專業(yè)知識(shí)習(xí)題

1、2012年12月石油管材超聲波檢測復(fù)習(xí)題一：是非題1.1 由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。（ ）1.2 傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。（ ）1.3一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。（ ）1.4 由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K1.5的探頭探測單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢。（ ）1.5 超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)。（ ）1.6 頻率相同的縱波，在水中的波長大于在鋼中的波長（ ）1.7 波的疊加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播（ ）1.8 聲壓差2倍，則兩信號(hào)的分貝差為6dB（分貝）（ ）1.9

2、 材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大（ ）1.10 平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和（ ）1.11 超聲波的擴(kuò)散衰減與波型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)（ ）1.12 界面上入射聲束的折射角等于反射角（ ）1.13 當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會(huì)發(fā)生波型轉(zhuǎn)換（ ）1.14 在同一固體材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣（ ）1.15 超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低（ ）1.16 當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加（ ）1.17 超聲波傾斜入射到介質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總大于入射角（ ）1

3、.18 第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角（ ）1.19 如果有機(jī)玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者（ ）1.20 以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃/水界面為凹曲面（ ）1.21 超聲波檢測中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用（ ）2.1超聲波頻率越高，近場區(qū)的長度也就越大（ ）2.2 對(duì)同一個(gè)直探頭來說，在鋼中的近場長度比在水中的近場長度大（ ）2.3 近場區(qū)由于波的干涉檢測定位和定量都不準(zhǔn)（ ）2.4 探頭頻率越高，聲束擴(kuò)散角越?。?）2.5 超聲波檢測的實(shí)際聲場中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)（ ）2.

4、6 聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)（ ）2.7 因?yàn)榻鼒鰠^(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓為零的點(diǎn)，所以檢測時(shí)近場區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢（ ）2.8 如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲場的近場長度越短（ ）2.9 實(shí)際聲場與理想聲場在遠(yuǎn)場區(qū)軸線上聲壓分布基本一致（ ）2.10 與圓盤源不同，矩形波源的縱波聲場有兩個(gè)不同的半擴(kuò)散角（ ）2.11 200mm處4長橫孔的回波聲壓比100mm處2長橫孔的回波聲壓低（ ）2.12 軸類工件外圓徑向檢測時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同（ ）3.1 超聲波檢測中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)（ ）3.2 與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力

5、較高（ ）3.3 雙晶探頭只能用于縱波檢測（ ）3.4 通用AVG曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭（ ）3.5 檢測儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)（ ）3.6 探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因子m，減少機(jī)械能損耗（ ）3.7 工件表面比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜（ ）3.8 斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失（ ）3.9 雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)。覆蓋區(qū)愈大（ ）3.10 斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變大（ ）3.11 利用IIW試塊上

6、50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍（ ）3.12中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)（ ）3.13 溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高時(shí)，折射角將變大（ ）3.14通用數(shù)字超聲波探傷儀與模擬探傷儀器一樣也屬于A型脈沖反射式探傷儀（ ）3.15數(shù)字超聲波探傷儀在檢測焊縫缺陷時(shí)自動(dòng)記錄數(shù)據(jù),無需人為測量（ ）3.16數(shù)字超聲波探傷儀可以手動(dòng)或者自動(dòng)校準(zhǔn)探頭零偏值（ ）4.1 多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法（ ）4.2 “靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波檢測靈敏度越高越好（ ）4.3 當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸（ ）4.4 半波高

7、度法用來測量小于聲束截面的缺陷的尺寸（ ）4.5 曲面工件檢測時(shí)，檢測面曲率半徑愈大，耦合效果愈好4.6 采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸（ ）4.7 只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測長法確定缺陷長度（ ）4.8 當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化（ ）5.1 鋼板檢測時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷（ ）5.2 厚鋼板檢測中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大。（ ）5.3 較薄鋼板采用底波多次法檢測時(shí)，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大（ ）5.4 復(fù)合鋼板檢測時(shí)，可從母材一側(cè)檢測，也可從復(fù)合材料

8、一側(cè)檢測（ ）5.5 直探頭置于非重皮側(cè)的鋼板表面檢測，容易發(fā)現(xiàn)鋼板中的重皮缺陷（ ）5.6 小徑管水浸聚焦法檢測時(shí)，應(yīng)使探頭的焦點(diǎn)落在與聲束軸線垂直的管心線上（ ）5.7 鋼管作手工接觸法周向檢測時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各檢測一次（ ）6.1 對(duì)軸類鍛件檢測，一般來說以縱波直探頭從徑向探測效果最佳（ ）6.2 使用斜探頭對(duì)軸類鍛件作圓柱面軸向探測時(shí)，探頭應(yīng)用正反兩個(gè)方向掃查（ ）6.3 對(duì)餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測是最佳的檢測方法（ ）6.4 鍛件檢測中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷（ ）6.5 鍛件檢測時(shí)，如缺陷被檢測人員判定為白點(diǎn)，則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛

9、件等級(jí)（ ）6.6 直探頭在圓柱形軸類鍛件外園檢測時(shí)發(fā)現(xiàn)的游動(dòng)回波都是裂紋回波（ ）6.7 用鍛件大平底調(diào)靈敏度時(shí)，如底面有污物將會(huì)使底波下降，這樣調(diào)節(jié)的靈敏度將偏低，缺陷定量將會(huì)偏小6.8 鑄鋼件超聲波檢測，一般以縱波直探頭為主（ ）7.1 焊縫橫波檢測中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅一般很高（ ）7.2 當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收（ ）7.3 焊縫橫波檢測在滿足靈敏度要求的情況下，應(yīng)盡量選用大K值的探頭（ ）7.4 斜探頭環(huán)繞掃查時(shí)，回波高度幾乎不變，則可判斷為點(diǎn)狀缺陷（ ）7.5 由于管座角焊縫中危害最大的缺陷是未熔合和裂紋等縱向缺陷，因此一般

10、以縱波直探頭探測為主（ ）7.6 裂縫檢測中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失（ ）二選擇題1.1 超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)，下面哪句話是錯(cuò)誤的（ ）A.介質(zhì)由近及遠(yuǎn)，一層一層地振動(dòng)。 B.能量逐層向前傳播C.遇到障礙物的尺寸只要大于聲束寬度就會(huì)全部反射。D.遇到很小的缺陷會(huì)產(chǎn)生繞射。1.2 超聲波是頻率超出人耳聽覺的彈性機(jī)械波，其頻率范圍約為（ ） A.高于20000Hz。 B.110MHz。 C.高于200Hz。 D.0.2515MHz。1.3 在金屬材料的超聲波檢測中，使用最多的頻率范圍是（ ） A.1025 MHz。 B.11000KHz。 C.15MHz。 D.大于2000

11、0MHz。1.4 機(jī)械波的波速取決于（ ） A.機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度。 B.機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅。 C.機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率。 D.彈性介質(zhì)的特性。1.5在同種固體材料中，縱波聲速CL，橫波聲速Cs，表面波Cr之間的關(guān)系是（ ） A.CrCsCL。 B.CsCLCr。 C.CLCsCr。 D.以上都不對(duì)1.6 超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生（ ） A.反射。 B.折射。 C.波型轉(zhuǎn)換。 D.以上都是。1.7 在流體中可傳播（ ） A.縱波。 B.橫波。 C.縱波、橫波及表面波。 D.切變波。1.8 超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于（ ） A.頻率。 B.傳聲介質(zhì)的幾何尺寸。 C.傳聲

12、材料的彈性模量和密度。 D.以上都不全面，須視具體情況而定。1.9 超聲波聲速c、波長與頻率f之間的關(guān)系為（ ） A.c=f。 B.f=c。 C.=cf。 D.c=f²。1.10 一般認(rèn)為表面波作用于物體的深度大約為（ ） A.半個(gè)波長。 B.一個(gè)波長。 C.兩個(gè)波長。 D.三個(gè)波長。1.11 脈沖反射法超聲波檢測主要利用超聲波傳播過程中的（ ） A.散射特性。 B.反射特性。 C.透射特性。 D.擴(kuò)散特性。1.12 材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波（ ） A.在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減。B.從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和透射。 C.在傳播時(shí)的散射。 D.擴(kuò)散角大

13、小。1.13 垂直入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓（ ） A.與界面兩邊材料的聲速有關(guān)。 B.與界面兩邊材料的密度有關(guān)。 C.與界面兩邊材料的聲阻抗有關(guān)。 D.與入射聲波型有關(guān)。1.14 超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生（ ） A.只繞射，無反射。B.既反射，又繞射。 C.只反射，無繞射。 D.以上都有可能。1.15 在同一界面上，聲強(qiáng)透射率T與聲壓反射率r質(zhì)檢的關(guān)系是（ ） A.T=r²。 B.T=1r²。 C.T=1+r。 D.T=1r1.16 傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)（ ）？ A.反射波波型。 B

14、.入射角度。 C.界面兩側(cè)的聲抗阻。 D.以上都是。1.17 一般的說，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為（ ） A.表面波。 B.縱波。 C.橫波。 D.三種波型的穿透力相同。1.18 當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15°射向鋼界面時(shí),可能存在（ ） A.反射縱波。 B.反射橫波。 C.折射縱波和折射橫波。 D.以上都有。1.19 要在工件中得到純橫波，探頭入射角必須（ ）A.大于第二臨界角。 B.大于第一臨界角。C.在第一、第二臨界角之間。 D.小于第二臨界角。1.20 一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因?yàn)橹挥羞@樣才有可能（ ）A.在工件

15、中得到純橫波。 B.得到良好的聲束指向性。C.實(shí)現(xiàn)聲速聚焦。 D.減少近場區(qū)的影響。1.21 超聲波（活塞波）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是（ ）A.介質(zhì)對(duì)超聲波的吸收。 B.介質(zhì)對(duì)超聲波的散射。C.聲束擴(kuò)散。D.以上全部。1.22 斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時(shí)，其橫波（ ）A.在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生。 B.從晶片上直接產(chǎn)生。C.在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生。 D.在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生。1.23 由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于（ ）A.擴(kuò)散衰減。 B.散射衰減。 C.吸收衰減。 D.以上都是。1.24 與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是（ ）A.擴(kuò)散衰減。 B.散射衰減。 C.吸收衰減

