核電廠無損檢測缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)評(píng)價(jià)方法 第1部分：射線

核電廠無損檢測缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)評(píng)價(jià)方法第1部分：射線范圍本文件規(guī)定了適用于核電廠無損檢測（射線）缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)的評(píng)價(jià)方法。本文件規(guī)定了核電廠射線檢測缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)評(píng)價(jià)方法的人員要求、系統(tǒng)基本要求、評(píng)價(jià)流程和評(píng)價(jià)方法。本文件適用于核電廠金屬熔化焊焊接接頭射線底片缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)的應(yīng)用評(píng)價(jià)，適用的射線檢測圖像來源為通過X或伽馬射線檢測獲得的物理底片經(jīng)底片數(shù)字化設(shè)備掃描后的圖像。通過X射線數(shù)字成像（DR）檢測直接獲取的圖像和通過X射線計(jì)算機(jī)輔助成像（CR）檢測拍攝并掃描的圖像可參照使用。規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T25000.51系統(tǒng)與軟件工程系統(tǒng)與軟件質(zhì)量要求和評(píng)價(jià)（SQuaRE）第51部分：就緒可用軟件產(chǎn)品（RUSP）的質(zhì)量要求和測試細(xì)則GB/T28452信息安全技術(shù)應(yīng)用軟件系統(tǒng)通用安全技術(shù)要求NB/T2709核電廠射線照相底片數(shù)字化技術(shù)規(guī)范NB/T47013承壓設(shè)備無損檢測第2部分：射線檢測術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)（ADR）automaticdefectrecognition基于計(jì)算機(jī)視覺算法，對(duì)無損檢測數(shù)字圖像缺陷自動(dòng)識(shí)別的計(jì)算機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)，以下簡稱系統(tǒng)。3.2輔助評(píng)片（AssistDR）assisteddefectrecognition系統(tǒng)輔助評(píng)片人員識(shí)別缺陷及評(píng)估焊接接頭是否合格的過程，包括缺陷定性、定量、定位及評(píng)級(jí)。3.3自動(dòng)評(píng)片（AutoDR）automateddefectrecognition系統(tǒng)自主進(jìn)行缺陷識(shí)別及評(píng)估焊接接頭是否合格的過程，包括缺陷定性、定量、定位及評(píng)級(jí)。3.4標(biāo)準(zhǔn)底片standardfilm用于評(píng)價(jià)及測試缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)性能的數(shù)字底片。3.5重點(diǎn)關(guān)注缺陷keydefects評(píng)價(jià)缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)識(shí)別性能的危害性缺陷，指裂紋、未熔合及未焊透。3.6一般關(guān)注缺陷generaldefects除重點(diǎn)關(guān)注缺陷外，其余的缺陷類型。3.7缺陷標(biāo)注defectlabel對(duì)數(shù)字底片上的缺陷進(jìn)行缺陷性質(zhì)（cls）和缺陷位置（bbox）的標(biāo)記，生成標(biāo)注文件。3.8標(biāo)注樣本（Lable）labelsamples對(duì)標(biāo)準(zhǔn)底片進(jìn)行缺陷標(biāo)注生成的標(biāo)注文件，包含缺陷性質(zhì)（cls_L）及缺陷位置（bbox_L）。