GB/T 19248-2003封裝引線電阻測(cè)試方法

ICS31.200L55中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19248—2003封裝引線電阻測(cè)試方法Testmethodformeasuringtheresistanceofpackageleads2003-07-02發(fā)布2003-10-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T19248一2003前本標(biāo)淮修改采用國(guó)際半導(dǎo)體設(shè)備與材料組織(SEMI)標(biāo)準(zhǔn)SEMIG25:1989(試驗(yàn)方法測(cè)量封裝引線的電阻》.為我國(guó)集成電路封裝引線電阻的測(cè)量確定一個(gè)統(tǒng)一的方法.為便于使用，本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改：a）將英制單位轉(zhuǎn)化為我國(guó)的法定計(jì)量單位；b）將第1章目的改為范圍.并將有關(guān)內(nèi)容做了編輯性處理：c）刪除附于標(biāo)準(zhǔn)后面的“注意”。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)集成電路標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳裕餛、王琪。

GB/T19248-2003封裝引線電阻測(cè)試方法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)量封裝引線電阻的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于針柵陣列封裝(PGA)引線電阻的測(cè)試該測(cè)試技術(shù)也適用于其他微電子封裝如無引線片式載體(LCC)、四邊引線扁平封裝（QFP)和陶瓷雙列封裝(CDIP)等引線電阻的測(cè)試。2設(shè)備和器材2.1采用四探針方法(開爾文法）.并配有4根電纜的直流歐姆表·準(zhǔn)確度應(yīng)不低于士4mn.2.2配有四個(gè)探針的探針臺(tái)。探針的錐度和錐頭直徑應(yīng)允許兩個(gè)探針能同時(shí)觸到邊長(zhǎng)0.13mm的方形范圍內(nèi)·而在別處彼此不會(huì)接觸。推薦使用帶四個(gè)探針的微動(dòng)臺(tái)。3程序3.1將歐姆表低端的兩個(gè)探針盡可能靠近地置于外部引線的臺(tái)肩上或外部引線的中央（見圖1.點(diǎn)A）。3.2將歐姆表高端的兩個(gè)探針置于靠空腔端的引線末端0.13mm內(nèi)(見圖1,點(diǎn)B)3.3將歐姆表調(diào)至盡可能低的量程，而又不致處于"超量程"狀態(tài)3.4讀取電阻值。使用本方法的總誤差為±20mQ,此誤差估計(jì)值包括了儀器基本誤差.探針位置的重復(fù)性和典型的封裝結(jié)構(gòu)（印制圖準(zhǔn)確度)。針柵陣列封裝人_0.13mn一點(diǎn)A封裝材料一最大0.20mm（內(nèi)腔引線）無引線片式載體點(diǎn)點(diǎn)A引線封裝典型例了點(diǎn)A點(diǎn)人或點(diǎn)B的探針位置圖1電阻的測(cè)量住意事項(xiàng)只要仔細(xì)旋轉(zhuǎn)探針的位暨.就可進(jìn)行100mQ以下電阻的測(cè)量。例如,在測(cè)量0.25mm寬的導(dǎo)線時(shí),二組探針間的距離