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文檔簡(jiǎn)介
1、核技術(shù) 核探測(cè)復(fù)習(xí)材料一、簡(jiǎn)答題:1射線(xiàn)與物質(zhì)發(fā)生相互作用有哪幾種方式?( 5分) 答:射線(xiàn)與物質(zhì)發(fā)生相互作用(1)光電效應(yīng) (2)康普頓效應(yīng)(得2分)(3)電子對(duì)效應(yīng)(得2分)2典型的氣體探測(cè)器有哪幾種?各自輸出的最大脈沖幅度有何特點(diǎn),試用公式表示。(5分) 答:典型的氣體探測(cè)器有(1)電離室(得1分)(2)正比計(jì)數(shù)管(得1分)(3)G-M計(jì)數(shù)管(得1分) 脈沖幅度:(1)電離室: (得1分)(2)正比計(jì)數(shù)管: (得0.5分)(3)G-M計(jì)數(shù)管 最大脈沖幅度一樣(得0.5分)3簡(jiǎn)述閃爍體探測(cè)器探測(cè)射線(xiàn)的基本原理。(5分) 答:射線(xiàn)的基本原理通過(guò)光電效應(yīng) 、 康普頓效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)產(chǎn)生次級(jí)電子
2、(得1分),次級(jí)電子是使閃爍體激發(fā)(得1分),閃爍體退激發(fā)出熒光(得1分),熒光光子達(dá)到光電倍增管光陰極通過(guò)光電效應(yīng)產(chǎn)生光電子(得1分),光電子通過(guò)光電倍增管各倍增極倍增最后全部被陽(yáng)極收集到(得1分),這就是爍體探測(cè)器探測(cè)射線(xiàn)的基本原理。 注:按步驟給分。4常用半導(dǎo)體探測(cè)器分為哪幾類(lèi)?半導(dǎo)體探測(cè)器典型優(yōu)點(diǎn)是什么?(5分) 答:常用半導(dǎo)體探測(cè)器分為(1) P-N結(jié)型半導(dǎo)體探測(cè)器(1分)(2) 鋰漂移型半導(dǎo)體探測(cè)器;(1分)(3) 高純鍺半導(dǎo)體探測(cè)器;(1分) 半導(dǎo)體探測(cè)器典型優(yōu)點(diǎn)是(1) 能量分辨率最佳;(1分)(2)射線(xiàn)探測(cè)效率較高,可與閃爍探測(cè)器相比。(1分)5屏蔽射線(xiàn)時(shí)為什么不宜選用重材料
3、?(5分)答:射線(xiàn)與物質(zhì)相互作用損失能量除了要考慮電離損失,還要考慮輻射損失(1分),輻射能量損失率 與物質(zhì)的原子Z2成正比(2分),選用重材料后,輻射能量損失率必然變大,產(chǎn)生更加難以防護(hù)的x射線(xiàn)(2分)。故不宜選用重材料。 注:按步驟給分。6中子按能量可分為哪幾類(lèi)?中子與物質(zhì)發(fā)生相互作用有哪幾種方式。(5分)答案要點(diǎn):第1問(wèn):快中子、熱中子、超熱中子、慢中子 答對(duì)3個(gè)以上得1分 第2問(wèn):中子的彈性和非彈性散射(1分)、中子的輻射俘獲(1分)、中子核反應(yīng)(1分)、中子裂變反應(yīng)(1分) 二、證明題:(共10分)1 (5分)試證明光子只有在原子核或電子附近,即存在第三者的情況下才能發(fā)生電子對(duì)效應(yīng),
4、而在真空中是不可能的。答:答:對(duì)光子能量;(1分)動(dòng)量。(1分) 由能量守恒,有 (1分) 所以(1分)由此得到電子對(duì)的總動(dòng)量(1分) 可見(jiàn),過(guò)剩的動(dòng)量必須由原子核帶走。2(5分)利用誤差傳遞公式 若對(duì)某放射性樣品重復(fù)測(cè)量K次,每次測(cè)量時(shí)間t相同,測(cè)得的計(jì)數(shù)為N1、N2,Nk,試證明計(jì)數(shù)平均值的統(tǒng)計(jì)誤差為:答:三、計(jì)算題。(共 60 分)1. (6分)已知質(zhì)子在某介質(zhì)中的電離損失率為,求相同能量的粒子的電離損失率。答:因?yàn)橘|(zhì)子和粒子都是重帶電粒子,它們與物質(zhì)相互作用時(shí)主要考慮電離損失, 公式: 現(xiàn)有計(jì)算題按步驟給分,沒(méi)有單位或者單位不對(duì)的扣掉1分;計(jì)算結(jié)果不對(duì)的,按步驟扣掉一半的分。2.(6分
