TS16949五大核心工具測試題

TS16949五大核心工具培訓(xùn)測試題姓名： 工號： 得分：一、選擇題〔每題2分，共20分。1.產(chǎn)品特別特性的來源是〔A 顧客要求規(guī)定的顧客規(guī)定的、法律法規(guī)要求或組織憑閱歷推斷的法律法規(guī)要求產(chǎn)品特別特性是指〔A 〕A可能影響產(chǎn)品的安全性或法律法規(guī)符合性、協(xié)作、功能、性能或產(chǎn)品后續(xù)生產(chǎn)過程的產(chǎn)品特性B影響產(chǎn)品的功能、性能或協(xié)作的產(chǎn)品特性C可能影響產(chǎn)品的安全性或法律法規(guī)符合性的產(chǎn)品特性產(chǎn)品特別特性的標(biāo)識應(yīng)當(dāng)是〔C〕只能用顧客規(guī)定的標(biāo)識只能用組織規(guī)定的符號必需與顧客規(guī)定的符號相全都，或組織的等效符號或記號APQP工作一般劃分的階段為〔B〕產(chǎn)品設(shè)計和開發(fā)驗證、過程設(shè)計和開發(fā)驗證、產(chǎn)品和過程確認〔當(dāng)組織有設(shè)計功能時、過程設(shè)計和開發(fā)驗證、產(chǎn)品和過程確認、反響、評定和訂正措施打算和確定工程、過程設(shè)計和開發(fā)驗證、產(chǎn)品和過程確認試生產(chǎn)掌握打算文件化描述指的是〔B 〕proto樣件〔原型樣件〕制造過程中的尺寸測量和材料與功能試驗的描述是對樣件研制后批量生產(chǎn)前，進展的尺寸測量和材料、功能試驗的描述是在大批量生產(chǎn)中，將供給產(chǎn)品/過程特性、過程掌握、試驗和測量系統(tǒng)的綜合文件A編制過程流程圖、FMEA、掌握打算等文件的挨次是〔A〕A.過程流程圖FMEA掌握打算B. FMEA過程流程圖掌握打算C.過程流程圖掌握打算FMEA一個單一的掌握打算可以適用于〔 C〕用一樣生產(chǎn)過程但用不同原料生產(chǎn)出來的一組和一個系列的產(chǎn)品用一樣原材料但用不同生產(chǎn)過程生產(chǎn)出來的一組和一個系列的產(chǎn)品用一樣的生產(chǎn)過程、一樣原材料生產(chǎn)出來的一組和一個系列的產(chǎn)品利用過程或設(shè)計來預(yù)防生產(chǎn)不合格產(chǎn)品，或通過防錯技術(shù)的運用，來確保不合格產(chǎn)品不流轉(zhuǎn)，不出廠。因此，防錯籌劃主要是指〔B 〕設(shè)計防錯設(shè)計防錯、過程防錯、防錯裝置過程防錯二、APA〔生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序：選擇題20分用于PPAP的產(chǎn)品必需滿足以下要求〔 〕18300件的連續(xù)生產(chǎn)零件該生產(chǎn)必需在生產(chǎn)現(xiàn)場使用與批量環(huán)境一樣的工裝、量具、過程、材料和操作人員進展生產(chǎn)來自每一個生產(chǎn)過程的零件A、B、C三個條件生產(chǎn)的零件組織向顧客提交生產(chǎn)件批準(zhǔn)時，必需滿足以下條件〔 〕產(chǎn)品要滿足設(shè)計記錄全部的規(guī)定要求產(chǎn)品根本滿足設(shè)計記錄規(guī)定的要求，只有極少的要求產(chǎn)生偏差既要產(chǎn)品滿足設(shè)計記錄全部的規(guī)定要求，又要相應(yīng)提交顧客規(guī)定的提交等級要求的文件和記錄資料PPAP的檢驗和試驗必需由有資格的試驗室完成。有資格的試驗室指的是〔 〕商業(yè)性的試驗室獨立的試驗室組織內(nèi)部試驗室獲得認證的商業(yè)性/獨立性的試驗室、組織內(nèi)部的合格試驗室或由顧客指定的試驗室組織必需按顧客要求的等級提交該等級的工程和/或記錄假設(shè)顧客未作提交等級規(guī)定時則按如下等級提交〔 〕A. 等級1 B.等級4 C.等級3 D.等級2組織必需在下面的一種狀況下通知顧客顧客可能會做出要求提交PPAP的打算這里指的“一種狀況”是〔 〕雖流程未變，但一樣的設(shè)備在同一個工廠內(nèi)移動一樣的量具更換PFMEA的RPN值變更工裝和設(shè)備轉(zhuǎn)移到不同的工廠或在一個增的廠址進展生產(chǎn)生產(chǎn)件批準(zhǔn)記錄的保存時間為〔 〕該零件生產(chǎn)時間加一個日歷年時間該零件生產(chǎn)時間加兩個日歷年時間該零件生產(chǎn)時間加五個日歷年時間供方必需在零件提交保證書〔PSW〕上記錄要發(fā)運的零件重量，除非顧客另有規(guī)定，否則一律用〔 〕克〔g〕2位〔0.00〕千克〔kg〕3位〔0.000〕千克〔kg〕4位〔0.0000〕PPAP產(chǎn)品的全尺寸測量應(yīng)當(dāng)是〔 〕多個工作站的一樣產(chǎn)品，只要對其中一個工作站產(chǎn)品進展全尺寸測量多條生產(chǎn)線生產(chǎn)一樣的產(chǎn)品，只要對其中一條生產(chǎn)線的產(chǎn)品進展全尺寸測量多穴模生產(chǎn)的產(chǎn)品，只要對其中一個模腔的產(chǎn)品進展全尺寸測量對于每一個的加工過程〔單一過程流〕的產(chǎn)品，如：單元或生產(chǎn)線和全部的多穴模、成型模、樣板或沖模的每一個產(chǎn)品，均要進展全尺寸測量。