X線測(cè)厚和紅外測(cè)厚的比較

1、線測(cè)厚和紅外測(cè)厚的比較性能紅外探頭X線探頭優(yōu)勢(shì)方放射性非放射性低能量放射性，寬免輻射安相同全同意管理薄膜溫度薄膜自己溫度及霧度變化影響無影響X線探頭及霧度紅外測(cè)量結(jié)果薄膜抖動(dòng)不透明及有孔薄膜，紅外線散射直線柱X線，無影響X線探頭及抖動(dòng)對(duì)測(cè)量有影響。增加劑吸守信號(hào)會(huì)變化，校正后即X線探頭能對(duì)應(yīng)測(cè)量值測(cè)量范圍TFG710：235微米，32000微米X線探頭FG710：105000微米測(cè)量精度0.05微米0.1%or0.03微米X線探頭使用壽命燈泡，馬達(dá)保證使用5年X線管平均使用10年以上X線探頭響應(yīng)時(shí)間1秒20毫秒X線探頭發(fā)射窗10毫米直徑8毫米直徑X線探頭一、簡(jiǎn)述：1、紅外測(cè)厚：紅外測(cè)厚探頭是利

2、用特定紅外線波段在特定的塑料薄膜中被強(qiáng)烈吸取的原理測(cè)量薄膜的厚度。該傳感器對(duì)單一透明資料的檢測(cè)牢固，不受周邊環(huán)境變化的影響。但對(duì)增加劑及顏色的變化敏感，在同一條生產(chǎn)線上要生產(chǎn)不相同成分的產(chǎn)品及多種資料的產(chǎn)品不能夠適應(yīng)。2、X線測(cè)厚：線測(cè)厚探頭是利用X線管通電產(chǎn)生X線作為信號(hào)源來檢測(cè)塑料薄膜的厚度，只對(duì)總資料成分的變化產(chǎn)生反應(yīng)。X線探頭有諸多優(yōu)點(diǎn)：非放射性物質(zhì)；無需使用同意證；測(cè)量范圍廣；測(cè)量精度高；各種塑料都可測(cè)量。3、P+F（北京）機(jī)電科技有限公司開發(fā)了全自動(dòng)模頭螺栓對(duì)位系統(tǒng)軟件（AutoMappingsoftware）。利用完好相同的前后二臺(tái)測(cè)厚儀，測(cè)量正確，真切實(shí)現(xiàn)測(cè)厚儀剖面完好正確的自

3、動(dòng)對(duì)應(yīng)，不需要任何的人工干預(yù)，既即是在改變生產(chǎn)線速度或改變產(chǎn)品的寬度情況下，薄膜測(cè)厚儀能在每次掃描時(shí)依照所測(cè)薄膜寬度的變化，自動(dòng)調(diào)整螺栓的對(duì)應(yīng)地址關(guān)系。前后二臺(tái)測(cè)厚儀完好相同，能夠互換使用；二臺(tái)測(cè)厚儀各自獨(dú)立運(yùn)行，互不攪亂；模頭螺栓控制柜獨(dú)立運(yùn)行，從測(cè)厚儀中讀取數(shù)據(jù)后直接控制螺栓。該自動(dòng)對(duì)位系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了剖面和螺栓的正確對(duì)應(yīng)，無論鑄片剖面如何變化，薄膜測(cè)厚儀都能精確追蹤。所以薄膜的平均性和膜卷的平展度獲取最大的改進(jìn)。該套系統(tǒng)已在國(guó)內(nèi)多條雙拉生產(chǎn)線上實(shí)質(zhì)應(yīng)用，收效很好。二、詳盡原理簡(jiǎn)單介紹以下：1、鑄片測(cè)厚儀依照鑄片縮頸量的變化，自動(dòng)確定鑄片剖面上每個(gè)螺栓的地址；（模頭的寬度已知，鑄片的寬度被測(cè)量出