16、。 D.以上都是。1.25 下面有關(guān)材料衰減的敘述，哪句話是錯(cuò)誤的（ ）A.橫波衰減比縱波嚴(yán)重。B.固體材料的衰減系數(shù)一般隨溫度上升而增大。C.當(dāng)晶粒度大于波長1/10時(shí)對(duì)檢測有顯著影響。D.提高增益可完全克服衰減對(duì)檢測的影響。2.1 波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)，并且隨（ ）A.頻率增加，晶片直徑減小而減小。 B.頻率或晶片直徑減小而增大。C.頻率或晶片直徑減小而減小。 D.頻率增加，晶片直徑減小而增大。2.2 直徑14mm,2.5MHz直探頭在鋼中近場區(qū)為（ ）A.27mm。 B.21mm。 C.38mm。 D.以上都不對(duì)。2.3 利用球面波聲壓公式（P=PoD²

17、;/4s）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條件是（ ）A.S2N近似正確。B.S3N基本正確。C.S6N正確。D.以上都對(duì)。2.4 在超聲探頭遠(yuǎn)場區(qū)中（ ）A.聲束邊緣聲壓較大。 B.聲束中心聲壓最大。C.聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣。 D.聲壓與聲束寬度成正比2.5 活塞波聲場，聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱為（ ）A.近場長度。 B.未擴(kuò)散區(qū)。 C.主聲束。 D.超聲場。2.6 遠(yuǎn)場范圍的超聲波可視為（ ）A.平面波。 B.柱面波。 C.球面波。 D.以上都不對(duì)。2.7 在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面回波相差（ ）A.12dB。 B.9dB。 C.6dB

18、。 D.3dB。2.8 同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍，則回波減弱（ ）A.6dB。 B.12dB。 C.3dB。 D.9dB。2.9 在球面波聲場中大平底距聲源距離增大1倍回波減弱（ ）A.6dB。 B.12dB。 C.3dB。 D.9dB。2.10 對(duì)于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是（ ）A.增大6dB。 B.減少6dB。 C.增大3dB。 D.減小3dB。2.11 比3mm平底孔回波聲壓小7db的同聲程平底孔直徑是（ ）A.1mm。 B.2mm。 C.4mm。 D.0.5mm。3.1 A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（ ）A.缺陷的性質(zhì)和大小。 B.

19、缺陷的形狀和取向。C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間。 D.以上都是。3.2 A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指（ ）A.近場區(qū)。B.聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域。C.始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間。D.以上均是。3.3 A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示（ ）A.超聲回波的幅度大小。B.缺陷的位置。C.被探材料的厚度。D.超聲傳播時(shí)間。3.4 A型掃描顯示中，水平時(shí)基線代表 （ ）A.超聲回波的幅度大小。B.探頭移動(dòng)距離。C.聲波傳播時(shí)間。D.缺陷尺寸大小。3.5 探頭上標(biāo)的2.5MHz是指（ ）A.重復(fù)頻率。 B.工作頻率。 C.觸發(fā)脈沖頻率。D.以上都不對(duì)。3.6 儀器的垂直線性好壞會(huì)影響（ ）A.缺

20、陷的當(dāng)量比較。 B.AVG曲線面板的使用。C.缺陷的定位。 D.以上都對(duì)。3.7 表示檢測儀與探頭組合性能的指標(biāo)有（ ）A.水平線性、垂直線性、衰減器精度。B.靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場分辨力。C.動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度。 D.垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率。3.8 線聚焦探頭聲透鏡的形狀為（ ）A.球面。 B.平面。 C.柱面。 D.以上都可以。3.9 超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度（ ）A.取決于探頭、高脈沖發(fā)生器和放大器。 B.取決于同步脈沖發(fā)生器。C.取決于換能器機(jī)械阻尼。 D.隨分辨力提高而提高。3.10 晶片共振波長是晶片厚度的（ ）A.2倍。 B.12倍。 C.1倍。 D.4倍。3.11

21、雙晶直探頭的最主要用途是（ ）A.探測近表面缺陷。B.精確測定缺陷長度。C.精確測定缺陷高度。D.用于表面缺陷檢測。3.12 下面關(guān)于橫波斜探頭的說法哪一句是錯(cuò)誤的（ ）A.橫波斜探頭是由直探頭加透聲斜楔組成。B.斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波。C.超聲波在斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工作中的橫波聲速。D.橫波是在斜楔與工件的交界面上產(chǎn)生。3.13 接觸式聚焦方式按聚焦方式不同可分為（ ）A.透鏡式聚焦。 B.反射式聚焦。 C.曲面晶片式聚焦。 D.以上都對(duì)。3.14 以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（ ）A.探測范圍大。 B.盲區(qū)小。 C.工件中近場長度小。 D.雜波少。3.15對(duì)超聲檢測試塊的

