《現(xiàn)代材料分析方法》課程教學(xué)大綱

1、現(xiàn)代材料分析方法課程教學(xué)大綱課程編號(hào)：20911205總學(xué)時(shí)數(shù)：32總學(xué)分?jǐn)?shù)：2課程性質(zhì)：專業(yè)必修課適用專業(yè)：材料化學(xué)一、課程的任務(wù)和基本要求：現(xiàn)代材料分析方法是一門培養(yǎng)學(xué)生對(duì)材料分析能力的技術(shù)基礎(chǔ)課，本課程主要講授X射線晶體結(jié)構(gòu)、相、點(diǎn)陣常數(shù)等分析的原理和方法以及電子顯微鏡在材料分析研究工作中的應(yīng)用。其主要任務(wù)是培養(yǎng)學(xué)生：樹立正確的材料分析思想，理論聯(lián)系實(shí)際，具有創(chuàng)新精神；掌握X射線分析和電子顯微分析的基本理論，學(xué)習(xí)有關(guān)基本知識(shí)和基本技能，了解材料分析的一般規(guī)律，逐步提高進(jìn)行科學(xué)研究的能力；了解有關(guān)材料分析方面的新理論、新方法及發(fā)展趨勢(shì)；現(xiàn)代材料分析方法是高等工科院校中材料類專業(yè)的一門主干課

2、程，在教學(xué)過程中要綜合運(yùn)用所學(xué)到的有關(guān)材料設(shè)備方面的知識(shí)與技能，進(jìn)行材料工程技術(shù)人員所需的基本訓(xùn)練，為學(xué)生進(jìn)一步學(xué)習(xí)有關(guān)專業(yè)課程和日后從事材料研究工作打下基礎(chǔ)，因此在材料類專業(yè)的教學(xué)計(jì)劃中占有重要地位和作用。二、基本內(nèi)容和要求：第1章 X射線的性質(zhì)（4學(xué)時(shí)）教學(xué)內(nèi)容：1.1 引言1.2 X射線的本質(zhì)1.3 X射線的產(chǎn)生及X射線管1.4 X射線譜1.5 X射線與物質(zhì)的相互作用基本要求：了解X射線本質(zhì)及X射線的產(chǎn)生，掌握特征X射線譜的性質(zhì)。第2章 X射線衍射方向（4學(xué)時(shí)）教學(xué)內(nèi)容：2.1 引言2.2 晶體幾何學(xué)基礎(chǔ)2.3 衍射的概念與布拉格方程2.4 X射線衍射方向2.5 X射線衍射方法基本要求：

3、了解晶體幾何學(xué)基礎(chǔ)，掌握布拉格方程。 第3章 X射線衍射強(qiáng)度（5學(xué)時(shí)）教學(xué)內(nèi)容：3.1 引言3.2 結(jié)構(gòu)因子3.3 多晶體的衍射強(qiáng)度3.4 積分強(qiáng)度計(jì)算舉例基本要求： 掌握多晶衍射強(qiáng)度及積分強(qiáng)度計(jì)算。第4章 多晶體分析方法（4學(xué)時(shí)）教學(xué)內(nèi)容：4.1 引言4.2 粉末照相法4.3 X射線衍射儀4.4 衍射儀的測(cè)量方法與實(shí)驗(yàn)參數(shù)基本要求：了解粉末照相法，掌握衍射儀測(cè)量方法。第5章 X射線物相分析（3學(xué)時(shí)）教學(xué)內(nèi)容：5.1 引言5.2 定性分析的原理和分析思路5.3 粉末衍射卡片的組成5.4 PDF卡片的索引5.5 物相定性分析方法5.6 物相定量分析基本要求：掌握定性分析原理，了解定量分析方法。第

4、10 章 透射電子顯微鏡（3學(xué)時(shí)）教學(xué)內(nèi)容：10.1 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理10.2 主要部件的結(jié)構(gòu)與工作原理10.3 透射電子顯微鏡分辨率和放大倍數(shù)的測(cè)定基本要求： 了解透射電子顯微鏡的工作原理，掌握分辨本領(lǐng)和放大倍數(shù)的測(cè)定。第14章 掃描電子顯微鏡（5學(xué)時(shí)）教學(xué)內(nèi)容：14.1 電子束與固體樣品作用時(shí)產(chǎn)生的信號(hào)14.2 掃描電子顯微鏡構(gòu)造和工作原理14.3 掃描電子顯微鏡構(gòu)造的主要性能14.4 表面形貌襯度原理及其應(yīng)用14.5 原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用基本要求：了解顯微鏡的構(gòu)造及工作原理，掌握各種物理信號(hào)的應(yīng)用。第15章 電子探針顯微分析（4學(xué)時(shí)）教學(xué)內(nèi)容：15.1 電子探針儀的結(jié)構(gòu)

5、及工作原理15.2 電子探針儀的分析方法及應(yīng)用基本要求：了解電子探針顯微分析方法的原理，掌握電子探針顯微分析的應(yīng)用。三、實(shí)踐環(huán)節(jié)和要求：無四、教學(xué)時(shí)數(shù)分配：理論：32 實(shí)驗(yàn)： 上機(jī)： 其它：教學(xué)內(nèi)容學(xué)時(shí)分配教學(xué)內(nèi)容學(xué)時(shí)分配第1章 X射線的性質(zhì)4學(xué)時(shí)第10 章 透射電子顯微鏡3學(xué)時(shí)第2章 X射線衍射方向4學(xué)時(shí)第14章 掃描電子顯微鏡5學(xué)時(shí)第3章 X射線衍射強(qiáng)度5學(xué)時(shí)第15章 電子探針顯微分析4學(xué)時(shí)第4章 多晶體分析方法4學(xué)時(shí)第5章 X射線物相分析3學(xué)時(shí)合計(jì)32 學(xué)時(shí)五、其它項(xiàng)目（含課外學(xué)時(shí)內(nèi)容）：無六、有關(guān)說明：1、教學(xué)和考核方式：本課程屬考查課，考試方式為開卷。2、習(xí)題：課后習(xí)題3、能力培養(yǎng)要求：本課程旨在培養(yǎng)學(xué)生了解有關(guān)材料分析和測(cè)試方面的基本方法，掌握材料分析和測(cè)試的基礎(chǔ)理論和基本知識(shí)，從而為以后的學(xué)習(xí)和工作打下必要的材料分析及測(cè)試方面的基礎(chǔ)。4、與其它課程和教學(xué)環(huán)節(jié)的聯(lián)系：先修課程和教學(xué)環(huán)節(jié)：儀器分析、物理化學(xué)、大學(xué)物理后續(xù)課程和教學(xué)環(huán)節(jié)： 平行開設(shè)課程和教學(xué)環(huán)節(jié)： 5、教材和主要參考書目：（1）教材：材料分析測(cè)試技術(shù) 周玉、武高輝編著 哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社 2007年