無損探傷工（技師）職業(yè)技能考試題（附答案）

無損探傷工（技師）職業(yè)技能考試題（附答案）單選題1.最有效的退磁方法是（）。A、有反向和降壓控制器的直流電B、有降壓控制器的交流電C、半波整流交流電D、全波整流電參考答案：A2.組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有（）。A、阻尼塊B、延遲塊C、匹配線圈D、保護(hù)膜參考答案：B3.縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí)，探頭與柱面接觸面積小，波束擴(kuò)散角增加，擴(kuò)散波束就會在圓柱面上形成（）。A、三角反射B、61°反射C、工件輪廓回波D、幻象波參考答案：A4.自動洗片機(jī)能在（）提供干燥好的可供評定的底片。A、8min以內(nèi)B、8~12min以內(nèi)C、12~15min以內(nèi)D、15min以上參考答案：B5.柱面波是指波源為一無限長柱體，任意時(shí)刻的波陣面為一（）。A、同軸圓柱面B、平面C、同心圓球面D、斜面參考答案：A6.中心導(dǎo)體磁化，產(chǎn)生的磁場強(qiáng)度在工件內(nèi)表面為（）。A、最小B、與外表面相同C、最大D、零值參考答案：C7.制定工件的磁化規(guī)范時(shí)，應(yīng)考慮的參數(shù)是（）。A、機(jī)械強(qiáng)度B、材料磁性能C、工件使用時(shí)間D、以上都不對參考答案：B8.直線加速器中，電子以（）加速。A、高頻電波B、加速磁鐵C、中子轟擊D、改變交流電磁鐵的磁場參考答案：A9.直探頭組成的主要元件有（）等。A、壓電晶片、電極層B、吸收塊C、保護(hù)膜、外殼D、A、B和C參考答案：D10.直探頭采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時(shí)，說法正確的是（）。A、F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B、適于對尺寸較小的缺陷定量C、適于對密集性缺陷的定量D、該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸參考答案：D11.直徑25mm，頻率5MHz的直探頭在水中的近場長度約為（）。A、52cmB、55mmC、224cm3rdD、224mm參考答案：A12.著色法檢測塑料工件，懸浮溶劑最好選（）溶劑。A、含氯化物的有機(jī)溶劑B、水基C、油基D、醇類參考答案：D13.長軸類鍛件從端面作軸向探測時(shí)，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（）。A、遲到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不對參考答案：A14.在中低能量射線照相中，使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度（）。A、大于不使用鉛增感屏的底片B、與不使用鉛增感屏的底片相同C、小于不使用鉛增感屏的底片D、以上都不對參考答案：A15.在整個焊接過程中，影響焊接的穩(wěn)定性參數(shù)是（）。A、空氣流動速度B、環(huán)境溫度C、空氣濕度D、網(wǎng)路電壓參考答案：D16.在一般情況下，射線膠片"固有不清晰度"的大小隨著射線的（）增大而增大。A、能量B、強(qiáng)度C、指向性D、工件厚度與焦距的比值參考答案：A17.在液體中唯一能傳播的聲波波形是（）。A、剪切波B、瑞利波C、壓縮波D、蘭姆波參考答案：C18.在液體中可以傳播的超聲波型有（）。A、縱波B、橫波C、瑞利波D、蘭姆波參考答案：A19.在選用透照參數(shù)時(shí)，曝光量應(yīng)（）。A、不大于曝光曲線推薦的最小值B、不小于曝光曲線推薦的最小值C、不小于曝光曲線推薦的最大值D、以上都不是參考答案：B20.在顯影過程中應(yīng)翻動膠片或攪動顯影液，目的是（）。A、保護(hù)膠片，免受過大壓力B、使膠片表面的顯影液更新C、防止產(chǎn)生網(wǎng)狀皺紋D、使膠片表面未曝光銀離子散開參考答案：B21.在下面的諸材料中，能用磁粉探傷法檢測的材料是（）。A、碳鋼B、黃銅C、塑料D、奧氏體不銹鋼參考答案：A22.在吸收劑量相同的情況下，（）對人體的危害程度最大。A、α射線B、中子射線C、X射線D、γ射線參考答案：A23.在酸性堅(jiān)膜定影液中會有相互分解的成分，大蘇打要靠（）才能共存。A、亞硫酸鈉B、醋酸C、硼酸D、A、B和C參考答案：A24.在數(shù)字射線檢測技術(shù)中，僅適用于測定不存在被檢測工件時(shí)的空間分辨率的是（）。A、線對卡B、雙絲像質(zhì)計(jì)C、線型像質(zhì)計(jì)D、專用像質(zhì)計(jì)參考答案：A25.在射線照射下，膠片乳劑層中的鹵化銀感光微粒將發(fā)生變化，可以形成潛在的影像，稱為。（）。A、衰退B、電離C、潛影D、照射參考答案：C26.在高溫情況下，磁體中的分子熱運(yùn)動會破壞磁疇的有規(guī)則排列，磁體的磁性出現(xiàn)（）現(xiàn)象。A、退磁B、順磁性C、逆磁性D、削弱參考答案：D27.在鋼板表面?zhèn)鞑サ某暡ǚQ為（）。A、橫波B、表面波C、縱波D、板波參考答案：B28.在輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)中，能統(tǒng)一衡量劑量限值的物理量是（）。A、劑量當(dāng)量B、吸收劑量C、照射量D、輻射量參考答案：A29.在端角反射的兩次反射中，均為（）,端角反射率為100%。A、橫波反射B、縱波反射C、橫波全反射D、縱波和橫波反射參考答案：C30.在波束未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)，對于薄板前幾次的（）相差無幾。A、一次波B、二次波C、底波D、雜波參考答案：C31.在背散射檢查中，在暗盒背面貼附一個"B"鉛字，觀片時(shí)發(fā)現(xiàn)（）說明背散射嚴(yán)重。A、較黑背景上出現(xiàn)"B"字較黑影像B、不出現(xiàn)"B"字影像C、較黑背景上出現(xiàn)"B"字較淡影像D、較淡背景上出現(xiàn)"B"字較黑影像參考答案：C32.在X射線照相中使用相紙技術(shù)時(shí)，其黑度的測量是采用（）。A、透射式黑度計(jì)B、反射式黑度計(jì)C、聚焦旋轉(zhuǎn)式黑度計(jì)D、以上都不對參考答案：B33.在X射線譜圖上，當(dāng)射線管中的電子能量達(dá)到足以將靶原子核內(nèi)層電子擊出軌道時(shí)，則譜圖上出現(xiàn)（）。A、連續(xù)X射線譜形B、特征X射線譜形C、連續(xù)和特征X射線譜形D、以上都不是參考答案：C34.源在外的雙壁透照環(huán)焊縫，焦距越大，則有效透照長度（）。A、越小B、越大C、焦距等于工件直徑時(shí)有效長度最小D、以上都不對參考答案：A35.原子核內(nèi)的質(zhì)子數(shù)相同，而（）數(shù)不同的元素叫做同位素。A、分子B、中子C、電子D、離子參考答案：B36.原子核的正電荷數(shù)等于（）。A、電子數(shù)B、原子數(shù)C、中子數(shù)D、原子核質(zhì)量數(shù)參考答案：A37.與聲束不垂直的光滑平面狀缺陷反射波的顯示不是（）。A、回波幅度與底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波與缺陷波同時(shí)存在參考答案：D38.有機(jī)溶劑揮發(fā)較快，顯像時(shí)間很短的是（）。A、水基濕式顯像B、水懸浮濕式顯像C、非水基濕式顯像D、水溶解濕式顯像參考答案：C39.有關(guān)退磁的敘述，正確的是（）。A、直流電只能退去工件表面的剩磁B、退磁是將工件上的剩磁減小到不妨礙使用的程度C、將工件放入通直流電的線圈中，不變換電流方向，使工件逐漸遠(yuǎn)離線圈就可以退磁D、退磁應(yīng)在工件組裝后進(jìn)行8th參考答案：B40.用直接通電法時(shí)，觸頭前加銅墊、鋁錫合金或金屬絲編織網(wǎng)帶后再與工件接觸通電，是為了（）。A、使接觸點(diǎn)電阻增加B、在工件中獲得較高的磁場C、增加表面接觸面積，避免接觸點(diǎn)高溫而燒壞試件表面D、避免因發(fā)熱而引起的導(dǎo)磁不良參考答案：B41.用顯像劑把滲入缺陷內(nèi)的滲透液吸附出來的原理是基于（）。A、液體的表面張力B、液體的毛細(xì)作用C、對固面的浸潤D、吸附作用參考答案：B42.用噴涂法施加顯像劑，噴涂裝置與被檢表面保持的距離是（）,使顯像劑到達(dá)工件表面幾乎是干的。A、100~200mmB、200~300mmC、300~400mmD、400~500mm參考答案：C43.用交流磁軛對大型結(jié)構(gòu)件對接焊縫進(jìn)行磁粉探傷時(shí)，需要注意的事項(xiàng)是（）。