可靠性測試 面試試卷_IT認證_資格考試認證_教育專區(qū)

1、深圳市聯(lián)宇華電子有限公司可靠性測試面試試卷時間：_ 姓名：_ 得分：_1、 填空題 每空2分 共40分1、 以下標準號中，哪個是指“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法，試驗A：低溫試驗”（ A ） A、 GB/T2423.1 2001 B、GB/T2423.2 2001 C、GB/T2423.3 2006 D、GB/T2423.4 1993 2、以下標準號中，哪個是指“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法，試驗B：高溫試驗”（ B ） A、 GB/T2423.1 2001 B、GB/T2423.2 2001 C、GB/T2423.3 2006 D、GB/T2423.4 1993 3、以下

2、標準號中，哪個是指“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法，試驗Cab：恒定濕熱試驗”（ C ） A、GB/T2423.1 2001 B、GB/T2423.2 2001 C、GB/T2423.3 2006 D、GB/T2423.4 1993 4、 環(huán)境試驗的目的是：（ B ） A、確定產(chǎn)品（ 元器件、材料、設備、系統(tǒng)）在貯存運輸、使用過程中的可靠性；B、確定產(chǎn)品（ 元器件、材料、設備、系統(tǒng)）在貯存運輸、使用過程中對環(huán)境的適應能力； C、確定產(chǎn)品在規(guī)定環(huán)境的條件下，規(guī)定時間內(nèi)完成規(guī)定功能的概率；D、確定產(chǎn)品對環(huán)境變化的適應能力。5、 任何產(chǎn)品在進行試驗時，都有一個過程，請問產(chǎn)品在試驗時的第一個測

3、試項目（ D ）A、 存儲試驗 B、運行試驗 C、高低溫試驗 D、初始檢測 6、"質(zhì)量"定義中的"特性"指的是（ A ）。 A、固有的 B、賦予的 C、潛在的 D、明示的7、方針目標管理的理論依據(jù)是( D )。 A、行為科學 B、泰羅制 C、系統(tǒng)理論 D、A+C 8、不屬于振動試驗的類型的是：（ D ） A、正弦掃頻振動 B、正弦定頻振動 C、隨機振動 D、定頻隨機振動9、 準確的"檢驗"定義是（ D ）。A、通過測量和試驗判斷結果的符合性 B、記錄檢查、測量、試驗的結果，經(jīng)分析后進行判斷和評價 C、通過檢查、測量進行符合性判斷和評價

4、 D、通過觀察和判斷，適當時結合測量、試驗進行符合性評價 10、電工電子產(chǎn)品試驗方法中不屬于環(huán)境試驗方法（ A ）。 A、用物理和化學方法加速進行試驗的方法 B、暴露自然條件下試驗的方法 C、放臵于使用現(xiàn)場進行試驗的方法 D、放臵于人工模擬環(huán)境試驗的方法 11、 實驗室的質(zhì)量管理體系是否有效、完善反映出實驗室的（ C ）。 A、規(guī)模大小 B、工作范圍 C、質(zhì)量保證能力 D、知名度 12、 檢測記錄應有人簽名，以示負責，正確簽名方式是（ C ）。 A、 可以他人親筆代簽 B、簽名欄姓名可打字 C、需本人親筆簽名或蓋本人印章 D、可以由檢驗部門負責人統(tǒng)一代簽 13、測量結果與被測量真值之間的一致程

5、度，是（ B ）。 A、測量精密度 B、測量準確度 C、測量重復性 D、測量復現(xiàn)性 14、實現(xiàn)單位統(tǒng)一、保障量值準確可靠的活動，被稱為（ A ）。 A、計量 B、測量 C、檢定 D、校準2、 填空題 1、可靠性預計常用的試驗方法為：（ A、B ） A、 元器件計數(shù)法 B、應力分析法 7、 在影響產(chǎn)品的環(huán)境因素中，以下哪些為機械條件（ A、B、C、D ）8、 A、沖擊 B、振動 C、噪音 D、搖擺 8、可靠性試驗與環(huán)境試驗存在很多差異，主要體現(xiàn)在：（ A、B、C、D ） A、試驗目的 B、環(huán)境應力選用準則 C、試驗類型 D、試驗時間 9、低溫試驗對產(chǎn)品的影響主要有：（ A、B、C、D ） A、橡