22、基本要求是（ ）A.其聲速與被探工件聲速基本一致。B.材料中沒有超過2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。C.材料衰減不太大且均勻。 D.以上都是。3.16以下不是數(shù)字超聲波探傷儀器的特點(diǎn)的是（ ）A.可以記錄探傷數(shù)據(jù)。 B.檢測速度快、效率高。C.要隨時(shí)攜帶試塊用于校對(duì)儀器。 D.能與電腦連接,便于探傷數(shù)據(jù)的管理。3.17數(shù)字超聲波探傷儀在CSK-IA、CSK-IIIA試塊上做DAC曲線不需要（ ）A.測零點(diǎn)。 B.調(diào)掃描比例。 C.測折射角度。 D.制作距離波幅曲線。3.18以下表述錯(cuò)誤的是（ ） A.數(shù)字式超聲波探傷儀的一個(gè)重要功能就是能夠?qū)⑻絺麉?shù)，探傷波形記錄下來，存儲(chǔ)在文件中，或傳輸給計(jì)算機(jī)，建

23、立有關(guān)數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)無損檢測工件的信息化管理B.數(shù)字式超聲波探傷儀具有計(jì)算能力，能夠根據(jù)被檢測工件的尺寸、形狀和探傷方法自動(dòng)生成探傷儀參數(shù)。C.數(shù)字式超聲波探傷儀只能顯示出超聲回波信號(hào)的電子掃描波形。 D.工作用數(shù)字式超聲波探傷儀時(shí)，能由計(jì)算機(jī)完成探傷記錄，長期存儲(chǔ)在機(jī)內(nèi)或打印出來，傳輸給外部計(jì)算機(jī)。4.1 超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（ ）A.曲面檢測時(shí)可減少耦合損失。 B.可減少材質(zhì)衰減損失。C.輻射聲能大且能量集中。 D.以上全部。4.2 檢測時(shí)采用較高的探測頻率，可有利于（ ）A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷。B.區(qū)分開相鄰的缺陷。C.改善聲束指向性。D.以上全部。4.3 工件表面形狀不同

24、時(shí)耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點(diǎn)是正確的（ ）A.平面效果最好。B.凹曲面效果居中。C.凸曲面效果最差。D.以上全部。4.4 缺陷反射聲能的大小，取決于（ ）A.缺陷的尺寸。 B.缺陷的類型。 C.缺陷的形狀和取向。 D.以上全部。4.5 聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是（ ）A.反射波高隨粗糙度的增大而增加。 B.無影響。C.反射波高隨粗糙度的增大而下降。 D.以上A和C都可能。4.6 探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時(shí)，如儀器用平試塊按深度1:1調(diào)掃描，下面哪種說法正確（ ）A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示。B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長。C.顯示值

25、與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小。D.以上都正確。4.7 采用底波高度法（F/B百分比法）對(duì)缺陷定量時(shí)，下面哪種說法正確（ ）A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同。 B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸。C.適用于對(duì)尺寸較小的缺陷定量。D.適于對(duì)密集性缺陷的定量。4.8 在頻率一定和材料相同情況下，橫波對(duì)小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是（ ）A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣?。B.橫波檢測雜波少。C.橫波波長短。 D.橫波指向性好。4.9 采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力（ ）A.1.25MHz。 B.2.5 MHz。 C.5 MHz。 D.10 MHz。4.10 端點(diǎn)衍

26、射波主要用于測定（ ）A.缺陷的長度。 B.缺陷的性質(zhì)。 C.缺陷的位置。 D.缺陷的高度。4.11 從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲檢測對(duì)缺陷的定性是通過下列方法來進(jìn)行（ ）A.精確對(duì)缺陷定位。 B.精確測定缺陷形狀。C.測定缺陷的動(dòng)態(tài)波形。 D.以上方法需同時(shí)使用。4.12 單斜探頭檢測時(shí)，在近場區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能是（ ）A.來自工件表面的雜波。 B.來自探頭的噪聲。C.工件上近表面缺陷的回波。 D.耦合劑噪聲。4.13 在筒身外壁作曲面周向檢測時(shí)（r R為簡體的內(nèi)、外半徑），斜探頭（為折射角）的臨界角應(yīng)滿足4.14 為保證易于探出垂直

27、于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭檢測應(yīng)選用（ ）A.小K值探頭。 B.大K值探頭。 C.軟保護(hù)膜探頭。 D.高頻探頭。4.15 用斜探頭檢測厚焊縫時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是（ ）A.提高探頭聲束指向性。 B.校準(zhǔn)儀器掃描線性。C.提高探頭前沿長度和K值測定精度。 D.以上都對(duì)。4.16 當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸（ ）A.一定大。 B.不一定大。 C.一定不大。 D.等于當(dāng)量尺寸。4.17 當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越（ ）A.大。 B.小。 C.無影響。 D.不一定。4.18 直探頭縱波檢測時(shí)，工件上下表面不平行會(huì)產(chǎn)生（ ）A.底面回波

28、降低或消失。B.底面回波正常。C.底面回波變寬。D.底面回波變窄。4.19 厚度均為400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正400/2靈敏度分別進(jìn)行探測，現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（ ）A.兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同。 B.材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小。C.材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小。 D.以上都不對(duì)。4.20在脈沖反射法檢測中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？（ ）A.缺陷回波。 B.底波或參考回波的減弱或消失。C.接收探頭接收到的能量的減弱。 D.AB都對(duì)。4.21在直接接觸法直探頭檢測時(shí)，底波消失的原因是（ ）A.耦合不良。B.存在與聲束不垂直的平面缺陷。C.