A、磁粉探傷部位的厚度B、磁極對焊縫相對位置的安置及磁極間距C、反磁場的影響D、以上都是參考答案：B44.用電磁鐵和變壓器配合，以環(huán)形軌跡加速電子的裝置稱為（）。A、靜電加速器B、直線加速器C、電磁感應(yīng)加速器D、回旋加速器參考答案：D45.用γ射線源對40mm厚的鋼鐵材料進(jìn)行射線照像，最適合的放9th射源是（）。A、60CoB、192IrC、137CsD、12Tm參考答案：B46.硬射線和軟射線（）。A、是兩種本質(zhì)不同的射線B、僅僅是波長的長短不同C、沒有任何區(qū)別D、前者指γ射線，后者指X射線參考答案：B47.影響儀器（）的旋鈕有發(fā)射強(qiáng)度和增益旋鈕、衰減器抑制旋鈕、深度補(bǔ)償旋鈕等。A、靈敏度B、水平線性C、盲區(qū)D、抑制參考答案：A48.熒光磁粉檢測，在環(huán)境光不大于201x的暗區(qū)，用輻照度不小于（）的黑光激發(fā)熒光磁粉。A、10μW/cm2B、200μW/cm2C、100μW/cm2D、1000μW/cm2參考答案：D49.一次結(jié)晶過程中。由于冷卻速度快，會產(chǎn)生化學(xué)成份分布不均勻現(xiàn)象，這種現(xiàn)象稱為（）。A、多晶B、柱狀晶C、多析D、偏析參考答案：D50.選擇滲透檢測方法依據(jù)不包括檢測（）。A、靈敏度的要求B、工件的表面粗糙度C、批量的大小D、工件內(nèi)部缺陷性質(zhì)參考答案：D51.選用較大的焊接電流可以焊接（）位置的焊縫。A、立焊B、橫焊C、仰焊D、平焊參考答案：D52.斜探頭的斜楔一般采用有機(jī)玻璃材料制成，它的主要功能是將（）,并按給定的折射角將波透入試件。A、縱波轉(zhuǎn)換為橫波B、橫波轉(zhuǎn)換為縱波C、聲波轉(zhuǎn)換為電磁波D、電磁波轉(zhuǎn)換為聲波參考答案：A53.像質(zhì)計(jì)是用來（）的。A、測定底片靈敏度B、確定可檢出缺陷深度C、評估缺陷尺寸D、確定可檢出最小缺陷尺寸參考答案：A54.現(xiàn)場無水源、無電源時(shí)，滲透檢測宜采用（）。A、水洗型著色法B、溶劑去除型著色法C、水洗型熒光法D、溶劑去除型熒光法參考答案：B55.顯影速度變慢，反差減少，灰霧增大，引起上述現(xiàn)象的原因可能是（）。A、顯影溫度高B、顯影液老化C、顯影時(shí)攪動不足D、顯影時(shí)間短參考答案：B56.下列能夠進(jìn)行磁粉探傷的材料是（）。A、碳鋼B、18-8不銹鋼C、硬鋁D、鈦參考答案：A57.吸收衰減是指超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，由于介質(zhì)的粘滯性而造成質(zhì)點(diǎn)之間的內(nèi)摩擦，從而一部分聲能變成熱能，導(dǎo)致（）。A、電能的損耗B、頻率的損耗C、波長的損耗D、聲能的損耗參考答案：D58.無損檢測委托單填寫完成后由（）簽章確認(rèn)。A、質(zhì)量檢查人員B、無損檢測技術(shù)人員C、監(jiān)理人員D、技術(shù)負(fù)責(zé)人參考答案：A59.鎢增感屏的優(yōu)點(diǎn)是（）。A、清晰度高B、不易出現(xiàn)偽像C、使用壽命長D、A、B和C參考答案：D60.為提高觀片效果，觀片室的環(huán)境應(yīng)盡可能地（）。A、暗B、亮C、與透過底片的光亮度相同D、以上都不對參考答案：A61.為了檢驗(yàn)空心零件內(nèi)壁上的縱長方向缺陷，應(yīng)采用（）。A、縱向通電磁化B、大于80sC、等于80sD、以上都不對參考答案：B62.透照厚度差別較大的工件時(shí)，為了增大寬容度，可以采用的方法是（）。A、提高管電壓B、提高管電流C、降低管電壓D、選用微粒膠片參考答案：A63.透過觀片燈窗口的光照度為50000lx，若透過底片的光強(qiáng)不少于50lx，則該觀片燈能觀察底片的最大黑度值為（）。A、1B、3C、5D、7參考答案：B64.通常用（）判斷機(jī)械加工性的好壞。A、抗氧化B、耐沖擊C、耐蝕D、溶劑懸浮式參考答案：C65.通常用（）改善退磁。A、直流波動法B、用絕緣的順磁性軌道C、瞬時(shí)電流法D、調(diào)壓型退磁機(jī)參考答案：C66.鐵磁性物質(zhì)加熱，鐵磁性消失而變?yōu)轫槾判晕镔|(zhì)的溫度點(diǎn)叫作（）。A、轉(zhuǎn)向點(diǎn)B、熔點(diǎn)C、飽和點(diǎn)D、居里點(diǎn)參考答案：D67.填寫檢測工藝卡檢測時(shí)機(jī)時(shí)，對有延遲裂紋傾向的材料應(yīng)填寫（）。A、焊接完后B、焊接后至少12hC、焊接后至少24hD、焊接后至少36h參考答案：C68.碳鋼的焊接性主要取決于（）。A、組織狀態(tài)B、碳含量C、冶煉方法D、軋制工藝參考答案：B69.數(shù)字式超聲儀器與模擬式儀器的主要差別是（）。A、儀器的靈敏度B、儀器的分辨率C、儀器的模-數(shù)轉(zhuǎn)換D、儀器的放大線性參考答案：C70.手工鎢極氬弧焊時(shí)，（）接頭的氬氣保護(hù)效果最差。A、對接B、T形C、搭接D、角接參考答案：C71.手工鎢極氬弧焊采用（）。A、渣保護(hù)B、氣保護(hù)C、焊劑保護(hù)D、氣-渣聯(lián)合保護(hù)參考答案：B72.試件表面為中等粗糙，但要求檢測的靈敏度較高，（）的滲透探傷材料較佳。A、水洗型B、后乳化型C、溶劑型D、A、B和C參考答案：D73.使用磁軛法，探傷區(qū)域應(yīng)限制在兩磁極連線的兩側(cè)相當(dāng)于下述磁極間距的面積范圍內(nèi)（）。A、1/2的磁極間距B、1/3的磁極間距C、1/4的磁極間距D、3/4的磁極間距參考答案：C74.使用γ射線或高能Χ射線透照厚工件時(shí)，膠片類型和膠片（）的選擇十分重要。A、黑度25thB、含銀量C、溴化銀的粒度D、電離能力參考答案：C75.實(shí)施磁粉檢測的人員應(yīng)按照（）進(jìn)行操作。A、檢測工藝卡B、委托單C、通用工藝規(guī)程D、技術(shù)文件參考答案：A76.滲透液滲入表面開口缺陷的影響因素不包括（）。A、缺陷的形狀B、滲透液表面張力C、工件表面粗糙度D、滲透液顏色參考答案：D77.滲透檢測過程中，滲透液在表面開口缺陷內(nèi)截留，滲透液必須有（）,在目視檢驗(yàn)中能觀察到。A、暗的熒光亮度B、很少一部分截留C、100%的缺陷截留D、鮮艷的紅色參考答案：D78.滲透檢測的局限性體現(xiàn)在（）。A、不能用于鐵磁性材料B、不能發(fā)現(xiàn)近表面開口缺陷C、不能用于非金屬表面D、不能發(fā)現(xiàn)淺的表面開口缺陷參考答案：B79.射線工作條件按照（）進(jìn)行劃分。A、工業(yè)X射線探傷衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)B、放射工作人員健康管理規(guī)定C、輻射環(huán)境檢測技術(shù)規(guī)范D、射線裝置分類方法參考答案：A80.射線的線質(zhì)越硬，其半價(jià)層厚度越（）。A、小B、大C、無變化D、以上都不對參考答案：B81.設(shè)寬束X射線貫穿物體后，在某一點(diǎn)所接收到的射線總強(qiáng)度為Ip=I+Is，則散射比為（）。A、Is/IB、Is/IpC、I/IsD、Ip/Is參考答案：A82.瑞利波是（）的一種，其振幅隨著深度的增加而迅速減小。A、表面波B、電磁波C、橫波D、縱波參考答案：A83.入射波以某一入射角入射到第二介質(zhì)為固體的異質(zhì)平面界面上時(shí)，將發(fā)生（）。透射波將分離為折射縱波和/或折射橫波。A、波形轉(zhuǎn)換B、反射橫波C、聲壓增大D、以上不都對參考答案：A84.乳化劑的（）愈低則親油性愈強(qiáng)。A、HLB值B、乳化時(shí)間C、相對分子質(zhì)量D、以上都不對參考答案：A85.乳化處理時(shí)，乳化劑的施加不能采用的方法是（）。A、浸漬B、澆涂C、刷涂D、噴灑（親水型）參考答案：C86.如果溫度改變了，物體分子運(yùn)動的動能改變了，（）。A、物體的勢能不會改變B、物體的內(nèi)能也隨著改變C、物體的平均動能減小D、物體的內(nèi)能不會改變參考答案：B87.如果零件不能按圖紙完全檢驗(yàn)，則（）。A、必須更改圖紙B、零件必須報(bào)廢C、發(fā)一份不符合檢驗(yàn)要求的報(bào)告D、在零件上標(biāo)紅漆等候處理參考答案：C88.如果磁懸液的濃度過大，會引起（）。A、掩蓋掉缺陷的磁痕A、縮短B、不變C、增加D、擴(kuò)散參考答案：A89.清洗處理和去除處理是為了去除附著在被檢物表面的殘余（）。A、滲透劑B、乳化劑C、顯像劑D、清洗劑參考答案：A90.迄今為止，計(jì)算機(jī)已經(jīng)歷到（）階段。A、晶體管B、人工智能C、電子管D、集成電路參考答案：B91.評片用觀片燈的照明區(qū)，一般不小于（）。A、240×80B、360×80C、320×80D、300×80參考答案：D92.