標準解讀
GB/T 12085.2-1989 是一項中國國家標準,專注于光學和光學儀器在不同環(huán)境條件下的試驗方法。該標準具體針對的是低溫、高溫、濕熱三種環(huán)境試驗,旨在確保光學和光學儀器在各類惡劣氣候條件下仍能保持其性能穩(wěn)定性和可靠性。以下是該標準內容的詳細說明:
標準適用范圍
本標準適用于各種類型的光學儀器及其組件,包括但不限于相機鏡頭、望遠鏡、顯微鏡、激光設備等,規(guī)定了這些設備在進行低溫、高溫、濕熱環(huán)境適應性測試時應遵循的方法和程序。
低溫試驗
- 目的:驗證光學儀器在低溫環(huán)境下的工作性能和材料耐受性。
- 條件:規(guī)定了具體的低溫測試溫度范圍,通常包括幾個等級,如-10°C、-20°C、-40°C等,具體依據產品應用需求而定。
- 方法:將樣品放置于可控溫的低溫箱內,逐步降溫至預定溫度并保持一定時間,之后檢查樣品的功能與外觀變化。
高溫試驗
- 目的:評估光學儀器在高溫環(huán)境中的運行穩(wěn)定性和材料的熱穩(wěn)定性。
- 條件:設定一系列高溫測試點,例如50°C、60°C、70°C等,根據設備預期使用環(huán)境確定。
- 方法:將樣品至于高溫箱中,加熱至目標溫度并維持一段時間,觀察和記錄任何功能異?;蛭锢碜冃?。
濕熱試驗
- 目的:檢驗光學儀器在高濕度及高溫共同作用下的性能和抗腐蝕能力。
- 條件:不僅設定溫度(如40°C、50°C),還規(guī)定相對濕度水平(如90%RH、95%RH)。
- 方法:利用濕熱試驗箱模擬濕熱環(huán)境,使樣品暴露于高溫高濕條件下,檢查密封性、內部凝露及功能影響。
試驗過程控制
- 預處理:所有試驗前,樣品需進行適當預處理,確保處于基準狀態(tài)。
- 監(jiān)測:在試驗過程中,需持續(xù)監(jiān)控并記錄環(huán)境參數,確保符合試驗條件。
- 恢復:試驗結束后,樣品需在標準大氣條件下恢復一段時間,再進行性能檢測和評估。
結果評估
- 通過對比試驗前后樣品的功能表現、外觀變化及結構完整性,評估其在極端環(huán)境下的適應性。
- 判定是否滿足設計要求或相關標準規(guī)范。
該標準為光學和光學儀器的制造商、檢測機構提供了統(tǒng)一的測試方法,以確保產品在不同氣候條件下的可靠性和用戶滿意度。
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文檔簡介
UDC681.7.08N30中華人民共和國國家標準GB12085.2-89光學和光學儀器環(huán)境試驗方法低溫、高溫、濕熱Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Cold,heat,humidity1989-12-29發(fā)布1990-08-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標準光學和光學儀器環(huán)境試驗方法GB12085.2-89低溫、高溫、濕熱Opticsandopticaliastruments-Environmentalltes1methods-Cold,heat,humidity主題內容與適用范圍本標準規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記本標準適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。2試驗目的研究試樣的光學、熱學、化學及電學等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。引用標準GB12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法專術語、試驗范圍GB2423.1電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法GB2423.2電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB2423.3電電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法GB2423.4電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db;交變濕熱試驗方法試驗條件4.1試驗箱(室)有效工作空間中各處溫度應均勻,并應和控制點的數值一致,試驗箱(室)壁上和頂上的結水不得滴落到試樣上。4.2散熱試樣試驗時,應在有關標準中規(guī)定溫度傳感器的安裝位置和數量。5條件試驗試樣的各個部分都達到試驗箱(室)的溫度±3℃之內開始試驗。對散熱試樣,在溫度穩(wěn)定的試驗箱(室)內試樣的溫度變化在每小時不超過±1℃時作為開始(或終止)暴露周期的時間(條件試驗方法14或15)。試樣的溫度達到穩(wěn)定的最后1h作為暴露周期的最初1h。5.1恒應力狀態(tài)試樣在恒應力狀態(tài)暴露期間,溫度變化應十分緩慢以防止試樣損壞。用條件試驗方法11或12時,溫度變化階段應保持最大的相對濕度,并在有關標準中說明試樣上是否允許出現攝露。5.1.1條件試驗方法10:低溫條件試
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