29、存在與是脈沖不能分開的近表面缺陷。 D.以上都是。 4.22 被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起（ ）A.草狀回波增多。 B.信噪比下降。 C.底波次數(shù)減少。D.以上全部。4.23 下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關(guān)（ ）A.平底孔。 B.平行于探測面且垂直于聲束的平底槽。C.平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔。D.平行于探測而且垂直于聲束的V型缺口。4.24 在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測定，這是因?yàn)椋?）A.只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷反射面上才能得到反射回波最大值。B.只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值。C.只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到

30、反射回波最大值。D.人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測定基準(zhǔn)。4.25 考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵?）A.被檢工件厚度太大。 B.工件底面與探測面不平行。C.耦合劑有較大聲能損耗。 D.工件與試塊材質(zhì)、表面光潔度有差異。4.26 探測距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時(shí)，下列哪種底面回波最高（ ）A.與探測面平行的大平底面。 B.R200的凹圓柱底面。C.R200的凹球底面。 D.R200的凸圓柱底面。4.27 缺陷反射聲壓的大小取決于（ ）A.缺陷反射面大小。B.缺陷性質(zhì)。C.缺陷取向。D.以上全部。5.1 鋼板缺陷的主要分布方向是（ ）A.平行于或基本平行于鋼板表面。

31、 B.垂直于鋼板表面。C.分布方向無傾向性。 D.以上都有可能。5.2 鋼板厚30mm，用水浸法檢測，當(dāng)水深厚度為15mm時(shí)，則第三次底面回波顯示于（ ）A.二次界面回波之前。B.二次界面回波之后。C.一次界面回波之前。D.不一定。5.3 下面有關(guān)“疊加效應(yīng)”的敘述中，哪點(diǎn)是正確的（ ）？A.疊加效應(yīng)是波型轉(zhuǎn)換時(shí)產(chǎn)生的現(xiàn)象。B.疊加效應(yīng)是幻象波的一種。C.疊加效應(yīng)是鋼板底波多次反射時(shí)可看到的現(xiàn)象。D.疊加效應(yīng)是檢測頻率過高而引起的。5.4帶極堆焊層工件中的缺陷有（ ）A.堆焊金屬中的缺陷。 B.堆焊層與母材間的脫層。C.堆焊層下母材熱影響區(qū)的再熱裂紋。 D.以上三種都有。5.5 鋼管原材料超探

32、試塊中的參考反射體是（ ）A.橫孔。 B.平底孔。 C.槽。 D.豎孔。5.6 管材自動(dòng)檢測設(shè)備中，探頭與管材相對(duì)運(yùn)動(dòng)的形式是（ ）A.探頭旋轉(zhuǎn)，管材直線前進(jìn)。B.探頭靜止，管材螺旋前進(jìn)。C.管材旋轉(zhuǎn)，探頭直線移動(dòng)。D.以上均可。6.1 軸類鍛件最主要探測方向是（ ）A.軸向直探頭檢測。 B.徑向直探頭檢測。C.斜探頭外圓面軸向檢測。 D.斜探頭外圓面周向檢測。6.2 鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能是（ ）A.與主軸線平行。B.與鍛造方向一致。C.與鍛件金屬流線一致。D.與鍛件金屬流線垂直。6.3 鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是（ ）A.沒有特定的方式。B.采用底波方式。C.采用試塊方式。D.采

33、用底波方式和試塊方式。6.4 以工件底面作為靈敏度校正基準(zhǔn)，可以（ ）A.不考慮探測面的耦合差補(bǔ)償。 B.不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償。C.不必使用校正試塊。 D.以上都是。6.5 大型鑄件應(yīng)用超聲波檢測檢查的主要困難是（ ）A.組織不均勻。B.晶粒非常粗。C.表面非常粗糙。D.以上都對(duì)。6.6 以下有關(guān)鍛件白點(diǎn)缺陷的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（ ）A.白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物。 B.白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位。C.白點(diǎn)的回波清晰，尖銳、往往有多個(gè)波峰同時(shí)出現(xiàn)。D.一旦判斷是白點(diǎn)缺陷，該鍛件即為不合格。6.7 在鍛件檢測中當(dāng)使用底面兩次回波計(jì)算衰減系數(shù)時(shí)底面回波聲程應(yīng)（ ）A.大于非擴(kuò)散區(qū)。B.大于近場區(qū)。C

34、.大于三倍近場區(qū)。D.以上全部。6.8 鍛件檢測時(shí)，如果用試塊比較法對(duì)缺陷定量，對(duì)于表面粗糙的缺陷，缺陷實(shí)際尺寸會(huì)（ ）A.大于當(dāng)量尺寸。B.等于當(dāng)量尺寸。C.小于當(dāng)量尺寸。D.以上都有可能。7.1 通常要求焊縫檢測在焊后24小時(shí)進(jìn)行是因?yàn)椋?）A.讓工件充分冷卻。B.焊縫材料組織穩(wěn)定。C.冷裂縫有延時(shí)產(chǎn)生的特點(diǎn)。D.以上都對(duì)。7.2 探測出焊縫中與表面成不同角度的缺陷，應(yīng)采取的方法是（ ）A.提高探測頻率。B.用多種角度探頭探測。C.修磨檢測面。D.以上都可以。7.3 對(duì)上下底面寬度分別為a和b的雙面焊焊縫，lo為探頭前沿長度，T為工件厚度，探頭K值選擇正確的是（ ）7.4 對(duì)有余高的焊縫作

