手機-可靠性測試準則

1、更多設汁資料請訪問金Edited by Foxit PDF EditorCopyright (c) by Foxit Software Companyp 2003 - 2009For Evaluation Only.手機可靠性測試標準了解了手機的一般結構之后，在開始結構設計之前，需要清楚地知道一部于機耍達到上市的要求需耍通 過哪些測試，達到什么樣的標準。手機可靠性測試(PRT)的口的是在特定的町接受的環(huán)境I、不斷的催化產(chǎn)品的殍命和疲勞度，可以在早期 預測和評估產(chǎn)品的質(zhì)吊和可靠性。于機結構設計工程師必須通曉可靠性測試的所仃標準，在設計階段就必須 采取正確的設計和選擇合適的材料來避免后續(xù)產(chǎn)品的質(zhì)靈

2、和可靠性問題。手機的入網(wǎng)認證必須經(jīng)過國家的可 靠性測試，而FI越來越嚴格，耍求也越來越高，這就対我們的設計提出了更高的耍求.町靠性測試包括六個部分加速壽命測試，氣候適應測試.結構耐久測試，表面裝飾測試，特殊條件測試, 及其他條件測試。2.1.加速壽命測試 ALT (Accelerated Life Test) 樣機標準數(shù)量：PR1： 10臺PR2： 12臺 PR3： 12臺 PIR： 12臺 試驗周期：1012天2. 1. 1室溫下參數(shù)測試(Parametric Test)2. 1. 2 溫度沖擊測試(Thermal Shock)測試環(huán)境：低溫箱：-30° C ；高溫箱：+70

3、76; C試驗方法：手機帶電池，設置成關機狀態(tài)先放置高溫箱內(nèi)持續(xù)45分鐘后，在15秒內(nèi)迅速移 入低溫箱并持續(xù)45分鐘后，再15抄內(nèi)迅速回到高溫箱。此為一個循環(huán)，共循環(huán)27 次。實驗結束后將樣機從溫度沖擊箱(高溫箱)中取出，恢復2小時厲進行外觀、 機械和電性能檢査。對于翻蓋手機，應將一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手札應將 一半樣晶滑開到上限位置。試驗標準：于機衷而噴涂無異變，結構無異常，功能正常，可正常撥打電話。2. 1. 3 跌落試驗(Drop Test)測試條件：1.5m高度，20mm厚人理石地板。(對觸挾屏手機，跌落高度為1.3m)試驗方法：將手機處J：開機狀態(tài)進行跌落。刈直握手機，進行6個面

4、的口由跌落實驗，毎個 而的跌落次數(shù)為1次，每個面跌落之后進行外觀、結構和功能檢査。對翻蓋于機, 進行8個面的自由跌落實驗；梵中一半樣品介上翻蓋按直握手機的方法進行跌落，更多設訃資料請訪問金三維視頻教程網(wǎng):http:v.另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻孟。跌落結束后對外觀、結構和功能進行檢 査。試驗標準：手機外觀，結構和功能符介耍求。2. 1. 4 振動試驗(Vibration Test) 測試條件：振幅：0.38mm/振頻：1030Hz；振輛：0. 19mm/振頻：3055Hz：測試目的：測試樣機抗振性能試驗方法：將丁機開機放入振動箱內(nèi)固尢夾緊川動振動臺按X、Y、Z二個軸向分別振動1個 小時

5、，每個軸振完之后取出進行外觀、結構和功能檢査。三個軸向振動試驗結束后, 對樣機進行參數(shù)測試。試驗標準：振動后手機內(nèi)存和設置沒有丟火現(xiàn)彖，手機外觀，結構和功能符合要求，參數(shù)測試 正常,晃動無異響。2. 1. 5 濕熱試驗(Humidity Test)測試環(huán)境：60° C, 95%RH測試目的：測試樣機耐高溫高濕性能試驗方法：將乎機處J：關機狀態(tài)，放入溫濕度實驗箱內(nèi)的架子上，持續(xù)60個小時Z后取出，常 溫恢復2小時，然后進行外觀、結構和功能檢脊.対翻蓋手機，應將一半樣品合 上翻蓋，一半樣品打開翻孟；對于滑蓋手機，應將一半樣晶滑開到上限位置。試驗標準：手機外觀，結構和功能符合要求。2. 1

