標準解讀

《YS/T 1011-2014 高純鈷化學分析方法 雜質元素含量的測定 輝光放電質譜法》是一項專門針對高純度鈷材料中雜質元素進行定量分析的標準。該標準規(guī)定了使用輝光放電質譜(Glow Discharge Mass Spectrometry, GDMS)技術來檢測高純鈷樣品中的多種痕量雜質元素的方法。適用于高純鈷及其合金材料的質量控制與科學研究領域。

根據此標準,首先需要對樣品進行適當的預處理,包括但不限于切割成適合GDMS分析的尺寸和形狀。然后,在特定條件下通過輝光源激發(fā)樣品表面產生等離子體,使待測元素從固態(tài)轉變?yōu)闅鈶B(tài),并進一步電離形成正離子。這些正離子經過質量分析器分離后被檢測器記錄下來,從而實現對不同元素的定性及定量分析。

該標準詳細描述了實驗操作流程、儀器參數設置以及數據處理方法等內容。例如,對于儀器條件的選擇,包括工作氣體種類、壓力、功率等都有明確指示;而對于數據處理,則提供了如何校正背景信號干擾、計算檢測限值等方面的指導。此外,還列出了常見雜質元素如鐵、鎳、銅等的推薦測試條件,幫助用戶更準確地完成分析任務。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2014-10-14 頒布
  • 2015-04-01 實施
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YS/T 1011-2014高純鈷化學分析方法雜質元素含量的測定輝光放電質譜法_第1頁
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文檔簡介

ICS7712070

H13..

中華人民共和國有色金屬行業(yè)標準

YS/T1011—2014

高純鈷化學分析方法

雜質元素含量的測定

輝光放電質譜法

Methodsforchemicalanalysisofhighpuritycobalt—

Determinationofimpurityelementscontent—

Glowdischargemassspectrometry

2014-10-14發(fā)布2015-04-01實施

中華人民共和國工業(yè)和信息化部發(fā)布

YS/T1011—2014

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標準由全國有色金屬標準化技術委員會歸口

(SAC/TC243)。

本標準負責起草單位金川集團股份有限公司

:。

本標準參加起草單位北京有色金屬研究總院昆明冶金研究院峨嵋半導體材料研究所

:、、。

本標準主要起草人邱平秦芳林王長華楊海岸孫平墨淑敏羅舜李繼東胡芳菲

:、、、、、、、、。

YS/T1011—2014

高純鈷化學分析方法

雜質元素含量的測定

輝光放電質譜法

1范圍

本標準規(guī)定了高純鈷中雜質元素的測定方法測定元素見表

,1。

本標準適用于高純鈷中雜質元素含量的測定各元素質量分數測定范圍為

,0.1μg/kg~

20000μg/kg。

2方法原理

在氬氣氣氛下試樣作為陰極進行輝光放電其表面原子被濺射而脫離試樣進入輝光放電等離子體

,,

中在等離子體中離子化后被導入質譜儀在每一元素同位素質量數處以預設的掃描點數和積分時間對

,,

相應譜峰積分所得面積即為譜峰強度無標樣時計算機根據儀器軟件中的典型相對靈敏度因子自

,。,“”

動計算出各待測元素的質量分數有標樣時需通過在與被測樣品相同的分析條件離子源結構以及測

;,、

試條件下對標準樣品進行獨立測定獲得靈敏度因子應用該靈敏度因子計算出各元素的質量分數

,。

通過應用每個雜質元素X與基體元素M的比值即相對靈敏度因子可以從質譜圖中計算

(RSF),

出試驗樣品的組分含量相對靈敏度因子是通過在與試驗樣品相同的分析條件離子源結構以

。(RSF)、

及測試方案下對標準樣品進行獨立分析得到的

。

選擇適當的同位素豐度因子AXiAYj和相對靈敏度因子并根據質譜圖中的相關同

()、()(RSF),

位素離子強度IXi和IYj計算離子束比并對元素X和Y的相對質量分數進行計算

()()(IBR),“”“”。

IXi和IYj是指根據元素種類X和Y的同位素Xi和Yj分別測量的離子強度具體如下

()()“”“”,:

XXM×AYj×IXi

()=RSF(/)()()

YYM×AXi×IYj

()RSF(/)()()

式中XY為元素種類X與種類Y的質量分數比如果種類Y是基體MM

:()/()“”“”?!啊盵RSF(/)=

則X為X的絕對雜質質量分數對于純元素基體僅有非常小的誤差

1.0],()“”(,)。

3試劑與材料

除非另有說明試驗中所用的試劑均為分析純所用的水為三級水

,;。

31冰醋酸純度不小于

.(99.5%)。

32硝酸

.(1+1)。

33無水乙醇純度不小于

.(99.7%)。

34氬氣純度不小于

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