爬波對于檢測（）表面裂紋，靈敏度和分辨力均比表面波高。A、焊件B、堆焊層C、管件D、鋼板參考答案：B93.耐蝕層堆焊試件的焊接工藝評定檢驗(yàn)項(xiàng)目不包括（）。A、滲透檢測B、彎曲試驗(yàn)C、化學(xué)成分分析D、斷面宏觀金相試驗(yàn)參考答案：D94.蘭姆波是指介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)產(chǎn)生相應(yīng)的橫向和縱向兩種振動的合成，使質(zhì)點(diǎn)做（）的振動和傳播。A、直線軌跡B、三角形軌跡C、橢圓軌跡D、圓軌跡參考答案：C95.可能引起偽顯示的是（）。A、過分的清洗B、滲透探傷時(shí)工件或滲透劑太冷C、顯像劑施加不當(dāng)D、工件表面沾有棉絨或污垢參考答案：D96.聚焦聲束的焦點(diǎn)是一個（）。A、聚焦點(diǎn)B、聚焦線C、聚焦區(qū)D、聚焦面參考答案：C97.晶體中某處有一列或若干列原子發(fā)生有規(guī)律的錯排現(xiàn)象叫作（）。A、空位B、位移C、位錯D、空洞參考答案：C98.金屬磁記憶檢測法，金屬材料在受到內(nèi)部應(yīng)力作用時(shí)會先在自身中產(chǎn)生磁場而被記錄于本體，不同的金屬材料，（）。A、產(chǎn)生磁場程度和記憶磁場程度一樣B、產(chǎn)生磁場程度不一樣，記憶磁場程度一樣C、產(chǎn)生磁場程度和記憶磁場程度不一樣D、產(chǎn)生磁場程度一樣，記憶磁場程度不一樣參考答案：C99.金屬材料在受到內(nèi)部應(yīng)力作用時(shí)會在自身中產(chǎn)生磁場，通過測量這一磁場不能評價(jià)材料的（）。A、力學(xué)特征B、幾何特征C、疲勞程度D、應(yīng)力大小參考答案：B100.接觸法斜角探傷時(shí)，如果入射角達(dá)到第二臨界角，會發(fā)生（）。A、橫波全反射B、縱波全反射C、表面波全反射D、以上都不對參考答案：B101.接觸法檢測薄壁小徑管采用（）。A、直探頭B、聚焦探頭C、斜探頭D、雙晶探頭參考答案：B102.膠片經(jīng)曝光后產(chǎn)生的潛影（）。A、能夠直接被肉眼觀察到B、在紅燈下能夠被肉眼觀察到C、需要經(jīng)過電信號轉(zhuǎn)化成圖象D、以上都不是參考答案：C103.鍵盤中可使光標(biāo)移到本行最右邊文字結(jié)束的位置的鍵是（）鍵。A、"Backspace"B、"Home"C、"End"D、"Insert"參考答案：C104.減少散射線最方便、最經(jīng)濟(jì)、常用的方法是使用（）。A、鉛增感屏B、濾板C、背防護(hù)鉛板D、鉛罩參考答案：A105.檢測薄壁小徑管縱向缺陷用對比試塊，對比試塊上的人工缺陷是（）。A、平底孔B、長橫孔C、尖角槽D、線切割槽參考答案：C106.檢測T形焊接接頭，直探頭檢測用試塊是（）。A、V型槽試塊B、平底孔試塊C、短橫孔試塊D、長橫孔試塊參考答案：B107.急性放射損傷是由于（）所致。A、一次長時(shí)間小劑量照射B、一次短時(shí)間大劑量照射C、慢性小劑量連續(xù)照射D、慢性大劑量連續(xù)照射參考答案：B108.化合物質(zhì)不包括（）。A、Fe3CB、CuZnC、CuA12D、石墨參考答案：D109.焊接延遲裂紋是一種（）。A、焊接冷裂紋B、焊接熱裂紋C、再熱裂紋D、層間斷裂參考答案：A110.焊接性，是指被焊鋼材在采用一定的焊接方法、焊接材料、焊接規(guī)范參數(shù)及（）形式的條件下，獲得優(yōu)質(zhì)焊接接頭的難易程度。A、焊接結(jié)構(gòu)B、焊接時(shí)間長短C、焊劑數(shù)量D、焊條尺寸參考答案：A111.焊接時(shí)產(chǎn)生咬邊的原因是（）。A、焊件厚度太大B、坡口鈍邊太大C、焊接電流太大D、焊件裝配間隙太小參考答案：C112.焊縫探傷中探頭角度選擇的主要依據(jù)是（）。A、探測頻率B、缺陷方向C、缺陷部位D、鋼板的厚度參考答案：D113.焊縫金屬的二次結(jié)晶的組織和性能與（）有關(guān)。A、焊縫的淬透性B、焊縫的抗氧化性C、焊縫的抗氫腐蝕能力D、焊縫的化學(xué)成份、冷卻速度及焊后熱處理參考答案：D114.管座角焊縫超聲檢測以（）探測為主。A、縱波直探頭B、橫波斜探頭C、表面波探頭D、聚焦探頭參考答案：A115.關(guān)于鐵磁特性材料敘述正確的是（）。A、經(jīng)淬火的矯頑力大B、含碳量多，矯頑力小C、奧氏體不銹鋼磁性強(qiáng)D、含碳量高，磁導(dǎo)率高參考答案：A116.固體中能傳播的超聲波波形有（）。A、縱波B、橫波C、表面波和板波D、A、B和C參考答案：D117.鈷60γ放射源的原子核中有（）。A、27個質(zhì)子、32個中子B、27個質(zhì)子、33個中子C、28個質(zhì)子、32個中子D、28個質(zhì)子、33個中子參考答案：B118.工作量較大時(shí)，射線機(jī)工作和間歇時(shí)間必須控制在（）范圍內(nèi)。A、1:2B、2:1C、1:1D、1:3參考答案：C119.工程中許多構(gòu)件在工作時(shí)出現(xiàn)隨時(shí)間而交替變化的應(yīng)力，這36th種應(yīng)力稱為（）。A、交變應(yīng)力B、平均應(yīng)力C、彎曲應(yīng)力D、剪切應(yīng)力參考答案：A120.根據(jù)波源振動的持續(xù)時(shí)間長短，將波動分為（）。A、連續(xù)波與電磁波B、脈沖波與電磁波C、連續(xù)波與脈沖波D、A和B參考答案：C121.感光膠片的"潛影"形成后，若相隔（）時(shí)間顯影，影像就會變淡，這種現(xiàn)象稱之為潛影衰退。A、很長B、很短C、適中D、無間隔參考答案：A122.放射性物質(zhì)原子數(shù)衰變到原來的（）所需的時(shí)間稱為半衰期。A、1/2B、1/337thC、1/4D、3/4參考答案：A123.發(fā)生光電效應(yīng)幾率的實(shí)驗(yàn)近似公式為（）。A、τ=kρB、τ=z2λ2C、τ=kρzλD、τ=kρz4λ3參考答案：D124.對于形狀復(fù)雜的鍛件，較好的檢測處理方法是（）。A、用C掃描法對精加工好的鍛件進(jìn)行水浸自動探傷B、對成品件進(jìn)行手工接觸法探傷C、對鍛前的坯料進(jìn)行檢驗(yàn)，精加工后對形狀許可的部位再做檢驗(yàn)D、只對鍛前坯料進(jìn)行檢驗(yàn)參考答案：C125.對于空心工件，工件直徑太大時(shí)，采用的磁化方法是（）。A、偏置芯棒法B、軸向通電法C、觸頭法D、繞電纜法參考答案：A126.對一個未加工的粗糙鍛件進(jìn)行磁粉探傷時(shí)，發(fā)現(xiàn)一個向各個方向延伸的顯示。顯示看起來垂直于表面，延伸至工件深處且非常清晰。這缺陷可能是（）。A、白點(diǎn)B、折疊C、鍛裂D、縫隙參考答案：C127.對液體附加壓強(qiáng)為零的是（）。A、平面液面B、凹液面C、凸液面D、球液面參考答案：A128.對臨界厚度的敘述正確的是（）。A、臨界厚度小，著色強(qiáng)度大，利于發(fā)現(xiàn)缺陷B、臨界厚度小，著色強(qiáng)度小，利于發(fā)現(xiàn)缺陷C、臨界厚度大，著色強(qiáng)度大，利于發(fā)現(xiàn)缺陷D、臨界厚度大，著色強(qiáng)度小，利于發(fā)現(xiàn)缺陷參考答案：A129.對過濾性微粒滲透劑描述中，正確的是（）。A、染料微粒比裂紋寬度小一點(diǎn)B、需要顯像劑C、可毛刷刷涂滲透劑D、微粒是著色或是熒光染料參考答案：D130.對大鑄鋼（鐵）件應(yīng)用磁粉檢驗(yàn)時(shí)，有效的磁化方法是（）。A、穿芯棒磁化B、局部兩個方向磁化C、直接磁化D、整體磁化參考答案：B131.鍛件探傷時(shí)調(diào)節(jié)靈敏度的方式是（）。A、CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊方式B、大平底方式C、槽形反射孔方式D、ZGZ系列試塊方式參考答案：B132.鍛件熱處理時(shí)產(chǎn)生的缺陷是（）。A、發(fā)紋B、淬火裂紋C、白點(diǎn)D、折疊參考答案：B133.當(dāng)管電壓為一定值時(shí)，增大管電流，則連續(xù)X射線的線質(zhì)強(qiáng)度和波長將發(fā)生（）。A、線質(zhì)變軟，強(qiáng)度變大，波長不變B、線質(zhì)不變，強(qiáng)度不變，波長變短C、線質(zhì)變硬，強(qiáng)度變大，波長變長D、線質(zhì)不變，強(qiáng)度變大，波長不變參考答案：D134.當(dāng)S≤3N時(shí)，反射體的定量結(jié)果與實(shí)際當(dāng)量尺寸（）。A、略大于實(shí)際尺寸B、略小于實(shí)際尺寸C、沒有誤差D、有較大誤差參考答案：D135.大焦點(diǎn)X射線機(jī)與小焦點(diǎn)X射線機(jī)相比，其缺點(diǎn)是（）。