JBT 9214-2010 無損檢測 A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法

備案號：28470—2010無損檢測A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)I Ⅲ 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14測試項目 15直探頭靈敏度余量的測試方法 16直探頭垂直線性的測試方法 27水平線性的測試方法 28直探頭分辨力的測試方法 39直探頭盲區(qū)的測試方法 410斜探頭入射點的測試方法 411斜探頭折射角或K值的測試方法 412斜探頭分辨力的測試方法 513斜探頭靈敏度余量的測試方法 514測試報告 6附錄A(規(guī)范性附錄)標準試塊 7 3 4 4圖4斜探頭折射角或K值的測試 5圖5斜探頭分辨力測試的回波顯示 5 7 7表1垂直線性測試記錄 2表A.1DB—P試塊尺寸 7 調(diào)整規(guī)范性引用文件(見第2章); 調(diào)整術(shù)語和定義(見第3章),并全面更新術(shù)語 合并1999年版的附錄A和附錄C(見本版的附錄A);—刪除1999年版的1.3和附錄B。JB/T9214—2010GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測(GB/T12604.1—2005,ISO5577:2000,IDT)GB/T19799.1—2005無損檢測超聲檢測1號校準試塊(ISO2400:1972,IDT)GB/T20737無損檢測通用術(shù)語和定義(GB/T20737—2006,ISO/TS18173:2005,IDT)JB/T8428—2006無損檢測超聲檢測用試塊2大，調(diào)節(jié)衰減器，使平底孔回波高度降至50%滿刻度。設(shè)此時衰減器的讀數(shù)為Si。5.2.3超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量(單位為dB)由式(1)給出： (1)6直探頭垂直線性的測試方法本測試是為了檢查超聲檢測儀增益線性和衰減器準確度兩者的綜合效果。測試時使用附錄A的DB—P(Z20—2或Z20—4)試塊，檢測儀的抑制置于“O”或“斷”,其他調(diào)整取適當值。6.2.1將探頭壓在試塊上，中間加適當?shù)鸟詈蟿?，以保持穩(wěn)定的聲耦合，并將平底孔的回波調(diào)至屏幕上時基線的適當位置。6.2.2調(diào)節(jié)衰減器或探頭位置，使孔的回波高度恰為100%滿刻度，此時衰減器至少應(yīng)有30dB的衰減6.2.3以每次2dB的增量調(diào)節(jié)衰減器，每次調(diào)節(jié)后用滿刻度的百分值記下回波幅度，一直繼續(xù)到衰減值為26dB,測量準確度為0.1%。將測試結(jié)果列入表1。測試值與波高理論值之差為偏差值，從表中取最大正偏差d(+)和最大負偏差d(-)的絕對值之和為垂直線性誤差△d(以百分值計),它由式(2)6.2.4按6.2.3的方法將衰減值增加到30dB,判定這時是否能清楚地確認回波的存在?；夭ǖ南闆r代表檢測系統(tǒng)的動態(tài)范圍。回波的消失情況024687水平線性的測試方法本測試是為了檢查超聲檢測系統(tǒng)的時基線性。測試時使用檢測面與底面平行而表面光滑的任何試3塊，試塊的厚度原則上相當于探測聲程的1/5。探頭應(yīng)采用適當參數(shù)。檢測儀的抑制置于“0”或“斷”,其他調(diào)整取適當值。7.2方法7.2.1將探頭壓在試塊上，中間加適當?shù)鸟詈蟿员３址€(wěn)定的聲耦合。調(diào)節(jié)檢測儀器的增益和掃描控制器，使屏幕上顯示出第6次底波。7.2.2當?shù)撞˙?和B?的幅度分別為50%滿刻度時，將它們的前沿分別對準刻度0和100(設(shè)水平全刻度為100格)。B和B?的前沿位置在調(diào)整中如相互影響，則應(yīng)反復(fù)進行調(diào)整。7.2.3再依次分別將底波B?、B?、B?、B?調(diào)到50%滿刻度，并分別讀出底波B?、B?、B?、B?的前沿與刻度20、40、60、80的偏差a?、a?、a4、as(以格數(shù)計),然后取其中最大的偏差值Qmax。