標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 37665-2019 古陶瓷化學(xué)組成無損檢測 PIXE分析技術(shù)規(guī)范》是針對使用粒子誘發(fā)X射線發(fā)射光譜(PIXE)技術(shù)對古陶瓷進(jìn)行非破壞性化學(xué)成分分析而制定的標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)旨在提供一種科學(xué)、準(zhǔn)確的方法來確定古陶瓷樣品中的元素組成及其含量,從而為文物鑒定、考古研究等領(lǐng)域提供技術(shù)支持。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的古陶瓷材料,通過PIXE方法能夠檢測出樣品表面微區(qū)內(nèi)的多種元素信息,包括但不限于硅、鋁、鐵等主要構(gòu)成元素以及微量元素。它規(guī)定了從樣品準(zhǔn)備到數(shù)據(jù)分析整個過程的操作步驟和技術(shù)要求,確保不同實驗室之間數(shù)據(jù)的一致性和可比性。
對于樣品制備部分,標(biāo)準(zhǔn)強調(diào)了選取代表性區(qū)域的重要性,并給出了如何清潔處理待測部位的具體指導(dǎo);在實驗條件設(shè)置方面,則詳細(xì)描述了加速器參數(shù)選擇、束流強度控制等內(nèi)容;至于數(shù)據(jù)采集與處理環(huán)節(jié),明確了譜圖背景扣除、峰識別及定量計算的原則和方法。
此外,《GB/T 37665-2019》還特別關(guān)注了安全防護措施,提醒操作人員注意輻射防護和個人健康保護。同時,為了保證測試結(jié)果的有效性和可靠性,標(biāo)準(zhǔn)也提出了質(zhì)量控制的要求,比如定期校準(zhǔn)儀器、采用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)驗證系統(tǒng)性能等。
此標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布實施有助于提高我國在文化遺產(chǎn)保護領(lǐng)域利用現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)手段的能力水平,促進(jìn)相關(guān)學(xué)科的發(fā)展進(jìn)步。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2019-06-04 頒布
- 2019-06-04 實施




文檔簡介
ICS0308099
A10..
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T37665—2019
古陶瓷化學(xué)組成無損檢測
PIXE分析技術(shù)規(guī)范
Non-destructivetestingforchemicalcompositionsofancientceramics—
PIXEanalysistechniquestandards
2019-06-04發(fā)布2019-06-04實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T37665—2019
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍
1………………………1
原理
2………………………1
設(shè)備
3………………………1
樣品處理
4…………………1
測量及分析
5………………2
測試報告
6…………………3
附錄資料性附錄古陶瓷化學(xué)組成無損檢測分析測試報告
A()PIXE………………4
Ⅰ
GB/T37665—2019
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由國家文物局提出
。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國文物保護標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC289)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位復(fù)旦大學(xué)
:。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人承煥生張斌
:、。
Ⅲ
GB/T37665—2019
古陶瓷化學(xué)組成無損檢測
PIXE分析技術(shù)規(guī)范
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了古陶瓷化學(xué)元素組成無損檢測實驗過程中質(zhì)子激發(fā)射線熒光分析技術(shù)的
X(PIXE)
要求
。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于古陶瓷化學(xué)元素組成的無損檢測
。
2原理
用經(jīng)加速器加速后的質(zhì)子束轟擊樣品使待測物質(zhì)中原子受激電離當(dāng)所形成的內(nèi)殼層空穴為外
,、,
層電子填充時發(fā)射特征射線通過探測特征射線的能量與強度來確定樣品中元素的種類和
,X,X,
含量
。
3設(shè)備
31加速器
.
能提供準(zhǔn)直質(zhì)子束的加速器例如單級靜電加速器或串列加速器
1.5MeV~4.0MeV,:。
32樣品臺
.
應(yīng)設(shè)置一個樣品的定位裝置樣品臺樣品臺可分為以下兩種方式
“”———。:
封閉式采用一定體積的真空靶室待檢測樣品置于靶室內(nèi)樣品大小受靶室?guī)缀纬叽缦拗?/p>
———:,,;
開放式采用外束測試待測樣品置于質(zhì)子束的引出端例如經(jīng)加速器獲得的準(zhǔn)直質(zhì)子束穿
———:,。:
越的膜引入大氣繼續(xù)穿越空氣層而到達(dá)待測樣品該方式的優(yōu)點是待測樣
7.5μmKapton,。
品的幾何尺寸可不受限制更換樣品比較方便
,。
33X射線測量系統(tǒng)
.
在測量系統(tǒng)中探測器對的的射線能量分辨率應(yīng)小于以保證探
PIXE,Mn5.894keVKα,150eV,
測精確度探測器的鈹窗厚度應(yīng)選擇以保證探測器對的能量為的
。7.5μm~12μm,Na1.041keVKα
射線有足夠的探測效率
。
采用封閉式靶室時應(yīng)抽真空進(jìn)行測試真空度應(yīng)在-4以下
,,10Pa。
采用外束方法時應(yīng)在樣品靶點與探測器窗之間充以氦氣以減少空氣對樣品發(fā)射的低能
PIXE,,X
射線的吸收否則測試系統(tǒng)對元素和探測將不靈敏或測量誤差過大
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