A、射線穿透能力小B、照相清晰度差C、照相黑度不易控制D、射線不集中，強(qiáng)度小參考答案：B136.淬火螺栓經(jīng)磁粉探傷后，通電法退磁的電流（）。A、電流應(yīng)盡量大，使之達(dá)到磁飽和B、低于充磁時(shí)的電流強(qiáng)度C、比充磁時(shí)的電流稍大些D、螺栓已經(jīng)過熱處理，不必通電退磁參考答案：D137.從工件兩端采用直接通電磁化時(shí)，磁化電流的大小應(yīng)按（）來選擇。A、工件長度B、工件直徑C、工件長度與直徑之比D、工件長度與直徑之積參考答案：B138.磁性檢測方法主要是對（）進(jìn)行檢測、測量或評估的一類方法。A、磁場電效應(yīng)B、磁致熱效應(yīng)C、磁路磁特性D、磁感應(yīng)聲速變化參考答案：C139.磁粉有多種顏色是原因是（）。A、與零件表面形成對比B、使顯示容易看到C、與外加磁場強(qiáng)度大小有關(guān)D、A和B參考答案：D140.磁粉探傷中，應(yīng)根據(jù)（）選擇適當(dāng)?shù)拇呕椒ā、工件的形狀和尺寸B、材質(zhì)C、缺陷的位置和方向D、A、B和C參考答案：D141.磁粉探傷中，發(fā)現(xiàn)有疑問磁痕，應(yīng)該（）。A、全部重新檢驗(yàn)B、提高標(biāo)準(zhǔn)重新檢驗(yàn)C、超標(biāo)磁痕重新檢驗(yàn)D、用其他方法重新檢驗(yàn)參考答案：C142.磁粉探傷時(shí)，被檢零件中的磁場在（）最強(qiáng)。A、交流電磁化時(shí)在切斷電流反向以前B、磁化電流切斷以后C、通電過程中D、施加磁粉時(shí)參考答案：C143.磁粉檢測使用水磁懸液時(shí)，工件表面要嚴(yán)格（）。A、除灰塵B、除油C、除氧化皮D、除涂層參考答案：B144.磁粉檢測時(shí)，磁場強(qiáng)度過大，（）掩蓋相關(guān)顯示。A、產(chǎn)生過度背景B、磁痕顯示不清C、難以發(fā)現(xiàn)缺陷D、漏磁場強(qiáng)度小參考答案：A145.磁導(dǎo)率遠(yuǎn)大于1的材料是（）材料。A、抗磁B、鐵磁C、非金屬D、金屬參考答案：B146.除了屬于正應(yīng)力范疇的拉應(yīng)力和壓應(yīng)力外，應(yīng)力分析中還會遇到（）。A、剪切應(yīng)力B、彎曲應(yīng)力C、交變應(yīng)力D、以上都對參考答案：D147.除非另有規(guī)定，最終磁粉探傷（）。A、應(yīng)在最終熱處理后，最終機(jī)加工前B、應(yīng)在最終處理前，最終機(jī)加工后C、應(yīng)在最終熱處理和最終機(jī)加工后D、在最終熱處理后的任何時(shí)間參考答案：C148.超聲儀器的衰減器分為粗調(diào)和細(xì)調(diào)兩種，一般（）。A、粗調(diào)每檔10db或20dbB、粗調(diào)每檔6db或100dbC、細(xì)調(diào)每檔2db或6dbD、細(xì)調(diào)每檔1db或6db參考答案：A149.超聲波在第二種介質(zhì)折射波的傳播方向不同于入射波的方向，而是按（）來確定的。A、反射定律B、透射定律C、折射定律D、以上都不對參考答案：C150.超聲波在傳播過程中如果遇到一個障礙物，就可能產(chǎn)生（）等現(xiàn)象。A、反射B、散射C、衍射D、以上都對參考答案：D151.超聲波探頭輻射的聲場中，聲壓以（）最高。A、旁聲束上B、半擴(kuò)散角以外C、中心軸線上D、擴(kuò)散角與旁聲束交界部位參考答案：C152.超聲波探傷中廣泛采用的是（）。A、脈沖波B、電磁波C、方波D、爬波參考答案：A153.超聲波探傷儀和探頭的組合性能指標(biāo)有（）。A、水平線性B、分辨率C、動態(tài)范圍D、垂直線性參考答案：B154.超聲波探傷儀的（）按鈕在檢測時(shí)一般不再調(diào)整。A、水平B、開關(guān)C、衰減器D、增益參考答案：D155.超聲波入射到平面缺陷產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換時(shí)，這與波的（）有關(guān)。A、傳播速度B、頻率C、波長D、入射角參考答案：D156.超聲波檢測鑄件時(shí)熒光屏上不會出現(xiàn)的是（）。A、草狀雜波B、61°反射波C、外輪廓反射回波D、遲到回波參考答案：B157.超聲波從一種介質(zhì)傾斜入射到平界面時(shí)，將產(chǎn)生反射縱波，由于波型轉(zhuǎn)換，又會產(chǎn)生（）。A、聲束變窄B、反射橫波C、聲壓增大D、以上不都對參考答案：B158.超聲波從聲阻抗Z1的介質(zhì)通過聲阻抗Z2的薄層介質(zhì)向聲阻抗Z3的介質(zhì)透入時(shí)，為了得到良好的透聲效果，應(yīng)當(dāng)使薄層厚度等于1/4波長的奇數(shù)倍，并且其聲阻抗Z2=（）。A、（Z1Z33）/2B、Z1Z3C、Z1/Z3D、Z3/Z1參考答案：A159.超聲波波源輻射的超深波是以特定的角度向外擴(kuò)散出去的，但并不是從波源開始擴(kuò)散的，而是在波源附近存在一個（）。A、未擴(kuò)散區(qū)B、近場區(qū)C、遠(yuǎn)場區(qū)D、擴(kuò)散區(qū)參考答案：A160.常用于重要工件檢測的耦合劑是（）。A、甘油B、化學(xué)襁糊C、機(jī)油D、水參考答案：A161.測定探頭雙峰時(shí)，通常是（）移動探頭。A、轉(zhuǎn)動B、斜平行C、前后平行D、左右平行參考答案：C162.側(cè)壁反射波束與直接傳播的波束聲程差（）時(shí)可以避免側(cè)壁干涉。A、小于4倍波長B、大于4倍波長C、小于1/4倍波長D、大于1/4倍波長參考答案：B163.采用水浸法探傷時(shí)，根據(jù)（）產(chǎn)生的回波情況進(jìn)行缺陷評定。A、第一次表面回波之前和第二次表面回波之后B、第一次表面回波和第二次表面回波之間C、多次回波D、以上都不對參考答案：B164.采用濕式連續(xù)法時(shí)，來自軟管的磁懸液應(yīng)在（）。A、通電后立即切斷B、通電前的瞬間切斷C、通電過程中切斷D、通電前30S切斷參考答案：C165.采用剩磁法探傷時(shí)，被檢材料應(yīng)具有（）。A、較高的頑磁性B、較大的飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度C、光滑的表面D、較高的磁導(dǎo)率參考答案：A166.采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時(shí)，下面說法正確的是（）。A、F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B、該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C、適于對尺寸較小的缺陷定量D、適于對密集性缺陷的定量參考答案：B167.材料晶粒尺寸大于（）波長時(shí)，超聲波的散射會影響檢驗(yàn)結(jié)果。A、1λ46thB、（1/2）λC、（1/10）λD、（1/100）λ參考答案：C168.材料的加工工藝性能包括（）。A、冷熱加工成型性能和焊接性能B、短面收縮率C、試件的標(biāo)距D、屈強(qiáng)比參考答案：A169.不只適用于X射線或γ射線，適用于任何類型和任何能量的電離輻射，也適用于任何被照物質(zhì)的物理量是（）。A、比釋動能B、吸收劑量C、照射量D、照射量率參考答案：B170.不屬于焊接變形和應(yīng)力的形成因素的是（）。A、焊件上溫度的分布不均勻B、測量方式C、金屬組織的轉(zhuǎn)變D、熔敷金屬的收縮參考答案：B171.不適宜采用水洗性滲透探傷法檢測的缺陷是（）。A、裂縫B、疲勞裂紋C、氣孔D、以上都不是參考答案：B172.不是顯像劑成份本身作用的是（）。A、將滲透劑從缺陷中吸出來B、有助于形成缺陷圖像C、增強(qiáng)滲透劑的熒光D、有助于控制滲出參考答案：B173.不可用來制作鍋爐壓力容器的金屬材料是（）。A、低碳鋼B、低合金鋼C、奧氏體不銹鋼D、T8鋼參考答案：D174.不會影響儀器垂直線性的旋鈕有（）。A、增益控制B、衰減器C、抑制旋鈕D、脈沖位移參考答案：D175.波陣面中波的（）稱為波線。A、傳播方向B、振動速度C、波陣面D、近場區(qū)參考答案：A176.波陣面是指波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)，同一時(shí)刻介質(zhì)中振動相位（）的所有各點(diǎn)的軌跡。A、垂直B、平行C、相同D、相反參考答案：C177.避免側(cè)壁干涉的最小距離dmin與波長λ及缺陷到檢測面距離a有關(guān)，其關(guān)系是（）。A、λ減少、a增加、dmin減少B、λ減少、a減少、dmin增加C、λ增加、a增加、dmin增加D、λ增加、a增加、dmin減少參考答案：C178.半價(jià)層的大小與（）因素有關(guān)。