統(tǒng)計過程及反應計劃SPC全套

統(tǒng)計過程及反應計劃SPC全套文件編號編制日期頁數(shù)版本A/0文件名稱統(tǒng)計過程控制及反應計劃受控狀態(tài)：文件編號：編制日期審核日期批準日期修訂記錄版本日期修訂內(nèi)容/摘要頁次修訂人A/0文件編號編制日期頁數(shù)版本A/0文件名稱統(tǒng)計過程控制及反應計劃1.目的通過應用控制圖方法，對產(chǎn)品制造過程關(guān)鍵工序的主要質(zhì)量特性/重要特性進行控制，及時發(fā)現(xiàn)異常因素并加以消除，確保工藝處于穩(wěn)定的受控狀態(tài)。2.適用范圍適用于公司生產(chǎn)過程各關(guān)鍵工序主要質(zhì)量特性/重要特性的控制。3.術(shù)語及定義3.1術(shù)語σ——標準偏差LSL--規(guī)格下限LCL----控制下限CL----中心線UCL---控制上限USL----規(guī)格上限SPC----統(tǒng)計過程控制PP---過程實績CP---能力指數(shù)CPk--穩(wěn)定過程的能力指數(shù)3.2定義計量型數(shù)據(jù)：可以連續(xù)不間斷取值的數(shù)據(jù)。計數(shù)型數(shù)據(jù)：不可以連續(xù)不間斷取值的數(shù)據(jù)。穩(wěn)定性：不存在變差的特殊原因處于統(tǒng)計控制的狀態(tài)。規(guī)格限：本公司或由供應商或客戶對相關(guān)過程或產(chǎn)品特性所定的控制界限。變差：過程的單個輸出之間不可避免的差別，原因可能分為兩類：普通和特殊原因。4.職責4.1技術(shù)部4.1.1在制定控制計劃中確定關(guān)鍵的工序參數(shù)或控制特性；4.1.2選取合適的控制圖類型（如：Xbar-R，np圖），確定取樣數(shù)量及測試頻率；4.1.3計算持續(xù)的中心線和控制界限，包括對控制界限進行修訂；4.1.4檢查完成的控制圖，分析其趨勢/異常情況；4.1.5工序能力的研究。4.2現(xiàn)場檢驗員和操作人員4.2.1按規(guī)范選取和檢測樣本并記錄檢測結(jié)果；文件編號編制日期頁數(shù)版本A/0文件名稱統(tǒng)計過程控制及反應計劃4.2.2所測量取得的數(shù)據(jù)處于穩(wěn)定狀態(tài)下計算該管理項目的CPk值，判斷其過程能力是否達到基本要求。4.2.3如CPk達到要求將其要求控制界限的控制圖交予生產(chǎn)現(xiàn)場進行控制；如CPk達不到要求時，要求調(diào)整后在重新抽樣做分析用控制圖。4.2.4知會生產(chǎn)部或研發(fā)部失控的情況。4.3品質(zhì)統(tǒng)計人員4.3.1根據(jù)開發(fā)部給定的上下控制界限的過程控制圖進行打點繪圖。4.3.2當控制圖反映出該管理項目達不到穩(wěn)定狀態(tài)時，及時報告生產(chǎn)部應和研發(fā)部一起判斷缺陷或采取適當?shù)募m正和預防措施使工序恢復控制，并跟進整改效果。4.4品質(zhì)部負責對統(tǒng)計過程控制作業(yè)進行指導、檢查、跟蹤及驗證。5.工作程序5.1均值和極差控制圖（Xbar-R）5.1.1控制圖的準備5.1.1.1建立適用于實施的工作環(huán)境5.1.1.2定義過程5.1.1.3確定作圖的特性顧客的要求；當前的潛在的問題區(qū)域；特性之間的相互關(guān)系；定義測量系統(tǒng)；是不必要的偏差最小化。5.1.2均值和極差圖繪制步驟（Xbar-R圖）5.1.2.1收集數(shù)據(jù)A.選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)；B.建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)；文件編號編制日期頁數(shù)版本A/0文件名稱統(tǒng)計過程控制及反應計劃計算每個子組的均值（X）和極差（R）選擇控制圖的刻度；將均值和極差畫在控制圖上。5.1.2.2計算控制界限A.