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1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上芯片生產(chǎn)工藝流程現(xiàn)今世界上超大規(guī)模集成電路廠(臺(tái)灣稱之為晶圓廠,為敘述簡(jiǎn)便,本文以下也采用這種稱謂)主要集中分布于美國(guó)、日本、西歐、新加坡及臺(tái)灣等少數(shù)發(fā)達(dá)國(guó)家和地區(qū),其中臺(tái)灣地區(qū)占有舉足輕重的地位。晶圓廠所生產(chǎn)的產(chǎn)品實(shí)際上包括兩大部分:晶圓切片(也簡(jiǎn)稱為晶圓)和超大規(guī)模集成電路芯片(可簡(jiǎn)稱為芯片)。前者只是一片像鏡子一樣的光滑圓形薄片,從嚴(yán)格的意義上來(lái)講,并沒(méi)有什么直接實(shí)際應(yīng)用價(jià)值,只不過(guò)是供其后芯片生產(chǎn)工序深加工的原材料。而后者才是直接應(yīng)用在計(jì)算機(jī)、電子、通訊等許多行業(yè)上的最終產(chǎn)品,它可以包括CPU、內(nèi)存單元和其它各種專業(yè)應(yīng)用芯片。一、芯片生產(chǎn)工藝流程:芯片的制造過(guò)
2、程可概分為晶圓處理工序(WaferFabrication)、晶圓針測(cè)工序(WaferProbe)、構(gòu)裝工序(Packaging)、測(cè)試工序(InitialTestandFinalTest)等幾個(gè)步驟。其中晶圓處理工序和晶圓針測(cè)工序?yàn)榍岸危‵rontEnd)工序,而構(gòu)裝工序、測(cè)試工序?yàn)楹蠖危˙ackEnd)工序。1、晶圓處理工序:本工序的主要工作是在晶圓上制作電路及電子元件(如晶體管、電容、邏輯開(kāi)關(guān)等),其處理程序通常與產(chǎn)品種類和所使用的技術(shù)有關(guān),但一般基本步驟是先將晶圓適當(dāng)清洗,再在其表面進(jìn)行氧化及化學(xué)氣相沉積,然后進(jìn)行涂膜、曝光、顯影、蝕刻、離子植入、金屬濺鍍等反復(fù)步驟,最終在晶圓上完成數(shù)層
3、電路及元件加工與制作。2、晶圓針測(cè)工序:經(jīng)過(guò)上道工序后,晶圓上就形成了一個(gè)個(gè)的小格,即晶粒,一般情況下,為便于測(cè)試,提高效率,同一片晶圓上制作同一品種、規(guī)格的產(chǎn)品;但也可根據(jù)需要制作幾種不同品種、規(guī)格的產(chǎn)品。在用針測(cè)(Probe)儀對(duì)每個(gè)晶粒檢測(cè)其電氣特性,并將不合格的晶粒標(biāo)上記號(hào)后,將晶圓切開(kāi),分割成一顆顆單獨(dú)的晶粒,再按其電氣特性分類,裝入不同的托盤中,不合格的晶粒則舍棄。3、構(gòu)裝工序:就是將單個(gè)的晶粒固定在塑膠或陶瓷制的芯片基座上,并把晶粒上蝕刻出的一些引接線端與基座底部伸出的插腳連接,以作為與外界電路板連接之用,最后蓋上塑膠蓋板,用膠水封死。其目的是用以保護(hù)晶粒避免受到機(jī)械刮傷或高溫破壞。到此才算制成了一塊集成電路芯片(即我們?cè)陔娔X里可以看到的那些黑色或褐色,兩邊或四邊帶有許多插腳或引線的矩形小塊)。4、測(cè)試工序:芯片制造的最后一道工序?yàn)闇y(cè)試,其又可分為一般測(cè)試和特殊測(cè)試,前者是將封裝后的芯片置于各種環(huán)境下測(cè)試其電氣特性,如消耗功率、運(yùn)行速度、耐壓度等。經(jīng)測(cè)試后的芯片,依其電氣特性劃分為不同等級(jí)。而特殊測(cè)試則是根據(jù)客戶特殊需求的技術(shù)參數(shù),從相近參數(shù)規(guī)格、品種中拿出部分芯片,做有針對(duì)性的專門測(cè)試,看是否能滿足客戶的特殊需求,以決定是否須為客戶設(shè)計(jì)專用芯片。經(jīng)一般測(cè)試合格的產(chǎn)品貼上規(guī)格、
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