5、)能量為1.50MeV的放射源放在鉛容器里,為了安全,必須使容器外的強(qiáng)度減小為原來(lái)的1/4000,試求容器壁至少需多厚。答:3. (6分)畫(huà)出下圖輸出電路的等效電路,并標(biāo)明極性。答:評(píng)分標(biāo)準(zhǔn):1)等效電路圖3分 具體分配,電流源、電容、電阻位置正確各得1分 2)極性 2分,只要正確標(biāo)出和說(shuō)明極性均得3分4. (6分)本底計(jì)數(shù)率nb=15計(jì)數(shù)/min,測(cè)量樣品計(jì)數(shù)率n0=60計(jì)數(shù)/min,試求對(duì)給定的測(cè)量時(shí)間tb+ts來(lái)說(shuō)凈計(jì)數(shù)率精確度最高時(shí)的最優(yōu)比值tb/ts;若凈計(jì)數(shù)率的誤差為5,tb和ts的最小值是多少?答:計(jì)算題按步驟給分,沒(méi)有單位或者單位不對(duì)的扣掉1分;計(jì)算結(jié)果不對(duì)的,按步驟扣掉一半的
6、分。5. (8分)死時(shí)間分別為30和100的探測(cè)器A和B,若B探測(cè)器的死時(shí)間漏計(jì)數(shù)率是A探測(cè)器死時(shí)間漏計(jì)數(shù)率的兩倍,求應(yīng)測(cè)的計(jì)數(shù)率是多少?答:注:計(jì)算題按步驟給分,沒(méi)有單位或者單位不對(duì)的扣掉1分;計(jì)算結(jié)果不對(duì)的,按步驟扣掉一半的分。6.(8分)試就以下條件畫(huà)出硅面壘探測(cè)器的期望微分脈沖幅度譜:(a) 5MeV入射粒子,探測(cè)器的耗盡深度大于粒子的射程。(b) 5MeV粒子,探測(cè)器的耗盡深度為粒子射程之半。(c) 情況同(a),但5MeV粒子已經(jīng)經(jīng)過(guò)一塊吸收體,其厚度等于該物質(zhì)中射程的一半。答:根據(jù)射程方程 (a)因探測(cè)器的耗盡深度大于粒子的射程,粒子把能量全部損失在探測(cè)器中,相應(yīng)能譜峰位能量=5
7、.3Mev (得2分)(b)當(dāng)=5Mev時(shí)先經(jīng)過(guò)R厚度物質(zhì)后,進(jìn)入探測(cè)器,損失在探測(cè)器里面的粒子能量由題意得 (得4分) (c)相應(yīng)的能量為由于探測(cè)效率不變,因此峰面積應(yīng)該相等,只是峰位改變。7. (10分)詳細(xì)分析24Na的2.76Mev g射線(xiàn)在閃爍體中可產(chǎn)生哪些次級(jí)過(guò)程?并計(jì)算該g射線(xiàn)在NaI(T1)單晶譜儀的輸出脈沖幅度譜上,康普頓邊緣與單逃逸峰之間的相對(duì)位置。并畫(huà)出下列兩種情況下該g射線(xiàn)在NaI(T1)單晶譜儀的輸出脈沖幅度譜圖1 NaI(T1)晶體為 小晶體時(shí)2 NaI(T1)晶體為無(wú)限大晶體時(shí)答:解:1)光電效應(yīng),康普頓效應(yīng),電子對(duì)效應(yīng)。(全對(duì)得2分,不全者得1分) 2)單逸峰 E=2.76-0.511=2.249Mev (得1分) 散射光子最小能量= 反沖電子最大能量即康普頓邊緣 (得1分) 3)中等晶體 注:每標(biāo)對(duì)1個(gè)得0.5分4)無(wú)限小晶體,注:每標(biāo)對(duì)1個(gè)得0.5分8. (10分)設(shè)在平行板電離室中粒子的徑跡如圖所示,徑跡長(zhǎng)度為L(zhǎng),假設(shè)沿徑跡各處的單位路程上產(chǎn)生的離子對(duì)數(shù)N相等,且電子的漂移速度W,試求電子的電流脈沖。LD答:分三種情況討論:1)當(dāng)時(shí),即電子全部到達(dá)正極板,電子的電流脈沖;(得2分)2)當(dāng)時(shí),即沒(méi)有
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