3.9預(yù)測樣本（Prediction）predictionsamples由缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)預(yù)測的結(jié)果文件，包含缺陷性質(zhì)（cls_P）及缺陷位置（bbox_P）。3.10訓(xùn)練集trainset缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)中使用人工智能算法訓(xùn)練模型的數(shù)字底片集合及對(duì)應(yīng)的標(biāo)注文件。3.11測試集testset用于測試缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)性能的數(shù)字底片集合。3.12缺陷位置交集defectlocationintersection對(duì)于同一張底片上，預(yù)測樣本缺陷位置（bbox_P）與標(biāo)注樣本缺陷位置（bbox_L）相交。3.13缺陷定位精度（La）locationaccuracy預(yù)測樣本與標(biāo)注樣本缺陷位置中心距離的偏差。La=式中:xP、yPxL、y3.14正檢（TD）truedetection定性并定位正確的缺陷。3.15誤檢(FD)falsedetection定性或定位錯(cuò)誤的缺陷。3.16漏檢(MD)missdetection未識(shí)別到的缺陷。3.17缺陷定量精度（Da）dimensionaccuracy對(duì)于正檢缺陷，預(yù)測樣本的缺陷長徑占標(biāo)注樣本的缺陷長徑的比例。

Da=式中:LP——預(yù)測樣本的缺陷長徑LL3.18不合格底片檢出（ND）nogooddetection被正確檢出的超過相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)收等級(jí)的底片。3.19合格底片檢出（GD）gooddetection被正確檢出的未超過相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)收等級(jí)的底片。3.20誤判（FJ）falsejudgment將未超標(biāo)底片判斷為超標(biāo)底片。3.21漏判（MJ）missjudgment將超標(biāo)底片判斷為未超標(biāo)底片。人員要求4.1測試集標(biāo)注人員應(yīng)按《民用核安全設(shè)備無損檢驗(yàn)人員資格管理規(guī)定》規(guī)定取得RTⅡ級(jí)及以上證書或TSGZ8001規(guī)定取得RTⅡ級(jí)及以上證書。4.2系統(tǒng)評(píng)價(jià)人員應(yīng)按《民用核安全設(shè)備無損檢驗(yàn)人員資格管理規(guī)定》規(guī)定取得RTⅢ級(jí)證書TSGZ8001規(guī)定取得RTⅢ級(jí)證書。系統(tǒng)要求5.1識(shí)別效率以系統(tǒng)測試500張數(shù)字底片進(jìn)行缺陷自動(dòng)識(shí)別所需要的平均時(shí)間作為系統(tǒng)識(shí)別效率的計(jì)算指標(biāo)。5.2功能要求5.2.1系統(tǒng)應(yīng)具備打開DICONDE格式數(shù)字底片及底片格式轉(zhuǎn)換的功能。5.2.2系統(tǒng)應(yīng)具備焊縫區(qū)自動(dòng)識(shí)別功能，可以自動(dòng)識(shí)別核電廠射線檢測常見接頭類型，包含對(duì)接焊縫、小徑管焊縫及插套焊縫。5.2.3系統(tǒng)應(yīng)具備缺陷自動(dòng)識(shí)別功能，包括自動(dòng)識(shí)別有無缺陷、缺陷類型、缺陷位置、缺陷尺寸等功能。5.2.4系統(tǒng)應(yīng)具備按照核電廠相關(guān)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)對(duì)缺陷自動(dòng)識(shí)別結(jié)果進(jìn)行質(zhì)量評(píng)級(jí)的功能，并自動(dòng)判斷底片是否合格。5.2.5系統(tǒng)應(yīng)具備自動(dòng)識(shí)別結(jié)果人工復(fù)核功能，包括人工復(fù)核評(píng)級(jí)結(jié)果、缺陷增加、刪除、修改等功能，并可將人工復(fù)核后的結(jié)果保存。