數(shù)字電子技術(shù)實驗一 集成邏輯門電路的測試.doc

實驗一：集成邏輯門電路的測試一、實驗?zāi)康模? 學(xué)會檢測常用集成門電路的好壞的簡易方法；2 掌握TTL與非門邏輯功能和主要參數(shù)的測試方法；3 掌握TTL門電路與CMOS門電路的主要區(qū)別。二、實驗儀器與器件：4 元器件：74LS20、74LS00(TTL門電路);4011(CMOS門電路)；電阻、電位器若干；5 穩(wěn)壓電源、萬用表、數(shù)字邏輯箱。三、實驗原理：6 集成邏輯門電路的管腳排列：（1）74LS20（4輸入端雙與非門）： VCC 2A 2B NC 2C 2D 2Y14 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 7 1A 1B NC 1C 1D 1Y GND VCC：表示電源正極、GND：表示電源負(fù)極、NC：表示空腳。（2） 74LS00（2輸入端4與非門）： VCC 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y14 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 7 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND（3） 4011（2輸入端4與非門）： 14 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 7VCC 4A 4B 4Y 3Y 3B 3A 1A 1B 1Y 2Y 2B 2A GND集成門電路管腳的識別方法：將集成門電路的文字標(biāo)注正對著自己，左下角為1，然后逆時針方向數(shù)管腳。A） TTL與非門的主要參數(shù)有：導(dǎo)通電源電流ICCL、低電平輸入電流IIL、高電平輸入電流IIH、輸出高電平VOH、輸出低電平VOL、閾值電壓VTH等。注意：不同型號的集成門電路其測試條件及規(guī)范值是不同的。B）檢測集成門電路的好壞的簡易方法：1）在未加電源時，利用萬用表的電阻檔檢查各管腳之間是否有短路現(xiàn)象；2）加電源：利用萬用表的電壓檔首先檢查集成電路上是否有電，然后再利用門電路的邏輯功能檢查電路。例如：“與非”門邏輯功能是：“有低出高，全高出低”。對于TTL與非門：若將全部輸入端懸空測得輸出電壓為0.1V左右，將任一輸入端接地測得輸出電壓為3V左右，則說明該門是好的。思考：COMS與非門如何測試。四、實驗內(nèi)容和步驟：（1） 將74LS20加上+5V電壓，檢查集成門電路的好壞。（2）TTL與非門的主要參數(shù)測試：導(dǎo)通電源電流ICCL= 。測試條件：VCC=5V，輸入端懸空，輸出空載，如圖（1）。 圖（1） 圖（2） 低電平輸入電流IIL= 。測試條件：VCC=5V，被測輸入端通過電流表接地，其余輸入端懸空，輸出空載，如圖（2），依次測量每個輸入端。高電平輸入電流IIH= 。測試條件：VCC=5V，被測輸入端通過電流表接VCC，其余輸入端接地，輸出空載，如圖（3），每個輸入端都測一下。注意：在測試中萬用表應(yīng)串入電路中，檔位選擇應(yīng)由10mA檔逐漸減小。 圖（3） 圖（4） 比較TTL門電路和CMOS門電路的性能：在下列情況下，用萬用表電壓檔測量圖（4）Vi2端得到的電壓填入表（2）：表（2）：在不同的Vi1下74LS004011Vi1接高電平（3V）Vi1接低電平（0.4V）Vi1經(jīng)100電阻接地Vi1經(jīng)10k電阻接地思考：請回答為何結(jié)果不同？ 五、實驗報告要求：（2） 記錄本次實驗中所得到的各種數(shù)據(jù)。根據(jù)測試數(shù)據(jù)判斷所測