按鍵壽命測試

1、VTech Telecommunications LtdWORK INSTRUCTIONSTITLE按鍵壽命試驗1. 目的1.1 制定規(guī)范的操作指引,提供試驗人員進行按鍵壽命試驗.1.2 模擬用戶日常使用電話的情形,試驗在不同部位的按鍵壽命情況.2. 范圍適用于所有電話機成品（除客戶特殊要求外）以及物料.3. 參考文件3.1 WQA9151- Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products.3.2 WQA9152- Reliability Test Items for Vtech Europ

2、e Products.4. 定義無.5. 責任5.1 試驗申請者提供試驗功能正常的樣品，并填寫試驗申請單.5.2 實驗室負責人負責完成所有的可靠性測試,并以E - Mail形式將試驗結果 通知Project Leader和申請者，試驗完畢后發(fā)出的正式的報告，并將樣品退 還申請人.5.3 對于Failure的項目，實驗室負責人要在當天內通知相關負責人員,并協(xié)助 分析Fail的原因.5.4 相關部門在必要時提供改善行動，并且送改善后的Sample到實驗室，重做 測試，以確認改善行動是否有效.6. 程序6.1 沖頭的調校及安裝（按鍵壽命測試）REF. NO.WQA9022PAGE REV.10.0P

3、AGE2 of 4WORK INSTRUCTIONSTITLE|按鍵壽命試驗6.1.1 逐一調校沖頭上的彈簧行程，用彈力計測量，使之符合按壓距離3.0±).2mm 時 壓力為 450600g.6.1.3彈力計調校螺絲屮3mmIl ur6.1.2 將調校好的沖頭正確地安裝在沖壓機上測試頻率:5070次/ 1分鐘6.2 檢查樣品機的所有按鍵外觀裝配應良好和功能正常撚后將樣品機正確 地安裝在沖壓機的支架上.6.3 做按鍵壽命試驗,VTECH標準要求如下:6.3.1 機械壽命次數(shù)種類具體例子要求次數(shù)美洲機歐洲機數(shù)字按鍵“0 9數(shù)字鍵100,000 200,000每次使用開/關機鍵；Menu鍵

4、75,000 10(),000經(jīng)常使用免提按鍵;音量按鍵；“*及“# 鍵;ITAD 鍵；Delete 鍵50,000 50000經(jīng)常使用Radio 鍵30,000 30000偶然使用PAGE, Memory dial, Mute, Hold, Redial, Flash, Conferen ce,In tercom"鍵10,00010,000較少使用“PROGRAM 鍵5,000 5,0()06.3.2 試驗過程中需每一萬次停下來檢查一次，如有問題需詳細記錄.REF. NO.WQA9022PAGE REV.10.0PAGE3 of 4WORK INSTRUCTIONSTITLE按鍵壽命試驗6.3.3 試驗過程 中試驗項目檢查細節(jié)Keypad功能,卡鍵，觸點導電層爛或脫落,Keypad爛或裂等.7. 試驗要求7.1 試驗中和試驗后按鍵功能正常.7