地質(zhì)工作方法

1、1地質(zhì)測(cè)量和地質(zhì)剖面測(cè)量1.1 地質(zhì)測(cè)量、地質(zhì)草測(cè)和地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)的基本概念1.1.1 地質(zhì)測(cè)量一般所說的地質(zhì)測(cè)量是指“正規(guī)的”或“正式的”地質(zhì)測(cè)量，是一種在填圖單位、上圖地質(zhì)體的尺度、觀察密度、地質(zhì)點(diǎn)定位精度、地形底圖均符合以下2.4條要求的地質(zhì)測(cè)量。“正式的”地質(zhì)測(cè)量用于已有較明晰資源前景的普查區(qū)和詳查、勘探礦區(qū)。1.1.2 地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)是對(duì)測(cè)區(qū)內(nèi)不同地質(zhì)體、地質(zhì)界線測(cè)量要求有所區(qū)別的地質(zhì)測(cè)量。對(duì)被認(rèn)為是重要的地質(zhì)體和地質(zhì)界線，觀察點(diǎn)的密度和定位精度要求同“正式的”地質(zhì)測(cè)量。對(duì)被認(rèn)為是不重要的地質(zhì)單元可以歸并，觀察點(diǎn)的密度可適當(dāng)放稀，地質(zhì)點(diǎn)用手持GPS半儀器法定位。地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)用于預(yù)查和普查階段

2、。1.1.3 地質(zhì)草測(cè)地質(zhì)草測(cè)在填圖單位和上圖地質(zhì)體的尺度要求上與“正式的”地質(zhì)測(cè)量相同，但在地形底圖、觀察密度和/或一般地質(zhì)點(diǎn)定位精度上可適當(dāng)放寬的地質(zhì)測(cè)量。地質(zhì)草測(cè)用于資源前景尚不明晰的預(yù)查區(qū)和普查區(qū)。地質(zhì)草測(cè)時(shí)可以：0.5-1倍間。GPS或半儀器(地質(zhì)羅盤、測(cè)繩1倍左右的地形圖放大后經(jīng)計(jì)(1)地質(zhì)觀測(cè)點(diǎn)的密度在正規(guī)地質(zhì)測(cè)量所要求標(biāo)準(zhǔn)的(2)大于1:1萬比例尺地質(zhì)測(cè)量的地質(zhì)點(diǎn)是用手持等)法定位，但礦體邊界等重要地質(zhì)界線除外。(3)地質(zhì)測(cè)量所使用的地形底圖是比地質(zhì)測(cè)量比例尺小算機(jī)數(shù)字化處理制作的同地質(zhì)測(cè)量比例尺的地形圖1.2 地質(zhì)測(cè)量的比例尺(1)屬于區(qū)域地質(zhì)調(diào)查的地質(zhì)測(cè)量目前使用的比例尺主

3、要是1:5萬的和1:25萬的。以往的測(cè)量成果中還有1:20萬、1:50萬和1:100萬的。(2)在礦產(chǎn)地質(zhì)勘查中，地質(zhì)測(cè)量的比例尺選擇要考慮勘查階段、研究程度、工作區(qū)大小、礦床規(guī)模等眾多因素，一般：預(yù)查階段：1:5萬-1:5000;普查階段1:2.5萬-1:2000;詳查階段1:1萬-1:2000;勘探階段1:5000-1:500。1.3 地質(zhì)測(cè)量方法(1)穿越(地質(zhì)界線)法。(2)追索(地質(zhì)界線)法。(3)全面法，即(1)、(2)兩法結(jié)合使用。地質(zhì)測(cè)量方法依據(jù)測(cè)量比例尺、地質(zhì)界線分布特征、地形條件等因素選擇。1.4 地質(zhì)測(cè)量的技術(shù)要求1.4.1 填圖單元應(yīng)根據(jù)測(cè)量比例尺、控礦地質(zhì)因素、礦區(qū)各

4、地質(zhì)單元的分布情況和勘查要求合理確定地質(zhì)填圖單元。填圖單元包括：(1)地層單元或巖性。(2)不同期、次的巖漿巖種類、巖漿巖相。(3)地質(zhì)構(gòu)造形跡，包括褶皺軸跡、斷層、破碎帶、韌性剪切帶等。(4)蝕變帶、礦化帶、礦體等。1.5.1 上圖的地質(zhì)體最小尺度比例尺尺度要素1:100001:50001:20001:1000一般巖體寬201042蝕變體寬10521礦體寬52.510.5構(gòu)造行跡長(zhǎng)100502010表1-1必須上圖的最小地質(zhì)體尺度(m)(1)一般要求如表1-1。(2)重要地質(zhì)體即使未達(dá)到表2-1中所列舉的最小尺度，也要放大表示。并在地質(zhì)點(diǎn)的描述中說明。1.5.2 地質(zhì)觀察線和觀察點(diǎn)密度(1)