A、管電壓B、管電流C、物質(zhì)的原子序數(shù)D、物質(zhì)的密度參考答案：B179.半波高度法是指波高降低（）后正好為原來的一半。A、3dBB、10dBC、6dBD、12dB參考答案：C180.按照危險(xiǎn)度與權(quán)重因子規(guī)定的劑量當(dāng)量限值是對于（）規(guī)定的。A、軀體效應(yīng)B、遠(yuǎn)期效應(yīng)C、隨機(jī)效應(yīng)D、非隨機(jī)效應(yīng)參考答案：C181.按照彎曲時(shí)受拉面位置的不同，彎曲實(shí)驗(yàn)的類型分為（）。A、面彎B、背彎C、側(cè)彎D、以上都是參考答案：D182.γ射線探傷設(shè)備的屏蔽體采用（）材料制作而成。A、鉛B、貧化鈾C(jī)、鉛玻璃D、重晶石水泥混凝土參考答案：B183.γ射線探傷設(shè)備出現(xiàn)故障，后果比較嚴(yán)重的是（）。A、Y源卡堵B、控制纜導(dǎo)管變形C、輸源管被砸扁D、γ源掉出參考答案：D184.γ射線的波長僅決定于（）。A、活度B、尺寸C、比活度D、能量參考答案：D185.X射線與γ射線的區(qū)別是（）。A、穿透能力不同B、強(qiáng)度不同C、產(chǎn)生機(jī)理不同D、A、B和C參考答案：C186.X射線管中的陰極最常見的是（）。A、冷陰極B、熱陰極C、旋轉(zhuǎn)陰極D、固定陰極參考答案：B187.X射線工業(yè)電視探傷的主要缺點(diǎn)是（）。A、其檢測靈敏度一般較X射線照相法低B、對形狀復(fù)雜的零件檢查有困難C、初始投入較高，設(shè)備較復(fù)雜D、以上都對參考答案：D188.TOFD的掃查方式不包括（）。A、平行掃查B、前后掃查C、非平行掃查D、偏置非平行掃查參考答案：B189.AVG曲線中，以距離作為橫坐標(biāo)，以（）作為縱坐標(biāo)。A、波幅增益量B、缺陷當(dāng)量尺寸C、距離D、以上都不對參考答案：A190.ASME規(guī)范V卷第六章《液體滲透檢驗(yàn)》屬于（）。A、美國機(jī)械工程師協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)B、國際標(biāo)準(zhǔn)化組織標(biāo)準(zhǔn)C、美國材料及試驗(yàn)協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)D、美國宇航材料規(guī)范參考答案：A191.Ⅱ級無損檢測人員具備的能力是（）。A、按照工藝文件調(diào)試校準(zhǔn)儀器B、負(fù)責(zé)無損檢測技術(shù)管理工作C、編制審核無損檢測工藝規(guī)程D、對無損檢測結(jié)果進(jìn)行分析、評定或解釋參考答案：A192.（）用濕法熒光磁粉探傷進(jìn)行檢驗(yàn)比干法好。A、零件大而笨重時(shí)B、需要提高檢驗(yàn)速度和靈敏度時(shí)C、欲使許多車間配備的熒光燈投入使用時(shí)D、被檢零件要在現(xiàn)場焊接組裝時(shí)參考答案：B193.（）是指同一時(shí)刻，介質(zhì)中振動相位的所有質(zhì)點(diǎn)所聯(lián)成的面。。A、波前B、波陣面C、波動D、傳播參考答案：B194.（）是指探傷儀熒光屏上反射波高從滿幅降至消失時(shí)，儀器衰減器的變化范圍。A、探測距離B、動態(tài)范圍C、垂直線性D、水平線性參考答案：B195.（）是指探傷儀水平掃描速度的均勻程度，即掃描線上顯示的反射波距離與反射體距離成正比的程度。A、水平線性B、缺陷定量C、水平定位D、A、B和C參考答案：C196.（）是指聲波在傳播過程中，介質(zhì)某一點(diǎn)的聲壓強(qiáng)超過沒有聲波存在時(shí)的靜態(tài)壓強(qiáng)的量值。A、聲場B、聲壓C、聲強(qiáng)D、聲阻抗參考答案：B197.（）是指波動過程中，任一給定點(diǎn)在1S內(nèi)所通過的完整波的個數(shù)。A、波動頻率B、掃描亮度C、時(shí)基線D、A、B和C參考答案：A198.（）是干式磁粉探傷中最常用的。A、三相交流電B、半波整流交流電C、高壓低安培電流D、穩(wěn)恒直流電參考答案：B199.（）會使黑光燈泡的壽命降低。A、電源電壓波動很大B、燈泡上有灰塵C、室溫變化D、A、B和C參考答案：A200.（）遲到的時(shí)間與工件的長度和直徑有關(guān)。A、三角反射波B、板波C、輪廓回波D、遲到波參考答案：D201.（）d33較大，可獲得較高的發(fā)射靈敏度。A、機(jī)械品質(zhì)因子B、壓電應(yīng)變常數(shù)C、壓電電壓常數(shù)D、機(jī)電耦合系數(shù)參考答案：B多選題1.阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有（）。A、鐵銹B、涂層C、燃燒積炭D、油脂參考答案：ABC2.自動洗片機(jī)正式洗片前，輸入清洗片的目的包括（）。A、清洗滾軸上被氧化的顯影液B、清洗滾軸上被氧化的定影液C、確定洗片機(jī)工作是否異常D、提高顯影液的溫度參考答案：ABC3.增大與輻射源間距離可以降低（）。A、受照劑量B、照射量C、受照劑量率D、照射量率參考答案：AC4.與一次射線相比，散射線的（）。A、能量增大B、能量減小C、波長變長D、波長變短參考答案：BC5.用雙晶探頭檢測時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭（）。A、隔聲層與缺陷延伸方向平行B、隔聲層與缺陷延伸方向垂直C、垂直與缺陷延伸方向移動D、平行與缺陷延伸方向移動參考答案：AC6.影響耦合的因素包括（）。A、耦合層的厚度B、探頭的種類C、耦合劑的聲阻抗D、工件表面粗糙度參考答案：ACD7.熒光滲透檢測時(shí)，冷裂紋的顯示特征有（）。A、明亮黃綠色細(xì)線條B、網(wǎng)狀線條C、中部稍寬D、兩端尖細(xì)參考答案：ACD8.下列關(guān)于滲透探傷方法說法錯誤的有（）。A、適用于疏松多孔性材料B、不適用于疏松多孔性材料C、可以檢查閉合性的表面缺陷D、可以檢查埋藏于表皮層以下缺陷參考答案：ACD9.無損檢測設(shè)備、材料采購驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。A、開箱點(diǎn)數(shù)B、技術(shù)性能C、質(zhì)量保證能力D、技術(shù)資料歸檔參考答案：ABD10.使用射線裝置的單位，（）需辦理申請?jiān)S可證。A、新建射線裝置場所單位B、購置新的射線裝置單位C、改建射線裝置場所單位D、射線裝置轉(zhuǎn)讓其他單位參考答案：ABC11.球罐γ射線全景曝光時(shí)，安全距離的計(jì)算需要考慮的是（）。A、焊縫余高B、球罐壁厚C、安全劑量限值D、半價(jià)層參考答案：BCD12.球罐Y射線全景曝光，曝光時(shí)間的計(jì)算方法有（）。A、估算法B、計(jì)算尺法C、經(jīng)驗(yàn)公式法D、公式計(jì)算法參考答案：BD13.化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是（）。A、著色滲透劑是無色的B、與顯像劑發(fā)生反應(yīng)后產(chǎn)生顏色C、使用的顯像劑粉末呈堿性D、使用的顯像劑粉末呈酸性參考答案：ABD14.關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有（）。A、化學(xué)結(jié)構(gòu)相似的物質(zhì)彼此容易相互溶解B、極性相似的物質(zhì)彼此不容易相互溶解C、化學(xué)結(jié)構(gòu)相似，分子種類不同的物質(zhì)不能相互溶解D、極性物質(zhì)容易溶解于極性溶劑中參考答案：AD15.關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說法正確的是（）。A、波束不擴(kuò)散B、不存在擴(kuò)散衰減C、存在擴(kuò)散衰減D、波束擴(kuò)散參考答案：AB16.工藝評定試件焊后應(yīng)進(jìn)行（）。A、外觀檢查B、無損探傷C、力學(xué)性能D、金相試驗(yàn)參考答案：ABCD17.輻射防護(hù)的基本要求包括（）。A、實(shí)踐的正當(dāng)性B、劑量限制C、潛在照射危險(xiǎn)限制D、防護(hù)與安全最優(yōu)化參考答案：ABCD18.單晶體金屬特點(diǎn)有（）。A、物理性能是各向異性B、物理性能是各向同性C、力學(xué)性能是各向同性D、力學(xué)性能是各向異性參考答案：AD19.搭接接頭根據(jù)其結(jié)構(gòu)形式和對強(qiáng)度的要求可分為（）。A、不開坡口焊B、圓孔內(nèi)塞焊C、長孔內(nèi)角焊D、方形內(nèi)角焊參考答案：ABC20.磁介質(zhì)在外加磁場作用下，出現(xiàn)（）現(xiàn)象。A、磁矩的矢量和為零B、磁介質(zhì)對外顯示出一定的磁性C、磁矩指向各向的概率相等D、磁矩的矢量和不為零參考答案：BD21.