5.2.6系統(tǒng)應(yīng)具備圖像降噪、平移、放大、縮小、旋轉(zhuǎn)、鏡像、適應(yīng)屏幕尺寸、1:1尺寸、還原、對(duì)比度調(diào)整、亮度調(diào)整、窗位窗寬調(diào)整、浮雕、銳化、正反片轉(zhuǎn)換、雙片對(duì)比等圖像操作功能。5.2.7系統(tǒng)應(yīng)具備雙片疊加功能。5.2.8系統(tǒng)應(yīng)具備底片黑度、靈敏度、缺陷尺寸等測量功能。5.3運(yùn)行環(huán)境5.3.1系統(tǒng)部署方式應(yīng)支持云端部署或本地部署。5.3.2系統(tǒng)硬件是自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)軟件安裝、運(yùn)行的計(jì)算硬件設(shè)備,包括CPU模塊、內(nèi)存模塊、GPU推理模塊、存儲(chǔ)模塊及顯示模塊。5.3.3CPU和內(nèi)存模塊應(yīng)根據(jù)系統(tǒng)處理的任務(wù)規(guī)模與復(fù)雜程度、系統(tǒng)單位時(shí)間訪問量以及系統(tǒng)對(duì)響應(yīng)時(shí)間等要求進(jìn)行配置。5.3.4GPU推理模塊應(yīng)滿足5.1.2識(shí)別效率要求。5.3.5存儲(chǔ)模塊的選擇應(yīng)根據(jù)系統(tǒng)內(nèi)文件和數(shù)據(jù)量、對(duì)系統(tǒng)擴(kuò)展性的要求、對(duì)數(shù)據(jù)讀寫速度的要求等因素進(jìn)行配置。5.3.6顯示器模塊應(yīng)結(jié)合系統(tǒng)對(duì)圖像顯示及處理的精度要求進(jìn)行配置、并符合NB/T2709《核電廠射線照相底片數(shù)字化技術(shù)規(guī)范》的要求。5.4系統(tǒng)可靠性系統(tǒng)軟件質(zhì)量應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T25000.51-2016《系統(tǒng)與軟件工程系統(tǒng)與軟件質(zhì)量要求和評(píng)價(jià)（SQuaRE）第51部分：就緒可用軟件產(chǎn)品（RUSP）的質(zhì)量要求和測試細(xì)則》中的相關(guān)要求。5.5系統(tǒng)安全性系統(tǒng)安全應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T28452-2012《信息安全技術(shù)應(yīng)用軟件系統(tǒng)通用安全技術(shù)要求》中的相關(guān)要求。5.6系統(tǒng)升級(jí)缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)升級(jí)后按照本文件重新評(píng)價(jià)，評(píng)價(jià)結(jié)果自動(dòng)更新。評(píng)價(jià)流程本章規(guī)定了核電廠射線檢測缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)性能評(píng)價(jià)的流程步驟，包括標(biāo)準(zhǔn)測試集、性能測試、評(píng)價(jià)指標(biāo)及評(píng)價(jià)結(jié)果四個(gè)步驟，如圖1所示。評(píng)價(jià)流程標(biāo)準(zhǔn)測試集標(biāo)準(zhǔn)測試集用于測試缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)性能,本章規(guī)定了標(biāo)準(zhǔn)底片的質(zhì)量要求、測試集類型、測試集構(gòu)建及測試集標(biāo)注要求。7.1標(biāo)準(zhǔn)底片質(zhì)量7.1.1底片掃描質(zhì)量按照NB/T2709《核電廠射線照相底片數(shù)字化技術(shù)規(guī)范》要求執(zhí)行。7.2測試集分類7.2.1缺陷測試集7.2.1.1缺陷測試集用于測試系統(tǒng)的缺陷識(shí)別能力，包括缺陷的定性、定位及定量。7.2.1.2缺陷測試集中的每張底片都應(yīng)存在缺陷，缺陷底片總數(shù)不少于500張，其中小徑管焊接接頭底片占比約20%，插套焊縫底片占比約10%。