6、膠等柔韌性材料的彈性降低，并產(chǎn)生破裂； B、金屬和塑料脆性增大，導致破裂或產(chǎn)生裂紋； C、元器件電參數(shù)發(fā)生變化，影響產(chǎn)品的電性能； D、結冰或結霜引起產(chǎn)品結構破壞或受潮。 10、高溫對產(chǎn)品的影響主要有（ A、B、C、D ） A、有機材料老化、變色、起泡、破裂或產(chǎn)生裂紋 B、絕緣材料的絕緣性能降低 C、密封填料、墊圈、封口、軸承和旋轉(zhuǎn)軸等的變形； D、密封件內(nèi)部壓力增高引起破裂。 11、溫度變化對產(chǎn)品的影響主要有（ A、B、C ） A、元器件涂覆層脫落、灌封材料和密封化合物龜裂甚至破碎、密封外殼開裂、填充料泄漏等，使得元器件電性能下降； B、由不同材料構成的產(chǎn)品，溫度變化時產(chǎn)品受熱不均勻，導致產(chǎn)

7、品變形、密封產(chǎn)品開裂、玻璃或玻璃器皿和光學儀器等破碎； C、較大的溫差，使得產(chǎn)品在低溫時表面會產(chǎn)生凝露或結霜，在高溫時蒸發(fā)或融化，如此反復作用的結果導致和加速了產(chǎn)品的腐蝕； D、由于各種材料的膨脹系數(shù)不同，導致材料之間的粘結和遷移。 12、濕熱試驗對產(chǎn)品的影響主要有（ A、B、C、D ） A、 引起材料的機械性能和化學性能的變化，如體積膨脹、機械強度降低； B、使絕緣材料的體積電阻下降，從而產(chǎn)生漏電流； C、空氣中含有少量的酸、堿性雜質(zhì)，或由于產(chǎn)品表面附著如焊渣、汗?jié)n等污染物質(zhì)而引起間接的化學和電化學腐蝕作用； D、產(chǎn)品表面涂敷層剝落、產(chǎn)品標記模糊不清。 13、 沙塵試驗對產(chǎn)品的影響主要有（

8、A、B、C、D ） A、 能使產(chǎn)品的表面腐蝕與磨損 B、能鉆入裂紋、孔隙、軸承、接合處、密封處，從而造成各種有害的影響 C、能使活動部件、配合部件粘接和阻塞；使接觸器、繼電器不工作，形成導電橋、產(chǎn)生短路，從而影響產(chǎn)品的功能和性能； 14、振動試驗對產(chǎn)品的影響主要有（A、B、C、D ） A、產(chǎn)品的結構變形、彎曲、產(chǎn)生裂紋、斷裂和造成部件之間的相互撞擊； B、使運動部件動作不正常、觸點接觸不良、帶電元件相互接觸或短路、繼電器產(chǎn)生誤動作、產(chǎn)生強電噪聲、指示燈閃爍、導線摩擦或斷裂，從而導致工作不正常、不穩(wěn)定，甚至失靈、不能工作； C、緊固件松動、連接件和焊點脫開；15、沖擊試驗對產(chǎn)品的影響主要有（ A、B、C、D ） 產(chǎn)品的結構變形，安裝松動，產(chǎn)生裂紋甚至斷裂；電氣連接松動，接觸不良，造成時斷時通，使產(chǎn)品工作不穩(wěn)定；產(chǎn)品內(nèi)部各單元的相對位臵發(fā)生變化，造成性能下降或超差；產(chǎn)品內(nèi)部的一些大器件脫落，造成產(chǎn)品的功能失效。17、 實驗室建立質(zhì)量管理體系的基本要求（B、D ）。 B、配備檢驗人員和設備 D、編制程序文件和作業(yè)指導書19、 測量儀器控制包