標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 30705-2014《微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測定導(dǎo)則》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在為使用波譜法進(jìn)行電子探針顯微分析時(shí)提供一套規(guī)范化的實(shí)驗(yàn)參數(shù)設(shè)定指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于采用波譜儀（WDS, Wavelength Dispersive Spectrometry）作為檢測手段，在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域內(nèi)對樣品成分進(jìn)行定量或定性分析的過程。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，首先明確了術(shù)語和定義部分，確保行業(yè)內(nèi)對于關(guān)鍵概念的理解一致。接著詳細(xì)描述了實(shí)驗(yàn)前準(zhǔn)備工作的重要性，包括但不限于選擇合適的樣品制備方法以保證表面平整度符合要求；確定最佳工作條件如加速電壓、束流強(qiáng)度等，這些因素直接影響到信號采集的質(zhì)量與準(zhǔn)確性；以及如何校準(zhǔn)儀器設(shè)備來提高數(shù)據(jù)可靠性。

在實(shí)際操作過程中，該標(biāo)準(zhǔn)還特別強(qiáng)調(diào)了幾點(diǎn)注意事項(xiàng)：一是要合理設(shè)置掃描區(qū)域大小及步長，這不僅關(guān)系到圖像分辨率，也影響著后續(xù)數(shù)據(jù)分析的精確度；二是需定期檢查探測器狀態(tài)并調(diào)整其位置，確保每次測量都能獲得最優(yōu)化的結(jié)果；三是針對不同類型樣本可能存在的特殊性質(zhì)采取相應(yīng)措施，比如對于導(dǎo)電性差的非金屬材料，則應(yīng)該考慮使用鍍膜技術(shù)改善表面特性。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2014-06-09 頒布
  • 2014-12-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 30705-2014微束分析電子探針顯微分析波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測定導(dǎo)則_第1頁
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文檔簡介

ICS7104050

G04..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T30705—2014

微束分析電子探針顯微分析

波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測定導(dǎo)則

Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—

Guidelinesforthedeterminationofexperimentalparametersfor

wavelengthdispersivespectroscopy

(ISO14594:2009,MOD)

2014-06-09發(fā)布2014-12-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T30705—2014

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

縮略語

4……………………2

實(shí)驗(yàn)參數(shù)

5…………………2

概要

5.1…………………2

入射電子束參數(shù)

5.2……………………2

波譜儀參數(shù)

5.3…………………………3

試樣參數(shù)

5.4……………4

測量步驟

6…………………4

概要

6.1…………………4

束流

6.2…………………4

譜峰測量參數(shù)

6.3………………………5

試樣參數(shù)

6.4……………7

實(shí)驗(yàn)報(bào)告

7…………………7

附錄資料性附錄分析面積的估算方法

A()……………9

附錄資料性附錄分析深度的估算方法

B()……………11

附錄資料性附錄射線分析體積的蒙特卡羅模擬估算方法

C()X(MC)……………12

參考文獻(xiàn)

……………………15

GB/T30705—2014

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)使用重新起草法修改采用微束分析電子探針顯微分析波譜法實(shí)驗(yàn)參

ISO14594:2009《

數(shù)測定導(dǎo)則英文版

》()。

本標(biāo)準(zhǔn)與微束分析電子探針顯微分析波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測定導(dǎo)則英文版

ISO14594:2009《》()

的主要技術(shù)差異

:

用代替

———GB/T27025:2008ISOGuide25:1990;

將第章中的項(xiàng)修改為的

———7ISOGuide25:199013.2GB/T27025—20085.10。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人曾毅李香庭吳偉

:、、。

Ⅰ

GB/T30705—2014

微束分析電子探針顯微分析

波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測定導(dǎo)則

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行電子探針分析時(shí)的入射電子束波譜儀和試樣的實(shí)驗(yàn)參數(shù)測定的一般原則并規(guī)

、,

定了束流束流密度死時(shí)間波長分辨率背底分析面積分析深度和分析體積的測定過程

、、、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于垂直入射電子束對拋光試樣的分析對于其他實(shí)驗(yàn)條件這些實(shí)驗(yàn)參數(shù)只能作為

,,

參考

。

本標(biāo)準(zhǔn)不適用于能譜法

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

檢測和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求

GB/T27025—2008(ISO/IEC17025:2005,IDT)

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

分析面積analysisarea

能檢測到全部信號或者規(guī)定百分?jǐn)?shù)信號的試樣表面的二維區(qū)域

。

32

.

分析深度analysisdepth

從試樣表面到作用體積底部的垂直距離經(jīng)過該距離能檢測到全部信號或者規(guī)定百分?jǐn)?shù)的信號

,

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