7.2.1.3缺陷測試集中應(yīng)包含裂紋、未熔合、未焊透、圓形缺陷、條形缺陷、內(nèi)凹、咬邊等類型缺陷。7.2.1.4缺陷測試集中裂紋、未熔合、未焊透、內(nèi)凹、咬邊每類缺陷的數(shù)量基本相當(dāng)且每類缺陷數(shù)量不少于50個(gè)，圓形缺陷和條形缺陷的缺陷數(shù)量不受限制。7.2.2評(píng)級(jí)測試集7.2.2.1評(píng)級(jí)測試集用于測試系統(tǒng)的缺陷定級(jí)能力，判斷缺陷是否合格。7.2.2.2評(píng)級(jí)測試集由缺陷測試集和合格底片測試集組成，缺陷測試集使用7.2.1中規(guī)定的測試集，合格底片測試集由按照核電廠相關(guān)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)后為合格的底片組成。7.2.2.3合格底片測試集中應(yīng)包含圓形缺陷和無任何缺陷底片。7.2.2.4合格底片測試集的數(shù)量與缺陷測試集的數(shù)量一致，其中小徑管焊接接頭底片占比約20%。7.3測試集構(gòu)建7.3.1測試集圖像與訓(xùn)練集圖像在焊縫形式、焊接方法、射線源、射線檢測透照布置、圖像掃描參數(shù)保持一致，確保測試集數(shù)據(jù)與訓(xùn)練集數(shù)據(jù)一致性。7.3.2測試集與訓(xùn)練集的互斥性：測試數(shù)據(jù)集中不包含訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的數(shù)據(jù)。7.3.3測試集的隱私性，測試集需考慮企業(yè)隱私泄露，采取數(shù)據(jù)脫敏處理。7.4測試集標(biāo)注7.4.1缺陷標(biāo)注樣本7.4.1.1標(biāo)注人員對(duì)缺陷測試集中的標(biāo)準(zhǔn)底片依次進(jìn)行缺陷標(biāo)注，生成缺陷標(biāo)注樣本(Label)。缺陷標(biāo)注樣本包含缺陷性質(zhì)和缺陷位置信息，缺陷標(biāo)注樣本為用于測試系統(tǒng)缺陷檢出精度的對(duì)比樣本。7.4.1.2缺陷標(biāo)注樣本加工流程如圖2所示，由A、B、C三名標(biāo)注人員分別獨(dú)立標(biāo)注，對(duì)比三人獨(dú)立標(biāo)注的結(jié)果，當(dāng)三人標(biāo)注缺陷性質(zhì)一致時(shí)，標(biāo)注樣本的缺陷位置為bbox_A、bbox_B、bbox_C的交集（bbox_A∩bbox_B∩bbox_C）。當(dāng)三人標(biāo)注缺陷性質(zhì)不一致時(shí)，該缺陷不計(jì)入標(biāo)注樣本。缺陷標(biāo)注樣本加工流程7.4.2評(píng)級(jí)標(biāo)注樣本7.4.2.1標(biāo)注人員對(duì)評(píng)級(jí)測試集中的缺陷測試集和合格底片測試集依次進(jìn)行定級(jí)（底片評(píng)級(jí)按照核電廠相關(guān)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行），生成評(píng)級(jí)標(biāo)注樣本。評(píng)級(jí)標(biāo)注樣本包含底片級(jí)別與是否合格信息，評(píng)級(jí)標(biāo)注樣本為用于測試系統(tǒng)評(píng)級(jí)精度的對(duì)比樣本。7.4.2.2評(píng)級(jí)標(biāo)注樣本加工流程如圖3所示，評(píng)級(jí)測試集由A、B、C三名標(biāo)注人員分別獨(dú)立評(píng)級(jí)，對(duì)比三人獨(dú)立評(píng)級(jí)的結(jié)果，僅當(dāng)三人評(píng)級(jí)結(jié)果一致時(shí)，納入評(píng)級(jí)標(biāo)注樣本，否則舍棄該底片。評(píng)級(jí)標(biāo)注樣本加工流程性能測試自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)的性能測試過程包括生成預(yù)測樣本、樣本偏離程度及生成混淆矩陣三部分。8.1生成預(yù)測樣本8.1.1將缺陷測試集中的數(shù)字底片輸入待測系統(tǒng)進(jìn)行缺陷檢測，自動(dòng)生成缺陷預(yù)測樣本（Prediction），缺陷預(yù)測樣本中必須包含缺陷性質(zhì)（cls）和缺陷位置(bbox)信息。