6、.6靜電測試(ESD)測試條件：+/-4k曠+"8kV,開機并處于充電狀態(tài)，+/-4kV接觸和+/-8kV空氣放電各10次。 具體測試方法詳見公司測試標準細則。測試目的：測試樣機抗靜電干擾性能試驗標準：在+/-1KV和+/-8Kv時出現(xiàn)任何問題都要被計為故障。2. 2.氣候適應性測試(Climatic Stress Test)樣品標準數(shù)量：一般氣候性測試5臺：惡劣氣候性測試3臺。共8臺。測試周期：7天。測試目的：模擬實際丁作環(huán)境對產(chǎn)品進行性能測試。一般氣候性測試惡劣氣候性測試A： 一般氣候性測試：2. 2.1.高溫/低溫參數(shù)測試(Parametric Test)測試環(huán)境：25

7、6; C /+55。C：持續(xù)2小時：手機電池充滿電，手機處J：開機狀態(tài)。測試冃的：高溫/低溫應用性性能測試試驗方法：對翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣胡打開翻蓋；対滑蓋手機，應將 一半樣品滑開到上限位置。試驗標準：乎機電性能參數(shù)指標滿足耍求，功能正常，外売無變形。2. 2. 2.高溫高濕參數(shù)測試(Parametric Test)測試環(huán)境：+45° C, 95%RH：持續(xù)48小時：手機電池充滿電，手機處開機狀態(tài)。測試目的：高溫高濕應用性性能測試試驗標準：于機電性能指標滿足要求，功能正常，外殼無變形。2. 2. 3.高溫/低溫功能測試(Functional Test)測試環(huán)境：-4

8、0° C /+70° C, 2小時，恢復至常溫，然后進行結構，功能和電性能檢査。測試目的：高溫/低溫應用性功能測試B：惡劣氣候性測試2. 2. 4.灰塵測試(Dust Test)測試環(huán)境：室溫，灰塵人小300冃，持續(xù)3個小時。詳細測試方法見公司測試標準細則。測試目的：測試樣機結構密閉性試驗標準：于機并項功能正常，所仃活動冗器件運轉(zhuǎn)11如，顯示區(qū)域沒仃明顯灰塵。2. 2. 5.鹽霧測試(Salt fog Test)5更多設訃資料請訪問金三維視頻教程網(wǎng):http:v.測試環(huán)境：35。C; 5%的氯化鈉溶液；關機；合上翻蓋；樣機用繩子懸掛起來;48小時。 測試目的：測試樣機抗鹽霧

9、腐蝕能力試驗標準：常溫干燥后，于機族項功能正常，外殼衷而及裝飾件無明顯腐蝕等異常現(xiàn)彖。2. 3.結構耐久測試(Mechanical Endurance Test) 樣品標準數(shù)量：11臺。 測試周期：7天。 測試目的：各結構件壽命測試。測試方法：導航鍵及其他任意鍵進行10力次按壓按鍵測試。試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。2. 3. 2.側鍵測試(Side Key Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C) : 1臺手機：手機設置成關機狀態(tài)：10萬次按斥.6更多設訃資料請訪問金三維視頻教程網(wǎng)：http:vwv. 試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。2. 3. 3.翻蓋測試(Flip Li