5、地質(zhì)觀察線和觀察點(diǎn)密度要求見表1-2。表1-2地質(zhì)測(cè)量觀察線和觀察點(diǎn)密度比例尺觀察路線密度(km/km2)地質(zhì)界線上的點(diǎn)距(m)面密度(點(diǎn)/km2)簡(jiǎn)單區(qū)中常區(qū)復(fù)雜區(qū)簡(jiǎn)單區(qū)中常區(qū)復(fù)雜區(qū)1:500001.622.423.55.51:2500045669141:100001012.515100-2005060801:500020253050-1001001201501:200020-505006007001:100010-20130015001700(2)地質(zhì)觀察線路線和地質(zhì)觀察點(diǎn)的分布應(yīng)大致均勻，但輕重有別：一是界線點(diǎn)適當(dāng)多于非界線點(diǎn)；二是重要界線點(diǎn)應(yīng)適當(dāng)多于一般界線點(diǎn)；三是地質(zhì)上變化較大地段適

6、當(dāng)加密；四是巖石出露地段多于疏松殘、坡、沖積物分布地段。(3)在地質(zhì)界線轉(zhuǎn)向處必須有地質(zhì)點(diǎn)。1.4.4地質(zhì)觀察點(diǎn)定位要求和點(diǎn)位充許差(1)可用半儀器法(手持GPS,羅盤、測(cè)繩等)定位的情況a.比例尺小于或等于1:10000的正式地質(zhì)測(cè)量(大型沉積礦床除外)。b.比例尺大于1:10000的地質(zhì)草測(cè)的一般觀察點(diǎn)。c.探礦工程中的采樣點(diǎn)以工程測(cè)量控制點(diǎn)為基準(zhǔn)，根據(jù)工程編錄資料用半儀器法定位。不在工程中的非基本分析樣品位置，可用半儀器法定位。(2)須用儀器法(經(jīng)緯儀、全站儀等)定位的情況a.大型沉積礦床的1：10000正式地質(zhì)測(cè)量。b.除大型沉積礦床之外的其它礦床比例尺大于1：10000的正式地質(zhì)測(cè)量

7、。c.各種比例尺的各種地質(zhì)測(cè)量(正式測(cè)量、地質(zhì)草測(cè)、地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè))的工程點(diǎn)和礦體邊界點(diǎn)等重要地質(zhì)界線點(diǎn)。(3)地質(zhì)觀察點(diǎn)點(diǎn)位充許誤差(表1-3)1.4.5實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面(1)在開展地質(zhì)測(cè)量之前應(yīng)做至少一條實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面。實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面是地質(zhì)填圖的基礎(chǔ)。通過本項(xiàng)工作大致了解測(cè)區(qū)地層、巖漿巖、構(gòu)造、變質(zhì)作用和礦化的特征；確定地質(zhì)填圖單位；通過一套巖礦標(biāo)本的系統(tǒng)鑒定和測(cè)試統(tǒng)一巖性定名。例尺地質(zhì)1:100001:10000草圖1:50001:20001:2000草圖1:1000一般地質(zhì)體10-2020-305-102-44-61-2礦體5-1010-202.5-51-22-40.5-1(2)實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面應(yīng)有充分

8、的代表性，能基本反映測(cè)區(qū)內(nèi)的地層、巖石、構(gòu)造類型和它們之間的穿插關(guān)系。剖面應(yīng)：垂直或大致垂直測(cè)區(qū)地層、主構(gòu)造行跡走向；橫穿測(cè)區(qū)內(nèi)所有地層單元、主要構(gòu)造行跡和主要侵入巖體。一條不夠，可作兩條或多條；直線不行，可以折線。(3)實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面用半儀器法測(cè)制。比例尺不小于地質(zhì)測(cè)量比例尺，圖上寬1mm及以上的地質(zhì)體必須上圖，具特殊意義的地質(zhì)體須放大表示。(4)測(cè)制剖面時(shí)要填寫實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面記錄表(表3-5),做好地質(zhì)點(diǎn)描述，采集巖礦鑒定標(biāo)本/分析樣品并做好采樣登記。(5)繪制實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖并附簡(jiǎn)短文字說明，包括實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面工作概況及地質(zhì)概況。對(duì)地形底圖的要求(1)須是正式出版的或經(jīng)隊(duì)級(jí)以上單位驗(yàn)收合格的。(