磁場信號測量中可采用（）方法。A、單元件多點(diǎn)測量B、多原件陣列多點(diǎn)測量C、聚磁檢測技術(shù)D、磁屏蔽技術(shù)參考答案：BCD22.超聲波探傷儀要盡量避免在（）場合使用。A、強(qiáng)磁場B、弱磁場C、電源波動大D、強(qiáng)烈振動參考答案：ACD23.常用的人工反射體有（）。A、球孔B、平底孔C、橫孔D、V形槽參考答案：BCD24.按光的激發(fā)方法來說，冷光源是（）。A、化學(xué)能激發(fā)的光源B、熱能激發(fā)的光源C、電能激發(fā)的光源D、光能激發(fā)的光源參考答案：ACD25.γ射線探傷設(shè)備的缺點(diǎn)包括（）。A、固有不清晰度大B、輻射能量固定無法調(diào)節(jié)C、曝光時(shí)間受到限制D、固有不清晰度小參考答案：ABC26.Z超聲波檢測鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。A、底面回波幅度降低量≥12dB者B、缺陷回波幅度達(dá)到距離-波幅曲線者C、不論缺陷回波高低，認(rèn)為是線狀或片狀缺陷者D、底面回波幅度增加量≥12dB者參考答案：ABC判斷題1.自動洗片機(jī)的顯影、定影液的溫度和時(shí)間是恒定的。A、正確B、錯誤參考答案：A2.鑄件中一般允許存在的缺陷尺寸較大，數(shù)量可較多。A、正確B、錯誤參考答案：A3.直探頭和斜探頭都可能存在聲軸的偏移。A、正確B、錯誤參考答案：A4.只要兩種物質(zhì)（一種是溶劑，另一種是溶質(zhì)）結(jié)構(gòu)相似，他們就一定能相互溶解。A、正確B、錯誤參考答案：B5.增大與輻射源之間的距離就可以減低受照射劑量。A、正確B、錯誤參考答案：A6.在滲透時(shí)間內(nèi)，滲透劑必須將被檢部位全部潤濕覆蓋。A、正確B、錯誤參考答案：A7.在蘭姆波的作用下，板的振動又分為兩種，A型是對稱型蘭姆波，S型是非對成型蘭姆波。A、正確B、錯誤參考答案：B8.在合金鋼中，Mn的作用是提高鋼的強(qiáng)度。A、正確B、錯誤參考答案：A9.在國際單位制中，吸收劑量用符號D表示，它的單位是雷姆。A、正確B、錯誤參考答案：B10.在大多數(shù)情況下，頻率越低的探頭分辨率越低。A、正確B、錯誤參考答案：A11.在產(chǎn)生爬波的過程中，通常把縱波的波前稱為頭波。A、正確B、錯誤參考答案：B12.在波束未擴(kuò)散區(qū)內(nèi)，波束不擴(kuò)散，不存在擴(kuò)散衰減。A、正確B、錯誤參考答案：A13.硬磁材料比軟磁材料易退磁。A、正確B、錯誤參考答案：B14.熒光滲透檢測使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊可以用于著色滲透檢測，反之亦然，兩者可以混用。A、正確B、錯誤參考答案：B15.儀器工作頻率的好壞影響對缺陷位置的判斷。A、正確B、錯誤參考答案：B16.小徑管水浸檢測是利用橫波傾斜入射到水/鋼界面，入射角在第一和第二臨界角之間時(shí)，可在鋼管內(nèi)實(shí)現(xiàn)純橫波檢測。A、正確B、錯誤參考答案：B17.小徑管接觸法檢測適用于單件小批量及規(guī)格多的情況。A、正確B、錯誤參考答案：A18.消光值越大表明滲透液的著色強(qiáng)度越大。A、正確B、錯誤參考答案：A19.線圈法檢測工件時(shí)，工件端面的檢測靈敏度高。A、正確B、錯誤參考答案：B20.現(xiàn)場檢測時(shí)，X射線機(jī)的電纜線越長越好。A、正確B、錯誤參考答案：B21.顯像劑中含有常溫下易揮發(fā)的溶劑，溶劑在顯像表面迅速揮發(fā)吸熱，促進(jìn)顯像劑對滲透劑的吸附，可提高顯像靈敏度。A、正確B、錯誤參考答案：A22.吸收劑量的大小取決于電離輻射的能量，與被照射物質(zhì)本身的性質(zhì)無關(guān)。A、正確B、錯誤參考答案：B23.物體分子間的距離小于一定值時(shí)，它們間的相互作用是引力。A、正確B、錯誤參考答案：B24.無損檢測責(zé)任工程師有權(quán)拒絕受理不按安全技術(shù)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的任何檢測工作。A、正確B、錯誤參考答案：A25.無損檢測委托單是檢測、評定和出具報(bào)告的依據(jù)。A、正確B、錯誤參考答案：A26.無損檢測工作歸單位的生產(chǎn)部門管轄。A、正確B、錯誤參考答案：B27.無損檢測操作人員應(yīng)遵循工藝卡規(guī)定的條件參數(shù)進(jìn)行透照，但必要時(shí)應(yīng)對有關(guān)參數(shù)做適當(dāng)?shù)恼{(diào)整。A、正確B、錯誤參考答案：A28.微焦點(diǎn)X射線管可獲得小于1mm的微小焦點(diǎn)。A、正確B、錯誤參考答案：B29.透照工件時(shí)，一般在暗盒后面放張薄鉛板，作用是防止工件內(nèi)部散射線。A、正確B、錯誤參考答案：B30.同位素指的是中子數(shù)相同，質(zhì)子數(shù)不同的元素。A、正確B、錯誤參考答案：B31.鐵碳合金發(fā)生共析反應(yīng)時(shí)，從奧氏體中析出鐵素體和滲碳體。A、正確B、錯誤參考答案：A32.數(shù)字射線檢測時(shí)在時(shí)間上和幅值上連續(xù)變化的信號是脈沖信號。A、正確B、錯誤參考答案：B33.數(shù)字超聲波探傷儀的顯示器不需要傳統(tǒng)的示波管。A、正確B、錯誤參考答案：A34.使用熒光磁粉時(shí)，必須在暗區(qū)黑光燈下觀察，可見光照度大于201x。A、正確B、錯誤參考答案：B35.盛放顯影液的顯影槽不用時(shí)應(yīng)用蓋蓋好，這主要是防止藥液蒸發(fā)。A、正確B、錯誤參考答案：B36.聲透鏡為球面鏡時(shí)，在理論上可獲得點(diǎn)聚焦。A、正確B、錯誤參考答案：A37.滲透液與受檢材料表面的接觸角影響滲透液的缺陷截留。A、正確B、錯誤參考答案：A38.滲透探傷適用于檢查的材質(zhì)是非多孔性材料。A、正確B、錯誤參考答案：A39.滲透檢測相關(guān)顯示影響工件的使用性能，需要進(jìn)行評定。A、正確B、錯誤參考答案：A40.滲透檢測通用工藝規(guī)程應(yīng)涵蓋所有產(chǎn)品的檢測范圍。A、正確B、錯誤參考答案：B41.滲透檢測通用工藝規(guī)程，一般以文字說明為主。A、正確B、錯誤參考答案：A42.滲透檢測全過程所發(fā)生的吸附現(xiàn)象，主要是化學(xué)吸附。A、正確B、錯誤參考答案：B43.滲透檢測工藝卡對應(yīng)本單位產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和檢測能力進(jìn)行編制。A、正確B、錯誤參考答案：B44.滲透劑的臨界厚度越大，著色強(qiáng)度就越大，越有利于缺陷的顯示。A、正確B、錯誤參考答案：B45.溶劑去除型滲透劑用清洗劑去除，可用清洗劑直接在被檢面上沖洗。A、正確B、錯誤參考答案：B46.任何材料對射線強(qiáng)度都有程度不同的削弱，原子序數(shù)低或密度小的防護(hù)材料，防護(hù)效果好。A、正確B、錯誤參考答案：B47.缺陷定量方法中的底波高度法用于缺陷尺寸小于聲束截面的情況。A、正確B、錯誤參考答案：A48.缺陷定量方法中的當(dāng)量法用于缺陷尺寸大于聲束截面的情況。A、正確B、錯誤參考答案：B49.球罐Y射線全景曝光應(yīng)盡量選用活度大的射源，曝光時(shí)間控制在24h以內(nèi)。A、正確B、錯誤參考答案：A50.強(qiáng)度是表示金屬在受外力作用下抵抗變形和破壞的能力。A、正確B、錯誤參考答案：A51.潛影衰退實(shí)際上是構(gòu)成潛影中心的銀又被空氣還原成Ag+離子的逆變過程。A、正確B、錯誤參考答案：B52.靈敏度余量是探頭和儀器的綜合性能。A、正確B、錯誤參考答案：A53.裂紋在底片上的典型影像是輪廓分明的黑線或黑絲。A、正確B、錯誤參考答案：A54.顆粒度或噪聲是射線底片黑度的隨機(jī)偏差，此偏差疊加在工件影像上。A、正確B、錯誤參考答案：A55.金屬磁記憶檢測中磁場的強(qiáng)度非常弱，通常小于地磁場的強(qiáng)度。A、正確B、錯誤參考答案：A56.解決鑄件檢測時(shí)雜波干擾的一種有效措施是二次缺陷反射波法。A、正確B、錯誤參考答案：B57.接觸聚焦是在聲透鏡前面加了一個透聲楔塊，要求聲透鏡中的聲速小于透聲楔塊中的聲速。A、正確B、錯誤參考答案：B58.將退磁的工件從通電的磁化線圈中緩慢抽出，直至工件離開線圈1m以上時(shí)，再切斷電流的退磁方法是直流退磁法。A、正確B、錯誤參考答案：B59.檢測時(shí)使用的反差增強(qiáng)劑噴灌性能好，可以不經(jīng)過質(zhì)量認(rèn)證。A、正確B、錯誤參考答案：B60.檢測人員的考核工作程序，包括考試和審批發(fā)證。A、正確B、錯誤參考答案：A61.