電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書(shū)

1、電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書(shū)批準(zhǔn)：審核：編制：修訂日期修訂修訂內(nèi)容摘要頁(yè)次版次修訂審核批準(zhǔn)2011/03/30/系統(tǒng)文件新制定4A/0/部分電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書(shū)IC類檢驗(yàn)規(guī)范（包括BGA）1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有IC（包括BGA）之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）:0;主要缺點(diǎn)（MA）:0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物

2、是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受；b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)參考材料外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì)，可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f.元件腳彎曲，偏位，缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上的放大鏡

3、檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。備注：凡用于真空完全密閉方式包裝的IC,由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場(chǎng)打開(kāi)封裝的，IQC僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn)，并加蓋免檢印章；該IC在SMT上拉前IQC須進(jìn)行拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH對(duì)應(yīng)的位置有沒(méi)有變成粉紅色，若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。（三）貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范（電容，電阻，電感）1.目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。2.適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容，電阻，電感-）之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）:

4、0;主要缺點(diǎn)（MA）:0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件CCR數(shù)字電橋操作指引數(shù)字萬(wàn)用表操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受；實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面

5、因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì)，可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測(cè)試儀數(shù)字萬(wàn)用表檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。二極管類型檢測(cè)方法LED選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測(cè)量不發(fā)光；否則該二極管不合格。注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，讀數(shù)需小于1,而反向測(cè)量讀數(shù)需無(wú)窮大；否則該二極管不合格。注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注抽樣計(jì)劃說(shuō)明：對(duì)于CHIP二極管，執(zhí)行抽樣計(jì)

6、劃時(shí)來(lái)料數(shù)量以盤(pán)為單位，樣本數(shù)也以盤(pán)為單位；從抽檢的每盤(pán)中取35pcs元件進(jìn)行檢測(cè)；AQL不變。檢驗(yàn)方法見(jiàn)LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀操作指引和數(shù)字萬(wàn)用表操作指引o（四）插件用電解電容.1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考號(hào)由樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）:0；主要缺點(diǎn)（MA）:0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引、嗷字電容表操作指引。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢

7、單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受；b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.極性等標(biāo)記符號(hào)印刷不清，難以辨認(rèn)不可接受；b.電解電容之熱縮套管破損、脫落，不可接受；c.本體變形，破損等不可接受；d.Pin生銹氧化,均不可接受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa.Pin上錫不良，或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現(xiàn)使用之合格的松香水，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)實(shí)際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證

8、上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MAa.外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受?？ǔ呷粲糜谛碌腗odel,需在PCB上對(duì)應(yīng)的位置進(jìn)行試插電性檢驗(yàn)MAa.電容值超出規(guī)格要求則不可接受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀量測(cè)(五)晶體類檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考號(hào)由樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0;主要缺點(diǎn)(MA):0.4;次要缺點(diǎn)(MI):1.5.5.參考文件數(shù)字頻率計(jì)操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)

9、外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受；b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.字體模糊不清，難以辨認(rèn)不可接受；b.有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c.元件變形，或受損露出本體等不可接受；d.Pin生銹氧化、上錫不良,或斷Pin,均不可接受。目檢每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MAa.晶體不能起振不可接受；b.測(cè)量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測(cè)試工位和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測(cè)方法晶體檢測(cè)方法32.768KHZ16.934MH

10、z25.000MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體，再接通電源開(kāi)機(jī)；在正常開(kāi)機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開(kāi)機(jī)，看能否正常開(kāi)機(jī)顯示；在正常開(kāi)機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)顯示或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。（六）三極管檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單

11、次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考號(hào)由樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）:0;主要缺點(diǎn)（MA）:0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受；b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或

12、有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超過(guò)0.5mm2,且未露出基質(zhì)，可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)無(wú)（七）排針&插槽（座）類檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為IQC人員檢當(dāng)排針&插槽（座）類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有排針&插槽（座）之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考號(hào)由樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）:0；主要缺點(diǎn)（MA）:0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5.參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬

13、性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同，若不同不可接受；實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn)；b.塑料與針腳不能緊固連接；c.塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d.過(guò)錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮；e.針腳擰結(jié)，彎曲，偏彳tn,缺損，斷針或缺少；f.針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹；g.針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗(yàn)MAa.PIN上錫不良，或完全不上錫，均不可

14、接受；（將零件腳插入現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤(rùn)，再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收）實(shí)際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MAa.針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝；b.針腳露出機(jī)板長(zhǎng)度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺針腳露出機(jī)板長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。八CABLE類檢驗(yàn)規(guī)范1.目的作為C人員檢驗(yàn)CABLE類物料之依據(jù)。2.適用范圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗(yàn)。3.抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)（CR）:0;主要缺點(diǎn)

15、（MA）:0.4;次要缺點(diǎn)（MI）:1.5.5參考文件無(wú)檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都正確，任何有誤，均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同若不同不可接受；b.料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合，若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良；b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破（斷）裂、異色等不良；c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不可接受；d.排線與支架等組裝不牢，易松脫；e.標(biāo)識(shí)CABLE接插方向的顏色不能明確分辯；c.排線接頭的顏

16、色不符合規(guī)格要求；g.排線表面的絲印錯(cuò).1 .目檢2 .按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處，看有無(wú)松脫現(xiàn)象參考MechanicalDrawingofCable尺寸檢驗(yàn)MAa.長(zhǎng)度不符合規(guī)格要求不可接受.卷尺尺寸參考MechanicalDrawingofCable電性測(cè)試檢驗(yàn)MAa.排線的接線方式錯(cuò)不可接受；b.排線接觸不良或不能運(yùn)行不可接受；c.IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,請(qǐng)QA的同事幫助測(cè)試?yán)y(cè)試檢驗(yàn)MAa.與公端對(duì)插插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.（拉力測(cè)試：用標(biāo)準(zhǔn)BoxHeader與排線對(duì)插好，用拉力計(jì)測(cè)出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。）實(shí)際操