35、斜平行掃查探測焊縫橫向缺陷時(shí)，應(yīng)（ ）A.保持靈敏度不變。B.適當(dāng)提高靈敏度。C.增加大K值探頭探測。D.以上B和C。7.5 在厚焊縫單探頭檢測中，垂直焊縫表面的表面光滑的裂紋可能（ ）A.用45°斜探頭探出。 B.用直探頭探出。C.用任何探頭探出。 D.反射訊號(hào)很小而導(dǎo)致漏檢。7.6 用直探頭探測焊縫兩側(cè)母材的目的是（ ）A.探測熱影響區(qū)裂縫。 B.探測可能影響斜探頭探測結(jié)果的分層。C.提高焊縫兩側(cè)母材驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，以保證焊縫質(zhì)量。 D.以上都對(duì)。三 問答題1.1 何謂繞射（衍射）？繞射現(xiàn)象的發(fā)生與哪些因素有關(guān)？1.2 什么叫波型轉(zhuǎn)換？波型轉(zhuǎn)換與哪些因素有關(guān)？2.1 什么是缺陷的當(dāng)量尺

36、寸？在超聲波檢測中為什么要引進(jìn)當(dāng)量的概念？3.1 超聲波斜探頭的技術(shù)指標(biāo)有哪些？3.3 試塊應(yīng)滿足哪些基本要求？使用試塊時(shí)應(yīng)注意些什么？4.1 什么叫檢測靈敏度？常用的調(diào)節(jié)檢測靈敏度的方法有幾種？4.2 何謂缺陷定量？簡述缺陷定量方法有幾種？4.3 什么是缺陷的指示長度？測定缺陷指示長度的方法有哪些？5.1 簡要說明鋼板檢測中，引起底波消失的幾種可能情況？5.2 在鋼板超聲波檢測中，常采用什么方法來調(diào)節(jié)檢測靈敏度？5.3 試說明小徑管縱向、橫向缺陷的一般檢測方法。7.1 橫波檢測焊縫時(shí)，選擇探頭K值應(yīng)依據(jù)哪些原則？7.2 焊縫檢測中，常見的偽缺陷波有哪幾種？7.3 焊縫檢測中，如何選擇探頭的頻

37、率？是非題1.1 1.2 1.3 × 1.4 1.5 1.6 × 1.7 × 1.8 × 1.9 × 1.10× 1.11× 1.12× 1.13 1.14 1.15× 1.16 1.17× 1.18× 1.19× 1.20 1.21× 2.1 2.2 × 2.3 2.4 2.5 2.6 2.7 × 2.8 × 2.9 2.10 2.11 2.12 3.1 × 3.2 3.3 × 3.4 3.5 3.6 ×

38、 3.7 × 3.8 × 3.9 × 3.10× 3.11 3.12 3.13 3.14 3.15× 3.164.1 4.2 × 4.3 × 4.4 × 4.5 4.6 4.7 × 4.8 5.1 × 5.2 5.3 × 5.4 5.5 × 5.6 5.7 6.1 6.2 6.3 × 6.4 6.5 × 6.6 × 6.7 × 6.8 7.1 7.2 7.3 7.4 7.5 7.6 × 單選題1.1C 1.2A 1.3C 1.

39、4D 1.5C 1.6D 1.7A 1.8C 1.9A 1.10C 1.11B 1.12B 1.13C 1.14B 1.15B 1.16D 1.17B 1.18D 1.19C 1.20A 1.21D 1.22D 1.23B 1.24A 1.25D 2.1B 2.2B 2.3D 2.4B 2.5A 2.6C 2.7C 2.8B 2.9A 2.10B 2.11B 3.1C 3.2C 3.3A 3.4C 3.5B 3.6A 3.7B 3.8C 3.9A 3.10A 3.11A 3.12C 3.13D 3.14A 3.15D 3.16C 3.17B 3.18C4.1C 4.2D 4.3A 4.4D 4

40、.5C 4.6A 4.7B 4.8C 4.9A 4.10D 4.11D 4.12B 4.13A 4.14B 4.15D 4.16A 4.17B 4.18A 4.19B 4.20D 4.21D 4.22D 4.23C 4.24D 4.25D 4.26C 4.27D5.1A 5.2B 5.3C 5.4D 5.5C 5.6D 6.1B 6.2C 6.3D 6.4D 6.5D 6.6A 6.7C 6.8A 7.1C 7.2B 7.3B 7.4B 7.5D 7.6B 1.1答： 波在傳播過程中遇到與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，能繞過障礙物的邊緣改變方向繼續(xù)前進(jìn)的現(xiàn)象，稱為波的繞射（衍射）。衍射的產(chǎn)生與障礙物的尺