三FME〔潛在的失效模式和后果分析：選擇題201.FMEA適用的場合為〔 〕設(shè)計、技術(shù)或過程修改現(xiàn)有的設(shè)計或過程在一個的環(huán)境、地點或應(yīng)用上，利用了現(xiàn)有的設(shè)計或過程A、B、C、三種場合都適用設(shè)計FMEA文件的完成時間為〔 〕試生產(chǎn)前批量生產(chǎn)前產(chǎn)品加工圖樣完成之前過程FMEA文件的完成時間為〔 〕批量生產(chǎn)前在生產(chǎn)工裝完成前試生產(chǎn)開頭時增加設(shè)計確認/驗證措施，可降低〔 〕嚴峻度級別〔S〕探測度級別〔D〕頻度級別〔O〕修改設(shè)計，可降低〔 〕頻度級別〔O〕探測度級別〔D〕嚴峻度級別〔S〕進展過程FMEA時，應(yīng)考慮如下過程〔 〕從零件生產(chǎn)開頭到生產(chǎn)完畢的全部過程從原材料接收開頭到生產(chǎn)完畢的全部過程從原材料接收開頭到產(chǎn)品出廠的全部過程在現(xiàn)行設(shè)計掌握中，應(yīng)優(yōu)先承受〔 〕探測：在該工程投產(chǎn)前，以任何解析的或物理的方法，查出失效或失效模式的起因/機理預(yù)防：預(yù)防失效起因/機理或失效模式的消滅，以削減它們的頻度在PFMEA探測度評價準(zhǔn)則中，不同的檢查類型則有不同的探測度評價級別，能到達最低探測度級別的檢查類型為〔 〕測量防錯人工檢查四、SPC〔統(tǒng)計過程掌握：是非題20分 對〔√〕錯〔X〕變差的特別緣由指的是造成不是始終作用于過程的變差緣由，即當(dāng)它們消滅時，將造成整個過程的分布改變。例如：機器和刀具的漸漸正常磨損就是影響變差的特別緣由。 〔 〕變差的一般緣由指的是隨著時間的推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的很多變差緣由。例如，機器及其固定裝置間的游隙和間隙，更改了測量系統(tǒng)都屬于變差的一般緣由。 〔 〕盡管單個測量值各不一樣，但一組測量值趨于形成一個分布圖形，其分布特性由位置〔測量值分布中心〕和外形〔變差的模式---是否對稱、偏斜等〕來打算的。 〔 當(dāng)過程處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，但由于過程力量缺乏時，操作者不應(yīng)實行頻繁調(diào)整機床〔過度調(diào)整。但過程不受控時，由于存在變差的特別緣由，操作者不應(yīng)置之不理，不實行措施〔掌握缺乏?！?〕Pp、Ppk是一個短期的力量指數(shù)，常用于初始過程的力量爭論，是以一個操作循環(huán)中獵取的測量為根底的。一般要求Pp≥2，Ppk≥1.67。 〔 〕Cp、Cpk是一個長期的力量指數(shù)，是通過很長一段時間內(nèi)進展的測量，應(yīng)在足夠長的時間內(nèi)收集數(shù)據(jù)。只1.33≤Cpk≤1.67.〔 〕對計量型特性值收集數(shù)據(jù)時，一般零件總數(shù)不少于100件，即子組不少于25組。子組容量一般選4-5件，但抽取的零件可以不是一個單一的過程流生產(chǎn)的零件。 〔〕在分析計量型掌握圖極差圖時，消滅低于平均值極差的鏈或下降鏈時，即輸出值分布寬度在減小，這說明過程在變壞。此時應(yīng)分析排解特別緣由，使過程受控。 〔〕五、MSA〔測量系統(tǒng)分析：是非題20分對〔√〕錯〔X〕評價一個測量系統(tǒng)時，應(yīng)當(dāng)考慮的一個問題是，量具應(yīng)具有足夠的區(qū)分力和靈敏度。這里強調(diào)的10：1的規(guī)章，是指測量設(shè)備要能區(qū)分出公差或過程變差的至少格外之一以上。例如，特性變差為0.001，則設(shè)備應(yīng)能讀出0.0001的變化量。 〔〕偏倚是指觀測到的每個測量值與觀測的測量值的平均值之間的差值。 〔〕推斷測量系統(tǒng)的偏倚是否可承受準(zhǔn)則是假設(shè)O落在偏倚值四周的1-α置信度界限內(nèi)則偏倚在α水準(zhǔn)上是可承受的。 〔〕一個特性值的真值是無法測得的，取而代之的是一個參考值。參考值是對該特性值用量具進展n≥10次測得的值的平均值。 〔〕線性是指量具在正常工作量程內(nèi)的偏倚變化量。 〔 〕平均值和極差法〔X-R〕是一種可同時對測量系統(tǒng)供給重復(fù)性和再現(xiàn)性的估量值的爭論方法，并能將重復(fù)性和再現(xiàn)性分解成兩