GB/T 2424.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２４．１５—２００８／犐犈犆６００６８３２：１９７６

代替ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９９２

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

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（ＩＥＣ６００６８３２：１９７６，Ｂａｓｉｃｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｇｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—

Ｐａｒｔ３：Ｂａｃｋｇｒｏｕｎｄｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ—Ｓｅｃｔｉｏｎｔｗｏ—Ｃｏｍｂｉｎｅｄｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ／ｌｏｗ

ａｉｒｐｒｅｓｓｕｒｅｔｅｓｔｓ，ＩＤＴ）

２００８１２３０發(fā)布２００９１００１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅／犜２４２４．１５—２００８／犐犈犆６００６８３２：１９７６

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍和規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２一般說(shuō)明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３環(huán)境影響!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

４試驗(yàn)設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

５環(huán)境參數(shù)的測(cè)量!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

圖１氣壓和空氣流速對(duì)試驗(yàn)樣品表面溫度的綜合影響!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

書(shū)

犌犅／犜２４２４．１５—２００８／犐犈犆６００６８３２：１９７６

前言

ＧＢ／Ｔ２４２４包含以下部分：

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

———ＧＢ／Ｔ２４２４．６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度／濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

———ＧＢ／Ｔ２４２４．７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Ａ和Ｂ（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１０電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１４電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第３部分：溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２２電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試

驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第３部分：試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第３部分：支持文件和導(dǎo)則振動(dòng)試驗(yàn)選擇

本部分為ＧＢ／Ｔ２４２４的第１５部分。本部分等同采用ＩＥＣ６００６８３２：１９７６《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程

第３部分：背景資料第２節(jié)：溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)》（英文版）。

根據(jù)ＧＢ／Ｔ１．１－２０００《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第１部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫(xiě)規(guī)則》要求，對(duì)編排格式進(jìn)

下列編輯性修改：

———?jiǎng)h除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言并新增國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的前言；

———增加了規(guī)范性引用文件；

———“本版”改成“本部分”；

———修改氣壓的單位ｍｂａｒ?yàn)椋耄校帷?/p>

本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９９２《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)

則》。

本部分與ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９９２相比主要變化如下：

———調(diào)整了各章節(jié)結(jié)構(gòu)使之與ＩＥＣ原文結(jié)構(gòu)一致；

———修改３．１的標(biāo)準(zhǔn)條件（３５℃和１０１．３ｋＰａ）為（２５℃和１０１．３ｋＰａ）；

———粘度改成絕對(duì)粘度；

———?jiǎng)h除了“注：對(duì)于電工專業(yè)產(chǎn)品，尤其是電壓在１０００Ｖ以上的電工產(chǎn)品，其環(huán)境條件的修正系

數(shù)應(yīng)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定?！保ǎ保梗梗材臧娴模矗保玻?。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)化委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：廣州電器科學(xué)研究院、廣州威凱檢測(cè)技術(shù)研究所、重慶四達(dá)試驗(yàn)設(shè)備有限公司。

本部分主要起草人：劉功桂、肖立、陳云生。

本部分所替代標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—１９９２。

Ⅰ

犌犅／犜２４２４．１５—２００８／犐犈犆６００６８３２：１９７６

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

１范圍和規(guī)范性引用文件

１．１范圍

ＧＢ／Ｔ２４２４的本部分規(guī)定的溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)，涉及地面或空中應(yīng)用的一系列氣壓。

本部分不適用于氣壓小于１ｋＰａ的試驗(yàn)。

１．２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)ＧＢ／Ｔ２４２４的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議

的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

ＧＢ／Ｔ２４２４．１—２００５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（ＩＥＣ６００６８３１：１９７４，ＩＤＴ）

２一般說(shuō)明

在本部分規(guī)定的空氣密度范圍內(nèi)，空氣分子的平均自由程始終為零點(diǎn)幾毫米，因而空氣的導(dǎo)熱性和

絕對(duì)粘度均與氣壓無(wú)關(guān)?？諝饬饕话銓儆跍餍突蛲牧餍停某合碌母鞣N規(guī)律。

自由空氣對(duì)流和強(qiáng)迫空氣對(duì)流這二種傳熱基本規(guī)律與在正常大氣壓力下時(shí)相同。因此，

ＧＢ／Ｔ２４２４．１中有關(guān)對(duì)流方面的要求也適用于低氣壓綜合試驗(yàn)（至少通常情況下適用）。