標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 21638-2025 微束分析 鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則》相較于《GB/T 21638-2008 鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則》,在多個方面進(jìn)行了更新與改進(jìn),以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和行業(yè)需求的變化。這些變化主要體現(xiàn)在以下幾個方面:
-
術(shù)語定義的更新:新版標(biāo)準(zhǔn)對一些專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了修訂或新增,以確保術(shù)語更加準(zhǔn)確、統(tǒng)一,便于理解和使用。例如,對于某些特定類型的缺陷描述可能更加詳細(xì),或者引入了新的概念來反映近年來研究和技術(shù)的發(fā)展。
-
技術(shù)要求的提高:隨著電子束顯微鏡及相關(guān)設(shè)備性能的提升,《2025版》提高了對樣品制備、觀察條件等方面的技術(shù)要求。比如,可能會有更嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)來控制背景噪音水平、分辨率等關(guān)鍵參數(shù),以保證分析結(jié)果的質(zhì)量。
-
操作流程的優(yōu)化:基于多年實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)積累,《2025版》可能對原有的一些實(shí)驗(yàn)步驟進(jìn)行了簡化或優(yōu)化,使得整個過程更加高效且易于執(zhí)行。同時,也可能增加了更多關(guān)于如何避免常見錯誤及處理異常情況的指導(dǎo)信息。
-
安全與環(huán)境保護(hù):考慮到實(shí)驗(yàn)室工作環(huán)境的安全性以及環(huán)境保護(hù)的重要性,《2025版》加強(qiáng)了對此類問題的關(guān)注。這包括但不限于化學(xué)品使用管理、廢棄物處置規(guī)定等內(nèi)容。
-
附錄資料的擴(kuò)展:為了給用戶提供更多的參考資料和支持,《2025版》可能增加了新的附錄部分,如典型案例分析、相關(guān)研究成果綜述等,幫助讀者更好地理解和應(yīng)用該標(biāo)準(zhǔn)。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 即將實(shí)施
- 暫未開始實(shí)施
- 2025-03-28 頒布
- 2025-10-01 實(shí)施





文檔簡介
ICS7104099
CCSN.53.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T21638—2025
代替GB/T21638—2008
微束分析鋼鐵材料缺陷電子束顯微
分析方法通則
Microbeamanalysis—Guidelinesforelectronbeammicroanalysisof
defectsinsteelmaterials
2025-03-28發(fā)布2025-10-01實(shí)施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T21638—2025
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語和定義
3………………1
儀器設(shè)備
4…………………2
主要儀器
4.1……………2
輔助設(shè)備
4.2……………2
分析方法與程序
5…………………………2
方案制定
5.1……………2
試樣制備
5.2……………2
宏觀觀察與金相觀察
5.3………………2
電子束顯微觀察
5.4……………………3
綜合分析
5.5……………3
模擬試驗(yàn)
5.6……………4
分析報告
6…………………4
參考文獻(xiàn)
………………………5
Ⅰ
GB/T21638—2025
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)
GB/T1.1—2020《1:》
定起草
。
本文件代替鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則與
GB/T21638—2008《》,GB/T21638—2008
相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外主要技術(shù)變化如下
,,:
更改了宏觀分析的定義見年版的
a)(3.2,20083.2);
刪除了術(shù)語中的顯微分析見年版的
b)3.3(20083.3);
更改了電子束顯微分析的定義見年版的
c)(3.3,20083.4);
刪除了試驗(yàn)前準(zhǔn)備見年版的
d)5.2(20085.2);
增加了試樣制備見
e)(5.2);
刪除了材料的質(zhì)量檢驗(yàn)見年版的
f)5.5(20085.5);
刪除了附錄見年版的附錄
g)A(2008A)。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任
。。
本文件由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口
(SAC/TC38)。
本文件起草單位上海發(fā)電設(shè)備成套設(shè)計研究院有限責(zé)任公司寶山鋼鐵股份有限公司中國科學(xué)
:、、
院化學(xué)研究所上海大學(xué)國標(biāo)北京檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司
、、()。
本文件主要起草人張作貴季思凱王巖華田青超馬通達(dá)
:、、、、。
本文件于年首次發(fā)布本次為第一次修訂
2008,。
Ⅲ
GB/T21638—2025
引言
鋼鐵材料的缺陷主要包括表面缺陷和內(nèi)部缺陷表面缺陷如結(jié)疤翻皮等這些缺陷可能影響材料
,、,
的外觀和性能內(nèi)部缺陷如裂紋中心疏松縮孔夾雜物超標(biāo)等這些缺陷可能嚴(yán)重影響材料的機(jī)械性
。、、、,
能和耐用性
。
鋼鐵材料的缺陷形成涉及多個方面包括材料的選擇冶煉和澆注過程的質(zhì)量控制以及后續(xù)的加
,、,
工和處理等通過分析缺陷產(chǎn)生原因改進(jìn)生產(chǎn)工藝優(yōu)化材料選擇和使用條件可以有效減少或避免
。,、,
這些缺陷的發(fā)生從而提高鋼鐵材料的質(zhì)量和性能
,。
電子束顯微分析是高技術(shù)領(lǐng)域的分析技術(shù)在材料領(lǐng)域中有廣泛的應(yīng)用鋼鐵材料缺陷電子束顯
,。
微分析方法是以電子束顯微分析技術(shù)為核心將顯微分析與材料的質(zhì)量檢驗(yàn)科研生產(chǎn)工藝及用戶使
,,、、
用技術(shù)結(jié)合起來進(jìn)行綜合分析以表征鋼鐵材料缺陷成因
,,。
Ⅳ
GB/T21638—2025
微束分析鋼鐵材料缺陷電子束顯微
分析方法通則
1范圍
本文件規(guī)定了采用電子束顯微技術(shù)分析鋼鐵材料缺陷的儀器設(shè)備分析方法與程序分析報告等
、、。
本文件適用于鋼鐵材料內(nèi)部及表面缺陷的電子束顯微分析
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于
,;,()
本文件
。
金屬材料維氏硬度試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法
GB/T4340.11:
鋼中非金屬夾雜物含量的測定標(biāo)準(zhǔn)評級圖顯微檢驗(yàn)法
GB/T10561
鋼的游離滲碳體珠光體和魏氏組織的評定方法
GB/T13299、
電子探針定量分析方法通則
GB/T15074
微束分析原子序數(shù)不小于的元素能譜法定量分析
GB/T1735911
微束分析電子背散射衍射分析方法通則
GB/T19501
微束分析電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則
GB/T30703
微束分析電子背散射衍射金屬及合金的相分析方法
GB/T34172
鋼中帶狀組織的評定第部分標(biāo)準(zhǔn)評級圖法
GB/T34474.11:
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