2025年計(jì)算機(jī)三級(jí)軟件測(cè)試的備考技巧及試題及答案

2025年計(jì)算機(jī)三級(jí)軟件測(cè)試的備考技巧及試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試的基本目標(biāo)是：

A.減少軟件的錯(cuò)誤數(shù)量

B.驗(yàn)證軟件符合需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)

C.發(fā)現(xiàn)并消除軟件中的缺陷

D.確保軟件能夠正常運(yùn)行

2.以下哪個(gè)不是軟件測(cè)試的生命周期模型：

A.瀑布模型

B.V模型

C.W模型

D.RUP模型

3.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪個(gè)階段不包含在黑盒測(cè)試中：

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試用例設(shè)計(jì)

C.測(cè)試執(zhí)行

D.測(cè)試結(jié)果分析

4.下列關(guān)于測(cè)試用例的說(shuō)法，正確的是：

A.測(cè)試用例必須覆蓋所有的需求

B.測(cè)試用例只需要包含一個(gè)輸入和一個(gè)預(yù)期輸出

C.測(cè)試用例應(yīng)該盡量簡(jiǎn)潔明了

D.測(cè)試用例不需要考慮異常情況

5.在軟件測(cè)試中，以下哪種缺陷最嚴(yán)重：

A.功能缺陷

B.性能缺陷

C.可用性缺陷

D.安全性缺陷

6.以下哪種測(cè)試屬于靜態(tài)測(cè)試：

A.單元測(cè)試

B.系統(tǒng)測(cè)試

C.檢查

D.回歸測(cè)試

7.以下哪個(gè)不屬于軟件測(cè)試的驗(yàn)證方法：

A.符合性驗(yàn)證

B.可靠性驗(yàn)證

C.兼容性驗(yàn)證

D.性能驗(yàn)證

8.下列哪個(gè)是軟件測(cè)試的動(dòng)態(tài)測(cè)試：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.性能測(cè)試

9.以下哪種測(cè)試屬于非功能測(cè)試：

A.性能測(cè)試

B.安全性測(cè)試

C.兼容性測(cè)試

D.界面測(cè)試

10.以下哪個(gè)不是軟件測(cè)試的測(cè)試方法：

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.灰盒測(cè)試

D.軟件測(cè)試

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共5題）

1.軟件測(cè)試的目的是：

A.驗(yàn)證軟件符合需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)

B.發(fā)現(xiàn)并消除軟件中的缺陷

C.提高軟件質(zhì)量

D.確保軟件能夠正常運(yùn)行

2.軟件測(cè)試的類(lèi)型包括：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.性能測(cè)試

3.軟件測(cè)試的生命周期包括：

A.需求分析

B.設(shè)計(jì)

C.編碼

D.測(cè)試

4.軟件測(cè)試的驗(yàn)證方法包括：

A.符合性驗(yàn)證

B.可靠性驗(yàn)證

C.兼容性驗(yàn)證

D.性能驗(yàn)證

5.軟件測(cè)試的測(cè)試方法包括：

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.灰盒測(cè)試

D.軟件測(cè)試

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的基本原則包括：

A.預(yù)防性原則

B.全面性原則

C.實(shí)用性原則

D.可追溯性原則

E.可重復(fù)性原則

2.以下哪些是軟件測(cè)試的類(lèi)型：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.性能測(cè)試

3.軟件測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)該考慮的因素包括：

A.輸入數(shù)據(jù)的合理性

B.輸出結(jié)果的準(zhǔn)確性

C.測(cè)試用例的覆蓋度

D.測(cè)試用例的執(zhí)行效率

E.測(cè)試用例的可維護(hù)性

4.以下哪些是軟件測(cè)試的工具：

A.Selenium

B.JMeter

C.QTP

D.LoadRunner

E.Fiddler

5.軟件測(cè)試的缺陷管理包括以下哪些步驟：

A.缺陷報(bào)告

B.缺陷分類(lèi)

C.缺陷優(yōu)先級(jí)確定

D.缺陷修復(fù)

E.缺陷驗(yàn)證

6.軟件測(cè)試的回歸測(cè)試包括以下哪些內(nèi)容：

A.功能回歸測(cè)試

B.性能回歸測(cè)試

C.安全性回歸測(cè)試

D.兼容性回歸測(cè)試

E.界面回歸測(cè)試

7.以下哪些是軟件測(cè)試的測(cè)試階段：

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.維護(hù)測(cè)試

8.軟件測(cè)試的測(cè)試環(huán)境包括以下哪些內(nèi)容：

A.硬件環(huán)境

B.軟件環(huán)境

C.網(wǎng)絡(luò)環(huán)境

D.測(cè)試數(shù)據(jù)