9、2)正規(guī)測(cè)量的地形底圖的比例尺一般應(yīng)與地質(zhì)測(cè)量比例尺相同。(3)使用放大的小于地質(zhì)測(cè)量比例尺的地形圖進(jìn)行地質(zhì)草測(cè)時(shí)，須經(jīng)業(yè)主批準(zhǔn)并在設(shè)計(jì)書(合同書)中寫明。(4)對(duì)于時(shí)間久遠(yuǎn)的以往地形圖，應(yīng)根據(jù)地形變化情況確定是直接使用、修測(cè)后使用或放棄不用。操作要求(1)應(yīng)用紅油漆在巖石上實(shí)地標(biāo)注地質(zhì)觀察點(diǎn)點(diǎn)位和編號(hào)。(2)地質(zhì)測(cè)量工作不僅僅是勾畫地質(zhì)界線，更重要的是基礎(chǔ)地質(zhì)研究和找礦。通過地質(zhì)測(cè)量應(yīng)不同程度地查明：測(cè)區(qū)地層、構(gòu)造、巖漿巖、變質(zhì)作用特征；成礦地質(zhì)條件和控礦因素；礦體、礦化帶的分布規(guī)律和找礦標(biāo)志。要特別注意多量取地質(zhì)面的產(chǎn)狀；特別注意研究不同地質(zhì)體接觸關(guān)系、接觸面的地質(zhì)特征、接觸面附近巖石礦物

10、組成和構(gòu)造的變化。(3)實(shí)地勾繪地質(zhì)界線，注意地質(zhì)界線平面形態(tài)的“V”字形規(guī)則(V字形法則：巖層傾向與地形坡向相反，巖層界線與地形等高線V字形彎曲方向相同，但巖層界線比地形等高線白VV字形彎曲程度小-相反相同；巖層傾向與地形坡向相同，巖層傾角比坡角小，巖層界線與地形等高線的V字形彎曲方向相同，但巖層界線比地形等高線的V字形彎曲程度大-相同相同；巖層傾向與地形坡向相同，巖層傾角比坡角大，巖層界線與地形等高線的V字形彎曲方向相反相同相反)。(4)做好觀察點(diǎn)的記錄和地質(zhì)描述，力求全面細(xì)致。1.5地質(zhì)測(cè)量工作報(bào)告和地質(zhì)圖地質(zhì)測(cè)量報(bào)告地質(zhì)測(cè)量工作完成后應(yīng)及時(shí)編寫地質(zhì)測(cè)量報(bào)告，地質(zhì)測(cè)量報(bào)告的內(nèi)容包括:(1

11、)概況：任務(wù)來源，填圖時(shí)間，參加人員，完成工作量(測(cè)量面積，觀察點(diǎn)數(shù)量，采集標(biāo)本/樣品數(shù)量、聲象資料等)。(2)填圖方法及質(zhì)量：填圖方法；按1.4中各條逐項(xiàng)說明相關(guān)數(shù)據(jù)；質(zhì)量評(píng)述和存在問題。(3)測(cè)區(qū)地質(zhì)特征：測(cè)區(qū)地質(zhì)，礦床地質(zhì)及地質(zhì)認(rèn)識(shí)。(4)結(jié)論。(5)附表(裝訂在正文后面)：樣品、標(biāo)本采集登記表，巖礦鑒定、樣品分析登記表等。(6)附圖：實(shí)際材料圖，(地形)地質(zhì)圖，實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖。(地形)地質(zhì)圖的圖面地質(zhì)內(nèi)容(1)圖名，比例尺，圖廓，坐標(biāo)線(畫方格網(wǎng))，圖例，責(zé)任表。(2)各種地質(zhì)界線，構(gòu)造跡線，產(chǎn)狀符號(hào)。(3)實(shí)測(cè)剖面線，勘查線，勘查線端點(diǎn)，探礦工程(包括剝土、樣坎、以往工程和古胴)，采