41、寸Df和波長的相對(duì)大小有關(guān)：Df時(shí)，幾乎只繞射，無反射。Df時(shí)，幾乎只反射，無繞射。Df與相當(dāng)時(shí)，既反射，又繞射。1.2 答：超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，除產(chǎn)生與入射波同類型的反射和折射波外，還會(huì)產(chǎn)生與入射波不同類型的反射或折射波，這種現(xiàn)象稱為波型轉(zhuǎn)換。波型轉(zhuǎn)換只發(fā)生在傾斜入射的場合，與界面兩側(cè)介質(zhì)的特性（狀態(tài)、聲束等）以及波的入射角有關(guān)。2.1答：A型反射法是根據(jù)缺陷反射回波聲壓的高低來評(píng)價(jià)缺陷的大小。然而工件中的缺陷形狀性質(zhì)各不相同，目前的檢測技術(shù)還難以確定缺陷的真實(shí)大小和形狀。回波聲壓相同的缺陷的實(shí)際大小可能相差很大，為此引用當(dāng)量法。 當(dāng)量法是指在同樣的探測條件下，當(dāng)自然缺陷的實(shí)際回波與

42、某人工規(guī)則反射體回波等高時(shí)，則該人工規(guī)則反射體的尺寸就是此自然缺陷的當(dāng)量尺寸。自然缺陷的實(shí)際尺寸往往大于當(dāng)量尺寸。 3.1答：除了頻率、晶片材料、晶片尺寸等影響聲場性能的指標(biāo)外，超聲波斜探頭還有以下技術(shù)指標(biāo)：1、斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度：是指其主聲束軸線與探測面的交點(diǎn)，入射點(diǎn)至探頭前沿的距離稱探頭前沿長度，測定入射點(diǎn)和前沿長度是為了便于對(duì)缺陷定位和測定探頭的K值。2、斜探頭K值和折射角S: 斜探頭K值是指被探工件中橫波折射角S的正切值， K=tgS。3、探頭主聲束偏離：是指探頭實(shí)際主聲束與其理論幾何中心軸線的偏離程度，常用偏離角來表示。3.3答：試塊材質(zhì)要均勻，內(nèi)部雜質(zhì)少，無影響使用的缺陷。加

43、工容易，不易變形和銹蝕，具有良好的聲學(xué)性能。試塊的平行度、垂直度、光潔度和尺寸精度都要符合一定的要求。使用試塊時(shí)要注意：1、試塊要在適當(dāng)部位編號(hào)，以防混淆。2、試塊在使用和搬運(yùn)過程中應(yīng)注意保護(hù)，防止碰傷或擦傷。3、使用試塊時(shí)應(yīng)注意清除反射體內(nèi)的油污和銹蝕。4、注意防止試塊銹蝕，使用后停放時(shí)間較長，要涂敷防銹劑。5、注意防止試塊變形，平板試塊盡可能立放，防止重壓。4.1答：檢測靈敏度是指在確定的探測范圍的最大聲程處發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。有時(shí)也稱為起始靈敏度或評(píng)定靈敏度。通常以標(biāo)準(zhǔn)反射體的當(dāng)量尺寸表示。實(shí)際檢測中，常常將靈敏度適當(dāng)提高，后者則稱為搜索靈敏度或掃查靈敏度。調(diào)節(jié)檢測靈敏度常用的方法有

44、試塊調(diào)節(jié)法和工件底波調(diào)節(jié)法。試塊調(diào)節(jié)法包括以試塊上人工標(biāo)準(zhǔn)反射體調(diào)節(jié)和以試塊底波調(diào)節(jié)兩種方式。工件底波調(diào)節(jié)法包括計(jì)算法、A.V.G曲線法、底面回波高度法等多種方式。4.2答：超聲波檢測中，確定工件中缺陷的大小和數(shù)量，稱為缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面積和長度。缺陷的定量方法很多，常用的有當(dāng)量法、底波高度法和測長法。4.3答：按規(guī)定的靈敏度基準(zhǔn)，根據(jù)探頭移動(dòng)距離測定的缺陷長度稱為缺陷的指示長度。測定缺陷指示長度的方法分為相對(duì)靈敏度法、絕對(duì)靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。相對(duì)靈敏度法：是以缺陷最高回波為相對(duì)基準(zhǔn)，沿缺陷長度方向移動(dòng)探頭，以缺陷波幅降低一定的dB值的探頭位置作為缺陷邊界來測定缺陷長度的方法。

45、絕對(duì)靈敏度法：是沿缺陷長度方向移動(dòng)探頭，以缺陷波幅降到規(guī)定的測長靈敏度的探頭位置作為缺陷邊界來測定長度的方法。端點(diǎn)峰值法：是缺陷反射波峰起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，以缺陷兩端反射波極大值處的探頭位置作為缺陷邊界來測定長度的方法。5.1答：1、表面氧化皮與鋼板結(jié)合不好。 2、近表面有大面積缺陷。 3、鋼板中有吸收性缺陷（如疏松或密集小夾層）。 4、鋼板中有傾斜的大缺陷。5.2答：在鋼板超聲波檢測中，檢測靈敏度調(diào)節(jié)有以下幾種：1、階梯試塊法，板厚不大于20mm時(shí)，用CB試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。2、平底孔試塊法，板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CB試塊