檢測安全防護(hù)作業(yè)場所分為專用探傷室和現(xiàn)場檢測兩大類。A、正確B、錯誤參考答案：A62.檢測T形焊接接頭時(shí)，可利用腹板底波或試塊調(diào)節(jié)直探頭掃描速度。A、正確B、錯誤參考答案：B63.計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件是指用于計(jì)算機(jī)的管理、控制、維護(hù)和運(yùn)行的軟件。A、正確B、錯誤參考答案：B64.計(jì)算機(jī)工具軟件是軟件開發(fā)、實(shí)施和維護(hù)過程中須使用的程序，如系統(tǒng)檢測軟件、病毒防治軟件等。A、正確B、錯誤參考答案：A65.化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑與顯像劑接觸發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，顯像劑粉末呈堿性。A、正確B、錯誤參考答案：B66.橫通孔和長橫孔具有軸對稱特點(diǎn)，反射波幅比較穩(wěn)定，有線性缺陷特征，適用于各種K值探頭。A、正確B、錯誤參考答案：A67.橫波掃描速度的調(diào)節(jié)方法有三種，聲程調(diào)節(jié)法、水平調(diào)節(jié)法和深度調(diào)節(jié)法。A、正確B、錯誤參考答案：A68.焊條電弧焊橫焊時(shí)，采用多層多道焊能比較容易地防止液態(tài)金屬下墜。A、正確B、錯誤參考答案：A69.焊接時(shí)，焊接接頭根部未完全熔透的現(xiàn)象叫未焊透。A、正確B、錯誤參考答案：A70.焊接工藝評定應(yīng)以可靠的鋼材焊接性能為依據(jù)，并在產(chǎn)品施焊后完成。A、正確B、錯誤參考答案：B71.焊接工藝評定首先要做的是焊接工藝評定立項(xiàng)。A、正確B、錯誤參考答案：A72.焊接工藝參數(shù)是為保證焊接質(zhì)量而選定的各項(xiàng)參數(shù)的總稱。A、正確B、錯誤參考答案：A73.焊工夏天工作時(shí)，出汗多，應(yīng)做好防護(hù)，防止觸電。A、正確B、錯誤參考答案：A74.鍋爐受壓元件集箱是用較大直徑焊接管加焊兩個端蓋制成的。A、正確B、錯誤參考答案：B75.觀察缺陷磁痕，當(dāng)辨認(rèn)細(xì)小缺陷時(shí)，應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。A、正確B、錯誤參考答案：A76.觀察底片時(shí)的評定區(qū)域就是焊縫。A、正確B、錯誤參考答案：B77.根據(jù)漏磁探測器的數(shù)量和尺寸及對記錄數(shù)據(jù)的分析來區(qū)分低分辨率和高分辨率漏磁工具。A、正確B、錯誤參考答案：A78.各種焊接位置中，仰焊最難掌握，平焊最好操作。A、正確B、錯誤參考答案：A79.高壓發(fā)生電路是X射線管工作的基本電路。A、正確B、錯誤參考答案：A80.高矯頑力材料制成的零件可以用剩磁法探傷。A、正確B、錯誤參考答案：A81.鋼的退火過程沒有組織變化。A、正確B、錯誤參考答案：B82.干式顯像也稱干粉顯像，主要用于熒光滲透檢測法。A、正確B、錯誤參考答案：A83.非相關(guān)顯示和偽顯示不影響工件的使用性能。A、正確B、錯誤參考答案：A84.非金屬工件的滲透檢測，所用的檢測方法靈敏度較高。A、正確B、錯誤參考答案：B85.反差增強(qiáng)劑噴灌具有使用方便，涂層成膜迅速均勻、附著力強(qiáng)、顏色潔白等特點(diǎn)。A、正確B、錯誤參考答案：A86.對圓棒用軸向通電法磁化時(shí)，其電流按公式I=5rH求出。（式中：I-電流H-圓棒表面需要的磁場強(qiáng)度r-圓棒半徑）。A、正確B、錯誤參考答案：A87.對于不能放進(jìn)螺管線圈的大型工件，不能采用繞電纜法進(jìn)行磁化。A、正確B、錯誤參考答案：B88.對于X射線和Y射線，劑量當(dāng)量和吸收當(dāng)量具有相同的數(shù)值和量綱。A、正確B、錯誤參考答案：A89.對滲透后的清洗要求為清洗到零件上的滲透劑徹底除掉的程度。A、正確B、錯誤參考答案：B90.鍛件中非金屬夾雜物的取向一般是垂直于鍛造時(shí)的變形方向。A、正確B、錯誤參考答案：B91.鍛件探傷靈敏度的校準(zhǔn)方法一般采用底波法和試塊法。A、正確B、錯誤參考答案：A92.定影液使用一段時(shí)間后會失效，原因是定影液里可溶性的銀鹽濃度太高。A、正確B、錯誤參考答案：A93.電離輻射所致確定性效應(yīng)是"線性無閥"的，因此應(yīng)避免任何不合理的照射。A、正確B、錯誤參考答案：B94.底片上的標(biāo)記應(yīng)放在適當(dāng)位置，距焊縫邊緣應(yīng)不少于5mm。A、正確B、錯誤參考答案：A95.低碳鋼焊縫金屬的二次結(jié)晶組織為鐵素體加大量珠光體。A、正確B、錯誤參考答案：B96.低分辨率工具上漏磁探測器的數(shù)量要比高分辨率工具上的多。A、正確B、錯誤參考答案：B97.到波源的距離x>b的區(qū)域稱為未擴(kuò)散區(qū)。A、正確B、錯誤參考答案：B98.大厚度比試件射線照相，底片黑度過高或過低都會影響射線照相靈敏度。A、正確B、錯誤參考答案：A99.存儲深度與采樣頻率決定數(shù)字超聲波的檢測范圍大小，在一定的檢測范圍內(nèi)采樣頻率高，存儲深度小。A、正確B、錯誤參考答案：B100.磁痕顯示分為相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和偽顯示。A、正確B、錯誤參考答案：A101.磁粉探傷-橡膠鑄型法只適用于連續(xù)法。A、正確B、錯誤參考答案：B102.磁粉檢測油基載液應(yīng)優(yōu)先使用于對腐蝕應(yīng)嚴(yán)加防止的鐵基合金材料上。A、正確B、錯誤參考答案：A103.磁粉檢測鐵磁性表面開口缺陷的檢測靈敏度高于滲透檢測。A、正確B、錯誤參考答案：B104.磁粉檢測時(shí)，如果磁粉與工件表面顏色的對比度小，可以使用反差增強(qiáng)劑。A、正確B、錯誤參考答案：A105.磁粉檢測靈敏度，從定量方面來說是指檢出最小缺陷的能力。A、正確B、錯誤參考答案：B106.磁粉檢測和滲透檢測相比缺陷檢測的重復(fù)性不好。A、正確B、錯誤參考答案：B107.超聲檢測時(shí)，鋸齒型掃查主要適用于自動檢測。A、正確B、錯誤參考答案：B108.超聲波自動探傷中常用絕對靈敏度法測長。A、正確B、錯誤參考答案：A109.超聲波在水中的傳播速度隨溫度的升高亦增加。A、正確B、錯誤參考答案：A110.超聲波探頭石英晶片不易磨損?？刹患颖Ｗo(hù)膜。A、正確B、錯誤參考答案：A111.超聲波探頭內(nèi)吸收塊的主要作用是使盲區(qū)變小。A、正確B、錯誤參考答案：B112.超聲波的頻率取決于晶片振動的頻率。A、正確B、錯誤參考答案：A113.產(chǎn)生的三角反射波會干擾缺陷波的判別。A、正確B、錯誤參考答案：B114.側(cè)壁干涉不會影響缺陷定位和缺陷定量。A、正確B、錯誤參考答案：B115.采用聚焦探頭利用端點(diǎn)衍射回波法測定裂紋的高度，可獲得較好的效果。A、正確B、錯誤參考答案：A116.被顯像劑吸附上來的滲透劑，厚度達(dá)到某一值時(shí)，再增加其厚度，該滲透劑的著色強(qiáng)度也不再增加。A、正確B、錯誤參考答案：A117.半波透聲層是指使耦合層厚度為其半波長的奇數(shù)倍。A、正確B、錯誤參考答案：B118.白點(diǎn)易產(chǎn)生于某些合金鑄件中，滲透檢測可以檢出。A、正確B、錯誤參考答案：B119.X射線機(jī)管電壓調(diào)節(jié)一般是通過調(diào)整高壓變壓器來實(shí)現(xiàn)的。A、正確B、錯誤參考答案：B120.X射線管在全波倍壓恒直流電路中輸出劑量最小。A、正確B、錯誤參考答案：B121.X射線管陰極由鎢制作的陰極頭和由銅制作的燈絲組成。A、正確B、錯誤參考答案：B122.X射線管管電流的調(diào)節(jié)是通過調(diào)節(jié)燈絲加熱電流來實(shí)現(xiàn)的。A、正確B、錯誤參考答案：A123.V型槽和其他切割槽具有表面開口的線性缺陷的特點(diǎn)，不適用于鋼管的橫波檢驗(yàn)。A、正確B、錯誤參考答案：B124.TOFD檢測的直通波和底面反射波均有一定的寬度，所以處于此范圍的缺陷波容易被發(fā)現(xiàn)。A、正確B、錯誤參考答案：B125.Q235鋼的強(qiáng)度較高，焊接性好，可以用來制造受力較大的零件。A、正確B、錯誤參考答案：B126.20g中的"20"表示此鋼中的平均含碳量約為20%。A、正確B、錯誤參考答案：B127.《蒸汽鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定封頭、下腳圈的拼接焊縫的無損檢測應(yīng)在加工成型后進(jìn)行。A、正確B、錯誤參考答案：A填空題1.質(zhì)點(diǎn)振動三次所需要的時(shí)間可以使超聲波在介質(zhì)中傳播（）的距離。