掃描電子顯微鏡觀察金剛石膜_第1頁
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文檔簡介

1m于射電子的方向固定時(shí),樣品表面的凹凸形貌使各個(gè)部位 角不同。二次電子產(chǎn)率 越高。而探測(cè)器的位置是固定的,于是樣品表面不同部位相對(duì)于于射電子的方向固定時(shí),樣品表面的凹凸形貌使各個(gè)部位 角不同。二次電子產(chǎn)率 越高。而探測(cè)器的位置是固定的,于是樣品表面不同部位相對(duì)于ER 的開關(guān),搬向ON X=20,Y=20,T=0附近,ZEX合在一起,這里 T 表室樣品的傾角AIRX=20,Y=20,T=0附近,ZEX合在一起,這里 T 表室樣品的傾角AIR按鍵,30秒后取出樣品微動(dòng)裝置,將裝有樣品 成 顯示器電源。檢查顯示器的 VIEW 按鈕是否按入, 放大倍數(shù)鈕及FILAMENT燈絲鈕是否左擰到頭,工作距離鈕設(shè)定是否合適ACCVOLTAGE加速電壓鈕,設(shè)定為 20kV將FILAMENT燈絲鈕逐漸向右擰,使燈絲電流飽和。在實(shí)驗(yàn)中燈絲電流 將PHOTOSPEED 關(guān)水太早

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