46、5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。3、底波法，板厚不小于探頭的3倍近場區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與上條的要求相一致。5.3答：超聲波檢測中的小徑管是指外徑小于或等于100mm的管材。小徑管一般為無縫管，其主要缺陷平行于管軸的縱向缺陷，也有垂直于管軸的橫向缺陷。對(duì)于縱向缺陷，一般利用橫波進(jìn)行周向掃查探測。對(duì)于橫向缺陷，一般利用橫波進(jìn)行軸向掃查探測。7.1答：探頭K值的選擇應(yīng)從以下三個(gè)方面考慮：1、使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面。2、使聲束中心線盡量與主要危險(xiǎn)性缺陷垂直。3、保證有足夠的檢測靈敏度。7.2答：焊縫檢測中，常見的偽缺陷有：1、

47、儀器雜波：儀器接上探頭的情況下，由于儀器性能不良，靈敏度調(diào)節(jié)過高，熒光屏上出現(xiàn)單峰或者多峰波形，接上探頭工作時(shí)，此波在熒光屏上的位置固定不變。一般情況下，降低靈敏度后，信號(hào)即消失。2、探頭雜波：儀器接上探頭后，在熒光屏上顯示出脈沖幅度很高、很寬的信號(hào)，無論探頭是否接觸工件，它都存在且位置不隨探頭移動(dòng)而移動(dòng)。3、耦合劑反射波：如果探頭的折射角較大，而檢測靈敏度又調(diào)的很高，則有一部分能力轉(zhuǎn)換成表面波，這種表面波傳播到探頭前沿耦合劑堆積處，造成反射信號(hào)。只要探頭固定不動(dòng)，隨著耦合劑的流失、波幅慢慢降低、很不穩(wěn)定，用手擦掉探頭前面的耦合劑時(shí)，信號(hào)就消失。4、焊縫表面溝槽反射波：在多道焊的焊縫表面形成一

48、道道溝槽。當(dāng)超聲波掃查到溝槽時(shí)，會(huì)引起溝槽反射。鑒別的方法是，一般一次、二次波處或稍偏后位置，這種反射信號(hào)的特點(diǎn)是不強(qiáng)烈，遲鈍。5、焊縫上下錯(cuò)位引起的反射波：由于焊縫上下焊偏，在一次檢測時(shí)，焊角反射波很象焊縫內(nèi)的缺陷，當(dāng)探頭移動(dòng)到另一側(cè)檢測時(shí)，在一次撥前沒有反射波或測得探頭的水平距離在焊縫母材上。7.3答：焊縫檢測中，探頭的頻率選擇應(yīng)依據(jù)所探測對(duì)象的材質(zhì)來確定。對(duì)碳鋼和鋁，由于晶粒比較細(xì)小，可選用較高的頻率檢測，一般為2.55.0MHz。對(duì)于板厚較小的焊縫，可采用較高的頻率，對(duì)于板厚較大，衰減明顯的焊縫，應(yīng)選用較低的頻率。鋁焊縫要用專用探頭，一般頻率為5.0MHz。對(duì)奧氏體不銹鋼，頻率對(duì)衰減的

49、影響較大。頻率越高，衰減越大，穿透力越低，又焊縫晶粒粗大，宜選用較低的檢測頻率，通常為0.52.5MHz。五、計(jì)算題1.已知鋼中CL=5900m/s,CS=3230m/s,有機(jī)玻璃中CL=2730m/s,求以有機(jī)玻璃為斜 的K1橫波探頭的入射角L？解：tg=1 =arctg1 = 45°；L=arcsin(CL1×sinCS2)= arcsin（2730×sin45°3230）=36.7°2. 試分別計(jì)算2.5MHz、14×16mm的K1.0和K2.0有機(jī)玻璃橫波斜探頭在鋼中的近場區(qū)長度。已知有機(jī)玻璃中CL=2730m/s，鋼中CS=

50、3230m/s，探頭入射點(diǎn)至實(shí)際波源的距離為15mm解：2=Cs2f=3.232.5=1.29mm；當(dāng)K2時(shí)，N=Fcos(S2cos)L1tgtg(16×14×0.68) (3.14×1.29)15×0.5837.68.728.9mm；當(dāng)K1時(shí)，N=Fcos(S2cos)L1tgtg(16×14×0.88) (3.14×1.29)15×0.7548.611.2537.4mm；3用K1.5橫波斜探頭外圓周向探測133×9.19的管材，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)掃描速度，探傷中在水平刻度32處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，求缺陷位置？用K1.5探頭是否能滿足該管的探傷要求？解：已知R=133266.5；K=1.5；按水平1：1調(diào)節(jié)掃描速度在水平32處發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，一次波為13.785；二次波為27.57；缺陷為三次波發(fā)現(xiàn)，則d=（3227.5）1.52.95mm；H=R=66.52.8mmLR180×tg-1(1.5×2.95)(66.52