答：3個波長2.制作磁懸液要先把磁粉用（）仔細(xì)攪拌，然后再用水沖淡，分散于大量的水中。答：表面活性劑3.直線加速器的優(yōu)點(diǎn)是體積小和輸出射線強(qiáng)度大，回旋加速器的優(yōu)點(diǎn)是（）。答：焦點(diǎn)尺寸小4.直探頭接觸法探傷時(shí)，發(fā)現(xiàn)缺陷回波較低，且底面回波降低或消失的原因是與工件表面呈（）。答：較大角度5.直探頭對長形工件探傷時(shí)，由于聲束擴(kuò)散，一部分能量打在工件側(cè)面轉(zhuǎn)換為（），經(jīng)過幾次波型轉(zhuǎn)換后，要比單按縱波垂直反射回波時(shí)間滯后。所以稱為（）。答：橫波；遲到波6.正應(yīng)力可分為（）和（）。答：拉應(yīng)力；壓應(yīng)力7.振動與波動的關(guān)系：（）是波動的根源，（）是振動的過程。答：振動；波動8.在手工探傷中一般使用直接接觸法而不使用（）。原因是液浸法手工探傷時(shí)難以保持穩(wěn)定；直接接觸法探傷，方法簡單、使用方便。答：液浸法9.在固體介質(zhì)中，（）聲速＞（）聲速＞（）聲速。答：縱波；橫波；表面波10.在對熒光磁粉痕顯示照相時(shí)，要用（）濾光片濾去（）才能照相。答：黃色；紫外光11.在X射線照相中使用濾波板可以提高底片的（）和（）。答：清晰度；寬容度12.在X射線實(shí)時(shí)成像中，射線照射工件傳到熒光屏上所產(chǎn)生的顯示與射線強(qiáng)度有關(guān)，而與（）無關(guān)。答：曝光時(shí)間13.在X≥3N的距離上，當(dāng)孔徑不變，聲程增加一倍時(shí)，大平底的反射聲壓為原來的（）。答：1/2倍14.原子核內(nèi)的（）和（）的質(zhì)量基本相等。答：質(zhì)子；中子15.有效焦點(diǎn)為3x3mm，則其實(shí)際焦點(diǎn)是（）。答：長方形57th16.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時(shí)，探傷面曲率越大，耦合效果（）。答：越差17.用噴嘴噴灑磁懸液的壓力，對（）有很大影響。答：磁痕的形成18.硬射線和軟射線僅僅是（）。答：波長的長短不同19.影響儀器靈敏度的旋鈕有（）和（）、（）、（）等。答：發(fā)射強(qiáng)度；增益旋鈕；衰減器抑制旋鈕；深度補(bǔ)償旋鈕20.儀器水平線性的好壞直接影響到對（）。答：缺陷位置的判斷21.儀器的盲區(qū)除了與（）有關(guān)外，主要還決定于接收放大器在強(qiáng)信號沖擊下的阻塞恢復(fù)時(shí)間。答：探頭特性22.壓縮波能在（）傳播。答：液體中23.斜探頭橫波聲場近場區(qū)分布在兩種介質(zhì)中，近場長度隨入射角的增大而（）。答：縮短24.斜探頭K值的測定應(yīng)在聲場的（）以外進(jìn)行。答：2N25.顯像后如發(fā)現(xiàn)零件表面殘留滲透液過多而無法判定時(shí)，應(yīng)重新58th從（）開始，做滲透檢驗(yàn)的全過程。答：預(yù)清洗26.為提高觀片效果，觀片室環(huán)境亮度盡可能與透過底片光線的亮度（）。答：相同27.微觀裂紋：在（）下才能發(fā)現(xiàn)。答：顯微鏡28.透照工件時(shí)，一般在暗盒后面放張薄鉛板，作用是（）。答：防止背散射29.通常，斜角探傷時(shí)，探傷面的修整區(qū)域應(yīng)能滿足（）。答：二次波的掃查范圍無損探傷工（技師、高級技師）真題及答案三30.調(diào)節(jié)衰減器抑制旋鈕會影響（）。答：儀器靈敏度31.探頭指向角是晶片尺寸和介質(zhì)中波長的（）。它隨頻率的增加、晶片直徑的減小而（）。答：函數(shù)；增大32.探頭內(nèi)吸收塊的主要作用是（）、（）、（）。答：防止產(chǎn)生雜波；使脈沖變窄；使盲區(qū)變小33.探傷時(shí)有可能進(jìn)入（），而清潔又較困難的孔部位事先最好（）。答：磁粉；用塞堵好34.探傷結(jié)束時(shí)可用對比試塊驗(yàn)證（）。答：滲透系統(tǒng)靈敏度35.探測鑄件時(shí)因表面粗糙，為確保足夠的靈敏度，采用（）較好。答：水洗型熒光法36.所謂"（）"就是指膠片從放入定影液到所有AgBr完全溶解的這段時(shí)間。答：通透時(shí)間37.室外照相一般采用（），用計(jì)量檢測儀測定安全距離是簡單易行而又切合實(shí)際的方法。答：距離防護(hù)法38.式樣的缺口形式有（）和（）兩種。答：夏比U型；夏比V型39.使用與探傷面具有高對比度的顏色的（）。答：磁粉40.使用熒光磁粉時(shí)，必須在紫外光燈下觀察，白光強(qiáng)度不大于（）。答：20lx41.聲速按不同情況，可分為（）和（）。答：相速度；群速度42.聲束集中向一個方向輻射的性質(zhì)叫做（）。答：聲束的指向性43.聲強(qiáng)具有（）的概念。答：功44.聲場的特征量通常用（）、（）、（）等來描述。答：聲壓；聲強(qiáng)；聲阻抗45.滲透檢驗(yàn)時(shí)，零件溫度如果過低，則滲透液粘度會（）。答：變高46.射線通過膠片時(shí)，能在膠片上激發(fā)出自由電子，這種散亂的自由電子也能使膠片感光，形成不清晰度，這種不清晰度稱為"（）"。答：固有不清晰度47.射線束在透照區(qū)端部斜向最大穿透厚度與該處實(shí)際厚度的比值稱為（）。答：透照厚度比K值48.射線膠片中的溴化銀微粒銀的正離子失去電子，使曝光的膠片中形成所謂的"（）"。答：潛影49.射線膠片的組成部分有（）。答：片基50.射線安全防護(hù)措施一般不作為考慮因素的是（）和（）。答：輻射源尺寸；比度51.若儀器重復(fù)頻率過高，掃描時(shí)示波屏上將會出現(xiàn)（）。答：幻影52.如果沒有規(guī)定磁化電流，磁化電流應(yīng)（）確定，然后記在（）。答：通過實(shí)驗(yàn)；技術(shù)卡上53.親水性乳化劑中的水含量能對乳化劑的靈敏度發(fā)生影響，較好的水含量是（）。答：10%54.鉛箔增感屏前屏起增感、吸收軟射線作用，后屏主要起（）作用。答：吸收散射線55.拍攝具有厚薄差異的試件時(shí)，為了同時(shí)得到不同厚薄處具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒內(nèi)同時(shí)裝兩張具有（）。答：不同感光速度的膠片重疊曝光56.目前應(yīng)用于超聲波檢測的超聲波波型有（）、（）、（）、（）、（）等。答：縱波；橫波；表面波；板波；爬波57.某給定物質(zhì)對連續(xù)X射線而言，其線衰減系數(shù)隨物質(zhì)厚度的增加而（）。答：減小58.盲區(qū)是指探頭的（）。答：主要性能指標(biāo)59.漏磁場與材料的（）有關(guān)。答：磁導(dǎo)率60.流線這一術(shù)語是用來形容磁化電流過大在試件表面上形成的（）的。答：磁粉圖形61.靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片的使用可以了解探傷面上的（）和（）。答：磁場方向；大小62.兩束頻率相同但行進(jìn)方向相反的聲波疊加可形成（）。答：駐波63.連續(xù)X射線的能量與管電壓有關(guān)，與（）無關(guān)。答：管電流64.康普頓效應(yīng)中（）未被完全吸收。答：光子65.進(jìn)行γ射線探傷作業(yè)時(shí)，必須考慮（）和（）、（）、（），以保證作業(yè)人員的受照劑量低于年劑量限值，并應(yīng)達(dá)到可以合理做到的盡可能低的水平。答：γ射線探傷機(jī)；被檢物體的距離；照射方向；時(shí)間和屏蔽條件66.金屬材料的拉伸曲線，縱坐標(biāo)是（），橫坐標(biāo)是（）。答：載荷；伸長量67.接觸法探傷中，若一個斜探頭在鋼中產(chǎn)生（），則該探頭在鋁中產(chǎn)生的切變波角度（）。答：45°切變波；小于45°68.膠片曝光的部分越多，耗費(fèi)的顯影液也（）。答：越多69.將工件加熱到居里點(diǎn)溫度以上能夠（）。答：退磁70.機(jī)電耦合系數(shù)Kt較大能獲得較高的（）。答：轉(zhuǎn)換效率71.厚工件中的（），即使透照方向適當(dāng)，也不能被檢出。答：緊閉裂紋72.橫波是指波的（）與（）的一種波動類型，它只能在固體介質(zhì)中傳播。答：傳播方向；質(zhì)點(diǎn)振動方向垂直73.橫波入射時(shí)使同介質(zhì)中的縱波反射角等于（）時(shí)的橫波入射角稱為（）。答：90°；第三臨界角74.焊縫探傷中若條件允許，應(yīng)盡量選擇（）的斜探頭。答：K值較大75.光子能量大于02MeV時(shí)，生成（）。答：電子對效應(yīng)76.固體介質(zhì)中脈沖波聲場的近場區(qū)其聲壓極值點(diǎn)數(shù)量較理想聲場（），且極大極小值幅度（）。答：減少；差異縮小77.工件對比度受試件厚度差影響（）。答：最大78.鋼管水浸探傷時(shí)水