的差異；3)預處理通過/失效的判據(jù)(當有別于上述規(guī)定時)。d)驗收判據(jù)(當另有驗收判據(jù)時)。15方法F17:光纜收縮(光纖伸出)按方法F1的規(guī)定。除非另有規(guī)定，被測光纜樣品應松繞成最小直徑為60剝除至與光纜護套平齊。暴露的光纖二次被覆層或光纖松套管剝除長度應不小于100mm,使光纖裸初始的光纖伸出應從光纖二次被覆或光纖套管邊緣，以及光纜護套邊緣來測量(見圖10),光纜兩GB/T7424.22—2圖9光纜端的制備制備好的光纜試樣按照方法F1和下列參數(shù)進行溫度循環(huán)試驗：除非另有相關詳細規(guī)范規(guī)定，最后1次循環(huán)結束后，光纜試樣應在室溫恢復至少1h。應在光纜兩端對光纖伸出進行測量(見圖10)。圖10光纖伸出測試 (3)式中：L?bi——元構件i溫度循環(huán)前距離光纖二次被覆或光纖松套管邊緣的光纖伸出長度，單位為毫米a)光纜盤圈直徑；e)所有光纖二次被覆或光纖套管的光纖伸出長度的最大變化量；光纜試樣應足夠長，以便進出溫度箱。試樣包括中間裸露的直通松套管，以及與其連接的完整接的兩側光纜應至少各有6m,以防止