12、樣點(diǎn)及樣品號(hào)。(4)綜合柱狀圖，典型剖面圖(實(shí)測(cè)剖面圖)。地質(zhì)圖中出露地表的和被工程揭露的可確認(rèn)地質(zhì)界線畫實(shí)線，推斷地質(zhì)界線畫虛線。大面積覆蓋，僅有零星露頭的測(cè)區(qū)在必要時(shí)繪制露頭分布圖。涉及特殊情況或礦種的，繪制地貌圖、第四紀(jì)地質(zhì)圖以補(bǔ)充或取代地質(zhì)圖。各種圖上的地質(zhì)界線應(yīng)隨地質(zhì)勘查工作的深入、認(rèn)識(shí)的提高和參考其它地質(zhì)、物化遙資料隨時(shí)推測(cè)和修正，直至本區(qū)勘查工作結(jié)束。實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖圖面內(nèi)容(1)圖名，比例尺，圖例，圖簽。(2)剖面圖：地形線，坐標(biāo)線，標(biāo)高線，起點(diǎn)/轉(zhuǎn)向點(diǎn)(小圓圈加編號(hào))，起點(diǎn)坐標(biāo)，起點(diǎn)/轉(zhuǎn)向點(diǎn)方位(標(biāo)在起點(diǎn)/轉(zhuǎn)向點(diǎn)上方)，觀測(cè)點(diǎn)及其編號(hào)，地質(zhì)內(nèi)容(地形線下畫1cm寬的巖性花紋)，

13、產(chǎn)狀，標(biāo)本/樣品采集點(diǎn)及其編號(hào)。(3)測(cè)量路線平面圖：放在剖面圖左下角適當(dāng)部位，包括N向示意箭頭、導(dǎo)線點(diǎn)及其編號(hào)、導(dǎo)線、地質(zhì)界線、產(chǎn)狀符號(hào)、地質(zhì)體代號(hào)。(4)地形要素測(cè)量結(jié)果表(表1-4)。表1-4地形要素記錄表導(dǎo)線方位(°)斜距(m>坡角(°)平距(m)高差(m備注12232.5.4實(shí)際材料圖面內(nèi)容實(shí)際材料圖以礦區(qū)(地形)地質(zhì)圖為底圖，主要內(nèi)容有：(1)各級(jí)測(cè)量控制點(diǎn)，圖根點(diǎn)。(2)實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面線，地質(zhì)觀察點(diǎn)及其編號(hào)。(3)地質(zhì)觀測(cè)路線、地質(zhì)觀察點(diǎn)及其編號(hào)。(4)古胴、古采場(chǎng)、古采礦廢石堆、煉渣。(5)勘查線、探礦工程。(6)各類樣品采樣位置。(7)物化探面積性測(cè)量

14、范圍，物化探測(cè)量剖面線，地球物理參數(shù)測(cè)量點(diǎn)或參數(shù)標(biāo)本采集點(diǎn)。2.6勘查線剖面測(cè)量測(cè)量要求(1)一律用儀器法測(cè)量，達(dá)到對(duì)相應(yīng)比例尺剖面測(cè)量所要求的精度。(2)凡在剖面圖上寬1mm的地質(zhì)體，必須表示；對(duì)有特殊意義的地質(zhì)體(如標(biāo)志層、化石層、蝕變體，礦化體、礦體、火山沉積夾層等)要放大表示在圖上。(3)做好測(cè)量和地質(zhì)記錄?？辈榫€剖面圖的內(nèi)容(1)圖名，比例尺，圖廓，坐標(biāo)線，標(biāo)高線(整數(shù)標(biāo)高線和以虛線表示的勘查中段線)、圖例，圖簽。(2)地形線，地質(zhì)界線，地質(zhì)構(gòu)造跡線，地形線下和鉆孔左側(cè)畫1cm寬的巖性花紋。(3)剖控點(diǎn)(以小圓圈表示)，剖面方位(在剖面圖兩端直接寫方位角)，起點(diǎn)坐標(biāo)(一般放在剖面圖左端起點(diǎn)上方)，產(chǎn)狀標(biāo)示(用“256。/65?！毙问?。(4)探礦工程及其編號(hào)(包括剝土、樣坎、以往工程和古胴)。不在剖面線上的探礦工程及其揭露的地質(zhì)界線，當(dāng)幾何投影到剖面上時(shí)由于地形和地質(zhì)體產(chǎn)狀的影響常引起地質(zhì)界線的扭曲或錯(cuò)位，地質(zhì)界線應(yīng)盡量采用產(chǎn)狀投影法。幾何投影的探礦工程用虛線表示。當(dāng)有一半以上的探礦工程偏離勘查線時(shí)，在不影響資源/儲(chǔ)量類型布局的情況下，可平行移動(dòng)勘查線的位置以使探礦工程盡量多地落在勘查線上，此時(shí)勘查剖面圖應(yīng)重新測(cè)制。(5)基本分析樣及編號(hào)。標(biāo)注編號(hào)的樣品包括：起始樣、終止樣、樣號(hào)不連續(xù)處的樣，樣號(hào)為10的整數(shù)倍的其它樣。(6)其它類型樣品和