E.測(cè)試人員

9.以下哪些是軟件測(cè)試的性能指標(biāo)：

A.響應(yīng)時(shí)間

B.吞吐量

C.延遲

D.穩(wěn)定性

E.可靠性

10.軟件測(cè)試的測(cè)試報(bào)告應(yīng)該包括以下哪些內(nèi)容：

A.測(cè)試概述

B.測(cè)試結(jié)果

C.缺陷列表

D.測(cè)試結(jié)論

E.測(cè)試改進(jìn)建議

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)軟件中的所有錯(cuò)誤。（×）

2.黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能，白盒測(cè)試關(guān)注軟件的結(jié)構(gòu)。（√）

3.軟件測(cè)試應(yīng)該在軟件開(kāi)發(fā)完成后進(jìn)行。（×）

4.單元測(cè)試是軟件測(cè)試中最先進(jìn)行的測(cè)試活動(dòng)。（√）

5.性能測(cè)試主要關(guān)注軟件的運(yùn)行速度。（√）

6.缺陷密度是衡量軟件質(zhì)量的重要指標(biāo)。（√）

7.軟件測(cè)試應(yīng)該只關(guān)注功能測(cè)試，忽略非功能測(cè)試。（×）

8.軟件測(cè)試的測(cè)試用例應(yīng)該盡可能覆蓋所有可能的輸入。（√）

9.軟件測(cè)試的回歸測(cè)試應(yīng)該在每次代碼修改后進(jìn)行。（√）

10.軟件測(cè)試的測(cè)試報(bào)告應(yīng)該只包含測(cè)試結(jié)果，不需要包含缺陷分析。（×）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的基本流程。

2.什么是測(cè)試用例？請(qǐng)列舉測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本步驟。

3.什么是缺陷管理？請(qǐng)簡(jiǎn)述缺陷管理的流程。

4.什么是回歸測(cè)試？為什么回歸測(cè)試對(duì)于軟件測(cè)試很重要？

5.請(qǐng)比較黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的區(qū)別。

6.請(qǐng)簡(jiǎn)述性能測(cè)試的主要指標(biāo)及其作用。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題

1.C.發(fā)現(xiàn)并消除軟件中的缺陷

解析思路：軟件測(cè)試的核心目標(biāo)是通過(guò)執(zhí)行程序來(lái)發(fā)現(xiàn)并修復(fù)錯(cuò)誤，確保軟件產(chǎn)品符合預(yù)期要求。

2.C.W模型

解析思路：W模型是瀑布模型的一種變種，將測(cè)試活動(dòng)融入到整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中。

3.D.測(cè)試結(jié)果分析

解析思路：黑盒測(cè)試主要關(guān)注軟件的功能，測(cè)試結(jié)果分析是測(cè)試活動(dòng)的最后一步。

4.C.測(cè)試用例應(yīng)該盡量簡(jiǎn)潔明了

解析思路：簡(jiǎn)潔明了的測(cè)試用例有助于提高測(cè)試效率，減少測(cè)試過(guò)程中的誤解。

5.D.安全性缺陷

解析思路：安全性缺陷可能導(dǎo)致嚴(yán)重的安全風(fēng)險(xiǎn)，因此通常被認(rèn)為是軟件中最嚴(yán)重的缺陷。

6.C.檢查

解析思路：靜態(tài)測(cè)試通常不涉及代碼的執(zhí)行，通過(guò)檢查代碼、文檔等來(lái)發(fā)現(xiàn)潛在的錯(cuò)誤。

7.D.性能驗(yàn)證

解析思路：軟件測(cè)試的驗(yàn)證方法通常包括功能性驗(yàn)證、可靠性驗(yàn)證等，但不包括性能驗(yàn)證。

8.B.集成測(cè)試

解析思路：動(dòng)態(tài)測(cè)試是在軟件運(yùn)行時(shí)進(jìn)行的測(cè)試，集成測(cè)試是動(dòng)態(tài)測(cè)試的一種。

9.C.兼容性測(cè)試

解析思路：非功能測(cè)試包括性能、安全性、兼容性等，兼容性測(cè)試是其中之一。

10.D.軟件測(cè)試

解析思路：軟件測(cè)試是一個(gè)過(guò)程，包括多種測(cè)試方法和活動(dòng)。

二、多項(xiàng)選擇題

1.A.預(yù)防性原則B.全面性原則C.實(shí)用性原則D.可追溯性原則E.可重復(fù)性原則

解析思路：這些原則是軟件測(cè)試的基本原則，指導(dǎo)測(cè)試活動(dòng)的進(jìn)行。

2.A.單元測(cè)試B.集成測(cè)試C.系統(tǒng)測(cè)試D.驗(yàn)收測(cè)試E.性能測(cè)試

解析思路：這些是軟件測(cè)試的主要類(lèi)型，每個(gè)類(lèi)型都有其特定的目的和范圍。

3.A.輸入數(shù)據(jù)的合理性B.輸出結(jié)果的準(zhǔn)確性C.測(cè)試用例的覆蓋度D.測(cè)試用例的執(zhí)行效率E.測(cè)試用例的可維護(hù)性