8.1.2將評(píng)級(jí)測試集中的數(shù)字底片輸入待測系統(tǒng)進(jìn)行評(píng)級(jí)檢測（底片評(píng)級(jí)按照核電廠相關(guān)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行），自動(dòng)生成評(píng)級(jí)預(yù)測樣本，評(píng)級(jí)預(yù)測樣本中必須包含底片評(píng)定級(jí)別與是否合格信息。8.2樣本偏離程度將標(biāo)注樣本（Label）與預(yù)測樣本(Prediction）進(jìn)行缺陷定性定位對(duì)比，表征兩個(gè)樣本的缺陷偏離程度有以下三種情況：缺陷正檢（TD）、缺陷誤檢(FD)和缺陷漏檢(MD）。（a）缺陷位置相交：bbox_P∩bbox_L＞0的前提下，當(dāng)同時(shí)滿足以下條件時(shí)，判斷缺陷正檢。缺陷性質(zhì)一致：cls_P=cls_L;缺陷定位正確：圓形缺陷La≤1mm，其余缺陷La≤5mm，其余缺陷包括裂紋、未熔合、未焊透、咬邊、內(nèi)凹及條形缺陷。(b)缺陷位置相交：bbox_P∩bbox_L＞0的前提下，滿足以下條件之一時(shí)，判斷缺陷誤檢。缺陷性質(zhì)不一致：cls_P≠cls_L;缺陷性質(zhì)一致：cls_P＝cls_L且缺陷定位錯(cuò)誤：圓形缺陷La＞1mm，其余缺陷La＞5mm，其余缺陷包括裂紋、未熔合、未焊透、咬邊、內(nèi)凹及條形缺陷。(c）缺陷位置不相交時(shí)：bbox_P∩bbox_L=0，判斷缺陷漏檢。自動(dòng)計(jì)算標(biāo)注樣本與預(yù)測樣本缺陷偏離程度的流程如圖4所示。樣本偏離程度計(jì)算流程8.3生成混淆矩陣8.3.1統(tǒng)計(jì)缺陷測試集中每類缺陷的正檢（TD）、誤檢（FD）和漏檢（MD）數(shù)量并生成缺陷檢測混淆矩陣，如圖5所示。缺陷檢測混淆矩陣中，使用TDn、FDn和MDn分別表示每一類缺陷的正檢數(shù)量、誤檢數(shù)量和漏檢數(shù)量，n為缺陷序號(hào)。缺陷檢測混淆矩陣8.3.2統(tǒng)計(jì)評(píng)級(jí)測試集中合格底片檢出（GD）、不合格底片檢出（ND）、漏判（MJ）和誤判（FJ）數(shù)量并生成評(píng)級(jí)檢測混淆矩陣，如圖6所示。圖7評(píng)級(jí)檢測混淆矩陣評(píng)價(jià)指標(biāo)性能測試的評(píng)價(jià)指標(biāo)包括缺陷檢出精度和質(zhì)量評(píng)級(jí)精度。9.1缺陷檢出精度缺陷檢出精度表征系統(tǒng)對(duì)單類別缺陷的檢出能力和所有缺陷的綜合檢出能力。9.1.1缺陷正檢率按公式（1）計(jì)算。TD式中:TDRn——序號(hào)為n的n——缺陷序號(hào)（圓形缺陷1、條形缺陷2、裂紋3、未熔合4、未焊透5、內(nèi)凹6、咬邊7）。9.1.2缺陷誤檢率按公式（2）計(jì)算。FDRn=式中:FDRn——序號(hào)為n的缺陷誤n——缺陷序號(hào)（圓形缺陷1、條形缺陷2、裂紋3、未熔合4、未焊透5、內(nèi)凹6、咬邊7）。9.1.3缺陷漏檢率按公式（3）計(jì)算。MDRn=式中:MDRn——序號(hào)為n的缺陷漏檢n——缺陷序號(hào)（圓形缺陷1、條形缺陷2、裂紋3、未熔合4、未焊透5、內(nèi)凹6、咬邊7）。9.1.4重點(diǎn)關(guān)注缺陷檢出率按公式（4）計(jì)算。KDR=式中:KDR——重點(diǎn)關(guān)注缺陷檢出率n——缺陷序號(hào)（圓形缺陷1、條形缺陷2、裂紋3、未熔合4、未焊透5、內(nèi)凹6、咬邊7）。9.1.5綜合檢出率按公式（5）計(jì)算。WD式中:WDR——綜合檢出率n——缺陷序號(hào)（圓形缺陷1、條形缺陷2、裂紋3、未熔合4、未焊透5、內(nèi)凹6、咬邊7）。9.1.6綜合正檢率按公式（6）計(jì)算。T式中:TDR——綜合正檢率n——缺陷序號(hào)（圓形缺陷1、條形缺陷2、裂紋3、未熔合4、未焊透5、內(nèi)凹6、咬邊7）。9.1.7對(duì)于所有的正檢缺陷，平均定量精度按公式（7）計(jì)算。Da式中:Da——平均定量精度；TD——缺陷正檢數(shù)；n——缺陷序號(hào)（圓形缺陷1、條形缺陷2、裂紋3、未熔合4、未焊透5、內(nèi)凹6、咬邊7）。