計算平均極差（R）及過程平均值（X）；注：K為子組的數(shù)量，R1和X1即為第一個子組的極差和均值，R2和X2為第二個子組的極差和均值，等等。計算控制界限UCLR=D4LCLR=D3UCLX=+A2LCLX=-A2式中：D4、D3、A2為常數(shù)，它們隨樣本容量的不同而不同，詳情見下表：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3/////0.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31在控制圖上做出平均值和極差值控制線。5.1.2.3過程控制解釋A.分析極差圖上的數(shù)據(jù)點；--超出控制界限的點；--連續(xù)7點位于平均值的一側(cè)；--連續(xù)7點上升或下降；--其它明顯的非隨機圖形。識別并標注特殊原因（極差圖）；重新計算控制界限（極差圖）；分析均值圖上的數(shù)據(jù)點；--超出控制界限的點--連續(xù)7點位于平均值的一側(cè)--連續(xù)7點上升或下降--其他明顯的非隨機圖形文件編號編制日期頁數(shù)版本A/0文件名稱統(tǒng)計過程控制及反應計劃識別并標注特殊原因（均值圖）；重新計算控制界限（均值圖）；5.1.2.4過程能力解釋A.計算過程的標準偏差；式中：R為子組極差的均值（在極差受控時），d2為樣本容量變化的常熟。見表：n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08計算過程能力；（雙側(cè)規(guī)格下）（只有上限要求時）（只有下限要求時）（雙側(cè)規(guī)則下）其中：；；過程能力理解CPK＞1.67該過程能滿足顧客的要求，批準后，開始生產(chǎn)并按照已批準的控制計劃進行。1.33≤CPK≤1.67該過程可能不滿足顧客要求，生產(chǎn)件批準后，開始生產(chǎn)就對質(zhì)量/重要特性加以重視，直到實際的CPK＞1.67為止。CPK＜1.33過程沒有達到滿足顧客要求的標準，必須優(yōu)先進行過程改進并形成糾正措施計劃文件。文件編號編制日期頁數(shù)版本A/0文件名稱統(tǒng)計過程控制及反應計劃5.2不合格品數(shù)的nP圖5.2.1收集數(shù)據(jù)5.2.1.1選擇子組的容量、頻率及數(shù)量（子組容量必須相等）5.2.1.2選擇控制圖的坐標刻度5.2.1.3將不合格品率繪制在控制圖上5.2.2計算控制界限5.2.2.1計算過程平均不合格品數(shù)（nP）式中：np1，np2······為K個子組中的不合格數(shù)。5.2.2.2計算上、下控制界限UCLnp=np+3np（1-p），（1-p）5.2.2.3劃線并標注5.3過程控制解釋5.3.1分子數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù)。a.超出控制限的點；b.連續(xù)7點位于平均值的一側(cè)；C.連續(xù)7點上升或下降；d.其它明顯的非隨機圖形；e.重新計算控制限。5.4過程能力解釋5.4.1計算過程能力5.4.1.1對于nP圖，過程能力是通過過程平均不合格品率來表示，應使用歷史數(shù)據(jù)，但應剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點。5.4.1.2當正式研究過程能力時，應使用新的數(shù)據(jù)，最好是25個或更多子組，且所有的點都受統(tǒng)計控制。5.4.2繪制并分析修改后的過程控制圖。5.5統(tǒng)計要求5.5.1作分析用控制圖，其抽樣組數(shù)應取20組數(shù)據(jù)，樣本大小一般為5。5.5.2分析過程非穩(wěn)定狀態(tài)應及時采取糾正措施，再重新抽樣分析，過程穩(wěn)定狀態(tài)才計算CPK值。5.5.3關(guān)鍵工序作業(yè)人員只需按給定值的上、下控制界限進行描點，控制生產(chǎn)過程穩(wěn)定狀況。5.5.4產(chǎn)品特殊特性項出現(xiàn)改