4、來，縮頸量模頭寬鑄片寬；只有模頭二邊的螺栓參加縮頸，由縮頸量，可計(jì)算出參加縮頸的螺栓數(shù)，最后確定出鑄片上每個(gè)螺栓在鑄片剖面上的地址。）2、鑄片測(cè)厚儀依照剖面上螺栓的地址，計(jì)算出每個(gè)螺栓所占全部質(zhì)量的百分比；（鑄片測(cè)厚儀從一邊掃描到另一邊結(jié)束，測(cè)量出100的橫向質(zhì)量分布，每個(gè)螺栓的地址已知，所以即可得出每個(gè)螺栓所占質(zhì)量的百分比。）3、薄膜測(cè)厚儀也是測(cè)量全部100質(zhì)量的分布剖面，依照鑄片測(cè)厚儀每個(gè)螺栓所占的百分比，就可以確定每個(gè)螺栓在薄膜剖面上所對(duì)應(yīng)的地址，這樣就確定了每個(gè)螺栓在薄膜剖面上的寬度，從而計(jì)算出相應(yīng)的平均厚度，用該平均厚度和目標(biāo)值進(jìn)行比較，對(duì)相應(yīng)的模頭螺栓進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)控。（薄膜測(cè)厚儀必

5、定是要在切邊從前測(cè)量，這樣就保證測(cè)量的也是一邊到另一邊全部剖面的100%的橫向質(zhì)量分布，由于生產(chǎn)線的輸出是必然的，單位時(shí)間供應(yīng)鑄片測(cè)厚儀和薄膜測(cè)厚儀的量是相同的，所以在薄膜剖面上就可以依照鑄片剖面上每個(gè)螺栓所占的百分比分布來確定出螺栓的寬度及位置。獲取每個(gè)螺栓的平均厚度或克重量。）4、薄膜測(cè)厚儀上螺栓的地址不固定，完好依照鑄片剖面的變化和薄膜剖面的變化自動(dòng)追蹤，自動(dòng)調(diào)整。當(dāng)擠出量或生產(chǎn)線速度的變化引起鑄片寬度發(fā)生改變時(shí)；當(dāng)拉伸比調(diào)整或變化引起薄膜寬度改變時(shí)；該系統(tǒng)軟件能在每次掃描后就依照所測(cè)結(jié)果自動(dòng)追蹤調(diào)整每個(gè)螺栓在鑄片和薄膜上對(duì)應(yīng)的地址。前后測(cè)厚儀部署圖雙拉實(shí)質(zhì)應(yīng)用圖P+F產(chǎn)品專業(yè)為雙拉設(shè)備

6、配套，所以有很多特地給雙拉的設(shè)計(jì)和應(yīng)用：1、全自動(dòng)螺栓對(duì)應(yīng)軟件Auto-mapping；2、前后測(cè)厚儀使用相同的探頭；3、前后測(cè)厚儀都全幅掃描檢測(cè)；4、專用膜邊剖面顯示畫面；5、最正確螺栓功率存貯。內(nèi)容總結(jié)（1）線測(cè)厚和紅外測(cè)厚的比較一、簡(jiǎn)述：1、紅外測(cè)厚：紅外測(cè)厚探頭是利用特定紅外線波段在特定的塑料薄膜中被強(qiáng)烈吸取的原理測(cè)量薄膜的厚度（2）X線探頭有諸多優(yōu)點(diǎn)：非放射性物質(zhì)（3）前后二臺(tái)測(cè)厚儀完好相同，能夠互換使用（4）二臺(tái)測(cè)厚儀各自獨(dú)立運(yùn)行，互不攪亂（5）模頭螺栓控制柜獨(dú)立運(yùn)行，從測(cè)厚儀中讀取數(shù)據(jù)后直接控制螺栓（6）該套系統(tǒng)已在國(guó)內(nèi)多條雙拉生產(chǎn)線上實(shí)質(zhì)應(yīng)用，收效很好內(nèi)容總結(jié)（1）線測(cè)厚和紅外測(cè)厚的比較一、簡(jiǎn)述：1、紅外測(cè)厚：紅外測(cè)厚探頭是利用特定紅外線波段在特定的塑料薄膜中被強(qiáng)烈吸取的原理測(cè)量薄膜的厚度（2）X線探頭有諸多優(yōu)點(diǎn)：非放射性物質(zhì)（