9.2質(zhì)量評(píng)級(jí)精度質(zhì)量評(píng)級(jí)精度表征系統(tǒng)對(duì)焊縫底片質(zhì)量評(píng)級(jí)的綜合能力，用于判斷系統(tǒng)是否會(huì)發(fā)生漏判及誤判。9.2.1合格底片檢出率按公式（8）計(jì)算。GD式中:GDR——合格底片檢出率GD——標(biāo)注樣本為合格底片，預(yù)測樣本判斷為合格底片的數(shù)量；FJ——標(biāo)注樣本為合格底片，預(yù)測樣本判斷為不合格底片的數(shù)量。9.2.2不合格底片檢出率按公式（9）計(jì)算。ND式中:NDR——不合格底片檢出率ND——標(biāo)注樣本為不合格底片，預(yù)測樣本判斷為不合格底片的數(shù)量；MJ——標(biāo)注樣本為不合格底片，預(yù)測樣本判斷為為合格底片的數(shù)量。評(píng)價(jià)結(jié)果10.1系統(tǒng)分級(jí)按照表1將缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)分為L1~L4四個(gè)等級(jí)，其中L1、L2、L3為輔助評(píng)片系統(tǒng)，L4為自動(dòng)評(píng)片系統(tǒng)。表1系統(tǒng)分級(jí)表精度指標(biāo)系統(tǒng)級(jí)別L1L2L3L4重點(diǎn)關(guān)注缺陷檢出率(KDR)≥95%≥98%100%100%綜合檢出率(WDR)≥92%≥95%≥98%100%綜合正檢率(TDR)≥85%≥92%≥96%≥98%平均定量精度（Da）85%90%92%95%不合格底片檢出率（NDR）≥90%≥95%100%100%合格底片檢出率（GDR）≥85%≥90%≥95%100%10.2風(fēng)險(xiǎn)分析對(duì)缺陷自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)分析，分析導(dǎo)致系統(tǒng)預(yù)測缺陷錯(cuò)誤的原因和潛在的使用風(fēng)險(xiǎn)。分析數(shù)據(jù)包括評(píng)價(jià)指標(biāo)計(jì)算結(jié)果和圖像。10.2.1缺陷漏判風(fēng)險(xiǎn)漏判風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別評(píng)定按照表2進(jìn)行，其中風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別由高到低依次為Ⅰ類、Ⅱ類風(fēng)險(xiǎn)。表2漏判風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別評(píng)定表風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別系統(tǒng)級(jí)別精度指標(biāo)潛在漏檢風(fēng)險(xiǎn)I類風(fēng)險(xiǎn)L1重點(diǎn)關(guān)注缺陷檢出率(KDR)≥95%綜合檢出率(WDR)≥92%不合格底片檢出率（NDR）≥90%不合格的底片漏判。L2重點(diǎn)關(guān)注缺陷檢出率(KDR)≥98%綜合檢出率(WDR)≥95%不合格底片檢出率（NDR）≥95%Ⅱ類風(fēng)險(xiǎn)L3重點(diǎn)關(guān)注缺陷檢出率(KDR)=100%綜合檢出率(WDR)≥98%不合格底片檢出率（NDR）=100%存在缺陷漏檢，但不會(huì)發(fā)生不合格底片漏判。10.2.2缺陷誤判風(fēng)險(xiǎn)誤判風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別評(píng)定按照表3進(jìn)行，其中風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別由高到低依次為Ⅰ類、Ⅱ類風(fēng)險(xiǎn)。表3誤判風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別評(píng)定表風(fēng)險(xiǎn)級(jí)別系統(tǒng)級(jí)別精度指標(biāo)潛在誤判風(fēng)