解析思路：測(cè)試用例設(shè)計(jì)時(shí)需要考慮這些因素，以確保測(cè)試的有效性和效率。

4.A.SeleniumB.JMeterC.QTPD.LoadRunnerE.Fiddler

解析思路：這些是常用的軟件測(cè)試工具，各有其特定的用途。

5.A.缺陷報(bào)告B.缺陷分類(lèi)C.缺陷優(yōu)先級(jí)確定D.缺陷修復(fù)E.缺陷驗(yàn)證

解析思路：缺陷管理包括從報(bào)告缺陷到驗(yàn)證修復(fù)的整個(gè)流程。

6.A.功能回歸測(cè)試B.性能回歸測(cè)試C.安全性回歸測(cè)試D.兼容性回歸測(cè)試E.界面回歸測(cè)試

解析思路：回歸測(cè)試旨在確保新代碼的引入沒(méi)有破壞現(xiàn)有功能。

7.A.單元測(cè)試B.集成測(cè)試C.系統(tǒng)測(cè)試D.驗(yàn)收測(cè)試E.維護(hù)測(cè)試

解析思路：這些是軟件測(cè)試的主要階段，每個(gè)階段都有其特定的目標(biāo)和任務(wù)。

8.A.硬件環(huán)境B.軟件環(huán)境C.網(wǎng)絡(luò)環(huán)境D.測(cè)試數(shù)據(jù)E.測(cè)試人員

解析思路：測(cè)試環(huán)境包括所有支持軟件測(cè)試運(yùn)行的環(huán)境要素。

9.A.響應(yīng)時(shí)間B.吞吐量C.延遲D.穩(wěn)定性E.可靠性

解析思路：這些是性能測(cè)試的主要指標(biāo)，用于評(píng)估軟件的性能表現(xiàn)。

10.A.測(cè)試概述B.測(cè)試結(jié)果C.缺陷列表D.測(cè)試結(jié)論E.測(cè)試改進(jìn)建議

解析思路：測(cè)試報(bào)告應(yīng)全面反映測(cè)試活動(dòng)的結(jié)果和結(jié)論，并提出改進(jìn)建議。

三、判斷題

1.×

解析思路：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)軟件中的錯(cuò)誤，但不可能發(fā)現(xiàn)所有的錯(cuò)誤。

2.√

解析思路：黑盒測(cè)試關(guān)注外部行為，白盒測(cè)試關(guān)注內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

3.×

解析思路：軟件測(cè)試應(yīng)該在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中盡早進(jìn)行，以盡早發(fā)現(xiàn)和修復(fù)錯(cuò)誤。

4.√

解析思路：?jiǎn)卧獪y(cè)試是測(cè)試的基本單元，通常在編碼階段進(jìn)行。

5.√

解析思路：性能測(cè)試關(guān)注軟件在特定條件下的運(yùn)行性能。

6.√

解析思路：缺陷密度是衡量軟件質(zhì)量的重要指標(biāo)，反映了缺陷的密集程度。

7.×

解析思路：軟件測(cè)試應(yīng)同時(shí)關(guān)注功能和非功能測(cè)試，全面評(píng)估軟件質(zhì)量。

8.√

解析思路：測(cè)試用例應(yīng)盡可能覆蓋所有可能的輸入，以確保全面測(cè)試。

9.√

解析思路：回歸測(cè)試確保新代碼沒(méi)有引入新的錯(cuò)誤，維護(hù)現(xiàn)有功能。

10.×

解析思路：測(cè)試報(bào)告應(yīng)包含測(cè)試結(jié)果、缺陷分析等內(nèi)容，為后續(xù)改進(jìn)提供依據(jù)。

四、簡(jiǎn)答題

1.軟件測(cè)試的基本流程包括：需求分析、測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行、測(cè)試結(jié)果分析、缺陷管理、回歸測(cè)試、測(cè)試報(bào)告編寫(xiě)。

2.測(cè)試用例是測(cè)試過(guò)程中的一組輸入、執(zhí)行步驟和預(yù)期結(jié)果。設(shè)計(jì)步驟包括：分析需求、設(shè)計(jì)測(cè)試用例、審查測(cè)試用例、維護(hù)測(cè)試用例。

3.缺陷管理是指對(duì)軟件缺陷的識(shí)別、記錄、分類(lèi)、跟蹤和修復(fù)的過(guò)程。流程包括：報(bào)告