T-WSJD 16.3-2023 工作場所空氣中納米二氧化鈦職業(yè)接觸限值

ICS13.100

CCSC52

團體標準

T/WSJD16.3—2023

工作場所空氣中

納米二氧化鈦職業(yè)接觸限值

Occupationalexposurelimitoftitaniumdioxidenanoparticlesin

workplaceair

2023-06-20發(fā)布2023-07-01實施

中國衛(wèi)生監(jiān)督協(xié)會發(fā)布

T/WSJD16.3—2023

工作場所空氣中納米二氧化鈦職業(yè)接觸限值

1范圍

本文件給出了工作場所空氣中納米二氧化鈦職業(yè)接觸限值和監(jiān)測檢測方法。

本文件適用于工業(yè)企業(yè)衛(wèi)生設計以及工作場所空氣中納米二氧化鈦的職業(yè)衛(wèi)生管理、控制和監(jiān)督檢

查等。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對應的版本適用于本文件。不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GBZ2.1工作場所有害因素職業(yè)接觸限值第1部分：化學有害因素

GBZ159工作場所空氣中有害物質監(jiān)測的采樣規(guī)范

GBZ/T192.2工作場所空氣中粉塵測定第2部分：呼吸性粉塵濃度

GBZ/T224職業(yè)衛(wèi)生名詞術語

GBZ/T300.3工作場所空氣有毒物質測定第33部分：金屬及其化合物

GB/T30544.1納米科技術語第1部分：核心術語

GB/T32269納米科技-納米物體的術語與定義納米顆粒、納米纖維和納米片

3術語和定義

本文件采用GB/T32269、GB/T30544.1和GBZ/T224中的術語和定義。

3.1

納米尺度nanoscale

處于1nm至100nm之間的尺寸范圍。

3.2

納米材料nanomaterial

任一外部維度、內部或表面結構處于納米尺度的材料。

3.3

納米顆粒nanoparticle

三個維度的外部尺寸都在納米尺度的納米物體。

3.4

納米二氧化鈦titaniumdioxidenanoparticles

1

T/WSJD16.3—2023

原始空氣動力學直徑<100nm的二氧化鈦顆粒。

3.5

臨界不良健康效應criticaladversehealtheffects

用于確定某種職業(yè)性有害因素容許接觸濃度大小，即職業(yè)接觸限值時所依據的不良健康效應。

3.6

職業(yè)接觸限值occupationalexposurelimits；OELs

勞動者在職業(yè)活動過程中長期反復接觸某種或多種職業(yè)性有害因素，不會引起絕大多數接觸者不良

健康效應的容許接觸水平。化學有害因素的職業(yè)接觸限值分為時間加權平均容許濃度、短時間接觸容許

濃度和最高容許濃度三類。

3.7

時間加權平均容許濃度permissibleconcentration-timeweightedaverage；PC-TWA

以時間為權數規(guī)定的8h工作日、40h工作周的平均容許接觸濃度。

4工作場所空氣中納米二氧化鈦職業(yè)接觸限值

工作場所空氣中納米二氧化鈦的時間加權平均容許濃度（PC-TWA）為0.3mg/m3，見表1。

表1工作場所空氣中納米二氧化鈦職業(yè)接觸限值

OELsmg/m3

化學文摘號臨界不良

中文名英文名備注

CAS號健康效應

PC-TWA

腫瘤發(fā)生

Titaniumdioxide

納米二氧化鈦13463-67-70.3風險增加G2B

nanoparticles

1/1000

注：表格中“G2B”表示對人可疑致癌。

5監(jiān)測檢測方法

5.1工作場所空氣中納米二氧化鈦的采樣利用納米顆粒空氣采樣器參考GBZ159執(zhí)行。采樣器和采

樣方法見附錄A。

5.2工作場所空氣中納米二氧化鈦粉塵的檢測參考GBZ/T192.2和GBZ/T300.3執(zhí)行。若工作場所空

氣中含有除納米二氧化鈦外的其他納米顆粒，還需檢測納米二氧化鈦在總納米顆粒中的質量百分比，見

附錄B。

2

T/WSJD16.3—2023

附錄A

（規(guī)范性）

采樣器和采樣方法

A.1工作場所空氣中納米二氧化鈦采樣的空氣采樣器

空氣采樣器應用微孔均勻沉積式多級碰撞采樣器（Micro-orificeuniformdepositimpactor,

MOUDI）。可測定不同粒徑范圍的顆粒物質量濃度，粒徑范圍是10-18000nm，配有13級碰撞式切割器，

切割粒徑分別為10000nm、5600nm、3200nm、1800nm、1000nm、560nm、320nm、180nm、100nm、

56nm、32nm、18nm和10nm。應用2種不同直徑的鋁膜作為采樣膜，直徑47mm的鋁膜應用于110級，

直徑90mm的鋁膜應用于1113級，鋁膜厚度均為0.025mm。采樣流量為30.0L/min。

A.2工作場所空氣中納米二氧化鈦的采樣方法

工作場所空氣中納米二氧化鈦的采樣方法參照GBZ159關于職業(yè)接觸限值為時間加權平均容許濃度

的有害物質的采樣要求執(zhí)行。由于推薦的納米顆粒物空氣采樣器MOUDI不具有便攜性，建議使用定點采

樣方法采樣。采樣地點應具有代表性，采樣器進氣口盡量安裝在勞動者工作時的呼吸帶。當勞動者在一

個以上工作地點工作或移動工作時，在每個工作地點或移動范圍內設立采樣點分別采樣，并記錄每個采

樣點勞動者的工作時間。采樣時間按照現場實際情況選擇長時間采樣（每次采樣時間>1小時）或短時間

采樣（每次采樣時間為15min）。每個采樣點，在勞動者工作時，空氣中粉塵濃度最高的時段進行采樣。

采樣前后，將采樣膜置于干燥器內12h，應用電子天平準確稱量，取重量差值計算不同粒徑粉塵的質量

濃度。其中，1013級采樣膜采樣前后重量差值之和為空氣中納米顆粒的總質量。由于采樣獲得的納米

顆粒質量一般較小，稱重電子天平的絕對精度至少達到0.01mg，稱重環(huán)境的溫度和濕度應在天平標準

稱重要求的范圍內，并避免強對流空氣、遠離振動源和避免陽光直射。

3

T/WSJD16.3—2023

附錄B

（規(guī)范性）

檢測納米二氧化鈦在總納米顆粒中的質量百分比的方法

B.1電感耦合等離子體質譜（Inductivelycoupledplasmamassspectrometry,ICP-MS)

采集的納米顆粒樣品經酸消化處理后，可以通過ICP-MS測量其中鈦（Ti）元素的含量，進而推算出

納米二氧化鈦在總納米顆粒中的質量百分比。但使用本推薦方法的前提是納米顆粒中僅有納米二氧化鈦

一種含鈦化合物。

應用ICP-MS測定粉塵中鈦（Ti）元素含量的具體方法可以參考YY/T1507.1外科植入物用超高分子

量聚乙烯粉料中雜質元素的測定第1部分：ICP-MS法測定鈦（Ti）元素含量。

B.2掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscopy,SEM）配套X射線能譜分析儀（EnergyDispersive

X-rayAnalyzer,EDX）

SEM可以對采集的納米顆粒樣品的粒徑和形