10、fe Test)測試環(huán)境：室溫(2025。C) : 4臺手機：手機設宣成開機狀態(tài)；6力次開介翻蓋測試。試驗標準：6萬次后，手機外觀，結構，及功能正常。2. 3. 4.滑蓋測試(Slide Life Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C) : 4臺手機；手機設置成開機狀態(tài)；6力次滑孟測試。試驗標準：6萬次后,手機外觀，結構，及功能正常，滑蓋不能何松動。2. 3. 5.重復跌落測試(Micro-Drop Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C) : 7cm高度,2CtnmPVC板；2臺手機；開機狀態(tài)：4力次。測試標準：手機各項功能止常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎

11、，見動無異響。2. 3. 6.充電器插拔測試(Charger Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C) : 2臺手機。試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接II，等待手機至充電界面顯示正常后，拔除允 電插頭。在開機不插卡狀態(tài)卜插拔允電3000次。檢驗標準：I/O接II無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常于感。2. 3. 7.筆插拔測試(Stylus Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C) ； 2臺手機；開機狀態(tài)；2萬次。檢驗標準：手機筆輸入功能正常，插入拔出結構功能、外殼及筆均正常。2.3.8.觸摸屏點擊試驗(Point Activation Life Tes

12、t)試驗條件：觸扌夷屏測試儀(接觸墊尖端半徑為3. 75mm：鎖度為40deg的硅樹脂橡膠)試驗方法：2臺手機；將手機設置為開機狀態(tài)，點擊同一位置250, 000次，點擊力度為250g； 點擊速度：2次/秒；檢驗標準：不應出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)彖：表面不應冇損傷2. 3. 9.觸摸屏劃線試驗(Lineation Life Test)試驗條件：觸換屏測試儀，肖徑為O.Snun的槊料手寫筆或隨機附帶的手寫筆試驗方法：2臺手機；將手機設宣為關機狀態(tài)，在同一位置劃線至少100, 000次，力度為250g, 滑行速度：60mm/秒檢驗標準：不賊出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象：表面不應有損傷2. 3.10.電池/電池蓋拆裝

13、測試(Battery/Battery Cover Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C) ； 2臺手機；將電池/電池蓋反復拆裝2000次。檢驗標準：手機及電池卡扣功能正常無變形，電池觸片、電池連接器應無卜陷、變形及膺損的 現(xiàn)彖，外觀無異常。2. 3.11 SIM Card 拆裝測試(SIM Card Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C) ； 2臺手機；SIM卡插上取卜反復1000次。檢驗標準：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關正常，手機讀卡功能使用正常。2. 3.12.耳機插拔測試(Headset Test)測試環(huán)境：室溫；2臺手機：開機狀態(tài)：耳機插入耳機插孔再拔出，

14、3000次。檢驗標準：實驗后檢查耳機插座無焊接故障，耳機插頭無損傷，使用耳機通話接收與送話無雜 音(通話過程中轉(zhuǎn)動耳機插頭)，耳機插入手機耳機插孔時不會松動(可以承受得 住手機本身的t©)。2. 3.13.導線連接強度試驗(Cable Pulling 站durance Test) 測試環(huán)境：室溫(2025° C):實驗方法：選取靠近耳塞的一段導線，將Jt兩端固定在實驗機上，用20N±2N的力度持續(xù)拉伸 6秒，循環(huán)100次。檢驗標準：導線功能正簾，被覆外皮不破裂，變形。2. 3.14.導線折彎強度試驗(Cable Bending Endurance Test)測試環(huán)

15、境：室溫(2025° C):實驗方法：分別選取靠近耳來和靠近插頭的一段導線，將導線的兩端固定在實驗機卜.，做 Onun25mm折彎實驗3000次。檢驗標準：導線功能正常，被覆外皮不破裂，變形。2. 3.15.導線擺動疲勞試驗(Cable Swing Endurance Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C):實驗方法:分別將耳機和插頭固定在實驗機上，用1N的力，以90。120。的角度反復擺動耳 機末端3000次。檢驗標準：導線功能正常，被覆外皮不破裂。2. 4 表面裝飾測試(Decorative Surface Test) 測試周期：4天。 樣品標準數(shù)量：每種顏色6套外