圖1中的B?~B?是分別調(diào)到同一幅度，而不是同時達到此幅度。水平線性誤差A(yù)L(以百分值計)由式(3)給出：圖1水平線性測試的底波顯示8直探頭分辨力的測試方法8.1概要本測試是為了檢查超聲檢測系統(tǒng)的分辨力。測試時使用GB/T19799.1—2005的1號試塊或JB/T8428—2006的CSK—IB試塊，檢測儀的抑制置于“0”或“斷”,其他調(diào)整取適當值。8.2方法8.2.1將探頭壓在試塊上如圖2所示的位置，中間加適當?shù)鸟詈蟿┮员３址€(wěn)定的聲耦合。調(diào)整儀器的增益并左右移動探頭，使來自A、B兩個面的回波幅度相等并約為20%～30%的滿刻度，如圖2中h。8.2.2調(diào)節(jié)衰減器：使A、B兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度，此時衰減器所釋放的dB數(shù)(等于用衰減器的缺口深度h?h?之值)即為以dB值表示的超聲檢測系統(tǒng)的分辨力X。4JB/T9214—20102005的1號試塊或JB/T8428—2006的CSK—IB試塊。5用GB/T19799.1—2005的1號試塊或JB/T8428—2006的CSK—IB試塊。11.2方法11.2.1根據(jù)斜探頭折射角的不同標稱值，把探頭壓在1號試塊上的不同位置，中間加適當?shù)鸟詈蟿┮詀)當折射角為34°~66°時，探頭放在圖4a)的位置，使用φ50mm孔的回波進行測定；c)當折射角為74°~80°時，探頭放在圖4c)的位置，使用φ1.5mm孔的回波進行測定。在探頭聲束軸線與試塊側(cè)面保持平行的情況下前后移動探頭，使回波達到最大。圖4斜探頭折射角或K值的測試11.2.2讀出探頭入射點在試塊側(cè)面上所對應(yīng)的角度刻度值，此刻度值即為斜探頭的折射角β,讀數(shù)應(yīng)精確到0.5°。11.2.3也可使用CSK—IB試塊直接測定斜探頭的K值。將斜探頭壓在試塊上的不同位置，如圖4a)和圖4b),中間加適當?shù)鸟詈蟿┮员３址€(wěn)定的聲耦合。a)當K值為1.0～1.5時，探頭放在圖4a)的位置，使用φ50mm孔的回波進行測定；b)當K值為2.0～3.0時，探頭放在圖4b)的位置，使用φ50mm孔在探頭聲束軸線與試塊側(cè)面保持平行的情況下前后移動探頭，使回波達到最大。從探頭入射點在試塊側(cè)面所對應(yīng)的刻度值即可直接讀出斜探頭的K值。12斜探頭分辨力的測試方法本測試是為了檢查超聲檢測系統(tǒng)(斜探頭)的分辨力。測試時使用JB/T8428—2006的CSK—IB試塊，檢測儀的抑制置于“0”或“斷”,其他調(diào)整取適當值。12.2方法12.2.1根據(jù)斜探頭的折射角或K值，將探頭壓在CSK—IB試塊上，其位置如圖4a)或圖4b)所示，中間加適當?shù)鸟詈蟿┮员３址€(wěn)定的聲耦合。移動探頭位置使來自φ50高度相等，并約為20%～30%滿刻度，如圖5中h。圖5斜探頭分辨力測試的回波顯示12.2.2調(diào)節(jié)衰減器，使A、B兩波峰間的波谷上升到原來波峰高度，此時衰減器所釋放的dB數(shù)(等于用衰減器讀出的缺口深度h?h?之值)即為以dB值表示的超聲檢測系統(tǒng)(斜探頭)分辨力Z。13斜探頭靈敏度余量的測試方法13.1概要6本測試是為了檢查超聲檢測系統(tǒng)在經(jīng)過一段使用時期后的靈敏度變化情況，以及在實際應(yīng)用中表示不同斜探頭靈敏度的相對值。測試時使用GB/T19799.1—2005的1號試塊或JB/T8428—2006的CSK—IB試塊。檢測儀的抑制置于“0”或“斷”,其他調(diào)整取適當值。13.2.1將超聲檢測儀的增益調(diào)至最大，但如電噪聲較大時應(yīng)降低增益(調(diào)節(jié)增益控制器或衰減器),使電噪聲電平降至10%滿刻度。設(shè)此時衰減器的讀數(shù)為αo13.2.2將探頭壓在試塊上，位置如圖3所示，中間加適當?shù)鸟詈蟿┮员３址€(wěn)定的聲耦合。移動探頭，使平底孔回波最大，調(diào)節(jié)衰減器使來自R100mm曲面的回波高度降至50%滿刻度。設(shè)此時衰減器的讀數(shù)為α。14測試報告在測試報告中，除應(yīng)按要求的檢查內(nèi)容記錄各個項目的測試結(jié)果外