16、殼。2. 4.1.磨擦測試(Abrasion Test RCA) 測試環(huán)境：室溫(2025° C)；試驗方法：將最終噴涂的手機外殼固定在RCA試驗機上，用175g力隊同一點進行靡擦試驗。對 于表面摩擦300cycles»側面和側棱摩擦180 Cycleso檢驗標準：耐磨點涂層不能脫落，不可露出底材質(zhì)地。2. 4. 2.附著力測試(Coating Adhesion Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C):試驗方法：選授終噴涂的手機外殼表面，使用百格刀刻出100個1平方亳米的方格，劃格的深 度以露出底材為止，再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格面，1分鐘后迅速以9

17、0度 的角度撕脫3次，檢査方格而汕漆是否有脫落。檢驗標準：方格而油漆脫落應小J- 3%.并且沒冇滿格脫落。2. 4. 3.汗液測試(Perspiration Test) 測試環(huán)境：60° C, 90%RH試驗方法：把濾紙放酸性(PH=2.6)或堿性(PH=8. 8)溶液充分浸透，用膠帶將浸仃酸性或堿 性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表面，確保試紙與樣陽噴漆表而充分接觸，然后放在測 試壞境中，在24小時檢査一次，48小時后，將樣品從測試壞境中取出，并H放置2 小時后，檢查樣品表面噴漆。檢驗標準：噴漆衷而無變色、起皮、脫落、褪色等異常。2. 4. 4.硬度測試(Hardness Test)測試環(huán)

18、境：室溫(2025° C)；試驗方法：用2H鉛筆，在45度角卜，以lKg的力度在樣品農(nóng)面從不同的方向劃出35cm長的 線條3篤條。檢驗標準：用橡皮擦去鉛筆痕跡后，在油漆表面應不留卜劃痕。-9-更多設訃資料請訪問金三維視頻教程網(wǎng)：http:vzv. 2. 4. 5 .鏡面刮擦測試(Lens Scratch Test)< 測試環(huán)境：室溫(2025° C):試驗方法：用Scratch Test將實驗樣品固泄在實驗機上，用戯重(load)為500g的力在樣品 表而往復劃傷50次。檢驗標準：鏡面表面劃傷寬度應不人J-lOOUm (依幕冃視分辨、參照缺陷限度樣板)2. 4. 6

19、紫外線照射測試(UV illuminant Test)測試環(huán)境：50° C測試目的：噴涂抗紫外線照射測試試驗方法：在溫度為50° C,紫外線為34OWW的光線卜苴射油漆表面48小時。試驗結束后 將手機外殼取出，在常溫卜冷卻2小時后檢査噴漆表面。檢驗標準：汕漆表面應無褪色，變色，紋路，開裂，剝落等現(xiàn)彖。2. 5.特殊條件測試(Special Stress Test) 樣品標準數(shù)量：4臺。 測試周期：1天。2. 5.1.低溫跌落試驗(Low tenerature Drop Test)測試環(huán)境：10° C： 3臺手機：開機狀態(tài)。試驗方法：將于機進行電性能參數(shù)測試厲處開機

20、狀態(tài)放置在-10° C的低溫試驗箱內(nèi)1小時 后取出，進行1.3米的6個面跌落，2個循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常 溫跌落。檢驗標準：丁機外觀，結構，功能和電性能參數(shù)符介耍求。2. 5. 2.扭曲測試(Twist Test)測試環(huán)境：室溫(2025° C) : 2臺；開機狀態(tài)；2Nm力矩反復扭曲手機1000次。檢驗標準：手機沒有變形，外觀無異常，各項功能正常。2. 5. 3.坐壓測試(Squeeze Test)測試壞境：室溫(2025° C) : 2臺；開機狀態(tài)；45Kg力反復擠壓手機1000次檢驗標準：手機沒有變形，外觀無異常，各項功能正常。2. 5. 4.鋼球跌落測試(Ball Drop Test)測試環(huán)境：室溫(